View
222
Download
0
Category
Preview:
Citation preview
Eider Gorostegui Colinas
ÍNDICE
IK4-LORTEK: Sobre Nosotros.
Termografía: Fundamentos y ventajas frente a los END tradicionales.
Termografía Activa. Metodología.
Un ejemplo práctico
RETOS
Especialización
• Materiales y Procesos
• Tecnologías de Unión
• Fabricación Aditiva de Metales
Datos relevantes www.lortek.es
• 65
• 14
• 5 M€
Ubicación
Ordizia, Gipuzkoa
• Tecnologías INDUSTRY 4.0
• Servicios Tecnológicos
• Gestión de la Innovación
Ámbitos Principales
ÁMBITOS DE DESARROLLO NDT
Detección de defectos y caracterización de materiales en línea.
Sensorización de procesos de fabricación.
Servicios Tecnológicos avanzados y asesoramiento.
TÉCNICAS PRINCIPALES
UT AVANZADOS • Phased array • Sistemas UT abiertos
adaptables • Simulación • UT sin contacto
CORRIENTES INDUCIDAS
TERMOGRAFÍA IR ACTIVA • Metales • Composites
PROCESADO AUTOMATIZADO • Basado en principios físicos • Análisis de imagen
VISIÓN ARTIFICIAL
NDT
Equipamiento Singular
• Todo objeto con T>0 K radía energía.
• Utilizando cámaras termográficas infrarrojas es posible convertir esa radiación
en una imagen térmica del objeto que se está observando.
Fundamentos
TERMOGRAFÍA PASIVA
• Militar: Visión nocturna • Ingenieria civil: Mantenimiento de
edificios • Medicina: Mapeo de la temperatura
corporal
• Control del proceso.
TERMOGRAFÍA ACTIVA
• Non Destructive Testing (NDT)
• Caracterización de materiales
Fundamentos
Necesidades de la industria:
✔ Automático
✔ Registrable
✔ Rápido
✔ Sin contacto
✔ Sistema de alertas
✔ Independiente del operario
Ventajas de la termografía
Procesos actuales de inspección:
(MP, PT, VT, RT)
× Manual
× Consumo de tiempo
× Dependiente de la habilidad del
operario
× Uso de consumibles
TERMOGRAFÍA ACTIVA
Un pequeño ejemplo de termografía pasiva
Control de proceso en fabricación de tubos mediante HFIW
Un pequeño ejemplo de termografía pasiva
Control de proceso en fabricación de tubos mediante HFIW
Muesca 2x2 mm
1
Chaflán 1 x 45
4 m 4 m
2
Un pequeño ejemplo de termografía pasiva
Control de proceso en fabricación de tubos mediante HFIW
Propiedad Cámara Térmica
Resolución 150 µm/ pixel
Observación en tiempo real
Imagen 100x80mm2 (640x480px) • Distribución T en un área en un instante determinado. • Forma/Simetría cordón • Control punto de soldadura • Visualización defectos y sus efectos • Imagen original, sin tratar las imágenes
Rango temperaturas 0-2000ºC
Muesca 2x2 mm Chaflán 1 x 45
Principios para la detección de defectos
Resistencia Térmica
Velocidad de enfriamiento
Gradientes térmicos, flujo reflejado…
Monitorización de Efectos térmicos!
Principios para la detección de defectos
Resistencia Térmica
Velocidad de enfriamiento
Principios para la detección de defectos
Resistencia Térmica
Velocidad de enfriamiento
𝑻 =𝑸
𝒆 𝝅𝒕
𝒍𝒏 𝑻 = 𝒍𝒏𝑸
𝒆−
𝐥𝐧 (𝝅𝒕)
𝟐
𝒍𝒏(𝑻) = 𝒂𝒐 + 𝒂𝟏𝒍𝒏 𝒕 + 𝒂𝟐 𝒍𝒏 𝒕 𝟐 + …
Principios para la detección de defectos
Resistencia Térmica
Velocidad de enfriamiento
Termografía Activa. Metodología
- Longitud de grietas
- Soldadura + Zona afectada térmicamente
LÁSER
• Selección de lentes: Configuración óptima.
• Generación de línea.
• Potencia
- Selección de cámara.
- Parámetros de trabajo,
- Frame Rate
- Resolution
- Etc.
Muestras Fuente de Excitación Cámara
A
N
A
L
Y
S
I
S
Estático
Tipos de ensayo
INDUCCIÓN
• Configuración de Bobina
• Potencia
Modelo basado en FEM para la determinación del setup óptimo: potencia, velocidad, etc.
Estático
-
Dinámico
Termografía Activa. Metodología
Muestras
• Definición de tamaño mínimo de defecto a detectar.
