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ESCUELA POLITÉCNICA NACIONAL
FACULTAD DE INGENIERÍA ELÉCTRICA
DISEÑO Y CONSTRUCCIÓN DEL EQUIPO
DE PRUEBAS DE AMPLIFICADORES A
TRANSISTOR (E.P.A.T.)
TESIS PREVIA A LA OBTENCIÓN DEL TÍTULO DE
INGENIERO EN ELECTRÓNICA Y TELECOMUNICACIONES
LUIS ARMANDO GUEVARA ESPINOSA
ALEX VICENTE JARAMILLO ECHEVERRÍA
QUITO, FEBRERO 1998
AGRADECIMIENTO:\l Instituto Geofísico de la EPN
por su colaboración para el
desarrollo de este proyecto.
Al Ing. T arquirio Sánchez
por su acertada dirección.
DEDICATORIA:
A nuestros padres.
A las personas que inspiraron
la realización de este trabajo.
Certifico que este trabajo
ha sido realizado en su
totalidad por los Sres.
Luis A. Guevara E. y
Alex V. Jararnillo E.
Director de Tesis
Quito, Febrero de 1998
INTRODUCCIÓN
Un requisito previo a la obtención del título de Ingeniero es la elaboración de
una tesis y nos pareció interesante la creación de un equipo de prueba de amplificador de
transistores ya que para quienes nos iniciamos en el amplio campo de la electrónica
resultó frustrante el no disponer de herramientas didácticas que complementen el estudio
teórico.
El desarrollo del conocimiento científico en el área de la Electrónica básica se
torna fascinante cuando es posible percibir y demostrar en forma práctica los principios
que en ella rigen y más aún cuando son útiles en la vida diaria.
El objetivo de nuestro trabajo de investigación fue crear un instrumento
experimental con el que se pueda evaluar las características de los transistores y su
capacidad de respuesta dentro de un amplificador didáctico; el modelo propuesto
permite, que sobre la base de los parámetros de cada transistor, se reporten gráficamente
sus caracteres de entrada, transferencia y salida, además de la respuesta del transistor a
un circuito amplificado de tal manera que es posible determinar su forma correcta de uso.
El Equipo de Prueba de Amplificador a Transistor (EPAT) constituye una
herramienta útil para una sala de clase o un laboratorio de enseñanza de electrónica,
permite la comprensión inmediata de conceptos complejos como la relación entre la línea
de carga, punto de operación y formas de onda de un amplificador, así como la
presentación simultánea de estos aspectos y las características del transistor; el
reconocimiento instantáneo de fallas o defectos en un transistor y la fácil ilustración de
los orígenes y efectos de la distorsión.
Este informe final está estructurado en cuatro capítulos:
En el primero realizamos una descripción de las bases teóricas encontradas en la
bibliografía disponible, por tanto en él se anotan conceptos básicos del funcionamiento,
estructuras, circuitos fundamentales., equivalentes y especificaciones de los transistores de
efecto de campo y transistores bipolares de juntura.
En el capítulo segundo se describe el diseño teórico de cada una de las partes
constitutivas del equipo, basándonos en las consideraciones indicadas en el capítulo
primero. Se puntualiza el funcionamiento de las partes y diseña, por separado, cada uno
de los circuitos específicos destinados a obtener los resultados requeridos para proceder,
más adelante, a su unión dentro de un sistema más complejo. Es preciso anotar que la
mayoría de los circuitos estructurados en este capítulo no provienen de fuentes
bibliográficas sino de las experiencias prácticas en los laboratorios de electrónica, de
modo que muchos de ellos pueden no ser los más óptimos.
En lo que al capítulo tercero se refiere, hemos tratado de presentar algunos
aspectos de la construcción del EPAT, y algunas pruebas experimentales de su
funcionamiento.
Finalmente, el capítulo cuarto es fruto del análisis del equipo en lo que se refiere a
su funcionamiento, utilidad, límites y alcances. Las conclusiones y recomendaciones
indicadas son el reflejo de lo conseguido y abarcan los resultados y beneficios que
significan la realización de este trabajo para nosotros y para los futuros estudiantes que se
interesen en el tema.
Creemos que el modelo que presentamos se constituye en una propuesta de inicio
que; rescatando modelos elaborados anteriormente y con las innovaciones que se anotan,
significará un aporte al desarrollo de la electrónica en nuestro país.
11
ÍNDICE GENERAL
CAPITULO 1: FUNDAMENTOS TEÓRICOS
1.1 El Transistor Bipolar de Juntura 1
1.1.1 Generalidades 1
1.1.1. ¡Estructura 11.1.1.2Funcionamiento del Transistor 3
1.1.2 Configuraciones Circuitale,1: con TBJ 6
1.1.3 Curvas Características con TBJ 7
1.1.4 Polarización, Estabilidad Térmica y Regiones de Trabajo para el TBJ 9
1.1.4.1 Circuito de Autopolarización con Resistencia en el Emisor 101.1.4.2 Circuito de Polarización Total 121.1.4.3 Estabilidad Térmica del TBJ 15
1.1.5 Especificaciones Máximas del TBJ - 16
1.1.6 Circuito Equivalentes del TBJ para el análisis en AC 18
1.1.6.1 Circuito Equivalente Híbrido del TBJ 18
1.1.7 Recta de Carga para la Configuración Emisor Común 25
1.2 El Transistor de Efecto de Campo 31
1.2.1 Descripción General 31
1.2.2 Tipos de FET 32
1.2.3 Construcción y Operación del FET 32
1.2.4 Curvas Características en el JFET 34
1.2.4.1 Característica de Salida del JFET 341.2.4.2 Característica de Transferencia del JFET 35
1.2.5 Parámetros del IFET 38
1.2.6 Circuitos Equivalentes g™ y RDS 41
1.2.7 Polarización del JFET 41
1.2.8 Configuraciones de Amplificadores con JFET 43
i .2.9 Análisis de Pequeña Señal del JFET 45
DISEÑO DEL EQUIPO DE PRUEBAS DECAPÍTULO 2: AMPLIFICADORES A TRANSISTOR ÍEPAT).
2.1 Descripción General del Equipo 47
2.1.1 Características Técnica Fundamentales 51
2.1.2 Diagrama de Bloques del Equipo 52
2.2 Generador de Señal Interno 56
* 2.3 Circuito de Sincronismo y Temporización 61
2.3.1 Circuito de Sincronismo 63
2.3.2 Circuito de Temporización 65
2.4 Circuito de Barrido 66
2.5 Circuitos Específicos para el TBJ 77
2.5.1 Circuito para obtener la Característica de Salida 77&- 2.5.2 Circuito para obtener la Característica de Entrada 89
2.5.3 Circuito amplificador en Emisor Común con TBJ 90
2.5.4 Circuito de Multiplexación de Señales para el TBJ 93
2.5.4.1 Circuito de Conmutación de Señales a los terminales del transistor 932.5.4.2 Circuito de Conmutación de Señales a los canales del osciíoscopio 96
2.6 Circuitos Específicos para el TBJ 101
2.6.1 Circuito para obtener la Característica de Transferencia 101
_ 2.6.2 Circuito para obtener la Característica de Salida 104&
2.6.3 Circuito amplificador en Fuente Común con JFET 108
2.6.4 Circuito de Multiplexación de Señales para el JFET 111
2.6.4.1 Circuito Multiplexor: Señal de Compuerta, señal de Saliday Recta de Carga 111
2.6.4.2 Circuito Multiplexor de Señales a los terminales del JFET 1132.6.4.3 Circuito Multiplexor de Señales a los canales del Osciíoscopio 115
2.7 Circuito de Alimentación General 116
CAPITULO 3:CONTRUCCION Y PRUEBAS
EXPERIMENTALES CON EL EPAT
3.1 Diagramas Circuitales del Equipo y su Implementación 122
3.2 Pruebas Experimentales con el EPAT
3.2.1 Señales de Salida del EPAT
3.2.1.1 Señales de Excitación dei EPAT3.2.1.2 Seriales a los Canales del Osciloscopio de Rayos Catódicos
3.2.2 Estudio Comparativo de los resultados obtenidos por mediodel EPAT con otros equipos de medida
139
139
139142
151
CAPITULO 4: CONCLUSIONES Y COMENTARIOS 157
ANEXOS
ANEXO 1: Manual de Operaciones del EPAT A-l
ANEXO 2: Hojas de Datos de Fabricantes A-13
Señales de Voltaje a la Salida del EPATANEXO 3: para algunos transistores de prueba A-32
CAPTULO 1
FUNDAMENTOS TEÓRICOS
1.1 EL TRANSISTOR BIPOLAR DE JUNTURA(TBJ)
1.2 EL TRANSISTOR DE EFECTO DE CAMPO(FET)
1.1 TRANSISTOR BIPOLAR DE JUNTURA (T.BJ)
1.1.1 GENERALIDADES
Durante el período 1904-1947 el tubo de vacío era indudablemente el dispositivo
electrónico de gran interés y desarrollo. En los años siguientes, la industria llegó a tener
importancia primaria y se realizaron rápidos avances en diseños, técnicas de fabricación,
aplicaciones en alta potencia y alta frecuencia., y miniaturización. Con lo cual, la
electrónica tenía que experimentar la llegada de un nuevo dispositivo de mayores ventajas
como es el transistor. Las ventajas de este dispositivo de estado sólido de tres terminales
con relación a los tubos de vacío son:
• Es de construcción sólida.
• Son más pequeños y livianos.
• No requieren calentamiento previo para su funcionamiento, razón por lo cual no
experimenta pérdidas debido a dicho calentamiento.
» Su funcionamiento es instantáneo.
• Opera con voltajes muy pequeños.
• Consume menos potencia.
• Su tiempo de vida útil es muy grande.
1.1.1.1 ESTRUCTURA
El transistor es un dispositivo que consta de tres terminales, a diferencia del diodo,
que tiene dos terminales. Este consiste en un material tipo p y uno de tipo n; el transistor
consiste en dos materiales de tipo n separados por un material tipo p (transistor npn) o en
dos materiales p separados por un material n (transistor pnp). En la figura 1.1 se incluye la
representación esquemática de un transistor.
Las tres capas o secciones diferentes se identifican como emisor, base y colector. El
emisor., capa de tamaño medio diseñada para emitir o inyectar electrones, está bastante
contaminado. La base, con una contaminación media, es una capa delgada diseñada para
pasar electrones. El colector, capa grande diseñada para colectar electrones, está poco
contaminado.
Base
TBJtipo NPN
Colector
Base
Emisor
TBJtipo PNP
-I)''!"''
- Colector
-Emisor
C
-B B
Fig. 1.1 El transistor bipolar
Características délas capas semiconductoras
BASE: Es la capa más delgada comparada con la capa del emisor y colector. El ancho de
la base es aproximadamente 150 veces más pequeño que el ancho total del transistor; esta
capa es pobremente dopada, la conductividad es baja, por lo tanto existe menor cantidad
de portadores de carga libre.
EMISOR: Es la capa de dimensión física mayor que la base, y la que se encuentra
mayormente dopada.
COLECTOR: Esta capa tiene dimensiones más grandes que las dos capas anteriores, y
está ligeramente menos dopada que el emisor. Su misión es recolectar los portadores
mayoritarios que salen del emisor. Por ser el de mayor área es donde se disipa mayor parte
de la potencia, es decir, evacúa el calor del TB J en funcionamiento.
1.1.1.2 FUNCIONAMIENTO BEL TRANSISTOR (NPN)
•Una explicación sencilla pero efectiva de la operación del transistor npn se lleva a
cabo utilizando la técnica de diagramas de barrera de potencial de la figura 1.2. Este
método ilustra la operación básica de un transistor. Cuando la unión base-emisor se
polariza en directo y la unión base-colector en inverso, los electrones que dejan el material
n del emisor sólo ven una barrera de potencial pequeña en la unión np. Como esta barrera
es pequeña, muchos de los electrones tiene la suficiente energía para llegar al tope de ella.
Una vez en el tope, los electrones se mueven fácilmente a través del material/? (base) a la
unión pn (base-colector). Cuando se acercan a esta unión, los electrones se encuentran
bajo la influencia de la fuente de tensión positiva y se mueven con mucha rapidez
conforme descienden en la barrera de potencial. Si se reduce la polarización en directo de
la unión base-emisor, aumenta la altura de la barrera de potencial. A los electrones que
dejan el emisor les será más difícil alcanzar el tope. Los electrones que lo alcanzan son
aquellos con mayor cantidad de energía, y son los que posteriormente alcanzarán el
colector.
E
i1V
a
.
31
j
(•
B
Ü!
:::
!í
V
I I
1
cB
rt c
Regióndesértica
+V
—Trayectoria dei electrones libres
distancia
Fig. 1.2 Diagrama potencial colina de un transistor.
3
El flujo de corriente en un transistor de unión también se puede entender analizando
el comportamiento de los portadores de carga y las regiones desérticas. Estas regiones se
indican en la figura 1.2. Nótese que como la unión base-emisor está polarizada en directo,
la región desértica es relativamente delgada. Lo inverso es correcto para la unión base-
colector. Un gran número de portadores mayoritarios (electrones) se difunden a través de
la unión base-emisor. Estos electrones entran a la región de base y tienen dos opciones.
Podrían dejar esta región a través de la conexión con las fuentes de alimentación o
continuar hacia la región de colector a través de la amplia región desértica de la unión
polarizada en inverso. Lo normal sería esperar que la mayor parte de esta corriente
regresará a la fuente, excepto por la siguientes observaciones. Como la región de base es
muy delgada, estos electrones necesitan viajar una distancia más corta para ser atraídos
por la fuente positiva del colector. Además, el material de la base posee una conductividad
baja, por lo que el trayecto hacia la terminal de la fuente presenta alta impedancia. En
realidad, una cantidad muy pequeña de los electrones deja la base a través de la conexión
con la fuente; la mayor parte de la corriente fluye hacia el colector.
El transistor de unión bipolar presenta ganancia de corriente, lo cual se puede
utilizar para amplificar señales. En la figura 1.3 se muestra el circuito equivalente
simplificado de un transistor npn. Por lo general, este modelo es adecuado para el diseño y
análisis de muchos circuitos.
C
u
IB = Corriente de Base/c = Gómenle de Colector¡E = Corriente de EmisorR = Resistencia entre Base y Emisor
E
Fig. 1.3 Circuito equivalente del transistor
En la figura 1.4 se muestra un circuito simple para obtener ganancia de corriente. Se
aplica una fuente de tensión a través de la unión base-emisor, y se conecta una resistencia
entre colector y emisor. En la figura 1.4(b) se muestra el mismo circuito, donde el
transistor se reemplazó por el modelo de la figura 1.3. Debido a la presencia de la fuente
dependiente, una corriente en el terminal de base controla la corriente del colector al
emisor. La fuente de corriente en el colector depende de la corriente de base, ÍB. Conforme
aumenta, /j?, la corriente de colector, le, aumenta en forma proporcional. La constante de
proporcionalidad se llama bela (B¿ así tenemos :
B = ic/iB (1.1)
Base
Fuente
Fuente
tBColector
'E Carga Carga
^ \r/
E
(a) (b)
Fig. 1.4 Circuito simple de transistor
La unión base-emisor actúa como un diodo polarizado en directo con una corriente
ÍB + íc- La unión base-colector está polarizada en inverso y exhibe una corriente de fuga
pequeña, ICBO y una corriente grande, Bia. Esta última es provocada por la interacción de
corrientes en la base. Queda claro que
E - B (1.2)
'Lo, ganancia de comente en base común, a, se define como la razón del cambio en
la corriente de colector al cambio en la corriente de emisor, suponiendo que la tensión
entre el colector y la base es constante.
Una expresión general para la comente de colector considerando el factor anterior,
es:
ic ~ a ÍE +1CBO (1.3)
Una suposición que se realiza a menudo como simplificación es que la corriente de
colector es aproximadamente igual a la corriente de emisor. Esto es, como TCIIO resulta
muy pequeña comparada con ic y como a está entre 0.9 y 0.999, se tiene
ic = is (1.4)
1.1.2 CONFIGURACIONES CIRCUITALES CONT.B.J.
Existen tres configuraciones usadas en circuitos de transistores. La más utilizada es
la de amplificador en emisor común (EC), así llamada porque'el emisor se encuentra en el
lazo de entrada como en el de salida, (ver figura 1.5). El siguiente circuito más utilizado es
la configuración en colector común (CC), también conocida como seguidor de emisor La
tercera configuración es el circuito en base común (BC).
B
c
r>IB
+
V0
E
Fig. 1.5 Configuración básica en Emisor Común
La conexión de los tres terminales del transistor para lograr su respectiva
configuración es:
a) Emisor Común: Terminal de entrada: Base
Terminal de salida: Colector
Terminal común : Emisor
b) Colector Común: Terminal de entrada: Base
Terminal de salida : Emisor
Terminal común : Colector
a) Base Común: Terminal de entrada: Emisor
Terminal de salida : Colector
Terminal común : Base
Para nuestro propósito estudiaremos básicamente el análisis en Emisor Común,
puesto que el equipo a construirse presentará todas Jas características del transistor y su
acción amplificadora en dicha configuración.
1.1.3 CURVAS CARACTERÍSTICAS DEL T.B.J
Como el transistor es un dispositivo no lineal, una forma de definir su operación es
usar una serie de curvas características. Existe un conjunto de curvas para cada tipo de
transistor. Como no se refiere a dispositivos de dos terminales, las ecuaciones incluyen al
menos tres variables. Por tanto, se utilizan cun>as paramétricas para describir el
comportamiento del transistor. En las figuras 1.6 y 1.7 se muestran dos gráficas
características. En la figura 1.6 se ilustra la corriente del emisor como función de la tensión
entre la base y el emisor cuando VCE se mantiene constante. Nótese que, como se podría
esperar, esta curva es similar a la del diodo,, ya que constituye la característica de la
corriente en una unión simple. Si ahora iB se mantiene constante, la unión colector-emisor
se define por la curva fe contra VCE mostrada en la figura 1.7. Como puede verse en esta
curva típica, la corriente de colector es casi independiente de la tensión entre el colector y
el emisor, dentro del "intervalo lineal" de operación. Cuando ÍB se aproxima a cero, ic se
acerca a cero de manera no lineal. Esto se conoce como operación en la reglón de. corte.
Para la sección de las curvas características donde VCE se acerca a cero, /c es máxima. Esta
región, conocida cono región de saturación^ no es útil para amplificar debido a la
operación no lineal.
0.2 0.4 0.6 0.8
Fig. 1.6 Cardcterísüca Base-Emisor del transistor
Jc(mA) Región de Saturación
70
60
J50
: 40
30
20
10
Región de Corte
Región Activa o lineal
%***<&
5 10
f
!-
_
20 Vcc Vc
_
Fig. 1.7 Caracterísüca colector-emisor
Para obtener este tipo de curvas características de un transistor de silicio npn, en la
configuración Emisor Común, se deberá utilizar el circuito de la figura 1.8. El cual, si hace
referencia a la característica de entrada base-emisor, necesitaremos aplicar un voltaje
constante (VA) a dicha juntura y proseguir a tomar muestras de corriente de base. En el
caso de la característica de salida colector-emisor debemos aplicar un voltaje constante
(Ve ) a dicha juntura y tomar muestras de corriente de colector.
niA^-~^,A
JE.C
LNPN
BE(^
71J
si)
^TC-^ /-£- Vn
V.
Fig. 1.8 Circuito básico para obtener las curvas características de un transistor
1.1.4 POLARIZACIÓN, ESTABILIDAD TÉRMICA Y REGIONES BE
TRABAJO DEL T.B.J
Para que el transistor actúe corno un amplificador es necesario una polarización
adecuada en cada uno de los terminales., así:
La juntura Base-Emisor debe estar en polarización directa, para reducir la barrera
de potencial y permitir el flujo de mayor cantidad de electrones en el transistor.
La juntura Base-Colector en polarización inversa, para permitir que los electrones
que se encuentren en la base lleguen a su destino.
Existen tres configuraciones básicas de polarización utilizando TBJ: circuito de
polarización fijo, circuito de autopolarización con resistencia en el emisor y el circuito de
polarización total. La elección del tipo de polarización se define en cuanto a la estabilidad
del circuito.
La necesidad de incluir una resistencia del emisor a tierra es proporcionar un
medio de estabilización del circuito, para que el cambio de corriente de colector debido a
las corrientes de escape en el transistor y el B del transistor no causara un gran
desplazamiento (si era lo que había) en el punto de operación. La resistencia en el emisor
no debe ser demasiado grande debido a que el voltaje desarrollado a través de ella limita el
rango de la excursión de voltaje del colector al emisor.
El sistema de polarización total proporciona estabilización tanto para la corriente de
escape como para cambios en la ganancia de corriente. Además este método de
polarización permite al amplificador operar cerca del punto de diseño deseado a pesar de
las variaciones que se produzca en el transistor.
Para nuestro estudio y con las consideraciones anteriores realizaremos el análisis de
dos circuitos básicos polarización: El sistema de autopolarización con resistencia en el
emisor y el sistema de polarización total.
1.1.4.1 CIRCUITO DE AUTOPOLARIZACION CON RESISTENCIA EN EL
EMISOR
K-C
R inDC
RE
Fig. 1.9 Autopolarización con resistencia en el Emisor
10
En la figura 1.9 se ilustra una forma de polarización con moderada estabilidad
conocida como retroáíimentación de comente, donde la corriente de colector a través de
RC provoca una retroáíimentación negativa de tensión. El resistor de base RB, se conecta a
la fuente, Vcc. La ecuación para el lazo de corriente de'polarización está dada por :
Vcc = IBQ RB + VBE + ICQ RE (1.5)
Aplicando la relación de la ecuación 1.1, tenemos
Vcc = VBH + ICQ ( RB/B + RO) (1.6)
Se resuelve para ICQ a fin de obtener
ICQ = (Vcc- VBH) / CM3 + RE) (1.7)
Dividiendo entre B se obtiene
VCC-VBE
Nótese que el valor de IBQ es afectado por R13, RE) VBE y B. Los valores específicos
de estos parámetros determinan entonces el punto de operación en reposo del transistor.
La retroáíimentación se produce cuando un circuito se configura de tal manera que
la entrada es afectada por la salida. En el circuito de la figura 1.10 el resistor de emisor
proporciona una forma de retroáíimentación . Si la corriente a través del colector tiende a
aumentar, la tensión a través del resistor de emisor también aumenta, par una tensión de '
entrada dada, este incremento en la tensión a través de RE reduce la tensión base-emisor y,
por tanto, también la corriente de base. Esto, a su vez, disminuye la corriente de colector
para reducir el efecto del cambio original.
El efecto en la estabilidad en DC está aún presente. De hecho, no se puede lograr
estabilidad de la polarización debido a cambios en B ya que el transistor se llevará a
saturación para cualquier valor razonable de ganancia de tensión.
11
1.1.4.2 CIRCUITO DE POLARIZACIÓN TOTAL
En el circuito previo de polarización DC los valores de la corriente de polarización y
el voltaje de colector dependía de la ganancia de corriente B del transistor. Pero el valor de
B es sensible a la temperatura, especialmente para transistores de silicio, puesto que,
también el valor nominal de beta no está muy bien definido, sería deseable por estas como
también por otras razones (remplazo del transistor y estabilidad) proporcionar un circuito
de polarización DC que sea independíente del beta del transistor.
R.inDc||
vr
_ _ _ _ __ , v
•>
IB /
'CE
R
Fig. 1.10 Circuito de polarización DC independiente de B
El circuito de la figura 1.10 cumple con estas condiciones y es un circuito de
polarización muy popular.
Si en la figura 1.10 la combinación de la fuente de polarización VCC con las
resistencias conectadas a la base del transistor se reemplaza por un equivalente Thévenín,
el nuevo circuito se reduce al indicado en la figura 1.11. Por tanto, sólo es necesario elegir
adecuadamente RBI
12
RTH+VCG-
Fig, 1.11 Circuito simplificado aplicando EqmvEÜeníe Thévenin.
La tensión equivalente de Thévenin y la resistencia de base a tierra son
(1.9)
(1.10)
Se puede resolver para REÍ y RB2 sustituyendo la ecuación 1.7 en la ecuación 1.8:
VCC/(VCC-VBB) (1.11)
(1.12)
Es necesario determinar RB1 y RB2 para establecer el punto de polarización
requerido. De un análisis anterior que supone que la corriente de colector es igual a la de
emisor. Esta es buena aproximación, ya que 13 suele ser superior a 100.
Para el circuito considerado, se desea tener alrededor del 10% de la corriente de
entrada hacia la base y alrededor del 90% a través del resistor externo equivalente, RB.
Esto proporciona estabilidad en la polarización y permite además la utilización de
ecuaciones simplificadas. Portante, la corriente enRB debe ser aproximadamente 10 veces
mayor que la corriente de base. Para lograr esto, se hace
13
R B < O . I B R E (LIS)
esto evita que las variaciones en B afecten de manera significativa el punto de operación en
DC de la etapa.
Se puede utilizar ahora la ecuación 1.7 a fin de encontrar la corriente de colector en
el punto de operación. Haciendo RB igual a 0.1BRE, se obtiene
ICQ = (VBB - VBE) / (0.1BRE/B + RE)
IcQ=(VBB-VBE)/URn (1.14)
En problemas de diseño, el diseñador tiene la opción de situar el punto de operación
Q en el mejor lugar posible. Si se desea tener la máxima excursión posible en la tensión de
salida, el punto Q se ubica en el centro de la línea de carga, como se indica en la figura
1.12.
Si, por otra parte, la señal de entrada es pequeña, a menudo ICQ se puede seleccionar como
un valor pequeño para obtener una salida lineal (sin distorsión), disipando así una menor
potencia en condición estática.
Como la especificación del punto de trabajo "Q" no proporciona el número
suficiente de ecuaciones para encontrar todos los componentes, se deben introducir
restricciones adicionales para obtener un incremento en el desempeño. Por ejemplo, se
utiliza la ecuación RB = 0,1 B RE para encontrar RBI y RBS- Recuérdese que, de acuerdo
con esta ecuación, la elección de RB hace que la localización del punto Q sea menos
sensible a variaciones en B.
14
Ic&nA)
ICQ
0 5 " 101 15i
20 Vcc>VC E(V)
CEQ
Fig. 1.12 Reda de Carga y selección del punto Q
1.1.4.3 ESTABILIDAD TÉRMICA DEL TRANSISTOR
En cualquier circuito amplificador la corriente de colector, lc, variará con cambios
en temperatura debido a tres factores principales:
1. La corriente inversa de saturación (corriente de escape), Ico, que se duplica por cada
10 grados centígrados de incremento en temperatura.
2. La tensión base-emisor (Ven), que disminuye 2.5mV por grado centígrado.
3. La ganancia de corriente del transistor, p, que aumenta con la temperatura.
Cualquiera o todos estos factores pueden hacer que el punto de polarización se
desplace desde los valores originalmente colocados por el circuito debido a un cambio de
15
temperatura.
La fuente de alimentación., Vcc, también varía, pero por lo general es independiente
de la temperatura.
Analizando los cambios de temperatura, se observa que conforme ésta aumenta, las
variaciones en los parámetros provocan que el punto Q se desplace hacia arriba (es decir,
hay un aumento en ICQ). Si la temperatura se reduce, el punto Q se desplaza hacia abajo
(es decir, hay una disminución en ICQ). Cualquier condición provoca que se reduzca la
máxima excursión pico a pico en la tensión de salida.
1.1.5 ESPECIFICACIONES MÁXIMAS DEL T.B. J
Constituyen las especificaciones técnicas que da el fabricante para seleccionar el
TBJ, y estas son:
x = máxima corriente de colector
ináx = voltaje C-E máximo
x = voltaje B-E máximo
núx = voltaje C-B máximo
= potencia máxima de disipación del T.BJ
La hoja de datos estándar del transistor incluirá por lo menos tres especificaciones
máximas: disipación del colector, voltaje del colector y corriente del colector.
El análisis lo haremos en la configuración de Emisor Común, los parámetros que no
se deberán exceder son: Icmáx, VcEmáx y laPcEmáx. La especificación de potencia o disipación
en este caso está dada por :
le
Ic (inÁ) Curva de Disipaciónde Potencia
i-VcE (V)
Fig. 1.13 Región de operación para fines de amplificación
Para fines de amplificación las condiciones no lineales de saturación y de corte
deben evitarse. La región de saturación ha sido indicada por la línea vertical en VCESAT y la
región de corte por IB = O en la figura 1.13. La región menos sombreada que resta es la
que se emplea para fines de amplificación. Aunque parece que el área de operación hubiera
sido reducida drásticamente, debemos mantener presente que muchas señales están en le
rango de microvoltios o milivoltios, mientras el eje horizontal de las características se mide
en voltios.
La región sobre la curva de disipación de potencia de la figura 1.13 debe evitarse en
el diseño de sistemas que utilicen este transistor. El máximo voltaje colector, en este caso
VCE, y la máxima corriente Ic están limitados por dicha curva. Por lo cual, los puntos A, B
no son puntos buenos de trabajo y los puntos C, D y E son puntos de trabajo del T.BJ.
17
1.1.6 CmCUlTOS EQUIVALENTES DEL TBJ PARA EL ANÁLISIS EN AC
En este tópico la atención se centrará en el análisis en pequeña señal por medio de
técnicas de uso de circuitos equivalentes. Se describe la utilización del método del circuito
equivalente usando parame/ros híbridos y parámetros T. Los parámetros del transistor
necesarios para llevar a cabo este análisis se pueden obtener de las hojas de datos de los
fabricantes.
1.1.6.1 CIRCUITO EQUIVALENTE HÍBRIDO DEL TBJ
Existen muchas formas de caracterizar redes de cuatro terminales. En un sistema de
cuatro terminales, hay cuatro variables de circuito; la tensión y la corriente de entrada, y la
tensión y la corriente de salida. Estas cuatro variables se pueden relacionar por medio de
algunas ecuaciones, dependiendo de cuales variables se consideren dependientes y cuáles
independientes.
El par de ecuaciones de parámetros híbridos (parámetros h) y su circuito equivalente
que se indica en la figura 1.14 se utiliza a menudo para el análisis AC de circuitos con TBJ.
El par de ecuaciones para una red de transistores se especifica como sigue:
(1.15)
(1.16)
Fig. 1.14 Circuito equivalente del TBJ con los parámetros h
18
donde los parámetros h se definen como:
~ hi = Vi / 1] : Resistencia de entrada del transistor.
= hr = Vi / V2 : Ganancia de tensión inversa del transistor.
= hf — í¿ I Ii : Ganancia directa de corriente del transistor.
= ho = 1-2. 1 Va : Conductancia de salida del transistor.
El circuito desarrollado usando parámetros h se muestra en la figura 1.15. En este
circuito se puede distinguir una notación distinta de los parámetros h, por ejemplo, se tiene
hie en lugar de tener hi en el circuito de la base. Este segundo subíndice nos sirve como
distinción para asegurar que se trata de un parámetro h en la configuración emisor común
EC.
h!e
IB-
E
Fig. 1.15 Circuito equivalente híbrido del TBJ para Emisor Común.
La aplicación de estos parámetros nos permitirán derivar ecuaciones para la
resistencia de entrada, la ganancia de tensión, la ganancia de corriente y la resistencia de
salida para las diversas configuraciones da amplificadores, nosotros haremos referencia
únicamente a la configuración en Emisor Común.
19
Resistencia de entrada, R.n
En la figura 1.16 se tiene el amplificador en EC. El circuito básico se muestra en la
figura 1.16(a), mientras que en la figura 1.16(b) y (c) se muestran dos formas de circuito
equivalente. Nótese que se omitió en el modelo la ganancia inversa de tensión, hr, y la
admitancia de salida, ho.
Vcc
+
Vi > í
i¿
> R r í
(a) Circuito EC (b) Modelo en ca
(c) Entrada y salida separadas
Fig. 1.16 Configuración en EC
El circuito equivalente de la figura 1.16(b) se utiliza para derivar la resistencia de
entrada Re,,. En general, B es bastante grande para aproximar como B a 1 + B. La corriente
en RE es, por tanto, aproximadamente igual a BXÍB. Si ahora el circuito se divide como en
la figura 1.16(c), la corriente a través del resistor en serie con h¡e en el lazo de entrada es ÍB.
entonces para mantener la tensión en el mismo valor que en el circuito original., se debe
cambiar el valor del resistor a BRE. La resistencia de entrada se encuentra entonces
escribiendo las ecuaciones de Kirchoff1 para el lazo cerrado de entrada.
1 Ley de corrientes y Ley de voltajes de Kirchoff
20
R.n = RB (hfc + BRE)/(RB + h!c + BRE) (1.17)
Al sustituir h¡e = Bh¡b se obtiene
RB (hib + RE)/(RB/Í3 + h¡b + RE) (1.1 8)
Si RB es despreciable comparada con BRE, la ecuación (1.17) se puede simplificar
como :
Rcn = RB (1.19)
La ecuación (1.18) es la forma larga de la ecuación y requiere sólo una
aproximación, esto es, B » 1. La ecuación (1.19) está en forma corta porque requiere la
aproximación adicional de que RB « BRE, que a menudo se expresa como :
RB<0.1BRE.
Ganancia de tensión, Ay
La anancia de tensión se encuentra de la definición
La relación de corriente aplicada a la salida de la figura 1 . 1 6(c) da
el signo negativo resulta de la dirección opuesta de B/s con respecto a /¿, entonces
PRLÍD RLZT- V — Av¡ R L +RC
Se desea obtener una expresión para Av que no contenga otras variables. Esto es,
se necesita eliminar iB y Vi de la ecuación anterior. Aplicando una serie de sustituciones y
reemplazos se llega a:
Av = -BCRL |]Rc) / (h[e + Av / BRE)
+ RE) (1.20)
21
Si h¡b « RE, la ecuación se reduce aún más hacia la forma corta dada por la
ecuación (1.21)
Av = ~CMRc)/RE 0.21)
Ganancia de corriente, Ai
La ganancia de corriente se encuentra a partir de la fórmula de ganancia de
impedancia:
Ai = RcnAv/RL
Sustituyendo Av y 'Ren de las ecuaciones (1.18) y (1.20), se obtiene la forma larga
de ganancia de corriente de la ecuación (1.22)
(1.22)
Si RB « BRn y h¡b « RE, la ganancia de corriente se simplifica a la expresión en
forma corta de la ecuación (1.23):
RL)] (1.23)
Resistencia de salida, Ro
Como se muestra en la figura 1.15, en el circuito equivalente para el transistor, el
circuito de salida contiene un generador de corriente ideal en paralelo con una resistencia
de valor 1/ho. la fuente de corriente ideal exhibe una impedancia infinita, ya que se mide la
resistencia de salida con la entrada en circuito abierto (es decir, IB — O mA). la resistencia
de salida para el transistor en emisor común es entonces
Por lo general, el parámetro h^ es bastante pequeño como para ser despreciado en
los cálculos, de modo que la magnitud de la resistencia de salida del transistor se vuelve
22
infinita, el valor de Iv se puede determinar consultando las especificaciones del transistor.
La resistencia de salida, Ro, de un amplificador en Emisor Común es RC cuando r0 es
grande. Muchos de los transistores de unión tiene una r0 superior a 50
1.1.6.1.2 DETERMINACIÓN GRAPICADE LOS PARÁMETROS HÍBRIDOS
Utilizando derivadas parciales, podemos demostrar que la magnitud de los
parámetros h para el circuito equivalente del transistor con pequeña señal en la región de
operación para la configuración EC puede encontrarse utilizando las siguientes
ecuaciones:
hie = 8vi / 8¡i = SVBE / 5*t ~ AVBE / AÍB (1.24)
con VCE = cíe.
hre = Svi / 5V2 = SVBE / §VCE ~ AVBE / AVCE (1.25)
con IB = cíe.
hfe = 5¡2/8¡i = 8ie/S¡B«A¡c/AiB (1.26)
con VCE = cte.
hoe = 5¡2 / 6v2 = 5¡c / SVCE ~ A¡c / AVCE ( 1 .27)
con ÍB = cte.
Los valores constantes de VCE e IB en cada caso se refieren a una condición que
debe cumplirse cuando los diversos parámetros son determinados de las características del
transistor.
Los parámetros hie y hre se determinan de las características base-emisor o de
entrada, mientras que los parámetros h^ y h^ se obtienen de las características de salida o
características de colector. El primer paso para la determinación de cualquiera de los
cuatro parámetros híbridos es encontrar el punto de operación quiescente2. En la ecuación
(1.26) la condición VCE = constante requiere que los cambios en la corriente de base y la
corriente de colector se tomen a lo largo de una línea vertical dibujada a través del punto
2 Punto de trabajo del amplificador/ punto Q
23
Q que representa un voltaje colector-emisor fijo.
Ic(mA)
80
70
60
50
A 40
1 c
hr*^~
s
5
i» °<v s
10Ve
> ú*B
EO
D 30
20
10
IB=Oj^A11
.5 20 Veo VciífV)
AV,C.P.
Fig. 1.17 Determinación de hre y hoe
En la figura 1.17 el cambio en ÍB se eligió para que se extendiera desde IBI a Isa a lo
largo de la línea perpendicular en VCE, (puntos A y B). El cambio correspondiente en ic se
encuentra entonces dibujando líneas horizontales desde las intersecciones de IBI e Is2 con
VCE = constante sobre el eje vertical. Todo lo que queda es sustituir estos valores en la
ecuación (1.26) para calcular h^, en dicha figura, considerando una línea constante de ÍB,
como lo requiere la ecuación (1.27) para hoc. Un cambio en VCE se eligió entonces (puntos
C y D)3 y el cambio correspondiente en ic se determina dibujando líneas horizontales al eje
vertical en las intersecciones de ÍB — constante. Reemplazando estos valores en la ecuación
(1.27) se determina h^.
Para determinar los parámetros h¡e y hre el punto Q debe encontrarse primero en las
características de base o entrada como se indica en la figura 1.18. Para h¡e, se considera
una curva característica cuyo VCE permanezca constante a través del punto Q como se
24
requiere en la ecuación (1.24). Un pequeño cambio en VBE, resulta un cambio
correspondiente en iB. Reemplazando estos valores en la ecuación (1.24) se determina h¡e. •
El último parámetro hre, puede encontrarse dibujando primero una línea horizontal
a través del punto Q5 manteniendo constante IB como lo requiere la ecuación (1.25). La
elección natural entonces es escoger una cambio en VCE y encontrar el cambio resultante
en VBE como se indica en la figura 1.18. Reemplazando estos valores en la ecuación
(1.25) se determina hrc.
O 0.2 0.4 0.6
Fig. 1.18 Detemiiníición de h^ y lv
1.1.7 RECTA DE CARGA DE AC PARA LA CONFIGURACIÓN EMISOR
COMÚN
Un amplificador de transistor de una sola etapa en EC tiene la forma mostrada en
la figura 1.19, donde RL es la carga y se encuentra acoplada al amplificador mediante los
capacitores de paso, estos capacitores son circuito abiertos para DC y cortocircuitos para
AC (en la región de operación de frecuencias medias que se trata aquí).
. 25
ce D C
R C
Fig. 1.19 Etapa de amplificación en AC para EC
La resistencia en el circuito colector-emisor para operación en DC es Re + RE, la
cual se define como RDC- Cuando la carga se acopla al transistor a través de un capacitor,
la resistencia en AC es diferente. Bajo condiciones de AC, la resistencia en el circuito
colector-emisor es:
(1.28)
Para el caso anterior se considera despreciable la resistencia existente entre la
juntura colector-emisor del transistor, debido a que no es comparable con los valores Re,
RE y RL del amplificador.
Nótese que para operación en AC, la terminal Vcc se conecta a tierra. Si el resistor
de emisor se pone en corto con un capacitor, entonces la resistencia en AC es sólo :
R3c = RL]|Rc (1.29)
La línea de carga de AC tiene una pendiente de -l/Rac. Como una entrada en AC
igual a cero coloca el punto de operación en el punto Q, la línea de carga interseca la línea
de carga de DC en el punto Q. si la señal de entrada es pequeña, el punto Q debería
26
localizarse normalmente para minimizar la corriente de colector estacionaria. Al diseñar
dichos circuitos se eleva el valor de ICQ por arriba del punto cero lo suficiente para permitir
una reproducción lineal de la señal de entrada (es decir, sin distorsión por entrar en la
región de corte). Bajo esta condición, el transistor disipa menos potencia que si el punto Q
estuviese localizado en la mitad de la línea de carga de AC.
La línea de carga en DC que se determinó anteriormente, esta dada por la ecuación
+ Vcc (1.30)R E +R C RE+RC
como los capacitores de acoplamiento son circuitos abiertos en DC, esta línea de
carga se aplica al circuito de la figura 1.19. La linea de carga se gráfica en las curvas
características de la figura 1.20. A continuación se repiten las definiciones de resistencia en
AC y DC.
Rjc = resistencia total alrededor del lazo colector-emisor bajo condiciones de DC (los
capacitores se consideran circuitos abiertos).
Rae = resistencia total alrededor del lazo colector-emisor bajo condiciones de AC (las
fuentes de DC se hacen cero y los capacitores se consideran cortocircuitos).
Para el circuito de la figura 1.19, se tiene
Rd. = RE + RC (1.31)
Rac = RL RC + RE (1-32)
La ecuación para la línea de carga en DC es entonces
(1.33)
El punto Q, se ubica tanto en la línea de carga de AC como en la de DC. La línea
de carga de AC pasa a través del punto Q y tiene una pendiente de -l/Rac. Esta pendiente
es de mayor magnitud que la de la línea de carga de DC. La línea de carga de AC se
gráfica en la figura 1.20.
27
Línea de carca de ca con pendiente = -ñ—
\a de carga de cd con pendiente = -V/\. 1.20 Línea de carga para AC y DC
La intersección de la línea de carga de AC con el eje ic es entonces
I'c ~ + ICQ (1.34)
La intersección de la linea de carga de AC con el eje Voz es, con ic ~ O,
(1.35)
Si se desea diseñar el amplificador para máxima excursión en la tensión de salida,
el punto Q se debe colocar en el centro de la línea de carga de AC. Es cuestión de
geometría colocar el punto Q para máxima excursión. Para garantizar que la señal
amplificada no sufra recortes ni distorsiones, tendremos que utilizar la figura 1.21. En esta
figura podemos visualizar que se producen recortes por las siguientes razones;
28
Si Vin supera O1
Si Vo es mayor que Vcc1
Si existe intersección entre 1 y 2
Para que no existan recortes entre la señal de entrada y salida se debe considerar:
VcE-Vop + Vip + Vca.1 (1-36)
El VcEsat es el voltaje que debe existir entre colector y emisor para que no exista
distorsión. VcGsumín^ 0.3 V. Para garantizar que el transistor no llegue a la región de corte
(Ic-0).
ICQ icp
VRc/Rc>V01)/RL' (1.37)
Fig, 1.21 Señal de entrada y salida de un amplificador con TBJen la configuración Emisor Común
ReVRc > —- V0p
K.L'
Esta ecuación nos garantiza que no exista distorsión debido a la corriente de
colector. Para que no se produzca distorsión de la señal por la corriente de emisor se tiene:
(1 -3 S)EQ
R_E
RE-VÉ > — V¡np (1.39)
Para diseñar el valor de la fuente se tendría lo siguiente:
Vccl > VE + VopH-Vip + VcESat + VRc (1.40)
Para propósitos de diseño se tiene:
Vcc=1.2Vcci (1.41)
30
1.2 TRANSISTOR DE EFECTO DE CAMPO
1.2.1 DESCRIPCIÓN GENERAL.
El Transistor de Efecto de Campo (FET: field-effect transistor) es un
dispositivo unipolar debido a que la corriente se debe a los portadores mayoritarios.
Opera como un dispositivo controlado por voltaje, ya sea con corriente de electrones
en un FET de canal n o con corriente de huecos en un FET de canal P.
Pueden hacerse unas cuantas comparaciones generales entre los dispositivos FET
y BTJ y los circuitos resultantes.
1. Los FET son dispositivos sensibles a la tensión con alta impedancia de entrada
(del orden de 107 a 1012 O. ). Como esta impedancia de entrada es
considerablemente mayor que la de los TBJ3 se prefieren los FET a los TBJ para
la etapa de entrada de un amplificador multietapa.
2. Los FET generan un nivel de ruido menor que los BTJ.
3. Los FET son más estables con la temperatura que los TBJ.
4. Los FET son, en general, más fáciles de fabricar que los TBJ pues suelen
requerir menos pasos de enmascaramiento y difusiones.
5. Los FET se comportan como resistores variables controlados por tensión para
valores pequeños de tensión drenaje a fuente.
6. La alta impedancia de entrada de los FET les permite almacenar carga el
tiempo suficiente para permitir su utilización como elementos de
almacenamiento.
7. Los FET de potencia pueden disipar una potencia mayor y conmutar corrientes
grandes.
8. La respuesta en frecuencia de los FET es pobre debido a la alta capacitancia de
entrada.
9. Algunos dispositivos de FET presentan una linealidad muy pobre.
10. Los FET se pueden dañar al manejarlos debido a la electricidad estática.
31
1.2.2. TIPOS DE FET.
Se consideran tres tipos principales de FET:
1. FET de unión (JFET)
2. FET metal-óxido semiconductor de empobrecimiento (MOSFET de
empobrecimiento)
3. FET metal óxido semiconductor de enriquecimiento (MOSFET de
enriquecimiento).
1.2.3. OPERACIÓN Y CONSTRUCCIÓN BEL JFET
A diferencia del TBJ, el FET tiene una unión pn en vez de dos. En la figura
1.22 se muestra un esquema de la estructura física del JFET. El JFET de canal n,
mostrado en la figura 1.22 (a), se construye usando una barra de material n con dos
partes de material p difundidos en ella. El JFET de canal p se elabora empleando una
barra de material tipo p con regiones difundidas tipo ??, como se muestra en la figura
1.22(b).
Región n Región
(a) Canal n (b) Canal p
Fig. 1.22 Estructura física del JFET
Para entender cómo opera el dispositivo, se conecta el JFET de canal n de la
figura 1.22(a) a un circuito externo. Se aplica una fuente de tensión, VDD, al drenaje.
Una fuente de tensión compuerta., VGG, se aplica a la compuerta. Esta configuración
se muestra en la figura 1.23 (a).
32
(a) (b)
Fig. 1.23 Funcionamiento del JFET
VDD proporciona una tensión drenaje a fuente, VDS, que provoca una corriente
de drenaje, ÍD, del drenaje a la fuente. La corriente de drenaje, ID, que es idéntica a la
corriente de fuente, existe en el canal rodeado por la compuerta de tipo p. La tensión
compuerta a fuente, ves, que es igual a -Vcc, crea una región desértica en el canal,
que reduce el ancho de éste y por tanto aumenta la resistencia entre drenaje y fuente.
Como la unión compuerta-fuente está polarizada en inverso, el resultado es una
corriente de compuerta nula.
Si consideramos inicialmente la operación de un JFET con vas ™ O, como se
muestra en la figura 1.23 (b), la corriente de drenaje, iD} a través del canal n del
drenaje a la fuente provoca una caída de potencial a lo largo del canal, con el
potencial más alto en la unión drenaje-compuerta. Esta tensión positiva en la unión
drenaje-fuente polariza en inverso la unión/;/? y produce una región desértica, como
se ilustra en el área sombreada de la figura 1.23 (b).
Cuando se incrementa VDS, también aumenta la corriente de drenaje, ¡D, como
se muestra se en la figura 1.24. El resultado de esta acción es un aumento de la región
desértica y de la resistencia del canal entre el drenaje y la fuente. Conforme aumenta
VDS, se alcanza un punto donde se forma una región desértica a través de todo el canal
33
y la corriente de drenaje alcanza su punto de saturación. Si se aumenta v$s más allá de
este punto, /D permanece constante. El valor de la corriente de saturación de drenaje
con Vos - OV es un parámetro importante y se denomina comente de drenaje de
saturación^ IDSS-
1.2.4 Curvas Características en el JFET.
Del mismo modo que para un TBJ, en los JFET se presentan un conjunto de
curvas características que pueden ser graneadas en forma paramétrica.
1.2.4.1 Característica de Salida del JFET.
En el caso del TBJ, las curvas características (je vs. VCE) tienen a /# como
parámetro. El FET es un dispositivo controlado por voltaje y se controla mediante
VGS. En la figura 1.24 se muestran las curvas características (¡D vs. VDS) tanto para un
JFET de canal n como para uno de canal p, y la simbología correspondiente.
ÍDSS= O V
foss
= -1 V
VGS = -2 V
= O V
VGS = + 1 V
VGS =+2 V
G'
T D ?D
> AS
(a) Canal n (b) Canal p
Fig. 1.24 Simbología y Característica (1D vs. VDS) de un XFET
VDS
34
Conforme se incrementa VGS (más negativo para un canal n y más positivo para
un canal p) se forma la región desértica y se cierra para un valor menor que ¡D. Por
tanto, para el IFET de canal n de la figura 1.24(a), la /¿> máxima se reduce desde IDSs
conforme VGS se hace más negativo.
Si VGS disminuye aún más, se alcanza un valor de VGS después del cual i& será
cero sin importar el valor de VDS- Este valor de VGS se denomina VGSOFF, o tensión de
estrangiikmiienlo (\?p). El valor de VP es negativo para un IFET de canal n y positivo
para un JFET de canal p.
1.2.4.2 Características de Transferencia del JCFET.
Otra forma de la característica del dispositivo es la curva de característica de
transferencia, la cual es una curva de la corriente de drenaje, IDa como función del
voltaje de compuerla-fuente, VGS, para un valor constante del voltaje drenaje-luente,
VDS. Como se observa en la figura 1.25, se presentan dos puntos importantes de la
curva de transferencia : los valores IDSS y VP. Cuando estos puntos están fijos, el resto
de la curva puede observarse sobre la característica de transferencia u obtenerse de
consideraciones teóricas del proceso físico que ocurre en el JFET, lo que conduce a la
relación3:
1 --1 VV
que representa la curva de la característica de transferencia de la figura 1.25. Hay que
notar que cuando VGS — OV, ID = IDSS y que cuando ID = OA, VGS = VP, como se
observa sobre la característica de transferencia.
Para aquella región en que ÍD se vuelve constante puede usarse la ecuación:
3 Esta expresión, conocida como ecuación de Shockley se aplica porencima de la región de oclusión en el JFET.
35
VDS(sal) - Vgs + V (1.43)
Fig. 1.25 Característica de transferencia del JFET (Canal N)
En la figura 1.26, se muestran las características de transferencia y las
características (/DVS. VDS) para un JFET de canal n. Se granean con el eje //> común.
Conforme VGS se vuelve más negativo, el estrangulamiento se produce a menores
valores de v^s y la corriente de saturación se vuelve más pequeña. La región úül para
operación lineal es por arriba del estrangulamiento y por debajo de la tensión de
ruptura. En esta región, ÍD está saturada y su valor depende de VGS, de acuerdo con la
ecuación 1.42 o con la característica de transferencia.
Las curvas características de transferencia (ID vs. VGS) para el JFET, que se
muestran en la figura 1.26, son diferentes de las curvas similares para el TBJ: el FET
es un dispositivo controlado por tensión, mientras que el TBJ es controlado por
corriente. El parámetro de control para el FET es la tensión compuerta-fuente en
lugar de la corriente de base, como en el TBJ.