• Propiedades de la zona a inspeccionar (acabado superficial, reflectividad, etc).
• Accesibilidad
- Selecciónde cámara.
- Parámetros de trabajo,
- Frame Rate
- Resolution
- Etc.
Cámara
Termografía Activa. Metodología
EmpiriCam
Flir A655sc Flir x6541sc
Model
EmpiriCam
FLIR A655sc
FLIR X6541sc
Detector Detector Type Uncooled
Microbolometer
Uncooled Microbolometer
InSb (Closed-cycle (rotary) Stirling cooler)
Spectral Range 8.0 – 14.0 µm 7.5 - 14.0 µm 1.5 – 5 µm
Resolution 392 x 288 640 x 480 640 x 512
Detector Pitch 25 µm 17 µm 15 µm
NETD < 65 mK
<30 mK < 25 mK (18 mK typical)
Imaging
Frame Rate (Full Window) 30 Hz 50 Hz 126 Hz
Max Frame Rate (@ Min Window)
- 200 Hz (640 x 120) 126 Hz (640x480) 410 Hz (320x256) 1087 Hz (160x128)
4011 Hz (64x8)
mm / pixel 50 150 45
Termografía Activa. Metodología
Termografía Activa. Metodología
Fuente de Excitación
Modelo basado en FEM para la determinación del setup óptimo: potencia, velocidad, etc.
LÁSER
• Selección de lentes: Configuración óptima.
• Generación de línea.
• Potencia
INDUCCIÓN
• Configuración de Bobina
• Potencia y frecuencia
Termografía Activa. Metodología
Fuente de Excitación
Modelo basado en FEM para la determinación del setup óptimo: potencia, velocidad, etc.
LÁSER
• Selección de lentes: Configuración óptima.
• Generación de línea.
• Potencia
INDUCCIÓN
• Configuración de Bobina
• Potencia y frecuencia
Termografía Activa. Metodología
Fuente de Excitación
Modelo basado en FEM para la determinación del
setup óptimo: potencia, velocidad, etc.
LÁSER
• Selección de lentes: Configuración óptima.
• Generación de línea.
• Potencia
INDUCCIÓN
• Configuración de Bobina
• Potencia y frecuencia
• Reflectividad del material • Difusividad termica del material. • Tipo de ensayo:
Estático. Dinámico: v.
• Potencia laser. Tamaño línea.
FIJACIÓN DE PARÁMETROS SEGÚN
ENSAYOS DINÁMICOS
• La pieza y la fuente térmica se mueven en movimiento relativo de forma uniforme y
controlada.
• Análisis automatizados:
Reconstrucción de la zona a tras la grabación.
Detección de los defectos: vía algoritmo.
N x M
T
N x T
50 100 150 200 250 300 350 400 450
50
100
150
200
250
300
Laser tracking
Reconstruction
Termografía Activa. Metodología
Tipos de ensayo
Ensayos Dinámicos Fuente de Excitación:
Láser
• Tanto la pieza a analizar como la fuente de calor permanecen inmóviles.
• La pieza se calienta mediante:
• Pulso de corta duración (50-200ms): Laser / Inducción
• Calentamiento de duración variable según la pieza a
inspeccionar: Aire.
• La secuencias térmicas se componen de calentamiento y enfriamiento en
la misma posición.
Termografía Activa. Metodología
Tipos de ensayo
Ensayos Estáticos Fuente de Excitación:
Láser / Inducción / Aire
Termografía Activa. Metodología
Termografía Activa. Metodología
A
N
A
L
Y
S
I
S
Detección automática de defectos
Ducumentación de datos: - Muestra, - Defectos, - Localización, - Tamaño, etc
Análisis
Termografía Activa. Metodología
Análisis en el dominio de frecuencia:
Imágenes de fase y amplitud
• Se aplica la Transformada de Fourier a la
grabación térmica obtienendo imágenes de
amplitud y fase a determinadas frecuencias.
• Se ensalzan los defectos en el material y
disminuyen las indicaciones debidas a
cambios de emisividad, reflexiones,
calentamiento no-uniforme y variaciones de
forma de la superficie.
Análisis en el dominio del tiempo:
Termogramas
• Se emplean los termogramas de la
secuencia térmica adquirida.
• Se analizan las variaciones de
temperatura o en su caso, variaciones
de intensidad.
Termografía Activa. Metodología
DFT: parte real (0,477 Hz)
Análisis en el dominio de frecuencia:
Imágenes de fase y amplitud
• Se aplica la Transformada de Fourier a la
grabación térmica obtienendo imágenes de
amplitud y fase a determinadas frecuencias.
• Se ensalzan los defectos en el material y
disminuyen las indicaciones debidas a
cambios de emisividad, reflexiones,
calentamiento no-uniforme y variaciones de
forma de la superficie.