Existen otras dos diferencias entre el JFET y el TBJ. Primero, el espaciamiento
entre pares de curvas paramétricas para el FET no está relacionado de manera lineal
36
con el valor del parámetro de control. Así por ejemplo, en la figura 1.26 la distancia
entre la curva con vGs = O V y la curva con VGS ~ -1 V no es la misma que entre la
curva con vG5 - -1 V y VGS — -2 V. Esto contrasta con las curvas para el TBJ, donde
existe una relación más lineal.
ioss ---
Frontera entre las regionesóluuica y activa
]
! VGS = 0 Vf\ Región
1 activa - 1 Vi
^7[
í -2Vi
i¿ f
rf
r
/ i/ i
Región deRuptura
10 15
BV,GDS
(a) Característica de Transferencia (b) Característica (iD vs. VGS)
Fig. 1.26 Características del JFET
La segunda diferencia se relaciona con el tamaño y la forma de la región
óhmica de las curvas características. Se observa que el ancho de dicha región para el
JFET es función de la tensión compuerta a fuente. Conforme disminuye la magnitud
de la tensión compuerta a fuente, aumenta el ancho de la región óhmica. Se observa
también en la figura 1.26 que la tensión de ruptura es función de la tensión compuerta
a fuente. De hecho, para obtener una amplificación de señal razonablemente lineal, se
debe utilizar solo un segmento relativamente pequeño de estas curvas; el área de
operación lineal se encuentra en la región activa.
La región entre el estrangulamiento y la ruptura se denomina región activa,
región de operación del amplificador, región de saturación o región de
estrangulamiento. La región óhmica del FET puede usarse cuando se desea un
resistor variable y en aplicaciones de conmutación.
37
La tensión de ruptura es función de VGS así como de VDS. Conforme aumenta la
magnitud de la tensión entre compuerta y fuente (más negativa para el canal n y más
positiva para el canal p), disminuye la tensión de ruptura. Con VGS ~ Vp, la corriente
de drenaje es cero y con VGS — O, la corriente de drenaje se satura a un valor dado
por:
ÍD = IDSSJ
donde Ij>ss es la corriente de saturación drenaje a fuente.
La corriente de saturación drenaje a fuente, IDSS'^S función de la temperatura, así;
lDss = KT3/2 (1.44)
donde K es una constante de proporcionalidad. La tensión de estrangulamiento es una
función aproximadamente lineal de la temperatura (como es el caso de la corriente
base-emisor en el TBJ); portante:
= -kpAT (1.45)
j j mVdonde k p « 2 — r
v_»
1.2.5. Parámetros del JFET.
Los fabricantes especifican varios parámetros para describir el dispositivo
JFET y brindar los datos necesarios para la selección entre distintas unidades.
Algunos de los parámetros más útiles que se especifican son:
1. IDSS, la corriente de saturación drenaje-fuente.
2. VP = Vcscapagudo), el voltaje de oclusión o el voltaje de apagado de compuerta-
fuente.
3. BVcss, el voltaje de ruptura del dispositivo con el drenaje-fuente en corto.
4. gni = grsj la transconductancia del dispositivo.
5. ^(encendido), la resistencia drenaje-fuente cuando el dispositivo conduce.
38
Otra serie de parámetros relacionados con la capacitancia del dispositivo, el
voltaje de ruido, el número de veces que se enciende y apaga y el manejo de potencia,
suelen proporcionarse también en las hojas de especificaciones del fabricante.
Corriente de Saturación de drenaje fuente, Iüs;i
La corriente de Saturación de drenaje fuente, IDSS, corresponde a la corriente a
la cual se obstruye el canal- cuando la compuerta-fuente se pone en cortocircuito (Vos
= 0). Si el IFET es para señales pequeñas, esta corriente es casi siempre del orden de
miliamperios.
Voltaje de corte de compuerta fuente, V?.
El Voltaje de corte de compuerta-fuente, Vp, es aquel voltaje al cual se corta o
cierra el canal de drenaje- fuente, y da por resultado esencialmente la ausencia de
corriente de drenaje.
Voltaje de ruptura de compuerta fuente,
El valor de voltaje de ruptura indica un valor límite de voltaje entre la fuente-
compuerta, arriba del cual la corriente del dispositivo debe limitarse mediante un
circuito externo, de lo contrario, el JPET puede dañarse en forma permanente. El
valor de Voltaje de ruptura de compuerta fuente, BVoss proporciona un valor de
voltaje límite que se utiliza en la selección del voltaje de la alimentación del drenaje.
Transcoaductancia de transferencia directa de fuente común, gm.
El parámetro de Transconductancia de transferencia directa de fuente común,
gm, es una indicación de la amplificación del JPET. Matemáticamente expresa la
relación:
39
aD AÍD(1.46)
Avüs = constante
Aplicando a la anterior relación la ecuación (1.42), puede obtenerse el valor numérico
de gm del siguiente modo;
í VG ^g = g l — • (1.47)
donde
El valor gm0 es el parámetro de ganancia de AC máximo del IFET que ocurre
en una polarización de VGS = OV. En cualquier otra condición de polarización., el valor
de gm es menor.
La transconductancia gm, no permanece constante si cambia el punto Q. Esto
se puede ver por la determinación geométrica de gm a partir de las curvas de
transferencia características. Conforme cambia iD, varía la pendiente de la curva de
transferencia característica de la figura 1.25, cambiando por tanto gm.
Resistencia dinámica en inverso, ros
La Resistencia dinámica en inverso, ros, se define como el inverso de la
pendiente de la curva (ÍDV* VDS) en la región de saturación:
AiD
AvD SS ^constante (1.49)
Como la pendiente de esta curva es muy pequeña en la región activa, ros es grande.
40
1.2.6. Circuito Equivalente, gm y rDs
Usando las ecuaciones (1.46) y (1.49) se puede obtener la expresión siguiente:
AiD = gm Aves + AvDs / rDs (1.50)
la cual conduce al circuito equivalente mostrado en la figura 1.27 (a). Debido a que ros
es muy grande, por lo general se puede utilizar el circuito equivalente simplificado de
la figura 1.27 (b) para determinar el desempeño en la región activa de un JFET. La
ecuación 1.50 se convierte ahora en:
AiD =graAvGS (1.51)
D ¿D D
í=—o
G -ÍTflVGs
s(a) Incluyendo (b) Simplificado
Fig. 1.27 Circuito equivalente FET
1.2.7. Polarización del JFET
La polarización de corriente continua en un dispositivo JFET requiere
establecer el voltaje compuerta-íuente, lo cual produce la corriente de drenaje que se
desea. En un JFET la corriente de drenaje está limitada por la corriente de saturación,
IDss; además tiene una impedancia tan alta cuando se mira hacia la compuerta que el
voltaje DC de la compuerta fijado por un voltaje fijo de batería o un divisor de tensión
no es afectado o cargado por el FET.
. La polarización fija DC permite ajustar el voltaje de polarización inverso de
compuerta-fuente como en la figura 1.28. La fuente VGG se utiliza para fijar el voltaje
41
de polarización inverso VGS sin que se produzca corriente a través de RG o la terminal
de la compuerta.
IG=OA
Puesto que la compuerta-ñiente está polarizada en forma inversa, no hay
corriente a través de esa unión. No pasa corriente DC por el capacitor C3 de modo
que no se produce corriente a través del resistor RG. La fuente proporciona un voltaje
VGS para polarizar el JFET (canal N ó canal P), pero no se consume ninguna corriente
resultante desde dicha fuente, VGG.
La resistencia RG se incluye para permitir que cualquier señal de AC aplicada a
través del capacitor C se desarrolle en RG. En tanto que cualquier señal de AC se
desarrollará en RG, la caída de voltaje DC a través de RG es:
+VDDo
V¡ o 1rGS
— VGG
RD
DS
Fig. 1,28 Amplificador en base a FET
El voltaje compuerta-fuente VGS es entonces :
-O = V,GG
42
La corriente ID se fija según VGS de acuerdo a la ecuación de Shockley (1.42).
Esta corriente produce una caída de voltaje a través de la resistencia RD
~ I
1.2.7. Configuraciones de amplificadores con JFET.
De igual forma que para los TBJ, se pueden lograr las tres configuraciones de
manera similar. Dependiendo de donde se encuentra la entrada y salida de AC se
pueden definir tres tipos de configuraciones;
Configuración Fuente Común.
En esta configuración la señal de entrada se encuentra en la compuerta, la
salida en el drenaje y el terminal común es la fuente.
ce
CE
CD
RL
Fíg. 1.29 Configuración en Fuente Común
43
Configuración Drenaje Común
En esta configuración la señal de entrada se mantiene en la compuerta, la salida es por
la fuente y el terminal común es el drenaje.
RD
Ge})
^
n-,
>
CD\{
. K
RG Rs Ri_ i Vo
Y
Fig. 1.30 Configuración Drenaje común
Configuración Compuerta Común,
'ce
RD
Fig, 1.31 Configuración Compuerta común
v
44
En este caso la señal de entrada se encuentra en la fuente, la salida por el
drenaje y el terminal común es la compuerta.
1.2.9 Análisis de pequeña señal del JFET
Para este análisis se usará la configuración de amplificación Fuente Común,
como se indica en la figura 1.32(a). Utilizando el circuito equivalente AC del JFET, la
figura 1.32(b) muestra el circuito correspondiente AC para el amplificador indicado.
+ Vcc
-j- i en
V:
Vi ~VGG
(a) Configuración circuital
G
(b) Circuito Equivalente
Fig. 1.32 Amplificador Fuente común
Se supone que TDS es grande comparada con Rofl
despreciar. .
, por lo que se puede
45
Usando el gráfico 1.32 (b) se puede establecer la primera ecuación a partir del
circuito de compuerta:
Vg, = V¡ - RS ÍD = V; - RS gm Vgs (1.52)
de donde:
v:
(1.53)
La tensión de salida, v0, está dada por
La ganancia de tensión, Ay, es:
y
V:
RL
• O" V.om v i
R
(1.54)
(1-55)
La resistencia de entrada y la ganancia de corriente están dadas por:
Ai =i o AvR, R
Ro m
(1.56)
46
CAPITULO 2
DISEÑO DEL EQUIPO DEPRUEBA DE AMPLIFICADOR A
TRANSISTOR (EPAT)
2.1 DESCRIPCIÓN GENERAL DEL EQUIPO
2.2 GENERADOR DE SEÑAL INTERNO
2.3 CIRCUITO DE SINCRONISMO YTEMPORIZACIÓN
2.4 CIRCUITO DE BARRIDO
2.5 CIRCUITOS ESPECÍFICOS PARA TBJ
2.6 CIRCUITOS ESPECÍFICOS PARA JFET
2.7 CIRCUITO DE ALIMENTACIÓN GENERAL
2.1 DESCRIPCIÓN GENERAL DEL EQUIPO
El Equipo de Pruebas de Amplificadores a Transistor "EPAT" representa un
considerable avance en la enseñanza de las características de los transistores. Usado
conjuntamente a un osciloscopio de rayos catódicos, ORC, el EPAT provee una
demostración gráfica de varías características de un amplificador implementado en base a
transistores bipolares (TBJ) o transistores urujuntura (JFET). El EPAT permitirá visualizar'
en forma simultánea las características de entrada y salida, punto de operación y formas de
onda del amplificador realizado en base al dispositivo de prueba (TBJ ó JFET).
La estructura básica del "EPAT" se encuentra dividida en dos secciones, una sección
de estímulos, la cual provee de voltajes y corrientes, que son aplicados al dispositivo bajo
estudio; y una sección de mediciones, la cual toma una muestra o medida de los efectos
que producen los estímulos. Para poder visualizar cualquier curva característica de los
transistores necesitamos utilizar el ORC en la condición X vía B(4) , de modo que cada
canal del osciloscopio provea las formas de onda necesarias, dependiendo de la señal que
se quiera obtener.
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Fig. 2.1 Disposición de la pantalla del osciloscopio para la condición X vía B
4 La mayoría de osciloscopios disponibles en el mercado presentandos canales de entrada denominados a y b aplicados a las placasdeflectoras Y, siendo además visibles simultáneamente, y brindan laposibilidad que uno de ellos reemplace a la unidad de base . detiempos en las placas deflectoras X, mediante la opción denominada Xvia b.
47
Valiéndonos de la pantalla del osciloscopio en la condición X vía B, y considerando
el centro de la pantalla como eje de coordenadas y referencia, como se indica en la figura
2.1, el esquema de presentación de las diferentes curvas en la pantalla del osciloscopio en
la condición X VIA B, será el siguiente;
Para un TB J:
• Dividiendo en cuatro cuadrantes la pantalla del osciloscopio., la curva característica
del transistor (Voz en función de Ic) se visualizará en el primer cuadrante para un
transistor NPN y en el tercer cuadrante para un PNP. Superpuesta a esta curva se
tendrá la recta de carga que presente el amplificador en la configuración Emisor
Común. Con esta recta, se podrá determinar el punto de trabajo Q óptimo5 del
amplificador.
• La característica de entrada del amplificador (VBE en función de IB) para un NPN se
visualizará en el segundo cuadrante, y para el caso de un PNP en el cuarto
cuadrante.
• La señal de base que entra al amplificador en Emisor Común, para un NPN se
encontrará en el tercer cuadrante, y para un PNP en el primer cuadrante.
• La señal de salida del amplificador, para un NPN se visualizará en el cuarto
cuadrante, y para un PNP en el segundo cuadrante. Esta señal puede ser manipulada
externamente para obtener ganancias variables del amplificador.
El gráfico 2.2(a) ilustra de manera aproximada la forma de distribución de los trazos
apreciados en el ORC para un transistor NPN. La figura 2.2(b) indica los mismos trazos
para el caso de un transistor PNP.
5 Punto Q óptimo de trabaj o : ' se refiere a los valores de voltaj e ycorriente de polarización del amplificador que permiten obtener unaseñal de salida para el amplificador libre de distorsión.
48
2.2(a)
2.2(b)
Fig. 2.2 Distribución de formas de onda del EPAT para :(a) Lraiisistor NPN, (b) transistor PNP
Para un JFET
La curva característica del JFET (Vos en función de ID), para un canal N se
visualizará en el primer cuadrante, y para un canal P en el tercer cuadrante.
La característica de transferencia del JFET (Ves en función de ID), para un canal N
se podrá observar en el segundo cuadrante., y para un canal P en el cuarto cuadrante.
Superpuesta a ésta, se tendrá la recta de carga del amplificador en Fuente Común.
Observando la intersección de esta dos curvas, se podrá determinar el punto de
trabajo óptimo Q del amplificador.
La señal de compuerta que entra al amplificador en la configuración Fuente Común,
para un canal N se observará en el tercer cuadrante, y par un canal P en el primer
cuadrante.
* La señal de salida del amplificador, para un canal N se visualizará en el cuarto
cuadrante, y para un canal P en el segundo cuadrante. Esta señal puede ser
manipulada externamente para obtener ganancias variables del mismo.
En las figuras 2.3 (a) y 2.3 (b) se aprecia la distribución de curvas visualizadas en el
ORC para el caso de JFETs canal N y P respectivamente.
2.3(a)
2.3(b)
Fig. 2.3 Distribución de las formas de onda para un JFET : (a) Canal N, (b) Canal P
50
El EPAT puede aceptar como entrada al amplificador, una señal externa al equipo o
una señal generada internamente. Con cualquiera de las dos señales, se realiza a
continuación un proceso de sincronización (detector de cruce por cero), el cual permite
generar un reloj básico para poder manipular a los otros dispositivos. Con los relojes
generados a partir del reloj básico, podemos manipular circuitos multiplexores de señales.
Estos circuitos nos permitirán realizar una adecuada conmutación de señales a los
terminales de los transistores, y nos permitirán a su vez poder visualizar en la pantalla del
osciloscopio todas las curvas características, realizando una adecuada multiplexación de
los dos canales del osciloscopio.
El equipo incluye una señal de barrido que será útil en la visualización de las señales
periódicas como función de tiempo en la pantalla del osciloscopio.
El EPAT permite determinar en forma directa algunas características fundamentales
del transistor de paieba, tales como:
• El estado del transistor (defectuoso o no).
• Respuesta de frecuencia del transistor (dentro del rango de frecuencia del equipo).
• El punto de trabajo Q óptimo del amplificador, en una configuración determinada.
• Determinación de B en caso de TBJ, y de gmo en caso de JFET.
• Distorsión de las formas de onda del amplificador por efectos de temperatura o por
variación de condiciones de polarización.
2.1.1 CARACTERÍSTICAS TÉCNICAS FUNDAMENTALES
Dentro de las características técnicas del equipo, haremos referencia a la corriente
de consumo, ancho de banda y a los niveles de voltaje tanto en AC como en DC que
requiere el "EPAT", además incluiremos las ganancias máxima y mínima de los
amplificadores.
51
Para facilitar dichas especificaciones, presentaremos a continuación un tópico que
explica por detallado los requerimientos del sistema.
2.1.2 DIAGRAMA DE BLOQUES DEL EQUIPO
La figura 2,4 muestra el diagrama de bloques generalizado del sistema a diseñarse.
En él se pueden identificar las diferentes etapas del circuito:
Polarización. Este circuito utilizará circuitos reguladores de voltaje positivos y negativos
para proporcionar valores como: +5V3 +8V3 variable de +2V a +8V, +6V, -5V, -8V,
variable de -2V a'-8V, necesarios para la polarización de todo el equipo.
Generador Senoidal Interno-Externo, Esta señal servirá como entrada al amplificador,
para habilitar uno de ellos, se utilizara un selector de 2 posiciones. El generador interno se
lo diseñará en base a un circuito generador de precisión de onda XR2206 en una
determinada configuración. El ancho de banda del generador interno será desde 400Hz
hasta SOKHz, y la amplitud de la señal senoidal variará entre 100 mVpp a 3 Vpp.
La etapa de Sincronización, consiste de un circuito detector de cruce por cero, que se lo
realiza utilizando básicamente amplificadores operacionales.
El circuito general de Barrido, consta de un circuito básico de instrumentación, el cual
utiliza un pulso que permite cargar y descargar a un capacitor.
El Contador, realizado en base a un circuito integrado CMOS CD4040, el cual permite
dividir la frecuencia de entrada de reloj hasta 12 veces. La polarización que maneja este
chip es de +6V aproximadamente.
El Generador de Escalera, es un circuito específico que utiliza el transistor, para obtener
su característica de salida. Se lo realiza en base al circuito integrado 4051, el cual
multiplexa 8 entradas en una.
52
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Fig. 2.4 Diagrama de bloques del Equipo
53
La etapa del Amplificador, que para el caso del TBJ usa la configuración en
Emisor Común, y para el JFET la configuración en Fuente Común. Esta etapa utiliza
polarizaciones variables positivas y negativas de +2V hasta +8V; y de -2V hasta -8V
respectivamente, permitiendo además la variación del punto de trabajo del amplificador
haciendo uso de potenciómetros manipulados externamente.
La etapa que permite obtener la Característica de Salida del transistor ; Ic = f(VcE3
-^ IB) ó ID = Í(VDS, la), requiere que una señal de tipo rampa sea aplicada al colector o• ?drenaje del dispositivo. Además utiliza una señal de escalera que se aplicará a la base o
compuerta del transistor. El generador de paso puede producir pasos de corriente, los
cuales son aplicados a la base del transistor bipolar., o pasos de voltaje que son aplicados a
la compuerta del JFET. Estos pasos ocurren a una tasa de un paso por ciclo de señal de
diente de sierra. Para este caso, el canal vertical tomará muestras de corriente, valiéndose
de un resistor colocado en el colector o drenaje; mientras que el canal horizontal tomará
muestras de voltaje. El voltaje medido puede ser VCE para un TBJ o VDS para un JFET.
* Los circuitos que permiten obtener la Característica de Entrada del TBJ IB =
flVsE, ^CE) y ^a Característica de Transferencia del JFET ID = f(Vcs3 VDS), requieren
para tal propósito que una señal de barrido sea aplicada a la base o compuerta del
transistor, y además se apliquen voltajes DC constantes al colector o drenaje. Para ambos
casos el canal horizontal del osciloscopio tomará muestras de voltaje, mientras que el canal
vertical tomará muestras de corriente.
A continuación se presenta un bloque completo que representa la etapa de~^k -.
Muítiplexación de Señales, la cual es indispensable para poder visualizar
simultáneamente todas las curvas de los transistores descritas anteriormente. Esta etapa
está compuesta por 3 etapas fundamentales;
a) Mux Recta de Carga, la cual nos permite mediante una adecuada conmutación
visualizar simultáneamente en el osciloscopio: la señal de base o compuerta (según
54
<*>
el dispositivo), señal de salida y la recta de carga del amplificador en estudio. Esta
multiplexación se la realiza utilizando el circuito integrado 4053, el cual se encuentra
manejado por relojes de 1/4 y 1/8 veces la frecuencia del reloj básico.
b) Mux Terminales del Transistor, el cual nos permite multiplexar (conmutar)
temporalmente los distintos estímulos (voltajes y corrientes) que ingresan o salen de
los terminales del transistor en estudio, todo esto nos sirve para poder visualizar
simultáneamente en el osciloscopio las diferentes curvas características del transistor
en estudio. Esta multiplexación se hace utilizando el multiplexer 4052, el cual es
controlado por relojes de 1/32 y 1/64 veces la frecuencia del reloj básico.
c) Mux Salida al Osciloscopio, etapa culminante, puesto que nos permite visualizar
en el osciloscopio las 5 curvas "simultáneamente" del dispositivo en estudio. Al
igual que en la etapa anterior la conmutación usa el circuito integrado 4052 y los
relojes son de 1/32 y 1/64 veces la frecuencia básica.
Cabe dar nota que todos los circuitos integrados multiplexadores de señal utilizados
en este equipo, se alimentan con una polarización de +8V y -8V? voltajes necesarios para
obtener un correcto funcionamiento del dispositivo; y consecuentemente del equipo en
mención.
55
2.2 GENERADOR DE SEÑAL INTERNO.
La fuente de excitación es parte fundamental en este equipo, pues sus
características serán de utilidad en casi todo el diseño del sistema. La señal generada
por esta fuente servirá como entrada en la etapa amplificadora, y será usada como
base para las etapas de sincronismo.
El generador de señal debe presentar posibilidades de variación sencilla de sus
parámetros, frecuencia y amplitud. Muchos de los osciladores realimentados operan
sin atenuación en rangos de frecuencia no mayores a dos décadas, lo cual imposibilita
las condiciones técnicas del equipo (f^ = 400 Hz, fm^ =100 KHz).
La alternativa que consideramos más aceptable para la implementación del
generador de entrada consiste de un circuito específico en base al generador de
formas de onda XR2206 (ECG962).
El XR2206 es un circuito integrado generador de funciones capaz de producir
formas de onda senoidal, cuadrada, triangular y pulsos de alta calidad, estabilidad y
exactitud. Las ondas de salida pueden ser modificadas, tanto en amplitud como en
frecuencia mediante un control de voltaje externo, teniendo un muy pequeño efecto
de distorsión.
Para el caso específico de nuestro equipo, el XR2206 será usado como
generador interno de señal senoidal, de frecuencia seleccionable externamente en un
rango entre 400 Hz y 80 KHz, y de amplitud variable entre unos cuantos milivoltios y
2 Voltios como máximo. Un generador de características similares al descrito presenta
baja distorsión, amplio rango de barrido y estabilidad térmica.
Haciendo uso del XR2206, el circuito que cumple con las condiciones antes
mencionadas se muestra a continuación :
6 Tomado de "GUÍA PRÁCTICA DE LA ELECTRÓNICA :Circuitos especiales",John Markus, McGraw-Hill, pp. 61
56
Q < = 10~SF5 ~ 250Ka*400Hz
C5 < 10 nF ;
considerando además el rango de estabilidad térmica, tendremos :
l n F < C 5 < lOnF (2.2)
Sin embargo es necesario considerar que, si bien con un capacitor de valor
comprendido en el rango dado por (2.2) y conR.5 a tope (es decir 250 KQ), el circuito
será capaz de producir una señal de frecuencia similar a 400Hz, para el caso de
obtener una frecuencia mayor, bastará con variar Rs (específicamente reducir su valor
de resistencia). El inconveniente surge cuando RS ha llegado a su límite físico, para el
cual Rs = OQ. Si se aplicase la ecuación (2.1) con cualquier C$ dentro del rango
establecido, ÍH matemáticamente sería de frecuencia infinita ; en la práctica el valor de
fH se encuentra limitado por la respuesta del XR2206 (entre 400KHz y IMHz). El
hecho de tomar como frecuencia superior del circuito que se describe aquella dada
por el XR2206 quizá se convierta en un limitante posteriormente, en la operación de
otros bloques del equipo que incluyan circuitos integrados u otros elementos de
respuesta de frecuencia menor, lo cual ocasione errores en su funcionamiento; por
este motivo nos vemos en la necesidad de limitar la frecuencia superior fu del circuito
generador senoidal.
Asumiendo ÍH ^ SOKHz, será necesario entonces lograr que Rs llegue a su
nivel físico inferior, pero su correspondiente valor sea distinto de cero ; esto se logra
adicionando una resistencia fija en serie a R¿ de un valor relativamente bajo. Tomando
a esta última como 1.2KQ7 (valor que por el extremo mínimo reemplazará a R¿)s se
obtiene ;V.
foH ^ 80 KHz
1SOKHz >
1.2KH* C5
7 El valor de 1.2KQ lo hemos considerado expresamente para limitarel rango de selección de C5
58
C5>10.4nF (2.3)
Considerando las expresiones (2.2) y (2.3), obtenemos :
lnF< 10nF<C5.
Como se observa, el diseño supera el límite inferior para estabilidad térmica. Elegimos
C5 = 20nF.
La amplitud máxima de la señal de salida varía de forma inversamente
proporcional al resistor R2 conectado al pin 3 del XR2206. La intención de conectar a
RI el resistor variable RS de la forma que se muestra en la figura 2.5 es lograr que la
señal de salida del circuito tenga un nivel de referencia con posibilidad de variación, lo
cual lo hace aún más funcional.
La amplitud de la señal de salida del generador varía lineaimente con la
aplicación de voltaje al pin 1 del XR2206 para valores de polarización DC entre 4 y
12V. La variación de amplitud de la señal de salida será fácil en el circuito de la figura
2.5, mediante la manipulación del resistor variable R¡ cuyos extremos serán
conectados a sendas fuentes de polarización +5V y -5V. El terminal variable de Rj va
conectado al pin 1 a través del resistor Rlt Se ha tomado R^ = 100KO y RI = 33KQ a
fin de limitar la corriente de entrada al pin 1.
El resistor R$ controla la forma de onda de salida del circuito generador
(triangular si RÓ = °° o senoidal si RÓ es un valor finito). Se ha elegido Ró=300Q.
Los valores correspondientes a Ca y Cs son lOaF y 0.1 pF respectivamente8.
^El circuito completo, incluidos los elementos con sus correspondientes valores
se muestra a continuación en la figura 2.6.
Finalmente, es necesario mencionar algunas consideraciones:
6 Tomado de "GUÍA PRÁCTICA DE LA ELECTRÓNICA :Circuitos especiales",John Markus, McGraw-Hill, pp. 61
59
Fig, 2.6. Generador interno que cumple con los requerimientos del diseño
La impedancia de salida del circuito de la figura anterior es, de
aproximadamente 200O? lo cual puede limitar la utilización de éste para más de
una aplicación. Para evitar los efectos que pueda ocasionar la impedancia de
salida del generador (interno o externo) en otras etapas del equipo,
consideramos necesaria la inclusión de un seguido unitario, implementado en
base al amplificador operacional LF347. La muy baja impedancia de salida que
presenta esta configuración (no mayor a ID) permitirá la utilización de Vo
proveniente de este circuito mostrado en la figura 2.6 en más de una aplicación
simultánea. El seguidor unitario tiene una impedancia de entrada alta, lo cual lo
convierte indirectamente en medio de protección en caso que su entrada sea una
señal cualquiera de voltaje alto.
El equipo a construirse, a más de disponer de un generador de señal interno,i.
debe incluir la posibilidad de usar un generador de onda externo que
seguramente brinde mayores posibilidades en cuanto a formas de onda,
frecuencia y amplitud, siempre tomando en cuenta las consideraciones indicadas
al inicio de este capítulo respecto a las condiciones de funcionamiento óptimo
del equipo.
60
• Por lo anteriormente expuesto, hemos considerado la adición de un selector de
generador externo-interno que permita el funcionamiento de una u otra forma,
inhibiendo el opuesto.
En base a las consideraciones expuestas, la etapa de generador de señal se
muestra en la feúra 2.7.
GENERADORINTERNO
Vo'
+5VQ
Ver
GENERÁBOREXTCRWO
LF347N
11o
-5V
Vo
Fig. 2.7. Esquema de la etapa de generador de señal.
2.3 CIRCUITO DE SINCRONISMO Y TEMPORIZACION.
El EPAT presentará como resultado final la visualización en la pantalla del
osciloscopio de algunas señales de distinto tipo en lo que se refiere a su naturaleza, a
saber :
Características estáticas de un TBJ ó FET : característica de entrada, salida o
transferencia, las cuales son propias de cada dispositivo.
Características dinámicas de los mismos : señal amplificada de salida y entradas
de base y compuerta y rectas de carga, relativas al funcionamiento de los
transistores mencionados en su acción amplificadora, propias de cada transistor
pero dependientes también de los voltajes de entrada.
Como se explicó en la sección 2.1, la graficación de todas las señales
requeridas para obtener el resultado deseado en el oscíloscopio se realiza mediante la
técnica de multiplexación o conmutación electrónica, aplicada tanto a los terminales
del transistor de prueba como a los canales de entrada al osciloscopio, y los elementos
fundamentales para este fin son los nndtiplexers analógicos 4051, 4052 y 4053. El
funcionamiento de estos circuitos integrados es similar y consiste básicamente de una
conmutación temporal de señales aplicadas a n entradas del circuito, dicha
conmutación temporal es comandada por una ó más señales de control de niveles
lógicos (TTL) también requeridas por los nntx, como se explica en la sección 2.1.2.
Por otra parte, con el fin de obtener una imagen estacionaria en la pantalla de
las formas de onda de entrada, base, compuerta y/o salida de los amplificadores
implementados con los transistores de prueba, las cuales serán aplicadas al canal de
referencia X, es necesario que al canal Y se aplique una forma de onda cuyas
características sean similares a la señal diente de sierra de la -unidad de base de
tiempos presente en todos los osciloscopios modernos, cuyo período sea un múltiplo
del período de la forma de onda aplicada9, a fin de lograr una sincronización perfecta.
El objetivo de esta etapa consiste en proveer a las diferentes etapas de
multiplexación de las señales de control que requieran, en base al generador de onda
de entrada, sea este externo o interno, y además generar una señal diente de sierra que
cumpla con los requerimientos para la visualización de las formas de onda de los
amplificadores a transistor.V.
La descripción, análisis y diseño de esta etapa se realizará a continuación en base a los
siguientes circuitos fundamentales : Circuito de Sincronismo y Circuito de
Temporización.
9 En caso que esto no ocurra, se producirá un movimiento continuo dela forma de onda, dando la impresión que se desplaza hacia laderecha o hacia la izquierda
62
*2.3.1 CIRCUITO DE SINCRONISMO.
Haciendo uso del generador de señal de entrada seleccionado (externo o
interno), este circuito detecta los cruces por cero de la forma de onda de entrada y los
transforma-en transiciones positivas y negativas alternadas de una señal tipo TTL.
La implementación más sencilla y de mejores resultados para este circuito
consiste en un detector de cruces por cero en base a un amplificador operacional,
cuyo terminal no inversor será conectado a OV y su terminal inversor al voltaje de
entrada. Debido a que la señal de entrada tiene la facilidad de cambiar de frecuencia
externamente., el detector de cruce por cero debe estar en capacidad de responder
correctamente dentro del rango de frecuencias entre 400Hz y IQOKHz. Un
amplificador operacional que responde de manera aceptable dentro de el rango
indicado es el LF347N, cuya razón de cambio (SR)10 no es considerable para la
frecuencia de lOOKHz (caso crítico).
En la figura 2.8 se muestran las formas de onda a la entrada y a la salida del
detector de cruce por cero. Como se observa, cada cruce por cero de la señal de
entrada se convierte a la salida del circuito en una transición positiva o negativa según
la polaridad de la señal de entrada previa al cruce por cero. Sin embargo, como se
aprecia en la figura 2.8 los niveles de amplitud positiva y negativa de la señal de salida
del detector impiden que ésta pueda ser usada directamente en algún circuito lógico.
Para solucionar este problema la señal Vo' de la figura 2.8 se aplica a una red
rectificadora" compuesta por un diodo y un resistor, de este modo todo tramo por
debajo del nivel OV de Vo' permanecerá en cero hasta que se produzca un cambio
hacia un tramo positivo, en cuyo caso la señal de salida tendrá un nivel alto, dado por& la polarización +V del LF347, si éste es de 5V entonces la salida por alto es
reconocida como IL (no es precisamente 5V si consideramos los 0.7V que se pierden
por efecto de la conducción del diodo) por cualquier circuito digital a usarse
posteriormente.
10 Medida de la rapidez con la cual puede cambiar la señal de salida.63
El circuito de sincronismo final se presenta en la figura 2.9, en la cual se ha
incluido a la salida un seguidor de tensión, para reducir la impedancia de salida del
detector de cruce por cero. El diodo DI debe ser de respuesta rápida para no reducir
la rapidez de cambio de la señal de salida del circuito.
-5V
Fig.2.8. Formas de onda de entrada y salida para el Circuito de sincronismo.
Yin
A AV \
Fig. 2.9 Circuito de Sincronismo. Diseño final
2.3.2 CIRCUITO DE TEMPOR1ZACION.
El circuito anterior presenta como resultado una señal TTL de frecuencia
idéntica y perfectamente sincronizada con la forma de onda proporcionada por el
generador (CLK). La finalidad del presente circuito consiste en proporcionar un
conjunto de señales TTL submúltiplos de frecuencia de CLK, las que serán usadas
más adelante en las etapas de multiplexado.
CLK-+5V
l<q rJ LF34
9>
107N
arrr^- s iít T,FWW
AÜ1>^-
I1 1-5V
-o Si
Fig. 2.10. Circuito de temporización.
Existen algunos circuitos integrados digitales capaces de lograr la división de
frecuencia de una señal de entrada de frecuencia constante, a saber : contadores de
módulo 5 ó 10 (7490), módulo 6 ó 12(7492), módulo 2, 4, 8 ó 16 (7493), contador
hexadecimal CMOS 4040, los cuales pueden ser aplicados teóricamente para el fin
que perseguimos ; sin embargo hemos optado por el circuito CMOS 4040 debido a
que presenta la facilidad de dividir la frecuencia de la señal de entrada hasta en 4096
veces (más que los demás mencionados), siendo además menos sensible al nivel de la
señal de entrada debido a que la tecnología de su fabricación CMOS permite niveles,
tanto de entrada como de salida, entre 3 y 15V. Cada una de las salidas del 4040 que
se usan como entradas para más de dos etapas del equipo van conectadas a un
seguidor de tensión para contrarrestar las relativamente altas impedancias de salida
de dicho circuito integrado. El circuito de temporización total se indica en la figura
2.10.
2.4 CIRCUITO BE BARRIDO.
La visualización en la pantalla del osciloscopio de cualquier señal de voltaje,
corriente o potencia, conectada a la entrada en cualquiera de los canales de entrada
(verticales) de un ORC en función del tiempo, es posible si las placas deflectoras X
son excitadas con una diferencia de potencial proporcional a una forma de onda en
diente de sierra proveniente de un circuito generador de base de tiempos. Este circuito
se basa en el principio de que la tensión de un condensador varía linealmente cuando
se carga o descarga con una corriente constante.
Las características principales de la señal diente de sierra requerida son
At K
puntode
origen
Fig. 2.11. Forma de onda diente de sierra
El tiempo de subida ó tcarga es mucho mayor que tdescarga, de modo que :
tcarga ~ At. \^¿. 4 J
La corriente de carga del circuito es constante, y de acuerdo a (2.4) se define
mediante la ecuación :
66
AV
At(2.5)
En el sistema de deflexión horizontal del osciloscopio definido por una señal en
diente de sierra, puede darse el caso de que cuando el haz electrónico vuelva al punto
de origen para comenzar un nuevo barrido, la forma de onda que se pretende
visualizar no se encuentre en el mismo punto que se hallaba al comienzo del barrido
anterior. Esto se manifiesta en la pantalla como un movimiento continuo de la forma
de onda, dando la impresión de que se desplaza hacia la derecha o hacia la izquierda a
una velocidad que depende de la frecuencia de la señal y de la duración del diente de
sierra. Por esta razón la mayoría de osciloscopios inician el barrido con el
consiguiente inicio de diente de sierra, de este modo se logra que la forma de onda se
visualice en forma estática.
Si lo que se busca es visualizar una señal ingresada a uno de los canales de
entrada del osciloscopio usando una señal diente de sierra externa aplicada en el canal
de entrada restante mediante la opción X vía B^ como se observa en la figura 2.12,
hay que considerar lo siguiente :
• la señal diente de sierra externa debe estar sincronizada con la señal de entrada,
a fin de que ésta se observe en forma estática (figuras 2.12(a) y 2.12(b)).
Señal de entrada Canal A
Señal de barrido Canal B
67
Señal de barrido Canal A
Seña! de entrada Canal B
(b)Fíg, 2.12 Visualización en el osciloscopio de una señal periódicausando un barrido externo : (a) en el canal A, (b) en el canal B.
el número de períodos de la señal de entrada que se pueden visualizar en el
osciloscopio se define según la relación de frecuencia entre ésta y la señal de
barrido (figura 2.13).
Señal de barrido Canal A
Señales de entrada Canal B
Fig. 2.11. Número de períodos visiblesde la forma de onda de entrada según el barrido externo.
la amplitud del diente de sierra define la longitud de la señal a visualizar (figura
2.14).
Señal de barrido Canal A
Señal de entrada Canal B
Fig. 2.13. Longitud de la forma de onda de entradasegún la amplitud del diente de sierra externo
Si el tiempo de descarga tdescarga de la señal de barrido no es lo suficientemente
pequeña, la presentación en la pantalla del osciloscopio de la señal de entrada
puede incluir algunos trazos incorrectos, como se observa en el ejemplo en la
figura 2.14.
Señal de barrido Canal A
Señal de entrada Canal B
Fig. 2.14. Grafícación de una señal senoidal usando un barrido externo cuyo tiempo de descarga esinadecuado.
69
La principal forma de uso del circuito generador de diente de sierra dentro del
equipo consiste en lograr la visualización de señales periódicas características en un
circuito de amplificación, como por ejemplo : señal de entrada, señal de salida del
amplificador, señal de base o compuerta, etc., usando un barrido externo, como se
indicará posteriormente.
El circuito que se muestra en la figura 2.15 es un integrador en base a un
amplificador operacional, cuya señal de entrada es un voltaje continuo (positivo o
negativo) e incluye un sistema de reinicialización (retorno al nivel de inicio), que
provee de ciertos niveles de voltaje a la base de un transistor para que trabaje en
modos de corte y saturación, ello es necesario para facilitar la sincronización entre la
señal obtenida por este circuito y la señal de excitación del equipo. La integración de
un voltaje constante permite la carga de corriente constante del capacitor Ci lo cual
produce una señal de salida tipo rampa lineal. El ascenso de la rampa se mantiene
hasta que el transistor Qi es estimulado en su base por una señal de excitación, V&,
que hace que la juntura colector-emisor de Qi pase del estado de corte a saturación,
logrando de este modo acelerar la descarga de Ci hasta el nivel de voltaje de inicio,
repitiéndose el ciclo. La señal Vx debe guardar relación con el generador de entrada
del equipo y por lo tanto hará uso, como se analizará más tarde, del circuito de
temporización de la etapa de sincronización. La rapidez del tiempo de descarga
depende principalmente de la respuesta de conmutación de Qb y esto evita que el
tiempo de descarga de la señal diente de sierra sea considerable dentro del rango de
respuesta del equipo.
En el circuito de la figura 2.15, cuando Vx es cero, la señal de salida VB(Í) se
expresa matemáticamente mediante la ecuación
[V] (2.4)
70
El período de carga tcarga del circuito se define únicamente por el tiempo para el
cual el transistor Qi se encuentra en la región de corte , de modo que para t = tcarga,
v0 tiene su máximo valor, VP, como se indica en la ecuación 2.5.
\r _~~Vt.. _c a r B°.
R,C,(2.5)
Sin embargo, como se observa en la ecuación 2.5 el valor máximo Vp es
función directa de tcarsa el cual, como se explicó, proviene del circuito que provee de
Vx al integrador (circuito de reinicialización) y que depende del generador de
excitación de entrada.
VxOO
1
Vx(t)
Fig. 2.15 Circuito inlegrador. Formas de onda de la señal de reinicialización Vxy de barrido VB
El proceso de diseño del generador de barrido lo realizaremos aplicando todos
los criterios y consideraciones hechas a lo largo de este punto. Se mostrarán en el
osciloscopio dos períodos de las formas de onda características de los amplificadores
(señales de base, compuerta y salida) en base a los transistores bajo prueba, por lo
tanto el período de la señal de barrido es el doble que aquel proporcionado por el
En la región de corte, la uniones de colector y emisor seencuentran ambas polarizadas inversamente, lo que produce unacorriente de colector despreciable, como se indica en la figura 1.7.
71
generador de entrada; la amplitud máxima de la señal de barrido está dada por el
nivel de saturación de la salida del amplificador operacional (V* ó V") que es ±5V.
Inicialmente supondremos que la frecuencia del generador es de 400Hz, para
este caso la frecuencia del diente de sierra será 200Hz, y por tanto su período 5ms, si
en la ecuación 2.5 logramos que coincida el período de carga tcarga con el producto
RiCi, el voltaje pico de la señal de barrido VP dependerá únicamente del voltaje
continuo de entrada. Puesto que, por condición del equipo, la frecuencia del
generador no puede ser inferior a 400Hz, el producto RiCi será siempre inferior a
tcarga y por ello el voltaje pico para cualquier frecuencia superior del generador es
proporcional al producto Vi t, siendo t el período de carga para dicha frecuencia
superior, y por tanto inferior a V¡. Si V¡ es un valor DC negativo la señal diente de
sierra será siempre positiva. Elegimos Vi = -9V, el valor VP por seguridad n se ha
elegido igual a 3V. En la ecuación 2.5, C\ InF, tcarga — 5ms. El valor de RI se
obtiene entonces de la expresión :
3*5msRl = -—— =15MH
InF
La intención de comenzar el diseño con la frecuencia mínima de respuesta del
equipo, ha sido realizar la siguiente observación: en las ecuaciones 2.4 y 2.5 el voltaje
de salida del integrador es función directa del tiempo de carga, cuyo valor máximo
está dado por la frecuencia mínima de trabajo del generador, de modo que para una
frecuencia distinta del generador (siempre superior) el voltaje pico correspondiente
será siempre inferior que aquel VP a 400Hz. Si bien este efecto puede resultar práctico
en el sentido de que, al usar VB(Í) como señal de base de tiempos (barrido externo)
para una forma de onda periódica y aplicándolo en uno de los canales del osciloscopio
(forma X vía B), el cambio de frecuencia de dicha forma de onda se manifiesta como
una disminución proporcional del período visualizado de manera similar a lo que se
indica en la figura 2.14, el rango de funcionamiento del equipo (400Hz hasta lOOKz)
da lugar a que para frecuencias bastante mayores que 400Hz, digamos lOKHz, la
12 Los valores seleccionados VP y Vi en el circuito son los que en lapráctica han ofrecido los mejores resultados.
72
visualización de este tipo de señales resulta bastante complicada, pues la diferencia de
tiempos de carga y por consiguiente de los voltajes pico para las frecuencias
mencionadas es bastante notoria, de hecho su observación en el osciloscopio sería un
trabajo infructuoso. Por este motivo hemos creído necesaria la utilización de un
método que permita que VB(Í) presente variaciones respecto al cambio de frecuencia
menos radicales.
Una forma de lograr este objetivo consiste en hacer que RI ó Ci cambien de
manera similar con respecto al tiempo de carga dado por la frecuencia del generador,
del circuito de la figura 2.15 se concluye que es más práctica la variación de RI
respecto a tcar8ay por ello hemos convenido la presencia de un conjunto de resistencias
que, mediante la acción de un selector manual se conseguirá que el circuito integrador
obtenga el producto RixCi adecuado para la frecuencia prevista. Debemos considerar
que el rango de frecuencias de trabajo (400Hz a lOOKHz) es relativamente grande y
esto implicará la necesidad de usar un número considerable de posiciones del selector,
para así evitar un excesivo decrecimiento de la amplitud de la señal diente de sierra
cuando para su generación se use un tcarga bastante pequeño.
Por conveniencia usaremos un selector de 10 posiciones conectado dentro del
circuito integrador como se indica en la figura 2.16. Los valores Rn a RUÓ han sido
escogidos para un conjunto de diez frecuencias patrón que abarcan todo el rango de
trabajo. El valor de resistencia en ohms para cada una de ellas se obtiene a partir de la
ecuación :
que proviene de despejar RI de la ecuación 2.5 ; tcaííjax depende de la frecuencia
patrón : tcargai es el correspondiente cuando el generador de entrada tiene una
frecuencia de 400Hz, fswl, para este valor Rll = 15MO. Como ejemplo consideremos
f¿,tín — IKHz, toarla ~ 2/facn, &n la ecuación 2.6 :
2msRp =3*
'" InF
73
Vin
ttJ
Vx(t)
vo
Pí
C-l CO TT
óT(2?¿T
UUL
\4<!>y>* •, '¿íóSb
< < <"< 2
c-- oo o\r
11j
T^^lECG91
G!IIIIInF
9+V
"^^_" ^
1 — IY " v>Ro> ^ ¿~V
7
9+V
r---jiwgiR \ U • i ^^
ri T J^
B' D! ^
R3>63 ¿-V
VB©
JL
Fig. 2.16 Control de frecuencia de la señal de barrido VB
en base a un selector de 10 posiciones
En la tabla que se indica a continuación se muestran las frecuencias patrón, con
los valores respectivos de RIX obtenidos de manera similar que en el ejemplo anterior.
FrecuenciaPatrónSOOHz
IKHz
2KHz
5KHz
lOKHz
20KHz
40KHz
SOKHz
60KH2
SOKHz
tcarga(ms)
4
2
1
0.4
0.2
0.1
0.05
0.04
0.033
0.025
Rix
Ru=15Mn
R12= 6MD.
Ris = 3MQ
RI4=1.2Mn
R15 = 600KQ
Ri6 = 300Ka
R17=150KQ
R1S = 120KÍ1
Ri9=100Kíl
R110 = 75K-Q
Tabla 2.1 Valores R!x para cada paso de frecuencia
74
En la figura 2.16 se observa la adición al circuito integrador de una red formada
por el diodo DI, el resistor Rs y un amplificador operacional. La red formada por DI y
R3 sirve para eliminar cualquier voltaje DC adicional que por efecto del integrador
pueda afectar la forma esperada de la salida. El amplificador operacional en la
configuración de seguidor unitario se usa para que la señal de salida del integrador VB
pueda ser utilizada por más de un bloque posterior,
Por último hay que determinar el circuito de reinicialización. Este circuito
consiste en un sistema que genera una señal de pulsos, Vx sincronizada con una de las
salidas divisoras de frecuencia del circuito de temporización ; Vx aplicada a la base del
transistor Qi (en la figura 2.15) hace que éste trabaje en modo de conducción y no
conducción. Puesto que los terminales C y E de Qi se hallan conectados al capacitor
Cj, el circuito de reinicialización cumple la siguiente función : cuando Vx — OV, el
transistor Qj se encuentra en estado de corte, Ci puede cargarse libremente; el
tiempo para el que Vx — O es igual que tcarga. Si ahora Vx — 1L, Qi llega ahora al
estado de conducción, esto hace que Ci se descargue a través de la juntura C-E de Qi.
La descarga de Qi debe hacerse en forma instantánea para que el tiempo de descarga
no sea considerable dentro del rango de frecuencias de trabajo. El efecto de un tiempo
de descarga grande produce distorsiones en la visualización de las señales periódicas
que usen el diente de sierra como generador de base de tiempos, un ejemplo de este
efeqí$> se muestra en la figura 2.14.
Partiendo de la condición que el tiempo de descarga no sea grande para ninguna
de las frecuencias dentro del rango de trabajo, el generador de Vx debe proporcionar
una señal de similares características para cualquier frecuencia comprendida entre
400Hz y lOOKHz. Una forma de hacer que el generador de Vx sea prácticamente
independiente de la frecuencia dentro del rango analizado consiste en usar el tiempo
de retardo1" de las compuertas lógicas. Para explicar lo anterior, consideraremos el
circuito dado en la figura 2.17. La señal aplicada a la entrada del circuito es Si
proveniente del circuito de temporización, la utilización de varios inversores
13 Tiempo que transcurre entre la aplicación de una entrada lógica yla aparición de la salida lógica correspondiente.
75
conectados en cascada genera una señal cuyo retardo respecto a la señal de entrada
pueda ser detectado a la salida de una compuerta AND en forma de un pequeño pulso
después de cada transición positiva de Si, cuyo tiempo de duración es de algunas
decenas de nanosegundos el cual va a ser usado por Qj como se indicó anteriormente
para controlar la carga y descarga de Ci.
Si-
7414 [ 7414 i 7414 | 7414 | 7414[ I I I
4- I I +Vx' Vx" Vx" Vx""
Fig. 2.17 Generador de la señal de reinicialización Vx
En el circuito mostrado en la figura 2.17, la intención de agregar un inversor
para obtener Si es que el impulso de la señal Vx se presente en cada transición
negativa de S\, lo cual es indispensable para las etapas de multiplexación. La amplitud
y polaridad de la señal diente de sierra diseñada, podrá ser manipulada más adelante
usando amplificadores operacionales según la configuración circuital conveniente,
esto permitirá que la forma de onda obtenida por esta sección pueda ser aplicada,
como se verá más adelante, en otras aplicaciones.
2.5 CIRCUITOS ESPECÍFICOS PARA EL TBJ.
2.5.1 CIRCUITO PARA OBTENER LA CARACTERÍSTICA DE SALIDA
La característica de salida de un transistor en emisor común representa un
gráfico de la corriente de colector Ic, como función de la corriente de base Iu y del
voltaje colector-emisor VCE- En la figura 2.18(a) se muestra una curva característica,
Ic vs. VCE, para determinarla, las formas de onda como funciones del tiempo tanto de
ÍB como de VCE son indicadas por las figuras 2.18(b) y 2.18(c) respectivamente.
Fíg. 2.18. (a) Característica de salida para un transistor en Emisor común(b) Línea de corriente de Base constante n función de tiempo
(c) Voltaje aplicado al colector del transistor como función del tiempo
77
En la figura anterior notamos que :
Cuando t = to VCE ~ O e
Cuando t = ti VCE = A Voltios e
Cuando t = t2 VCE ~ B Voltios e
Cuando t = ts VCE ~ C Voltios e
1 SecciónCE Horizontal
SecciónVertical
Fig, 2.19 Forma de polarización del transistor de prueba.
Luego, si el transistor de la figura 2.19 es polarizado con una tensión de
voltaje rampa igual al de la figura 2.18(b) y se introduce una señal de corriente de
base igual al de la figura 2.1S(c)3 la señal de VCE obtenida se la introduce en el canal B
y el voltaje que se produce sobre RE en el canal A. Tomando la función X vía B del
osciloscopio se obtiene una curva similar a la indicada en la figura 2.18(a).
Las siguientes ecuaciones representan el comportamiento de un transistor
conectado en emisor común, para el cual p es la razón de variación de la corriente de
colector a la de corriente de base, para un VCE constante.
U1B
'E = /C +
VRE ~ ÍE I
ÍB = ic/P
= (Je + /B)
VR£ Oc+ p ) ' R E I G ^ p J - R E (2.7)
Puede generalizarse el caso para el cual (3»1, de este modo la ecuación
anterior se transforma con mucha aproximación en la siguiente.
VRE~/cRE (2.8)
si elegimos RE — 100Q, obtenemos que
La señal VRE es tomada como entrada del canal A, de modo que para obtener
en el osciloscopio /c debe presentarse una escala adecuada que sea correspondiente.
Si por ejemplo la región lineal de la figura 2.18(a) presenta un voltaje de A voltios, la
correspondiente corriente de colector matemáticamente se define como A/100
amperios.