Análisis en el dominio del tiempo:
Termogramas
• Se emplean los termogramas de la
secuencia térmica adquirida.
• Se analizan las variaciones de
temperatura o en su caso, variaciones
de intensidad.
Termografía Activa. Metodología
DFT: parte real (0,477 Hz)
f = 1.183 Hz
Ejemplos:
Defectos en trozos de eslabones
Entalla 3 (l = 4.5 mm)
Entalla 4 (l = 2 mm)
• Láser 50 W • Ensayo estático • Análisis frecuencial
f = 1.183 Hz
• Láser 50 W • Ensayo dinámico • Reconstrucción
Ejemplos:
Defectos en trozos de eslabones
Ejemplos:
Defectos en trozos de eslabones
FFT • Cámara x6541sc • Láser 250 W • Ensayo estático
Ejemplos:
Defectos en trozos de eslabones
FFT • Cámara x6541sc • Láser 250 W • Ensayo estático
Ejemplos:
Defectos en trozos de eslabones
FFT
1 2 3
• Cámara x6541sc • Láser 250 W • Ensayo estático
Ejemplos:
Defectos en trozos de eslabones
Normalized Heating and
Cooling Curve
• Cámara x6541sc • Láser 250 W • Ensayo estático
frames
Tn
FFT
Area heated by the laser
Thermogram
Ejemplos:
Defectos en tornillos
Inspección por Magnaflux Termografía Activa
(inducción)
Inspección por Magnaflux
Termografía Activa (inducción)
Ejemplos:
Defectos en tornillos
Ejemplos: Inconel 718
• Aire • Ensayo estático • Termograma
• Láser 50 W • Ensayo dinámico • Reconstrucción
• Inducción. tpulso=0.07 s, f = 6Hz.
• Conjunto de ensayos estáticos.
• Análisis de fase
Ejemplos: Inconel 718
L1 L3 L2? B3 B4 B5
B7 B8 B6
L4?
Ejemplos: Inconel 718
Test specimen: Carbon fiber, 24 layers
Un ejemplo diferente: Composites
Analyzed zone
Front Side Back Side
• Lámparas Flash. • tpulso= • Ensayo Estático.
F=0,033 Hz
1,25 mm 1,65 mm 2,15 mm
1,75 mm 1,4 mm 1,6 mm 1,55 mm
2,1 mm 1,4 mm 1,7 mm 0,8 mm
Un ejemplo diferente: Composites
Test specimen: Carbon fiber, 24 layers
F=0,083 Hz
GRABACIONES AUTOMÁTICAS Y RÁPIDAS
REGISTRO
DETECCIÓN AUTOMATICA DE DEFECTOS
SOFTWARE PROPIO ALMACENAMIENTO DE LA INFORMACIÓN DE TODOS LOS DEFECTOS: IMÁGENES, POSICIÓN, TAMAÑO, ETC
Inspección automática en Termografía láser
• Muestras: Cupones de soldadura Multipasada. • Inspección termográfica láser. • Procesado de grabaciones vía reconstrucción. • Detección automática de defectos. • Gestión de la información.
REPETITIVIDAD
Inspección automática en Termografía láser
Inspección automática en Termografía láser
Inspección automática en Termografía láser
Numbers Centre X Centre Y Defect Height
Defect Height (mm)
Experimental (mm)
1 485.7 129.7 19 3.2 4
2 695.6 129.7 9 1.5
3 713.3 128.0 13 2.2 2
4 900.9 129.4 15 2.6 1(+1)
5 1096.0 132.6 21 3.6 3
6 1290.8 133.3 22 3.7 3
7 1486.3 134.8 17 2.9 1(+1)
8 1674.0 137.5 15 2.6
9 1694.6 140.5 9 1.5 1
10 1867.1 139.4 7 1.2 1
11 1889.3 139.9 6 1.0
12 2073.1 138.8 7 1.2 1
13 2275.3 135.6 17 2.9
RETOS
Desarrollo de nuevos algoritmos. Más eficientes en cuanto a tiempos de procesamiento con el
objetivo de respetar los tiempos de producción de la industria.
Detección automática en cualquier geometría.
Inspección Online.
Detección temprana de defectos. (termografía en caliente)
• Nuevo laboratorio en marcha.
• Elementos notables: 1. - Equipo Inducción 2. - Controlador 3. - Robot KUKA KR30HA
RETOS
Proporcionará a Lortek la capacidad de realizar inspecciones de termografía activa laser e inducción automatizadas
con el objetivo de detectar defectos en piezas de cualquier geometría
Eider Gorostegui Colinas egorostegui@lortek.es
Recommended