El aumento deliberado de VCE en la figura 2.18(b) puede ocasionar que el
transistor llegue a la región de ruptura , esto se puede evitar limitando el pico del
voltaje colector emisor.
La correcta visualización de la característica de salida se obtiene haciendo que
el voltaje vc sea periódico y su límite, VP lo suficientemente grande para definir
correctamente todas las regiones de funcionamiento del transistor. Por estas
consideraciones, resulta conveniente la utilización de la señal obtenida por el circuito
de barrido, VB(Í) amplificada adecuadamente.
Si la corriente de base presenta diferentes valores en forma de escalera
periódica y la tensión VG la forma de una señal de barrido se presenta el efecto
mostrado en la figura 2.20(b), en ella se observa además que cada escalón de la
corriente de base tiene un tiempo -de duración idéntico al de la señal de barrido
aplicado al colector del transistor bajo prueba, TBP. Si las frecuencias, tanto de /"B
como de VCE son lo suficientemente altas, se podrá observar en la pantalla del
79
osciloscopio un trazo aparentemente instantáneo para la vista, mostrándose todas las
curvas simultáneamente.
IB (m A)
/B7
/Rfi
/B5
Á[U
/B3
'B2
?B1
Vr
V
to ti t2 ts
Ic(mA)
t(ms)
Í6 tv to ti t-2 ts Í4
(a)
CB7
£B4
->VCE(V)
(b)Fig. 2.20 (a) Señales aplicadas al Colector}' emisor del transistor
(b) Curva característica de salida del transistor
80
El diagrama básico para obtener la característica de salida es :
Colector
n
tr1
Fig, 2.21 Diagrama simplificado del circuito generadorde la característica de salida de un TBJ
Circuito Generador de Escalera de Base.
La función de este circuito consiste en proporcionar a la base del TBP un
conjunto discreto de corrientes de base que se presentan en forma de una escalera
periódica. El número de escalones provisto por el circuito generador de la escalera
determinará más tarde el número de curvas a visualizarse en la característica de
salida. Este circuito utiliza un voltaje continuo como entrada y un conmutador
análogo (multiplexer analógico) de n entradas por una salida; a cada entrada del
conmutador se conecta un resistor, de cuyo valor dependerá indirectamente la
corriente de base obtenida; la salida del conmutador se aplica a un amplificador
operacional que permitirá amplificar o atenuar la señal de entrada hasta lograr el nivel
necesario para cada valor de corriente de base requerido.
El esquema del circuito generador de la escalera de base se muestra a
continuación:
81
GND
Fig, 2.22 Circuito generador de escalera de base
Como se observa en la figura 2.22, el generador de escalera está constituido
básicamente por un amplificador inversor, cuya ganancia se halla definida por la
relación RF/RX donde Rx es una de las resistencias conectadas a las entradas del
conmutador analógico.
El conmutador analógico a usarse es el circuito integrado CD4051 de 8
entradas y una salida, requiere además de 3 entradas de control de niveles TTL, de las
que depende la elección de una u otra entrada. Debido a que el tiempo de duración de
cada escalón debe ser igual o múltiplo que aquel de la señal rampa aplicada al colector
del TBP (el cual es de naturaleza idéntica a la señal obtenida por el circuito de barrido
VB), entonces la señal de mínima frecuencia que puede usarse es 82, proporcionada
por el circuito de temporización. Las otras dos restantes señales de control
corresponden a las salidas 83 y 84, proporcionadas por el mismo circuito. Los niveles
de voltajes de cada escalón para obtener las respectivas corrientes de base se obtienen
del análisis de la siguiente malla :
9* Referencia
Fig. 2.23 Determinación de los parámetros de la escalera de base
82
En la figura anterior el valor del primer voltaje de escalón, Vso, asumida una
cierta corriente de base, ÍBX se obtiene a partir de la ecuación :
V s x = V f l H + R B - i B X (2.9)
el nivel de voltaje correspondiente cuando IB = O, Vso = VBE = 0.6 V. .
La característica de salida del transistor requiere que el eje vertical se
encuentre escalado en unidades de corriente (miliamperios por ejemplo). Debido a que
en el mercado existen transistores cuya relación de amplificación de corriente o P va
desde unas pocas decenas hasta más de 300, el hecho de considerar un conjunto de
corrientes de base fijas obligaría que la característica de salida, en especial el
parámetro de corriente de colector, alcance valores inaccesibles para este diseño. Por
este motivo es aconsejable establecer un escalamiento fijo del eje vertical ,lmA por
división por ejemplo, de modo que la relación de corrientes se fije mediante un
conjunto de resistencias a manera de selector según el (3 propio del transistor de-
prueba.
Asumiendo que el eje Y presenta un escalamiento de 2mA por división para la
escala de voltaje de IV por centímetro, y puesto que el eje Y positivo en la pantalla
del osciloscopio presenta 4 divisiones (4cm), la máxima corriente de colector a
visualizarse por el equipo no debe exceder de SmA, cuya medida de voltaje es de 4 V.
1*c*K-1— (
L Ver
tica
l
ro73uf]w
|-i-i'Í' •¡•¡•¡•i- .;.;.;.;.
. . . ii
•í'í'í'!'
'«.A .lllít
•!•!•!'!
/L2
• . . . .
VV4
Ve*•f
. . i .ii
•!•!•!•!•
Y 6V ' 8
í
.;.;.;.;.
v :
Escala Horizontal: 2-V/div
Fig. 2.24 Visualización en la pantalla del osciloscopiode una curva de la característica de salida para un transistor de prueba
83
En la figura 2.24 se indica una curva característica de un transistor cualquiera,
cuya corriente de base va a determinarse según el p particular de dicho transistor,
sabiendo de antemano que esta curva presenta en su región lineal una corriente de
colector de 4mA. Para un VCE determinado, la iB que origina esta curva se define
inmediatamente de la relación :
ÍB = 4mA/p.
Si se ha elegido un transistor cuyo p es exactamente 100, la correspondiente ÍB es
40uA, si el p del transistor es ahora 200 la nueva ÍB es 20¡_iA. Resulta más práctica,
por lo tanto, una variación de las corrientes de base según el P del transistor de
prueba y esto se logra mediante la adición a la salida del Circuito Generador de
Escalera de resistencias de valores específicos establecidas previamente según un
rango adecuado de betas típicos (20, 100, 200, por ejemplo), usando transistores
patrón .
Como un ejemplo de este diseño consideramos un transistor ideal cuyo beta es
200, la primera curva tendrá un nivel máximo de ImA, de modo que la ÍB
correspondiente es 5[iA; las siguientes curvas serán por consiguiente 10, 15, 20,
25u,A, etc. Los valores de ÍB obtenidos sirven para fijar las amplitudes de cada escalón
de voltaje aplicado a la base definiendo de antemano la resistencia RB que servirá para
un rango de betas similares.
Del mismo modo se ha considerado otros transistores patrón cuyos betas son
20, 200 y 300. Para cada uno de ellos la primera curva de la característica de salida
tendrá como máximo ImA, aplicando la relación anterior, la primera curva se
obtendrá a partir de :
ÍBI = 50|iA para p = 20
ÍBI = lOiiA para P = 100
ÍBI = 5uA para p = 200
iui = 3.3fiA para p = 300
En base a estos valores se fijará la correspondiente RB. Las curvas superiores se
realizarán usando los múltiplos consecutivos de iBi en cada caso.
84
La diferencia del primero al segundo escalón la asumiremos de 0.2V, cualquier
nivel de voltaje inferior a 0.6V, que es el primer escalón produce corrientes de
colector lo bastante inferiores como para considerar que el transistor no llegue en
ningún momento a la región lineal de la característica de salida. Para el circuito de la
figura 2.23, Vsi = O.SV, la resistencia de base para (3 = 20, RB20o por ejemplo, se
obtiene de la relación 2.9:
B-B20 = (O.S-0.6)/50pA = 4KQ, las restantes resistencias se obtienen de manera
similar :
(0.8-0.6)/5jjA= 40KQ
RBBOO - (0.8-0.6)73. 3 fiA = 60KQ
Una vez fijados los resistores de base se procede a determinar los niveles de
escalón consecutivos :
VB2 = 0.6 + (2-50uA) 4KO = IV para p = 20
VB2 = 0.6 + (2-10uA) 20KÍ1 = IV para (3 = 100
Como se observa el nivel de voltaje de cada escalón es independiente para
cualquier transistor. Los restantes niveles de escalón se determinan de manera similar
y se muestran en la siguiente tabla:
Nivel VBEVBO
VBI
VB2
VB3
VB4
VB5
VB6
VB7
Voltajerespectivo
0.6V
0.8V
l.OV
1.2V
1.4V
1.6V
l.SV
2.0V
Tabla 2.2. Niveles de la señal escalera.
85
El voltaje de entrada del circuito es -SV y RF se asume como 1KQ para el
amplificador inversor. El nivel de salida del amplificador inversor se define mediante
la relación VBx = S-(l KQ/RSX) donde RSx es cualquiera de las resistencias
conectadas al conmutador analógico.
A continuación se definen los valores correspondientes para
Rso = 8000/0.6 =
Rsi = 8000/0.8 = 10KQ
RS2 = 8000/1.0 = SKO
Rs3 = 8000/1.2 = 6.
RS4 = 8000/1.4 = 5.
RS5 = 8000/1. 6 =
RS6 = 8000/1. 8 = 4.4KQ
Rs? = 8000/2.0 = 4KH
El voltaje rampa aplicado al colector se obtiene de amplificar la señal diente de
sierra VB del generador de barrido.
El circuito completo generador de la característica de salida del transistor
incluidos sus valores se muestra en la figura 2.25. Sus formas de onda de base,
colector y emisor en función del tiempo, se indican en las figuras 2.26(a), (b) y (c)
respectivamente.
La necesidad de que las señales que van a los canales A y B tengan por
referencia la tierra del equipo obliga la adición en el circuito de la figura 2.25 de una
etapa de diferenciación en base al amplificador operacional A05, cuyas entradas son
Ve y VE, la salida de esta etapa es obviamente Ve- VE = VCE, la cual se aplicará al
canal B del osciloscopio, mientras que la señal de voltaje sobre RE, VRE será la entrada
para el canal A.
86
Fig.2.25 Diagrama circuital del generador de Característica de salida para un TBJ
87
CHA
CHE
Canal A: VB
0.5V/divO.lrtis/div
Canal B: Ve
2V/divO.lms/div
IV/div0.2-ms/div
[b)
Fig. 2.26(a) Forma de onda de la señal escalón de base en función del tiempo y
señal rampa aplicada al colector del transistor(b) Forma de onda del voltaje sobre RE , proporcional a ic para un transistor cuyo p es 100
Si el TBP es PNP, las señales a ingresarse tanto a la base como al colector
serán de polaridad opuesta que aquellas consideradas para los transistores NPN,
criterios según los cuales hemos realizado el diseño anterior. Por el motivo anterior el
equipo requerirá algunos selectores manuales sincronizados de dos posiciones (una
para TBJ tipo KPN y otro para PNP), cuyas salidas serán aplicadas a los terminales en
cuestión del transistor a probarse.
La disposición de los escalones como se aprecia en la figura 2.26(b) se hace
para evitar en lo posible los efectos que puede ocasionar el relativamente alto tiempo
de respuesta del conmutador analógico cuando el equipo opere en las frecuencias más
altas.
2.5.2 CIRCUITO PARA OBTENER LA CARACTERÍSTICA DE ENTRADA.
La característica de entrada de un TBJ representa un gráfico de la corriente de
base como una función del voltaje base-emisor para un valor fijo de voltaje aplicado al
colector. La forma esperada de esta curva es similar a la de un diodo típico ya que
constituye la característica de corriente en una unión simple. La impíementación del
circuito generador de la característica de entrada es sencillo y consiste en aplicar a la
base del TBP un voltaje cuya amplitud varíe linealmente respecto al tiempo; al
colector se puede conectar un voltaje continuo cualquiera, inclusive cero. El diagrama
de este circuito se indica en la figura 2.27: la muestra de corriente ¡Q se toma a través
de RB¡, midiendo el voltaje sobre ésta, mientras que VBE se obtiene dentro del circuito
tomando las formas de onda obtenidas, tanto en la base como en el colector del
transistor y diferenciándolas. Las señales VR¡ y VBG indicadas en el mismo circuito se
aplican a los canales B y A respectivamente. El circuito hace uso de la señal
proporcionada por el circuito de barrido, VB posteriormente amplificada, de modo
que su máximo nivel, Vp sea 8V. Esta forma de onda constituye en la entrada del
circuito.
Si el TBP es un transistor PNP, la señal de entrada deberá ser negativa. Para
los transistores NPN la entrada es positiva. Mediante un selector de 2 posiciones debe
definirse previamente el tipo de TBJ, este selector controla la polaridad de la señal de
barrido aplicada a la base del transistor de prueba.
Al voltaje base-emisor que se aplica al canal X se ha sumado un voltaje
continuo, Vn2, cuya polaridad depende del tipo de transistor (negativo para NPN y
positivo para PNP), esto se hace para lograr que la característica de entrada se
observe en el segundo cuadrante de la pantalla del osciloscopio, en lugar del primer
89
cuadrante como debería ocurrir, y evitar de este modo una superposición indeseable
de curvas en la pantalla del ORC.
eje 2
2K
CHE
Fig. 2.27 Diagrama circuital de la característica de entrada de un transistor NPN ó PHP
2.5.3 CmCÜITO AMPLIFICADOR CON TBJ.
El EPAT incluye un circuito amplificador en configuración de emisor común., en
base al transistor de prueba. El amplificador implementado debe permitir su
manipulación externa, de modo que sea factible la elección de un punto de trabajo, Q
cualquiera. En la figura 2.28 se indica el esquema del amplificador en emisor común
en base al TBP, se observa que los resistores RBi y Re, así como el voltaje de
polarización son variables, esto permitirá elegir diversas condiciones, tanto de
amplificación como de los parámetros /B, VCE, ?c. El nivel de polarización será positivo
si el dispositivo es NPN o negativos si es PNP.
90
Vin
Fig. 2.28 Circuito amplificador en emisor común usando un TBJ tipo NPN.
Para el diseño se considera un transistor NPN cuyo pmín (peor condición) es 10,
la polarización, Vcc = +8V, la resistencia de emisor es 100Í1, el voltaje de entrada
máximo, vinmáx ~ 3Vpp, voltaje de salida máximo, vomáx = 6Vpp.
En el diseño de la característica de salida del TBJ de prueba, se considera una
corriente de colector máxima de 8mA para efectos de una correcta visualización, a fin
de evitar que el punto Q se desplace por sobre la característica de salida máxima, se
considera que la ÍCQ para el amplificador no debe exceder de 5mA.
Por efecto de la configuración circuital, el voltaje máximo sobre RE,
VREmSx= ÍHmüx RfiS ÍCmíx RE = SmAxlOO = 0.5 V = VEmfix. (2.10)
El hecho de que VEmáx sea menor que 1 da lugar a que se considere el
amplificador como bastante sensible a las variaciones térmicas, en nuestro caso esto es
favorable pues permite que, al cambiar las condiciones de temperatura del transistor
91
de prueba, se observen gráficamente las variaciones de amplificación que se producen
por dicho efecto.
El circuito se ha diseñado sin considerar una resistencia de carga, sin embargo el
equipo incluye dos terminales para que dicha resistencia pueda ser incluida dentro del
amplificador. La amplificación sin embargo se verá reducida por la inclusión de la
resistencia de carga.
Aplicando la ley de voltajes de Kirchoff en la etapa de salida del amplificador,
tenemos :
Vin + O.S. (2.11)
Debido a las condiciones de polarización de los circuitos de muítiplexación que,
como se indicará más adelante se encuentran limitados, siendo su valor máximo 8V,
se ha asumido por seguridad Vcc - 8V. Considerando además Vomáx = 3V, VcEsai =
0.3V y una ganancia máxima de 10, el valor de Re máximo para estas condiciones
está dado por :
SV = 5mA Re + 3 V + 0.3 V +3V/10 +0.5,
En el circuito, RC se implementará con un potenciómetro de 2K.
Con Ic = SmA, la corriente de base del circuito amplificador, considerando el (3
mínimo está dada por IB = 5mA/20 = 0.25mA. El valor de RI mínimo se obtienen
como :
Rimín = (VE + VBE)/IOIB = (0.5 +0.6)/2.5mA = 450Q (2.12)
que se implementará con un potenciómetro de 2KQ
R2mín se obtiene de la ecuación :
2.5mA+ 0.25mA) » 3KO. (2.13)
92
El circuito diseñado, con sus respectivos componentes se indica en la figura
2.29. Hay que considerar que, la variación del punto Q de trabajo puede hacerse
principalmente variando RBI ó Vcc, mientras que la variación de amplificación se hace
mediante la variación de RC. La incorrecta elección de RC, Vcc ó Rm puede ocasionar
distorsiones en la forma de onda del voltaje de salida.
1K Señal de Baseen el eje E2
Yin
Fig. 2.29 Amplificador en emisor común del EPAT
2.5.4 CIRCUITOS DE MULTIPLEXACIÓN DE SEÑALES PARA EL TB J.
Los circuitos de conmutación o multiplexación permitirán la posibilidad de
incluir a cada terminal del transistor bajo prueba las señales necesarias para obtener
las formas de onda correspondientes a cada una de las curvas de salida del EPAT., así
como las señales que se tomarán de salida para cada una de las curvas mencionadas.
2.5.4.1 CIRCUITO DE CONMUTACIÓN DE SEÑALES A LOS
TERMINALES DEL TRANSISTOR.
Se han diseñado previamente y por separado los circuitos generadores de las
características de entrada, salida y el amplificador en emisor común. Las señales BI,
93
Bs y BS indicadas en las figuras 2.29, 2.27 y 2.25 se aplicarán directamente a la base
del transistor de prueba, mientras que las señales Ci, Ü2 y C3 al colector del TBP.
El EPAT requiere que todas las formas de onda mencionadas se aprecien de
manera simultánea en la pantalla del osciloscopio, una buena aproximación de este
efecto consiste en tomar muestras de cada uno de los circuito generadores en un
intervalo de tiempo aceptable y aplicarlas de manera periódica a los terminales del
transistor bajo prueba, TBP, la frecuencia de muestreo debe ser lo suficientemente
grande para permitir el efecto visual de observar las señales de manera simultánea.
La conmutación de señales se hará en base al circuito integrado 4052, como se
explicó en la sección 2.1. El 4052 es un dispositivo CMOS que presenta internamente
2 multiplexores de 4 entradas a 1 salida, controlados simultáneamente a través de dos
señales de niveles TTL (OL y 1L) que las denominaremos Q3 y QÓ- Las dos salidas del
4052 se conectarán de manera directa a los terminales Base y Colector del TBP,
mientras que el Emisor se encuentra conectado permanentemente a una resistencia fija
de lOOfl
Si las señales Qs y Qe forman en conjunto una secuencia cuyo número de
combinaciones es 4 (00, 01, 10, 11), durante un cierto tiempo se habilita el paso de
una sola de las cuatro señales aplicadas a cada entrada del conmutador mediante una
secuencia alternada y repitiéndose el ciclo. Para nuestro caso, las señales aplicadas a
cada entrada son BI, Ba3 BS y Bj para el primer multíplexer y Ci, Cs, Cs y Ci para el
segundo. El esquema de conmutación se indica en la figura 2.30.
Puesto que la frecuencia del generador de escalón del circuito de la
característica de salida es fgen / 16, la señal Qs, que es la menos significativa en el
4052, debe ser por lo menos fgen/32, esta señal se obtiene directamente tomando la
señal de salida 85 del circuito de temporización. Qe, por consiguiente será Sg del
circuito de temporización. Los niveles de polarización del 4052, al igual que del resto
de los conmutadores electrónicos se indica en la sección 2.1. Las formas de onda
obtenidas a las salidas de los dos multiplexer se indican en la figura 2.31.
94
2.5.4.2 cmcorro BE CONMUTACIÓN BE SEÑALES A LOS CANALESDELOSCILOSCOMO.
Una forma aproximada de la visualización de las señales del EPAT para un
transistor KPN se indica en la figura 2.32, en ella la característica de salida se aprecia
en el primer cuadrante al igual que la recta de carga dinámica del transistor. Ambas
presentan corriente de colector y voltaje colector-emisor positivas; la característica de
entrada, que relaciona voltaje base-emisor y corriente de base se observa en ei
segundo cuadrante (si bien ambos parámetros son positivos, esto se hace por motivos
de mejor visualización). En la práctica, la característica de entrada tendrá en la
pantalla del osciloscopio un eje de referencia distinto que el resto de curvas, al que
denominaremos £2.
EJE E2
f-EJEX
Fig. 2.32 Visualización de las características de un transistor NPN obtenidas en el EPAT.
El tercer cuadrante presenta la forma de onda del voltaje de base del
amplificador en emisor común, esta señal consta de una parte continua, provista por el
circuito de polarización y otra parte alterna, la cual proviene del generador de entrada.
Al igual que la característica de entrada, esta señal hace uso del eje de referencia E2.
La parte superior de la pantalla del osciloscopio (eje Y positivo) se escalará en
corriente (para el caso de transistores PNP, el escalamiento de corriente ocurrirá en el
eje Y negativo) ; la parte inferior de la pantalla (eje Y negativo) se encuentra escalada
96
en tiempo, y esto se debe a que las señales, tanto de entrada como salida del
amplificador se encuentran ubicadas en el tercer y cuarto cuadrante, el escalamiento
dependerá de la frecuencia de la señal alterna, externa o interna que usará el equipo.
El eje X en su totalidad se encuentra escalado en voltaje.
En este circuito se produce fundamentalmente una conmutación espacial de
puntos de aplicación de los canales del osciloscopio. Cada uno de los circuitos
generadores de las señales que involucra el EPAT tienen puntos de aplicación
específicos para las entradas de los canales A y B del osciloscopio, por ejemplo del
circuito generador de la característica de salida, el canal A se aplicará directamente en
el emisor del TBP, mientras que el canal B en la salida del amplificador operacional
que proporciona en su salida el voltaje colector-emisor, estas posiciones pueden no
resultar útiles para la observación de las características restantes.
Si bien las características de entrada y de salida pueden obtenerse fácilmente en
el osciloscopio, tomando las señales como se indica en las figuras 2.23 y 2.25, esto no
ocurre con las señales que requiere la etapa del amplificador ya que, al trabajar con
señales externas (tanto horizontal como vertical) al osciloscopio es necesaria la.
inclusión de una señal de barrido externa (que ha sido diseñada y explicada en la
sección 2.4).
Adicionalmente debe presentarse la línea de carga DC del amplificador. Una
buena aproximación de esta línea puede obtenerse a partir del voltaje de colector del
transistor de prueba medido en el amplificador (este voltaje tendrá niveles AC y DC)
en el canal B y el voltaje sobre la resistencia de emisor, RE, el cual puede escalarse en
corriente amplificando esta señal según los requerimientos de amplitud del eje Y de la
pantalla del osciloscopio, este voltaje consta de una parte continua y otra alterna que
se encuentra desfasada 180 grados respecto al voltaje alterno VCE- La graficación de
estas señales aplicadas en el canal A y B respectivamente, da lugar a una recta de
pendiente negativa, que se aprecia en el primer cuadrante en el caso del TBJ NPN,
como se observa en la gráfica 2.33, y en el tercer cuadrante para el caso del transistor
PNP.
97
VE (V)
(a) (b)
Fig. 2.33 Graficación de la línea de carga DC del amplificador en emisor común : (a) Señales deentrada a cada canal, (b) Gráfico en el ORC de la línea de carga.
Para la graficación de las curvas de entrada, salida y recta de carga del
amplificador usaremos el circuito integrado 4053 que contiene 3 conmutadores de dos
entradas a una salida controlados cada uno mediante una señal de tipo TTL. Además
de las señales tomadas del amplificador se requiere la señal de barrido, la cual será
negativa si el TBP es un NPN, o positiva en caso contrario (PNP). Las señales de
control necesarias para este circuito se toman desde el circuito temporizador, y son 82
y 83. En la figura 2.34 se indica la forma de ubicación de las señales de entrada al
4053. Hay que considerar que la señal de base debe desplazarse hacia el segundo
cuadrante de la pantalla del osciloscopio y esto se logra sumando a dicha señal de
base un nivel DC negativo o positivo si el transistor de prueba es NPN o PNP
respectivamente, como se hizo para la característica de entrada. El voltaje de emisor
necesario para establecer la línea de carga ha sido previamente amplificado, esto se
hace para ajustar el nivel DC de la señal de salida (voltaje de colector), la que se toma
con referencia OV, mientras que la curva característica de salida, sobre la que se
interpola, tiene como referencia el voltaje de emisor. En la misma figura se muestran
aproximadamente las formas de onda de salida del 4053, de entre ellas las de mayor
importancia son X e Y que las denominaremos Xi e YI. Estas se utilizarán más tarde
en el conmutador general de señales de salida.
98
Fig, 2.34 Conmutación de señales del amplificador implemeníadoen base a un transistor de prueba NPN
99
Los canales A y B del osciloscopio serán conectados directamente los
terminales X e Y de un nuevo multiplexer analógico 4052. El grupo de señales que se
aplicarán a las entradas de cada conmutador interno son, respectivamente, Xi, Xa, Xs
para el primero e YI, Ya, Ys para el segundo. El período de tiempo que se encuentren
habilitados, Xi e Yh por ejemplo permitirá que en el osciloscopio se observe la señal
de base, colector y recta de carga, de modo que las señales de habilitación (control)
deben ser idénticas que las aplicadas al multiplexer del circuito conmutador de señales
a los terminales del transistor, es decir que el mismo período que se habilite el circuito
de amplificación, será el tiempo de visualización de las señales provenientes de éste en
el osciloscopio, ocurriendo de manera similar para el resto de circuitos. En la figura
2.35 se indica en bloques el circuito multiplexor de señales a los canales del
osciloscopio, en ella se observa la secuencia de señales a visualizar.
Como se manifestó anteriormente, la frecuencia de conmutación será lo
suficientemente grande para que la apariencia en la pantalla sea de un conjunto de
trazos visibles de manera estática y continua.
X3 X2 X
rh,o fccslx^h Q Q
c
\
o 1>,
,,
2
?X
Uxo
f
JLYoiviiYaYsI
Y l•v
CHB CHA
Fig. 2.35 Circuito multiplexor de señales a los canales del osciloscopio
100
2.6 CIRCUITOS ESPECÍFICOS PARA EL JFET
2.6.1 CIRCUITO PARA OBTENER LA CARACTERÍSTICA DE
TRANSFERENCIA.
La característica de transferencia representa un gráfico de la corriente de drenaje, ID
como una función del voltaje compuerta-fuente, VGs, para un valor constante del voltaje
drenaje-fuente, VDS. La característica de transferencia puede mirarse directamente en un
ORC, obtenida directamente por medidas de la operación del dispositivo, o dibujada de la
característica de drenaje.
Dos puntos importantes de la curva de transferencia que se muestran son los valores
IDSS Y Vp. Cuando estos puntos se fijan, el resto de la curva puede analizarse aplicando la
relación14:
la cual representa la característica de transferencia. Note que cuando VGS ~ O, ID = IDSS y
que cuando ID = O, VGS — VP.
Esta relación es conocida como la ecuación de Shockley, la cual es aplicada cuando
el dispositivo JFET se encuentra sobre la región de eslrangitlaniiento (pinch-oií).
La figura 2.36 nos indica el circuito básico para obtener la curva característica de
transferencia de cualquier dispositivo JFET. El circuito requiere de un generador de
barrido aplicado en la compuerta del JFET y de una fuente de voltaje continuo constante
aplicado en los terminales drenaje-fiíente. Para propósitos de visualizar en el ORC3 el canal
horizontal de la opción X vía B, se conectará entre los terminales compuerta-fuente (Ves)
y el canal vertical respectivo tomará muestras de corriente de drenaje (lo).
Ecuación, de Shockley. Ver gráfico sección 1.2.1.2101
VDD
FUENTE DEDRENAJE DC
CONSTANTE
GENERADOR
DE BARRIDOCOMPUERTA
Y
D
CANAL X
Fig. 2.36 Diagrama básico para obtener la característica de transferencia
Debido a que el JFET es un dispositivo controlado por voltaje, se necesita de un
voltaje de control VGS, dicho voltaje variable y periódico es el que proporciona el-
generador de barrido. Con este voltaje y manteniendo un voltaje DC constante en el
Drenaje, se pueden tomar muestras de corriente ID como una función del voltaje aplicado.
Para el caso de un JFET canal N, el generador de barrido deberá ser negativo y la
fuente de DC en el drenaje será positiva. En el caso contrario (canal P)s el barrido es
positivo y la fuente de DC es negativa, esto se lo realiza para cumplir con la teoría de
funcionamiento del JFET.
Para obtener la curva de transferencia, usando cualquier osciloscopio en la
condición X VIA B, se tiene el circuito indicado en la figura 2.37: el circuito consiste de
un amplificador operacional de comente a voltaje (I/V) con un barrido positivo o negativo
en la compuerta. El amplificador I/V contiene 1 selector de tres posiciones para el manejo
de escalas de la corriente de drenaje, de la siguiente manera:
para 1 mA/V por división
200 fl para 5 mA/V por división
100 H paralO mA/V por división.
102
VDD= 8V Canal N
VEE=-8V Canal P
200K
GCanal XOHI
Canal Y
Fig. 2.37 Circuito para obtenerla característica de transferencia de un JFET
Un conjunto de transistores NPN y PNP conforman un buffer de corriente^ que
usado con el amplificador W puede manejar altas corrientes de drenaje en los JFETs
(hasta 100 mA). A continuación se usa un amplificador inversor de ganancia variable para
proveer la polaridad correcta en la corriente de drenaje.
La entrada vertical del osciloscopio (canal Y) es usada para manejar la corriente de
drenaje, y el canal horizontal del osciloscopio (canal X) es usado para el voltaje de
compuerta.
Esta curva es sumamente importante en el diseño de amplificadores con JFET,
puesto que con ella podemos determinar: el punto Q de trabajo (condiciones óptimas de
amplificación), el valor de IDSS (se mide cuando se tiene un valor de YGs — 0) y el valor de
VP (se mide cuando la ID = 0). La figura 2.38 nos indica los valores anteriormente
mencionados.
103
ID(mA)
VGS(V)
Fig. 2.38 Determinación de y Vp
2.6.2 ORCÜITO PARA OBTENER LA CARACTERÍSTICA BE SALIDA
La característica de salida representa un gráfico de la corriente de drenaje, ID como
una función del voltaje drenaje-íuente VDS, para valor discretos de voltaje compuerta-
fuente VGS. Si VGS aumenta (más negativo para un dispositivo de canal N, y más positivo
para un canal P)s el canal desarrollará una región de agotamiento de modo que la cantidad
de corriente necesaria para cerrar el canal sea menor. Se ve entonces que el voltaje de
compuerta actúa como un control, reduciendo la cantidad de corriente de drenaje (a un
voltaje especificado Vos).
Cuando el valor de VGS se aumenta con corriente de drenaje reducida, se alcanza un
voltaje después del cual no resultará corriente de drenaje, independientemente de VDS- Este
voltaje compuerta fuente de estrangulamiento (pinch-off), Vp es un parámetro importante
utilizado para especificar la operación del JFET.
La figura 2.39 nos indica el circuito básico para obtener la característica de salida de
un JFET, el cual consta de un generador de paso (escalera) aplicado a la compuerta, para
poder manipular valores discretos de voltaje VGS. Este generador se encuentra
104
sincronizado con una señal de barrido aplicada al Drenaje del dispositivo. Esta'
sincronización servirá para que en cada período de la señal de barrido se obtenga una
respuesta en la característica de salida.
U/1/MSeñal deBarridoDrenaje
Generadorde Paso
CompuertaG drT-|
i
i
D
S
y-5-
oCANALX
o CANAL Y
Fig. 2.39 Diagrama básico para obtener la característica de salida de un JFET
Para propósitos de visualizar esta característica en el osciloscopio, el canal
horizontal se conectará entre los terminales drenaje-fiíente (Vos) y el canal vertical tomará
muestras de corriente de drenaje (!D).
El Generador de Paso Compuerta deberá tomar valores discretos entre O y -1
voltios para dispositivos en canal N, y valores entre O y +7 voltios para canal P, a fin de
obtener hasta 8 curvas de salida dependiendo del voltaje pinch-off VP que tenga el JPET
en estudio, puesto que este valor limita el número de curvas de salida en el dispositivo.
La señal de barrido para IFET canal N deberá ser positiva, mientras que para los
transistores canal P, ésta deberá ser negativa .
Para obtener la característica de salida, usando cualquier osciloscopio en la
condición X VIA B, se aplica el circuito de la figura 2.40.
15 Para una mejor comprensión de este aspecto, revisar la sección1.2.2
105
" 34J70
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1.2K^/^
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i g C
"—oCanal X
S'—o Canal Y
100 <
S2 S3 S 4
Fíg. 2.40 Circuito para obtener la Característica de salida de un JFET.
En este circuito., el generador de paso se lo realizó utilizando un MLJX de 8 a 1
(circuito integrado CD4051), conjuntamente con un amplificador inversor. Los relojes que
manejan este circuito integrado, A, B y C, tienen frecuencias que están en una relación de
1A, 1/8 y 1/16 con respecto a la frecuencia, fi del generador de señal del equipo16. En el
MUX las 8 entradas se encuentran conectadas a resistencias alimentadas por 8 voltios. Los
valores de estas resistencias se determinan de acuerdo al valor de voltaje requerido por la
compuerta Ves- Aplicando la siguiente relación:
RfVos ~ ~ VDD (2.14)
En la cual:
Rr = Resistencia de realimentación del amplificador inversor.
RmiK = Resistencia de entrada a los pines del ÍVÍUX.
VDD — Voltaje de polarización (8 V).
Vos — Voltaje de entrada a la compuerta.
Por ejemplo, para obtener un valor de voltaje de compuerta-fuente de IV, la
resistencia Rmux correspondiente, se obtiene de la ecuación anterior como sigue :
16 Las señales S2, $3 y S¿ provienen del circuito de Temporización.106
VDD
GS
= *1000 =
La tabla siguiente resume los valores de VGS que requiere el circuito y su respectivas
resistenciasde entrada al mux, R^.
VGS(V)
12••>j
4
5
6
7
Rmu, (H)
sooo4000
2700
2000
1600
1300
1200
Tabla 2.3 Resistencias de entrada R,,m para el respectivo nivel de voltaje de paso
Un caso especial se define para el valor VGS = OV, para su obtención una de las
entradas del 4051 es conectada directamente al nivel de referencia OV (tierra).
La señal rampa al estar sincronizada, deberá tener la misma frecuencia que el
generador de paso. Con esto se logra que la señal barra una sola vez la curva generada por
el correspondiente escalón del generador de paso.
La entrada vertical del osciloscopio (canal Y) es usada para manejar la corriente de
drenaje, y el canal horizontal (canal X) es usado para el voltaje de drenaje-fuente.
La aplicación de esta curva en la práctica nos sirve para determinar el valor de IDSS
(cuando VGs = 0), y el valor de V? (cuando ID = 0). Estos parámetros se indican en la
fisura 2.41.
107
1 Dss _^=-=.
VP = -3.5V
Fig. 2.41 Determinación de IDss y VP de un JFET
2.6.3 CIRCUITO AMPLIFICADOR CON JFET
La configuración de un amplificador en fuente común proporciona la mejor
operación de ganancia de voltaje. Una señal de entrada se aplica a la compuerta y la señal
de salida se toma del drenaje, el terminal de fuente es la referencia. El circuito equivalente
en AC del JFET es muy simple en relación al del TBJ, teniendo solamente una fuente de
corriente de salida cuyo valor depende de la transconductancia del dispositivo, gm, el
principal factor del dispositivo.
Para esta configuración, se utilizará el circuito de polarización fija, el cual se obtiene
utilizando una fuente de voltaje para colocar en polarización inversa a la unión compuerta-
fuente. Esta fuente será variable para facilitar el cambio de las condiciones de trabajo del
amplificador; la resistencia de drenaje será un potenciómetro que permita manipular la
ganancia del amplificador externamente. La forma de onda y amplitud de la señal de salida
en los amplificadores con JFET, es más dependiente del JFET que para el caso de TBJ, y
por consiguiente no es posible diseñar un amplificador para una sola condición de trabajo
con JFETs de características distintas. En la figura 2.42 se muestra el circuito amplificador
en Fuente Común implementado en el equipo. Para su diseño se han tomado las
consideraciones siguientes:
108
SS = 1 a 40 mA
VP = -1 a -8 V
VDD
RJk
Vo
i
Fig. 2.42 Circuito amplificador en Fuente Común
El circuito debe permitir la elección externa de VCSQ, ya que debe abarcar el valor de
VP para cualquier JPET. La fuente VGG variable externamente permitirá la variación
directa de VGSQ. La resistencia RG se incluye para permitir que cualquier señal alterna de
entrada aplicada a través de Ci se desarrolle en RG. En tanto que cualquier señal alterna se
desarrolla en RG, la caída de voltaje en DC a través de RG es cero. Se ha elegido RG =
20KÍ1
Sea Rs - 100^, para favorecer las condiciones de amplificación y facilitar el manejo de las
escalas de corriente.
La ganancia del amplificador, mostrada en la ecuación (2.16), a más de depender del
parámetro gm, es función, tanto de RD como de RS. Puesto que gm varía según el JFET de
prueba, es conveniente elegir al potenciómetro RD grande respecto aRS. En nuestro caso
Av — -- RD
+ Rs(2.16)
Analizando una rama en DC para el circuito de la figura anterior, se tiene:
VDD = IDQ RD + VDSQ + IDQ RS (2.17)
109
Consideremos la condición máxima de polarización, que al igual que para el caso del
amplificador con TBJ, es VDD = 8V. De la ecuación anterior:
(2.17)
Para el caso en que RD = 10KÍ1, el punto VDSQ óptimo para que el amplificador
funcione correctamente se obtiene si IDQ es bajo (menor a O.ómA). Sin embargo ID puede
ser aumentado si RD es menor.
El circuito diseñado se indica en la figura 2.43.
10uFM • k-/I T *
L C1 JRO
i
h\f
10uFII
> r-.
-QV^r 100Vo
Fig. 2.43 Circuito amplificador en Fuente Común impleinentado en ei equipo
Debe quedar claro ques el análisis se ha hecho considerando al amplificador sin
carga. La adición de cualquier RL reducirá la amplitud de la señal de voltaje de salida, Vo.
La principal limitación del amplificador consiste en que no podrá manejar grandes
corrientes de drenaje; es decir el punto de trabajo se encontrará determinado por un valor
bajo de IDQ.
La fuente de polarización que tiene este circuito será de un valor máximo de SV3 lo
cual es el principal factor para no poder obtener mayores ganancias de voltaje y manejar
dispositivos de elevadas corrientes. Esta limitación en la fuente de polarización se debe a
que todos estos parámetros deben ingresar a un circuito de multiplexación, lo que no
110
permite entradas de voltaje mayores a las de su propia polarización, que en este caso es
como máximo 8 voltios.
2.6.4 CIRCUITOS DE IVIÜLTIPLEXACION DE SEÑALES PARA EL J'FET
Al igual que para el caso del TBJ se presentan circuitos multiplexores destinados a
la conmutación de señales a los terminales del JFET, y a la salida del ORC.
2.6.4.1 CIRCUITO MULTIPLEXOR: SEÑAL DE COMPUERTA, SEÑAL DESALIDA Y RECTA DE CARGA
Para obtener la recta de carga, debemos tener presente las Curvas de Lissajous que
se presentan en el osciloscopio en la condición X VIA B. Si se ingresa una señal alterna
(señal de compuerta) en el canal X y una señal alterna desfasada 180 grados con respecto
a la entrada (señal de salida o de drenaje) en el canal Y3 seleccionando la posición X VIA
B del osciloscopio, se obtendrá una recta, la cual representará la Recta de Carga del
amplificador. Esta recta debe situarse sobre la curva de transferencia, para poder
determinar el punto de trabajo Q del amplificador. Para tal efecto, se realizarán varios
ajustes a las señales presentes.
Para lograr visualizar en el osciloscopio (X VÍA B), las tres señales presentes: señal
de compuerta, señal de salida y recta de carga, debe realizarse una respectiva
multiplexación de señales, en la cual además de las señales anteriores, intervendrá una
señal rampa.
La figura 2.44 muestra el esquema fundamental de multiplexación en el cual para la
conmutación se usa el circuito integrado CD4053. El primer par de señales multiplexadas
(señal de compuerta y salida) están manejadas por un reloj de frecuencia fi/4, mientras que
los otros dos pares de señales se manejan con un reloj de frecuencia fi/8, donde fi es la
frecuencia de trabajo o frecuencia del generador de entrada (interno o externo). Esto se
realiza con el objeto de obtener en cada canal del osciloscopio una combinación adecuada
de señales, las mismas que en la condición X VIAB, nos representen lo deseado.
111
Vin
VDD
V • • k
P\•S i GS
1
--H
1?4
11
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s R \/>K S \i
I1
f i
Ves V0
XO X1
(a)
VGS
YO Y1|
T(b)
V,esc
Canal 1T ¡ i
Yo
Fig. 2.44 Esquema fundamental de multiplexación de señales de compuerta, salida y linea de carga :(a) Señales obtenidas del amplificador (b) Circuito de multiplexación de señales
En la figura 2.44(b), la señal VGS se obtiene a partir de la salida de un circuito
diferenciado^ cuyas entradas son VG y Vs, la señal Vesc proviene de un amplificador que
controla el voltaje de fuente, Vs, hasta obtener la escala adecuada de corriente en la
pantalla del ORC.
112
2.6.4.2 CIRCUITO MULTIPLEXOR DE SEÑALES A LOS TERMINALES BEL
TRANSISTOR
Esta multiplexación se realiza con el objeto de obtener en la pantalla del
osciloscopio la característica de salida, la curva de transferencia y la acción amplificadora
como tal (señal de compuerta y señal de salida). Para nuestro propósito utilizaremos el
circuito integrado CD4052, de manera similar a lo que ocurre en la conmutaciuón de
señales para el TBJ.
El circuito que se muestra en la figura 2.45 servirá para multiplexar señales a los
terminales del transistor JFET canal N. Para los JFET canal P se invierte la polaridad de
las siguientes señales;
• La señal proveniente del generador de paso,
• La señal proveniente del generador de barrido.
• La fuente de polarización variable, que en este pasa a ser máximo de VEE = ~S
voltios.
• La fuente de polarización que alimenta a la compuerta, que en este caso pasa a ser
VDD = 8 voltios.
• La fuente de voltaje constante de drenaje, que pasa a ser de -8 voltios. Este voltaje
nos sirve para obtener la característica de transferencia del dispositivo
En el circuito de la figura 2.45 todos los multiplexores CD4052 están manejados por
relojes comunes; la frecuencia de cada uno de ellos con relación al generador de entrada
están en una relación de fi/32 fj/64 respectivamente. Esto nos permite obtener al mismo
instante en los terminales del transistor: la señal del generador de paso (en la compuerta),
la señal de barrido (en el drenaje) y una resistencia de 100Í1 (en la fuente), que en conjunto
nos permiten visualizar la característica de transferencia del dispositivo. Análogamente, si
se ingresa de manera correcta las señales a los terminales del transistor, se obtendrán las
otras curvas del dispositivo.
113
BARRIDOPOSITIVO
T l—ICK1A
CK1B
GENERADORDE PASO
A B
Í Y
c |D
•1053
Di ^ X 2 , X 3
200K0
Fig. 2.45 Circuito multiplexorde señales a los terminales del JFET
114
2.6.4.3 CIRCUITO MULTIPLEXOR DE SEÑALES A LA SAJL1DA DEJL
OSCILOSCOPIO.
Una vez obtenidas por separado todas las curvas de análisis del dispositivo, resta
por muítipíexar las salidas respectivas a los canales del osciloscopio; es decir, escoger
todas las salidas que ocupen el canal X (Xo> Xi, X2} Xs) y llevarlas a un mux de 4 a 1 para
obtener una sola señal compuesta por todas las anteriores. Similar análisis se realiza con
todas las señales que ocupen el canal Y.
El circuito que permite muítipíexar las salidas de cada arreglo por separado,, se
indica en la figura 2.46.
XD X1 X2.X3
CK1 A *"S5
CK1 B -*se
YO Y1 Y2.Y3
1
4052 4052
CANAL B GÁNALA
Fig. 2.46 Circuito inulúplexor a las entradas A y B del ORC
En este caso los relojes de manejo de los Mux 4052, tienen una frecuencia con
relación al generador de señal de fi/32 y fi/64 respectivamente.
Este tipo de conmutación, es independiente si estamos trabajando con transistores
JFET canal N o canal P, puesto que lo único que se realiza es conmutación de salidas.
Para una frecuencia baja (mínima frecuencia de entrada de señal £,„„ = 400 Hz)3 esta
conmutación puede ser perceptible por la vista, obteniéndose en el osciloscopio en la
condición X VIA B, una especie de titileo entre las señales de salida.
115
2.7 CIRCUITO DE ALIMENTACIÓN GENERAL
El circuito de alimentación general,, será capaz de proveer varios niveles de voltaje
DC., a partir de una toma de la red de 120 voltios de AC. Los valores de estos voltajes van
a depender de los requerimientos de cada etapa del equipo para su correcto
funcionamiento. Estos valores de voltaje son:
Fuente de DC de: +5 V,. +8 V fijos.
• Fuente de DC de: +2V a +8V variable.
Fuente de DC de: -5 V, -8 V fijos.
• Fuente de DC de: -2V a -8V variable.
• Fuente de DC de: +6V fijo.
Para poder manejar directamente la toma de 120 voltios en AC, utilizaremos un
transformador con iap central con una relación de 120 a 18 voltios en AC. Posteriormente
este nivel de voltaje será rectificado y se usará un filtro para obtener un nivel positivo y
otro negativo de DC con un bajo rizado. El esquema fundamental de la conversión AC en
DC se lo indica en la figura 2.47.
-15V
5- S
0 ^/ 3\:
P X? ]^( ^
S^HL5V•—O
~"s4700uF
~^47ÜOuF
Fig. 2.47 Conversor AC DC
Una vez obtenido los niveles fijos de voltaje de +15 y -15 voltios DC, se procede a
implementar los circuitos reguladores de voltaje para obtener los voltajes especificados
anteriormente.
116
Para obtener los valores de +5V, +8V, ~5V y -SV, se utilizará los circuitos
integrados reguladores de voltaje LM7S05, LM780S, LM7905 y LM7908
respectivamente. El regulador de voltaje fijo toma como entrada un voltaje DC de alto
rizado y entrega un voltaje de salida Vo, de un valor DC fijo de bajo rizado. En la figura
2.48 se indica el circuito fundamental para cualquiera de estos dispositivos, en donde los
capacitores de entrada y salida conectados a tierra ayudan a mantener el voltaje DC en su
valor y adicionalmente ayudan a filtrar las variaciones de voltaje a cualquier frecuencia
elevada. Los reguladores que hemos utilizado manejan una corriente de 1.5 A, necesaria
para los requerimientos de corriente de cada sistema.
LM73XX0 i
^itl ^-^Vi Vo
GliD2
3
s- - ^
(a)
LM79XX
''in ^
GHD
^
2
1
s-^-, Y
(b)Fig. 2.48 Reguladores fijos de voltaje: (a) Voltaje Positivo (b) Voltaje negativo
La implementación de fuentes de voltaje variables positiva y negativa se realiza a
partir de los reguladores LM317 y LM337, respectivamente. El LM317, por ejemplo,
puede ser operado con voltaje de salida regulado en cualquier nivel DC sobre el rango de
voltaje desde 1.2V hasta 37V. La figura 2.49 muestra una conexión típica utilizando el CI
LVD 17.
117
LM317
Yin
Fig. 2.49 Regulador Variable LM317
Por lo tanto, para obtener los valores de voltaje variable entre +2V y -H8V, y el
valor fijo de +6V, utilizaremos el LM317, y para un nivel entre -2V y -8V se utilizará el
LM337 que es un regulador variable negativo.
El voltaje de salida deseado puede calcularse utilizando la fórmula:
Vo = V]ÍEF(l+-i)Ki (2.18),
donde ViiHF=1.25V.
La selección de las resistencias RI y R2 permite ajustar la salida a cualquier voltaje
deseado sobre el rango de ajuste (1.2V a 37V).
Para la fuente regulada variable positiva entre +2Y y +8V, asumiendo RI = 360Í1
el valor correspondiente de R2 para obtener SV es 2 KQ. La elección de un valor inferior
implica un voltaje de salida entre 1.2V y SV. De modo que, para abarcar dicho rango se
implementaR2 mediante un potenciómetro variable, cuyo valor máximo es 2KTL
Para la fuente regulada variable negativa entre -2V y -8V, los valores de las
resistencias RI y R2 son:
R! = 390a
R2 = 2 Kí} (Potenciómetro)
118
Para la fuente regulada fija positiva de +6V, los valores de las resistencias Rj y R2
son:
Ri = 220 fí
R2 - 2 KH (Potenciómetro)
En cada caso, RI se implementa mediante un resistor variable (potenciómetro),
que define en forma directa el voltaje DC de salida del regulador.
Igualmente los reguladores variables que hemos utilizado manejan una corriente de
1.5 A, suficiente para soportar la carga del circuito.
Todos los circuitos diseñados anteriormente tienen como voltaje de entrada, el
voltaje que proporciona el circuito conversor AC en DC (rectificador y filtro), que para el
caso de los reguladores positivos, este voltaje es +15 voltios y para los reguladores
negativos es -15 voltios.
Un esquema completo del circuito general de alimentación se indica en la figura
2.50.
119
Fig. 2.50 Circuito de Alimentación General
120
CAPITULO 3
CONSTRUCCIÓN Y PRUEBASEXPERIMENTALES CON EL
EPAT
3.1 CONSTRUCCIÓN DEL EPAT
3.2 PRUEBAS EXPERIMENTALES CON ELEPAT
3.1 DIAGRAMAS CIRCUITALES DEL EQUIPO Y SU
IMPLEMENTACION
En este capítulo se conocerá físicamente la estructura interna del equipo, es decir,
la ubicación de las tarjetas que conforman el equipo, y la posición de los componentes
electrónicos en las tarjetas con sus respectivos conectores de interconexión.
Para el manejo del equipo, hemos aplicado una técnica de construcción modular,
esto nos permitirá realizar una fácil manipulación (ajuste o calibración) de ciertos
elementos para el correcto funcionamiento del equipo, y en caso de ser necesario un fácil
mantenimiento del mismo.
El equipo consta de cuatro módulos o tarjetas independientes, las cuales para
poder interconectarse entre sí utilizan conectores desmontables. La denominación de los
módulos es la siguiente:
Módulo de alimentación general del equipo
Módulo de Sincronismo, Temporización, Barrido y Generador interno
Módulo de prueba del TBJ
Módulo de prueba del JFET
Como parte del módulo de alimentación general, se debe incluir un transformador
con toma central, el cual nos sirve para poder transformar la red de alimentación de 120V
en AC a 18V en AC, voltaje necesario y suficiente para poder manipular a todo el módulo
de alimentación.
El procedimiento a seguirse en la construcción de cada una de las tarjetas es
similar y consta de dos puntos importantes:
122
1. Previamente a la obtención de las tarjetas o módulos de construción del "EPAT", •
se debe realizar un diagrama circuital completo de cada una de ellas por separado.,
para dicho efecto se utilizará el paquete computacional ORCAD-SDT, en el cual
se genera un archivo esquemático SCH.
2. Utilizando varios utilitarios del ORCAD procedemos a depurar el archivo SCH
para obtener el archivo netlist para el route del TANGO, con éste archivo y con
otro creado en el programa TANGO-PCB, el cual contiene la distribución de los
elementos en la tarjeta, se procede a realizar un ruteado automático de pistas y
vías mediante la aplicación TANGO-ROUTE.
Puesto que el diseño de cada una de las partes que comprenden cada módulo, se lo
realizó en el capitulo 2, entonces nos limitaremos únicamente a presentar los diagramas
circuitales, tarjetas de distribución de elementos y tarjetas con el ruteado de pistas y vías.
En los módulos de alimentación y de sincronismo-barrido, los conectores
desmontables son semejantes pero independientes; es decir, son conectores que manejan
las mismas señales pero que no se comparten mecánicamente, esto se realiza para manejar
a cada tarjeta por separado; por ejemplo; la tarjeta de alimentación utiliza tres conectores
independientes para suministrar el voltaje de polarización a cada una de las tarjetas; la
tarjeta de sincronismo utiliza dos conectores independientes a fin de proporcionar los
relojes necesarios para la conmutación a los módulos de prueba de TBJ y JPET por
separado.
En los cuatro módulos de construcción intervienen dos tipos de conectores, unos
que nos permiten interconectar internamente con las otras tarjetas y otros que se conectan
externamente con el panel frontal de presentación (ver foto en la figura 3.1), en el cual
se encuentran alojados todos los controles de operación del equipo. Además para poder
conectar los potenciómetros externos a los módulos, se hace uso de cables, los que se
encuentran soldados en las respectivas tarjetas.
123
Debido a la complejidad circuital de tres de los cuatro módulos del equipo, la
disposición del ruteado de pistas y vías se lo realizó a ambos lados (BOTTOM y TOP); es
decir, en el lado de soldadura de elementos y en el lado de ubicación de los componentes.
El único módulo que utilizó sólo el lado de soldadura para el ruteado fue la tarjeta de
alimentación. Esta disposición del ruteado fue aceptable, puesto que asumimos un tamaño
adecuado para las tarjetas.
Fig. 3.1 Píinel .frontíil de presentación del Equipo
A continuación se presentan los diagramas circuitales, la disposición de elementos
dentro de los módulos y las tarjetas con el ruteado automático de pistas y vías.
124
Fig. 3.2 Módulo de Alimentación General
125
Fig. 3.3 Distribución de elementos en el módulo de alimentación general
Fig. 3.4 Trazado de pistas y vías pard el módulo de alimentación general
Esc: 1: 1
126
Fig. 3,5 Módulo de Sincronismo, Temporizadon y Barrido
127
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Fig. 3.6 Distribución de elementos en el modulo de barrido
Fig. 3.7 Trazado de pistas y vías en el lado de soldadura del módulo de barrido
Esc: 1:1.25Fig. 3.8 Trazado de pistas y vías en el lado de componentes del moódulo de barrido
128
Fig. 3.9 Módulo de prueba de TBJ
129
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Fig. 3.10 Distribución de elementos en el módulo de prueba de TBJ
Esc: 1:1.25
130
Fig, 3.11 Trazado üe pistas y vías en el lado de soldadura del módulo de prueba de TBJ
Fig. 3.12 Trazado de pistas y vías en'el lado de componentes del modulodde prueba de TBJ
Esc: 1:1.5
131
Fifi. 3.13 Módulo de Prueba de JFET
132
R22
Fig. 3.14 Distribución de elementos en el módulo de prueba de JFET
Esc: 1:1.25
133
bottom
Fig. 3.15 Trazado de pistas y vías en el lado de soldadura del módulo de prueba de JFET
Fig. 3.16 Trazado de pistas y vías en el lado de componentes del módulo de prueba de JFET
Esc: 1:1.25
134
3.1.1 DISPOSICIÓN DE LOS MÓDULOS DENTRO DEL EQUIPO
Antes de hablar de una disposición de módulos dentro del equipo, mencionemos
algunas características de la caja metálica en la cual van incorporadas las cuatro tarjetas y
el transformador; estas características son:
El material de la caja metálica es de acero reforzado, resistible a golpes externos y
a cualquier presión ejercida externamente.
El peso de la caja metálica por ser de acero reforzado es de aproximadamente 3
Kgs peso elevado pero que se compensa con la resistividad del equipo. El peso
completo del equipo una vez montados todos los módulos y el transformador en la
caja metálica es, de aproximadamente 5Kg.
Las dimensiones de la caja metálica tomando en consideración el tamaño de los
módulos y aplicando una adecuada distribución de los mismos conjuntamente con
el transformador, son: largo = 250mm, ancho = 210mm y altura = 1 lOmm.
La disposición de los módulos dentro de la caja metálica del equipo, se la realizó
tomando en consideración varios puntos de análisis; por ejemplo, el tamaño de cada una
de ellas, la ubicación de los conectores para una adecuada interconexión y la ubicación de
los controles externos que van encaminados hacia un panel frontal de presentación externo
al equipo.
Aprovechando la homogenidad de los módulos de prueba del TBJ y del JFET, se
procedió a construir a las dos tarjetas del mismo tamaño, con el objetivo de poder
ubicarlas una sobre otra para ahorrar espacio en las dimensiones de la caja metálica.
Similar situación ocurrió con los otros dos módulos restantes, el de alimentación y el de
barrido. En este caso se vio la necesidad de ubicar el módulo de alimentación sobre el
módulo de barrido, puesto que este módulo se encarga de proporcionar el voltaje de
alimentación a todas las tarjetas, razón por la cual esta tarjeta debe incluir disipadores de
calor, los cuales deben estar a un nivel superior de las tarjetas dentro del equipo.
135
Desde el punto de vista de la conexión de los conectores, se escogió la alternativa
de montaje que facilitaría la conexión y desconexión de los mismos para un adecuado
montaje y desmontaje deias tarjetas dentro del equipo.
Otra alternativa para la disposición de los módulos, pero que no fue considerada
tan primordial, fiíe la conexión de ciertos controles externos ubicados en el panel frontal
de presentación del equipo, no se le dio importancia puesto que estos controles llegaban a
conectarse a los módulos por medio de cables o mediante los conectores anteriormente
mencionados.
La foto indicada en la figura 3.17 nos muestra una vista interior completa del
equipo, en ella se puede apreciar la tarjeta de prueba del JFET y la tarjeta de alimentación,
la cual se encuentra muy cercana al transformador.
Fig. 3.17 Vista interior del Equipo
136
3.1.2 DISPOSICIÓN DE CONECTORES DENTRO DEL EQUIPO
Para poder realizar una identificación de los conectores dentro del equipo, se
utilizan los diagramas mostrados en la figura 3.18, en la cual hemos hecho una
aproximación de la ubicación de los conectores tanto en las tarjetas inferiores como en las
superiores del equipo.
La denominación CON indica que es un conector que interconectará a las tarjetas
dentro del equipo, mientras que CONEXT es un conector que interconectará a cualquiera
de las tarjetas pero con el panel frontal de presentación, por ejemplo:
CON4: Conector que lleva los relojes para los MUX desde el módulo de
sincronismo y barrido hasta el módulo de prueba del JFET.
CON3: Conector que conduce el voltaje de alimentación necesario desde el
módulo de alimentación hasta el módulo de sincronismo y barrido.
CONEXT3: Conector que permite manipular sea un TBJ NPN o un TBJ PNP,
mediante un control mecánico externo al equipo, ubicado en el panel frontal del
mismo.
CONEXT8: Conector que nos permite sacar los terminales del JFET del módulo
de prueba hacia el panel frontal, para poder realizar las pruebas con cualquier
JFET.
CONEXT6; Conector que nos permite manipular las escalas de corriente de
drenaje ID, mediante un switch mecánico de tres posiciones externo al equipo,
ubicado en el panel frontal del mismo.
Para evitar un daño interno del equipo, se ha incluido en la parte posterior del
mismo un fusible de 2QOmA a la entrada del transformador.
137
^i°OOQi CONEX76
"* o o o o
CONEXT7Selector CH A/B LÜjD JPI6
r12 1 CONEXT8[ o o o o ' | Socolo poro JFEJ
TARJETA DE PRUEBA DEL JFET
CONEXT9Selector CHH/CHP
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°0
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TARJETA DEALIMENTACIÓN
jpi? CON?(a o o o o o o o> wimonioclon loriólo JH.I
JP13 CON6(o o o o o c, o oí Aiimonlocian loriólo TBJ
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de Barrido
VISTA SUPERIOR DEL EQUIPO (PLACAS SUPERIORES)
s.
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CONEXT3S«l«ctor NPH/PNP
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TARJETA DE PRUEBA DEL TBJ
CONEXT4
-. o
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D Da aa aa a
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Selector CH A/B Í5|
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(a o o o o o o o)
CON5Relojes pora los UUX
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jp)0 >JÍmonloc!on de lo tarjeta
TRANSFORMADOR
CON1•= -5, Solido del"= ' Tronslormodor
jei
a o o o o o o o o o o o
CON EXT 1S«tl«ctor da barrido
TARJETA DE SINCRONISMO,BARRIDO Y GEN. INTERNO
|o] CON3 _ CONEXT2
oo
?lslJP4 CON4 JP5 CON5( a o o o o o o o ) f a o o o o o o o )
Relaje) pora loi UUX
VISTA SUPERIOR DEL EQUIPO (PLACAS INFERIORES)
Fig. 3.18 Disposición de conectores dentro del equipo
138
3.2 PRUEBAS EXPERIMENTALES CON EL EPAT
Esta parte contiene una descripción de las pruebas de funcionamiento del Equipo de
Prueba para Amplificadores a Transistor, EPAT., formas de onda y resultados en las
mediciones de algunos parámetros importantes de los transistores de prueba. Se indican
además algunas condiciones y precauciones para el correcto funcionamiento del EPAT y
un estudio comparativo de los resultados obtenidos en base a nuestro equipo con otros
equipos de medida.
3.2.1 SEÑALES BE SALIDA BEL EPAT
Las señales obtenidas por el EPAT se clasifican en dos grupos: señales de excitación
al transistor bajo prueba, TBP y señales a los canales del osciloscopio. Como es de
esperarse, las señales de excitación son, en términos generales, constantes (o fijas)
independientemente del TBP.
3.2.1.1 Señales de Excitación del EPAT
En las figuras 3.19 (a), (b), (c) y (d) se observan la secuencia de las señales de
excitación a los terminales Base, Colector; Compuerta y Drenaje de los transistores bajo
prueba en un período completo, para el caso de transistores .NPN, PNP y JFET canal N y
Canal P, respectivamente17. El período total para cada caso es 40ms, la frecuencia del
generador (frecuencia de trabajo) es 2KHz.
Las pruebas sucesivas de funcionamiento del equipo nos llevan a determinar a
SOKHz como la frecuencia máxima de trabajo del equipo; a frecuencias superiores a la
indicada el equipo presenta ciertos trazos en la pantalla del ORC, que pueden alterar el
resultado del análisis para algún dispositivo de prueba y provocar conclusiones erróneas.
Debido a lo anterior se recomienda la medición de las características del TBP a frecuencias
distintas.
11 Las señales indicadas han sido obtenidas por medio del osciloscopiodigital TEK TH5720 y del software WAVESTAR 1.0.3 de TEKTRONIX.
139
jlliSsiB^|éfi raMWfíHfc'&sí a 3 ¡¿.SíHÍhpHrmPnra mHi itíjfl
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: uíJ^w-Ht^ ^J1*. VM
Fig. 3.19(a) Señales de Excitación a los terminales Base y Colector para un transistor NPN.
ÍÍ&7.S ! « I ¡¡, í i1 H:¡í J< ss ¡ : "*- '-ürj.a...i
Fig. 3.19(b) Señales de Excitación a los terminales Base y Colector para un transistor PNP140
Fig. 3.19(c) Señales de Excitación a los terminales Compuerta y Drenaje para un JFET canal N
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r:íí;:;ÍKÍSíS3;E^:::!ii:b:;::E;ci:i;;p:!j^iaaBHSNgfeis l-m- aeHagmHtgKgffM
Fig. 3.19(d) Señales de Excitación a los terminales Compuerta y Drenaje para un JFET canal P.
141
3.2.1.2 Señales a los canales del ORC.
Las señales de salida a los canales del osciloscopio son básicamente dependientes del
dispositivo de prueba, por este motivo nos referiremos al análisis de éstas a partir de los
resultados obtenidos por el EPAT para algunos de los transistores y diodos más comunes
del mercado.
La manipulación de los controles del EPAT, para su funcionamiento correcto, se
explica de manera detallada en el "Manual de Operaciones del EPAT\o en el
Anexo 1 del presente trabajo.
En la figura 3.20 se indica la respuesta del EPAT cuando se ha conectado en los
terminales de TBJ el transistor 2N3904. La frecuencia de trabajo es 2.5KHz. El selector de
IB adecuado para este caso es 5u.A/curva. El punto de trabajo Q para la amplificación
indicada es: VCE = 5V, Ic = 2.7mA. Para dicho punto, la corriente de base
correspondiente es, aproximadamente 12.5pA La relación hfe o (3 determinada a partir del
equipo para Ic e IB obtenidas es (3 = 2.7mA/12.5uA = 216. El valor VBE de saturación
determinado directamente a partir del mismo gráfico (y de la pantalla del osciloscopio) es
0.7V. Para el caso de la figura, la ganancia de voltaje es aproximadamente 6.
Fig. 3.20 Prueba del EPAT para el transistor 2N3904142
En la figura 3.21 se muestra la respuesta del EPAT en la prueba de un transistor
C3038 (ECG 51), para éste la posición adecuada del selector IB es, ahora 50p.A/curva. Las
condiciones de polarización han sido modificadas, de modo que el punto Q de trabajo es
VCE - 4.2V e Ic = 4mA. hfe se determina por la relación 4rnA/175uA = 22
J-' -'•,,ít'J!l..i'"iu ' '.'Ji-MA.-X, —•'Jtvi-jjLiiL^lli1 _, .. ,,.: t; .uinj _'_
\'( v;' sw\/'?^^^W?^ i;i;.-;:;V'l;:.'
. - ' • ' • ' . • ' ' - f lM'"'-' '^'í1'1^ *"''•? *"*:*™M •fí<*T->" •*-»i1^ -V <» -'.-^ t l.i'.LV ' I 'f l Llv""" ""T l '' -'•''' V ' - i-"!•''
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- . . . . .
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Fig. 3.21 Formas de onda del EPAT para el transistor ECG 51
El ajuste de la corriente de base a valores altos (reducción del control 'R.Q2\a
el punto de operación hacia la saturación a lo largo de la línea de cargas en tanto que la
reducción de corriente de base (aumento de Ro2) mueve el punto de polarización hacia el
corte del transistor. Ambos efectos constituyen causas de una posible distorsión de la señal
de salida. La figura 3.22 muestra la distorsión producida por el aumento del control Ro25 lo
que lleva el punto de operación hacia la región de corte. Otras causas de distorsión en la
forma de onda de salida consisten en los aumentos deliberados del voltaje de entrada o el
control Re. En todos los casos indicados anteriormente, la distorsión de la señal de salida
del amplificador se manifiesta en el EPAT además como una deformación de la línea de
carga, la cual deja de ser recta.
143
»^H*^^g^«if.y; *.A^
•/•^•^^JUvX-S*^--.-irJE^ii.... ™,-TX
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Fig. 3.22 Distorsión en el amplificador con TBJ producida porla manipulación de los controles del EPAT
El aumento de la frecuencia de trabajo del EPAT (frecuencia del generador externo
o interno) puede producir cambios en las características de algunos transistores TBJ de
prueba. En la figura 3.23 se muestra la prueba del EPAT para el transistor ECG 51, con
una frecuencia de generador de 30KHz. Si bien la característica de entrada es
prácticamente independiente para la variación de frecuencia indicada (2.5KHz a 30KHz),
esto no ocurre con la característica de salida, para la cual se observa un aumento en la
región de saturación del transistor con respecto al análisis realizado en la figura anterior, lo
que obliga a un cambio en las condiciones de polarización para evitar una posible
distorsión en la salida del amplificador.
Puede concluirse entonces, que los niveles de amplificación determinados por el
EPAT se ven reducidos para algunos transistores por aumento de la frecuencia de trabajo.
144
Fig. 3.23 Efectos del aumento de frecuencia de trabajo en la prueba del transistor ECG 51
La figura 3.24 presenta la respuesta del EPAT para una frecuencia de trabajo de
60KHz. Para esta prueba se ha usado el transistor 2N918, útil para aplicaciones de
radiofrecuencia. En este caso la característica de salida del transistor es imperfecta y puede
producir errores de apreciación en la lectura de sus parámetros. La característica de salida
de algunos transistores obtenida a una frecuencia alta de trabajo del equipo presenta la
particularidad de que la región lineal del TBJ contiene una familia de curvas oblicuas. La
inclinación de dichas curvas pueden determinar que el cálculo de (3 sea más dependiente
del punto de trabajo que para frecuencias menores.
La prueba de algunos transistores a frecuencias altas del EPAT puede ocasionar sin
embargo deformaciones en todas las curvas de salida, debido a la pobre respuesta de los
transistores de prueba a las señales de excitación, que se caracterizan por presentar varios
cambios o transiciones de voltaje por período, como se indica en la figura 3.19.
145
Fig. 3.24 Respuesta del EPAT a una frecuencia de generador de 60KHz para el transistor 2N918
En la figura 3.25 se observa la respuesta del EPAT al transistor 2N3906, de tipo.
PNP. Las curvas de salida se encuentran rotadas 180 grados respecto a las obtenidas para
un transistor NPN, a fin de mantener el sentido de los ejes (positivo y negativo), del ORC.
Las características del transistor de prueba en este caso son similares a las obtenidas para
el transistor 2N3904 (la relación hfe = P obtenida del equipo para este caso es
aproximadamente 200), considerando obviamente los signos de voltaje y corriente.
Fig. 3.25 Prueba del EPAT para el transistor TBJ 2N3906.
146
Las figuras 3.26, 3.27 y 3.28 muestran las curvas obtenidas como resultado de la
prueba del EPAT para los JFET 2N4857 (Canal N), ECG460 (Canal P) y ECG317 (Canal
P). El valor Vp para cada transistor se obtiene de manera directa de la pantalla: para los
casos particulares mencionados se obtiene los valores -3.2V, +4.8V y +1.7V,
respectivamente. El parámetro IDSS depende, de la posición adecuada del selector IDj
siendo, para cada caso 25mA, -9mAy -3.5mA.
Para las situaciones anteriores la ganancia del amplificador depende de la
manipulación de los controles VGG, RD y las fuentes de voltaje V(+) y V(-). Sin embargo,
los valores límite de dichas fuentes pueden no ser lo suficientemente altos para que el
amplificador tenga una corriente de drenaje cualquiera (el máximo valor de ésta es SmA).
De modo que es posible que para algunos casos en la señal de salida del amplificador
desaparezca por completo su parte alterna; con mayor razón si se prueba con un JFET
cuya ID.JS es alta.
Fig. 3.26 Prueba del JFET 2N4S57
147
Fig. 3.27 Respuesta del EPATpara el JFET ECG 416
Fig. 3.28 Respuesta del EPAT para el JFET ECG 419 (Canal P)
Al igual que para el caso de TBJ, es posible mediante el EPAT analizar gráficamente
las causas de distorsión en la forma de onda de salida de un amplificador. Hay que notar
que la recta que cruza la curva de transferencia del JFET de prueba presentará
deformación si la distorsión de la señal de salida es considerable18. Si la señal amplificada
presenta poca o ninguna distorsión, puede usarse el punto de cruce entre la recta y la
característica de transferencia para determinar los parámetros ID y VGs del punto de
trabajo.
Fig. 3,29 Distorsión en la señal amplificada , debida a la elección incorrecta del punto de trabajo.
Del mismo modo que el EPAT determina la característica de entrada en un TBJ, es
posible determinar la respuesta de algunos diodos. En la figura 3.30(a) se indica la
característica de un diodo LED verde, para este caso se verifica un voltaje codo de 2V
aproximadamente. En algunos diodos será posible la determinación aproximada de la
corriente codo, para el caso de la figura 3.30 (a) esto resulta difícil por motivos de escala,
mientras que en la figura 3.30(b), que indica la característica de un diodo zéner cuyo Vz =
3.3V, la corriente codo IZK es, según el EPAT, cerca de 0.6mA. En el caso de los diodos
de señal, el límite superior de medición de corriente de codo I¡c, es 4mA, mientras que para
un diodo zéner los límites superiores de medición del EPAT para los valores de voltaje y
corriente zéner, Vz e lz, son 4mA y 8V, respectivamente.
18 Puede considerarse a dicha recta como una medida de la distorsión dela señal amplificada.
149
(a)
(b)
Fig. 3.30 Características de diodos medidas según el EPAT : (a) Diodo LED verde (b) diodo
150
3.2,2 Estudio Comparativo de los resultados obtenidos por medio del EPAT con
otros equipos de medida.
En esta parte trataremos de establecer una comparación ente los valores de los
parámetros de algunos dispositivos que son posibles de obtener directa e indirectamente a
partir del EPAT, con otros equipos y formas de medida.
Debemos tomar en cuenta que, de todos los instrumentos analizados, ninguno nos
permite obtener en forma simultánea más de una característica o parámetro. Respecto a
este análisis podemos considerar al funcionamiento del EPAT como una ventaja.
La siguiente tabla muestra una comparación de los resultados obtenidos para
algunos dispositivos de prueba del EPAT y los obtenidos por algunos instrumentos que
hemos usado durante el transcurso de este proyecto. Se ha descrito para cada caso
únicamente los parámetros comparables.
TRANSISTOR 2N3904
Parámetro
Vn*,u.(V)VcKsut(V)
P"
Datos deFabricantes
0.65 - 0.850.2 - 0.3100-400
EPAT
0.70.3190
Módulo5T1CN
Tektronix
0.680.3170
MultímetroMAXCOM
MX-280
—
-.._
172
MultímetroBK
Precisión
——
196
* El parámetro p o hfe se ha obtenido para las condiciones Ic = 4mA, VCE — 4V
TRANSISTOR 2N3906
Parámetro
Vuitoi-ÍV)VoUV)
P"
Datos deFabricantes
0.65-0.850.25 máx.100-400
EPAT
0.70.2214
Módulo5T1CN
Tektronix
0.720.2
200
MultímetroMAXCOM
MX-280
—
—
185
MultímetroBK
Precisión
——
210
El parámetro P o hfe se ha obtenido para las condiciones Ic = - 4mA, VCE = - 4V
151
TRANSISTOR ECG 51
Parámetro
VnEsal.(V)VCEs,,,(V)
P'
Datos deFabricantes
0.60.2
25
EPAT
0.60.324
Módulo5T1CN
Tektronix
0.550.2528
MultímetroMAXCOM
MX-280
——
22
MultímetroBK
Precisión
——
27
El parámetro p o life se lia obtenido para las condiciones Ic = - 4mA, VCE - - 4V,
TRANSISTOR 2N 918
Parámetro
VBE«.(V)VcwíV)
P"
Datos deFabricantes
0.80.3 típ.
20 rain.
EPAT
0.80.460
Módulo5T1CN
Tektronix
0.85
0.380
MultímetroMAXCOM
MX-280
——
55
MultímetroBK
Precisión
—
65El parámetro p o life se lia obtenido para las condiciones Ic = 4mA, VCE - 4V
TRANSISTOR 2N2222
Parámetro
VBKW.ÍV)VCEsal(V)
P"
Datos deFabricantes
0.65-0.85
0.3 máx.200 típ.
EPAT
0.70.2173
Módulo5T1CN
Tektronix
0.650.3
168
MultímetroMAXCOM
MX-280
——
114
MultímetroBK
Precisión
—138
* El parámetro (3 o life se lia obtenido para las condiciones Ic = - 4mA, VCE = - 4V
TRANSISTOR ECG 294
Parámetro
VBEsa,.(V)
VCEsl,,(V)
p"
Datos deFabricantes
0.6
0.2120 típ.
EPAT
0.6
0,2105
Módulo5T1CN
Tektronix
0.60.2120
MultímetroMAXCOM
MX-280
——
94
MultímetroBK
Precisión
——
111* El parámetro p o life se lia obtenido para las condiciones Ic = - 4niA, VCE = - 4V
152
TRANSISTOR ECG129
Parámetro
Vmtau-íV)VcütatíV)
P"
Datos deFabricantes
0.7 típ.0.2 típ.90mín.
EPAT
0.70,2
98
Módulo5T1CN
Tektronix
0.70.2
105
MultímetroMAXCOM
MX-280
——
98
MultímetroBK
Precisión
——
114
El parámetro (3 o hfe se ha obtenido para las condiciones le - - 4mA, VCE = - 4V
JFETECG312
Parámetro
VP(V)ID* (mA)
grs (M-mho)
Datos deFabricantes
6 máx.5-15
5500 máx.
EPAT
3.59
2570
Módulo 5T1CNTektronix
3.38.5
2570
JFETECG45S
Parámetro
V,. (V)ID* (mA)
gfe Omho)
Datos deFabricantes
1.5 máx1-3
12000 máx.
EPAT
0.4
2.46000
Módulo 5T1CNTektronix
0.353.2
9200
XJJETECG456
Parámetro
Vp(V)IDS, (mA)
grs(M-mho)
Datos deFabricantes
6 máx2-6
3500 máx.
EPAT
0.8
0.91125
Módulo 5T1CNTektronix
0.8
0.7810
153
JFET ECG 326
Parámetro
VP(V)ID»- (mA)
fe (u.mho)
Datos deFabricantes
6 máx.2 -6
3500
EPAT
0.8-> oJ.J
4125
Módulo 5T1CNTektronix
0.8
2.8
3500
JFETECG460
Parámetro
Vv(V)IDss (mA)
g& (u.mho)
Datos deFabricantes
6mín2 - 62500
EPAT
4.89
1875
Módulo 5T1CNTektronix
4.58.5
1888
JFETECG485
Parámetro
VP(V)los (mA)grs (u.mho)
Datos deFabricantes
4 máx4-10 •4000
EPAT
1.5
4.5
3000
Módulo 5T1CNTektronix
1.34.8
3690
En las tablas anteriores algunos de los valores descritos para el EPAT se encuentran
sujetos a la apreciación visual y por los tanto son poco exactos.
En el mercado existen muy pocos equipos que realizan funciones similares que el
EPAT, el ejemplo más directo en nuestro caso es el módulo trazador de curvas 5T1 CN de
Tektronix; por ser el equipo cuyas características son lo más cercanas a las del EPAT. Con
respecto a éste, el EPAT presenta algunas ventajas y desventajas:
154
Ventajas
El EPAT presenta la posibilidad de visualizar en forma simultánea las características
de entrada y salida del transistor y su comportamiento dentro de un circuito
amplificador, así como la determinación del punto de trabajo y la factibiíidad de
establecer en forma gráfica las causas de distorsión en un amplificador básico. El
módulo 5T1CN se limita a mostrar las características de fabricación de un transistor
(una a la vez), siendo su manipulación más complicada e incluso más peligrosa.
Se puede considerar al EPAT como un equipo estándar, utilizable con cualquier
osciloscopio de rayos catódicos. El módulo trazador de curvas es útil solo con
cierto tipo de ORC, lo cual lo hace menos manejable.
El EPAT presenta la posibilidad de cambiar la frecuencia de trabajo, lo cual es
ventajoso pues permite la observación del comportamiento de las características de
los transistores a frecuencias diferentes. El módulo 5T1CN trabaja a una frecuencia
fija(HOHz).
Desventajas:
En lo referente a la determinación de los parámetros de fabricación de los
dispositivos semiconductores el 5T1CN presenta mayores ventajas que el EPAT por
su facilidad de cambios de escala, como por ejemplo, rangos mayores de variación
de voltajes a los canales, lo que permite una mayor posibilidad de escalamiento de
las características de los elementos semiconductores de prueba.
La precisión en la medición de los parámetros de interés es mayor en el módulo
indicado debido a que es un equipo orientado a la determinación de los parámetros
estáticos de ios elementos de prueba.
155
Como se puede apreciar del análisis de los resultados, resulta complicado determinar
de manera precisa la totalidad de los parámetros que se obtienen de un solo equipo de
medida, de modo que no es posible considerar a uno solo de ellos como el más confiable.
La mayoría de manuales de fabricantes que describen las características de los dispositivos
semiconductores no presentan un valor definido de ellas sino un rango o promedio, de
modo que los hemos usado tan solo para determinar una tendencia de los valores
obtenidos.
156
*
ANÁLISIS ECONÓMICO DE LA CONSTRUCCIÓN DEL EPAT.
Evaluación Económica de la Construcción del Equipo
Fecha: Febrero de 1998 Cotización del dolar: S/. 4-.55Q,oo
Cantidad Costo Unitario Costo Total
(Sucres) (Sucres)
Circuitos Integrados
Descripción
XR2206
CD4040
CD4051
CD4052
CD4053
LF347N
74LS14
74LS08
1
1
2
5
2
15
1
1
30.000
10.000
4.500
4.500
4.500
7.000
2.500
2.500
30.000
10.000
9.000
22.500
9.000
105.000
2.500
2.500
Reguladores de voltaje
LM7805
LM7808
LM7905
LM7908
LM317
LM337
1
1
1
1
2
1
2.500
2.500
2.500
2.500
3.500
5.000
2.500
2.500
2.500
2.500
7.000
5.000
Resistencias
Resistencia 1/4 W
Potenciómetro lineal
Potenciómetro perilla
132
15
8
100
4.000
3.000
13.200
60.000
24.000
157
Capacitores
Cerámico 5 500 2.500
Electrolítico luF 18 1.000 18.000
Electrolítico 4700oF 2 3.500 7.000
Dispositivos Semiconductores
Diodo Germanio 1 800 800
Diodo Rápido 1 1.000 1.000
Transistores Switching 3 3.000 9.000
Sócalos
Sócalo 14 pines 17 1.000 17.000
Sócalo 16 pines 6 1.500 9.000
Sócalo especial 16 pines 6 3.000 18.000
Coxiectores
Conector 3 pines macho y hembra 3 3.000 9.000
Conector 2 pines macho 3 400 1.200
Conector 4 pines macho 6 500 3.000
Conector 8 pines macho 10 1.000 10.000
Conector 20 pines macho 1 2.500 2.500
Conector 2 pines hembra 3 2.600 7.200
Conector 4 pines hembra 8 4.200 33.600
Conector 8 pines hembra 10 7.200 70.200
Conector 20 pines hembra 1 1.000 1.000
Conector coaxial hembra 2 6.000 12.000
Conector coaxial macho 4 6.000 24.000
158
Conector hembra
Conector para GND
Cable plano 20 hilos
Cable UTP 15 hilos
Cable coaxial RG-58
Tarjetas
Módulo AHmentación
Módulo Barrido
Módulo TBJ
Módulo JFET
Otros
Transformador 120V:15V
Cable de alimentación
Porta fusible
Interruptor ON/OPF
Pulsador sincronizado
Selector 10 posiciones
Selector 4 posiciones simple
Selector 3 posiciones doble
Selector 2 posiciones simple
Sócalos para carga externa
Perillas para potenciómetros
Panel frontal de presentación
Caja metálica
Pintura en Spray (color azul)
Material Térmico Contráctil
COSTO TOTAL
2
1
Im
2m
Im
1
1
1
1
1
1
1
1
3
1
1
1
1
2
8
1
1
2
2m
2.000
2,500
5,500
5.600
2.500
25.000
35.000
55.000
50.000
25.000
2.500
3.000
3.000
4.000
25.000
4.000
3.000
2.000
2.000
2.000
100.000
300.000
8.000
10.000
4.000
2.500
5.500
11.200
2.500
25.000
35.000
55.000
50.000
25.000
2.500
3.000
3.000
12.000
25.000
4.000
3.000
2.000
4.000
16.000
100.000
300.000
16.000
20.000
s/. 1'291.900
159
Análisis de la Evaluación Económica de la iniplementación del EPAT
Se puede observar el costo del sistema en cuanto tiene que ver con los
elementos y demás accesorios que se encuentran instalados en el equipo, es decir, este
costo representa el valor efectivo del equipo.
El bajo valor en el costo efectivo del equipo, se puede atribuir a que los cuatro
módulos del equipo están desarrollados en base a elementos de fácil disponibilidad en
el mercado local, como son; resistencias, capacitores, diodos, transistores,
amplificadores operacionales, etc. Esto puede representar una considerable ventaja en
cuanto se refiere al ahorro de dinero y tiempo, de aquí que no hubo necesidad de
importar ningún elemento en particular.
El costo del equipo no puede ser determinado tan sólo por los elementos que
lo componen sino que además, se. debe tomar en cuenta todo lo que representa tiempo
de diseño, investigación y construcción. En base a esta estimación del costo de
desarrollo del equipo, resulta evidente que el esfuerzo económico y el tiempo de
diseño y pruebas es considerablemente alto. Esto, sin embargo, es normal en el
desarrollo de un prototipo.
La implementación práctica del equipo se ha llevado a cabo a partir de una.
serie de pruebas. Al realizar dichas pruebas, surgieron algunos problemas por lo que
se destruyeron varios elementos, el valor debido a esta situación representa también
parte del costo de desarrollo del equipo que actualmente se encuentra funcionando
correctamente.
Analizando el costo general del equipo, se puede concluir que este valor es
bajo, puesto que encontrar un equipo que realice todas las funciones del EPAT a nivel
local, resultaría imposible. La única alternativa sería importar del exterior un equipo
similar, cuyo costo del equipo sería sumamente superior al establecido en el EPAT.
160
CONCLUSIONES
El desarrollo de este trabajo ha significado para nosotros una experiencia
importante, principalmente en el aspecto en que con ella hemos contribuido a versatilizar la
enseñanza y el aprendizaje de los transistores bipolares de juntura y los transistores de
efecto de campo, elementos de mucha importancia en la electrónica básica. Muchos de los
aspectos concernientes al diseño y construcción del EPAT, han significado un reto para
nosotros, pero creemos haber satisfecho, al terminar este proyecto, los objetivos
planteados.
Este trabajo es, en su mayoría, fruto de nuestra experiencia práctica en los
laboratorios; los circuitos planteados como solución para satisfacer las necesidades de
algunos sistemas del equipo pueden no ser lo más óptimos o adecuados y muchos de ellos
contribuyeron a limitar su funcionamiento.
Quizá la etapa más complicada de la elaboración de esta tesis constituyó la
construcción del equipo, esta actividad totalmente nueva para nosotros, fue un proceso
lento, repetitivo y nos llevó la mayoría de tiempo.
Como es sabido, todos los resultados de las mediciones realizadas mediante el
EPAT están sujetos a errores, así como también lo están todos los cálculos matemáticos
necesarios para realizar los diseños. La falta de exactitud del EPAT debe atribuirse a los
elementos que la constituyen: las resistencias de un valor específico que cambian al ser
sometidas a temperaturas elevadas, circuitos integrados que responden de manera
diferente con una pequeña modificación en su alimentación, etc.
El EPAT íue concebido en forma modular con la finalidad de facilitar su
mantenimiento, en caso de requerirlo. Se constituye básicamente de 4 sistemas: el primero,
denominado Circuito de Sincronismo, Barrido y Temporización, que controla al resto de
sistemas; toma la señal periódica de entrada (excitación) y sincroniza a ésta la respuesta del
161
• Los límites de potencia del EPAT se determinan por las condiciones máximas de
funcionamiento de algunos de sus elementos, como los integrados 4051,4052 y
4053, en los cuales, los máximos niveles de voltaje para una correcta operación
son+8 V y-8 V.
• Otro limitante, constituye el rango de frecuencia de respuesta del equipo (500Hz -
SOKHz), el cual se atribuye principalmente a dos causas: el limitante de ciertos
circuitos integrados, principalmente los multiplexores analógicos, para una buena
respuesta a frecuencias superiores a 40KHz, lo cual restringe el uso del EPAT a
frecuencias por sobre los SOKHz. La causa que evita que el EPAT trabaje a
frecuencias menores a 400Hz es la imposibilidad que tiene el equipo de presentar a
esas frecuencias un conjunto de trazos continuos que den la apariencia de ser
simultáneos en la pantalla del osciloscopio, pese a que el equipo está trabajando
adecuadamente. No obstante, este rango de frecuencia es suficiente para
determinar qué tipo de transistores operan correctamente y, en el caso de algunos,
hasta qué frecuencia.
• Existe un limitante en la determinación de los parámetros de los transistores, como
son: determinación exacta del P para el caso del TBJ, debido a que los transistores
usados como patrones, no tienen, como se comprobó más adelante, una relación
lineal IC/IB adecuada. Los parámetros V? e IDSS, de un JFET pueden ser medidos en
el EPAT, hasta SV y 40 mA respectivamente, lo cual se atribuye como
mencionamos anteriormente a los limites de potencia del equipo.
• El EPAT define la mayoría de sus resultados en forma visual, por lo cual esto puede
constituirse en otro limitante, puesto que, la percepción visual es diferente para
cualquier persona (depende de su ubicación, grado de visibilidad, etc.).
No existe en el mercado, un equipo que determine las características anteriormente
mencionadas en forma exacta. Por este motivo resulta difícil establecer una tasa de error
adecuada para el EPAT.
163
Se sugieren como alternativas de mejoramiento del EPAT, la factibilidad de creación
de módulos adicionales que permitan manejar otras configuraciones circuitales de
amplificadores a transistor, tomando en consideración los límites de funcionamiento del
equipo.
165
ANEXOS Y BIBLIOGRAFÍA*
T OX3NY
A - 1
Alimentar la unidad sólo con 110V CA, 60Hz.
ÍNDICE
PrecaucionesDescripción general ............
identificación de partes ..........Operación básica
Aplicaciones generales ..........Guía para la solución de problemas
Especificaciones
.. 1
.. 1
.. 2
..4
..71011
Eviíar el uso del EPAT en lugares dondeexista abundante polvo.
Antes de conectar el EPAT, revisarpreviamente el estado del fusible, ubicadoen la parte posterior del equipo (la unidadrequiere un fusible de 0.2A).
En caso de avería, estudiarcuidadosamente los diagramas internosdel equipo, o solicitar ayuda autorizada.
El EPAT es un dispositivo que permitechequear el funcionamiento de transistores yFETs, en forma visual mediante un osciloscopiocomún. En la figura 1 se indica un ejemplo de latotalidad de curvas que se obtienen mediante elEPAT para un transistor tipo NPN cualquiera.
Característicade Entrada(IB vs VBE)
Característicade Salidale vs VCE
Recta de Carga Estáticadel amplificador en
Emisor Común
Voltaje de Voltaje deBase del Colector del
amplificador amplificador
Fig. 1 Curvas Características provistas por el EPAT para unTBJ tipo NPN.
A - 2
PANEL FRONTAL DE PRESENTACIÓN
A ~ 3
La figura 2 presenta las curvas obtenidas paraun JFET canal N, mediante el EPAT.
Característicade Transferencia
(lo vs VGS)
Característicade SalidaID vs Vos
Voltaje deCompuerta delamplificador
Voltaje de Drenajedel amplificador
Fig. 2 Curvas Características provistas por el EPAT para unJFET canal N.
A continuación se da una descripción de ¡afunción y operación de los controles y conectoresdel panel frontal del EPAT. Más detalles seexplican en Operación Básica.
1.0N/OFF Interruptor de alimentación.
2. GENERADOR Si se encuentra presionado, launidad funcionará usando comoentrada un generador externo,cuya señal debe conectarse enlos terminales de GEN.EXTERNO. En caso contrario elEPAT hará uso del generadorsenoidal interno.
3. BARRIDO La elección de una de lasposiciones del control deBARRIDO se hará según lafrecuencia de la señal delgenerador, sea éste interno oexterno.
Si se ha seleccionado la opción de generadorinterno, es posible manipular los siguientescontroles :
4. AMPLITUD Varía la amplitud de la señalsenoidal provista por e!generador interno, entre OV y2V como máximo.
5.FRECUENCIA Permite la variación defrecuencia de la señal senoidaldel generador interno, desdeSOOHz hasta SOKHz.
6. DISPLAY Según la posición de esteselector se habilitará en loscanales del osciloscopio lasformas de onda respectivaspara visualizar las curvas delTBJ o FET de prueba.
7. NPN/PNP Presionado provee la circuiteríainterna necesaria para la pruebade un TBJ tipo PNP. En casocontrario, el equipo permitirá laprueba de transistores NPN.
8. RBi y Re Estos controles permiten lavariación de las condiciones defuncionamiento del amplificadoren emisor común que utiliza eltransistor de prueba.
9. CH N/CH P Si este botón se hallapresionado se aceptará laprueba de FETs canal P; encaso contrario solo se tolerará laconexión de FETs canal N.
10. VGG y RD Estos controles de voltaje sobrela compuerta y resistencia dedrenaje, respectivamente,permiten la variación de lascondiciones de funcionamientodel amplificador en laconfiguración de Fuente Común
, que utiliza el JFET de prueba.
11. V(+) y V(-) Varían el nivel de voltajecontinuo aplicado comopolarización a los circuitosamplificadores: la perilla V(+)será útil para el caso detransistores NPN y JFET canalN, mientras que V(-) paratransistores PNP y JFET canalP.
12. GÁNALA,CANAL B
13. RL
14. Selector IB
Conectares de cable coaxialque se aplicarán a las entradasA y B del osciloscopio de rayoscatódicos.
Conectores a los que se puedeacoplar una carga externa, acualquiera de los dosamplificadores del EPAT.
Permite la variación de lospasos de corriente de base,dependiendo de lascaracterísticas del TBJ.
15. Selector 1D Cada posición de este selectorestablece un escalamiento decorriente de drenaje, según lascaracterísticas del transistor.
16. BCE y GDS zócalos para la conexión de loselementos de prueba (TBJ yJFET, respectivamente).
Previo al chequeo de cualquier elemento deprueba, es necesario efectuar los siguientespasos para habilitar el EPAT y el osciloscopio.
1. Los terminales CH A y CH B del EPAT debenconectarse a los respectivos canales delosciloscopio mediante los cables incluidos enla unidad.
2. Encender el osciloscopio y habilitar loscanales A y B. Proceder luego a seleccionaren éste la posición X vía B (ó X-Y según ladenominación), se apreciará en la pantalla untrazo en forma de punto, el cual debecolocarse mediante los controles de posiciónen el origen de coordenadas.
3. En los controles SCALE de los canales A y Bdel osciloscopio deberá seleccionarse 1V/div y2V/div respectivamente.
4. Encienda el EPAT y elija la opción degenerador (externo o interno) mediante elbotón GENERADOR, en caso de que se
A - 4decida aplicar un generador externo, éstedeberá cumplir las siguientes condiciones :
• la señal ingresada debe ser periódica ydebe tener por lo menos un cruce por ceroen cada período. Evitar en lo posibleingresar una señal de magnitud elevada.
• la frecuencia de la señal debe estar dentrodel rango de funcionamiento óptimo delequipo (400Hz~100KHz)
Debe tomarse en cuenta que la inclusiónde una señal cuya amplitud sea grande puedeobligar a distorsiones en las formas de ondade salida del amplificador y rectas de cargairreales.
5. Mediante el control de BARRIDO del EPATelija el rango de frecuencia adecuado para lafrecuencia de trabajo (si ésta es, por ejemplo,14KHz elija la posición 10KHz).
a) CHEQUEO DE UN TRANSISTORTBJ-NPN.
1. Efectuados los pasos anteriores elegir laposición TBJ del selector DISPLAY.
2. El botón NPN/PNP debe estar hacia afuera(color negro).
La pantalla del osciloscopio presentará unconjunto de trazos similar al que se indica enla figura 3.
Fig. 3 Vista de la pantalla del osciloscopio previa la conexión deltransistor NPN de prueba
3. Conocida de antemano la distribución de lospines del transistor ubicarlos en el conectorpara TBJ en forma adecuada.
A - 5
Una vez conectado el transistor de prueba sedebe considerar que lo cuadrantes superioresde la pantalla del osciioscopio se encuentraescalada en corriente (2mA/div), de modo quecualquier cambio en la escala del osciloscopiodebe incluir dicha consideración.
Fig. 4 Conjunto de trazos correspondientes al transistor NPN deprueba
5. Puesto que el rango de corriente de colectordel amplificador está entre O y 10 mA, esposible que la característica de salida deltransistor de prueba exceda el máximo de lapantalla (debido a la relación p = IC/IB,característica para cada transistor). El EPATpresenta un selector de pasos de corriente debase (3.3j.iA/div, SuA/div, 10¡AA/d¡v y50|jA/d¡v), el cual deberá manipularse hastaobtener todas las curvas características (8 entotal) dentro de la pantalla (la determinaciónde p para el transistor de prueba se detallaráen la sección aplicaciones generales).
6. Manipular los controles RB, V(+), Rc hastaobtener el punto de operación deseado para elamplificador.
Fig. 5 Vista de [a pantalla del osciioscopio previa la conexióndel transistor PNP de prueba.
2. Repetir los pasos 3., 4., 5., y 6. del chequeodel transistor NPN, notará que lascaracterísticas del transistor PNP de pruebase presentan en los cuadrantes "opuestos" enrelación a los respectivos para el caso a),como se muestra en la figura 6.
Fig. 6 Trazos correspondientes al chequeo de un TBJ-PNP
c) CHEQUEO DE UN JFET CANAL N.
b) CHEQUEO DE UN TRANSISTORTBJ-PNP
1. El botón de selección NPN/PNP debe estarpresionado (color anaranjado). En la pantalladel osciloscopio, se observará un conjunto detrazos similar al indicado en la figura 5.
1. Efectuados los pasos 1 al 6 de instalación delEPAT, elegir la posición FET del selectorDISPLAY.
2. El botón CH N/CH P debe estar hacia afuera(color negro).
La pantalla del osciloscopio presentará unconjunto de trazos similar al que se indica enla figura 7.
3. Conocida de antemano la distribución de lospines del JFET ubicarlos en el conector paraFET (lado derecho dei panel frontal) en formaadecuada.
4. Una vez conectado el FET de prueba debeconsiderarse que lo cuadrantes superiores dela pantalla del oscíloscopio se encuentraescalada en corriente, ID. La característicapropia de cada FET da lugar a que el valormáximo de la corriente de drenaje, IDSS (paraVGS = OV), presente valores entre 1 y 40miliamperios, de modo que, para apreciartodas las características dentro de la pantalladebe elegirse una de las posiciones delselector de ID (1mA/div, 5mA/div y 10mA/div).Debido a este motivo los cuadrantessuperiores de la pantalla del osciloscopioadoptarán la escala definida por la posicióndel selector de 1D.
A - 65. Manipular los controles VG, V+, RD hasta
obtener el punto de operación deseado para elamplificador.
a) CHEQUEO DE UN JFET CANAL P
4. El botón de selección CH N/CH P debe estarpresionado (color anaranjado). En la pantalladel osciloscopio, se observará un conjunto detrazos similar al indicado en la figura 9.
Fig. 7 Vista de [a pantalla del osciloscopio previa la conexióndel JFET canal N de prueba.
Fig. 9 Conjunto de trazos en la pantalla del oscíloscopio para laprueba de un JFET canal P
2. Repetir los pasos 3., 4. y 5. del chequeo delJFET canal N, notará que las característicasdel FET canal P de prueba se presentan enlos cuadrantes "opuestos" en relación a losrespectivos para el caso c), como se muestraen la figura 9,
Fig. 8 Vista de la pantalla del osciloscopio una vezconectado el JFET canal N de prueba.
Fig. 10 Vista de los trazos correspondientes a unJFET canal P
La siguiente sección describe cómo usar elEPAT algunos chequeos y mediciones comunesde transistores, FETs y algunos diodos. Medianteestas será posible determinar el estado, forma deoperación y parámetros característicos demanufactura de dichos elementossemiconductores. Antes de revisar esta sección,se recomienda que el usuario vayafamiliarizándose con los procedimientos de usodel EPAT.
TRANSISTORES BIPOLARES
El EPAT permite probar cualquier transistorbipolar. La máxima corriente de colector, lc quepuede medirse es 160mA.
Disposición de Controles. Ubique los controlesdel EPAT del siguiente modo :
DISPLAY: TBJ (hacia la izquierda)TBJ: NPN/PNP Botón hacia afuera (NPN)
Botón presionado (PNP)
Ubicar el transistor de prueba en formaadecuada a los puntos del conectorTBJ.
Chequeos y Medidas. Usar las siguientesinstrucciones para efectuar chequeos ymediciones del transistor una vez que loscontroles han sido dispuestos correctamente y eltransistor ha sido instalado en el equipo como sedescribió previamente.
Estado del elemento.
Conectar el TBJ en forma debida, según sutipo y comprobar si se obtiene todo el conjunto deformas de onda en la pantalla del osciloscopio,similar a los de las figuras 4 y 6. De no obtenersealguna de las curvas antes mencionadas, puedeconcluirse que el transistor de prueba esdefectuoso.
Punto de Trabajo, Q del amplificador.
Una vez conectado el transistor y obtenidaslas curvas correspondientes en la pantalla del
A - 7osciloscopio, el punto de trabajo del amplificadorse obtiene directamente tomando el punto mediode la recta de carga, como se muestra en lafigura 11. La lectura del voltaje colector-emisorcorrespondiente, VCE se hace desde el punto deorigen de coordenadas sobre el eje X,considerando que cada división de la pantallarepresenta 2V. De similar manera, la lectura decorriente se hace sobre el eje Y considerandocada división de la pantalla representa 2mA.
Punto detrabajo
Recta deCa r g a Está tí c a
Fig. 11 Determinación del Punto de Trabajo del Amplificadoren base al transistor de prueba.
Hay que notar que la elección del punto Qse hace mediante la manipulación de algunoscontroles del equipo, por este motivo debetomarse en cuenta que las condiciones delamplificador deben ser óptimas, en otraspalabras libres de distorsión.
P (pequeña señal).
La relación de transferencia de corriente depequeña señal, p ó hfe, es Ale/Ale, para VCEconstante. Para obtener un valor aproximado dep, realice el siguiente procedimiento :
Obtener el punto de trabajo del amplificador,realizando el procedimiento indicado en la parteanterior (identificar el valor de lc en el ejevertical, Y.
En el cuadrante correspondiente a lacaracterística de salida (I Cuadrante en el casode NPN y III Cuadrante para PNP) debenencontrarse 8 curvas, incluida lc = O ; de noocurrir aquello deberá elegirse la escalaadecuada en el selector de IB (no debe alterarseninguna escala del osciloscopio).
El selector de IB determina el valor en uA de lacorriente de base para cada una de las 8 curvas
de la característica de salida. Identifique lacorriente de base correspondiente al punto Q. Elvalor p en el punto de trabajo se establecerámediante la relación entre las lecturas de lc e IB.
Vr
La región de saturación, usualmentedefinida como región no lineal, puede obtenersedirectamente a partir de la característica desalida. Para el punto de trabajo se establecevisualmente como eí voltaje medido desde elorigen de coordenadas hasta el "codo" de lacurva correspondiente.
Se obtiene a partir de la característica deentrada (n cuadrante para NPN y iv cuadrantepara PNP). Para este caso se considera unnuevo origen de coordenadas, como se muestraen la figura 12
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La lectura de VBEsai se hará desde el puntoO' hacia la derecha, considerando la escala de2V/div para el eje horizontal.
VBdel amplificador.
El Voltaje de Base, VB corresponde a unaforma de onda constituida por un voltaje alterno,proveniente del generador de entrada y por unnivel de voltaje continuo, originado por el circuitoamplificador en emisor común, el cual esmanipulado por el usuario. La medición de VB sehará tomando las mismas consideraciones quepara la lectura de VBEsat (el origen de mediciónse hará desde O').
a (pequeña señal).
Se define como la relación a = h¡b= Alc/AIE para
A - 8constante, a no puede ser medido
convenientemente con el EPAT, puede, sinembargo, ser calculado desde p con la siguienteecuación : a = p/(1 + p).
TRANSISTORES DE EFECTOCAMPO UNIJUNTURA, JFET.
DE
El EPAT permite probar la mayoría detransistores de efecto de campo uníjuntura,JFETs. La máxima corriente de drenaje, IDSS que
puede medirse es 50mA.
Disposición de Controles. Ubicarcontroles del EPAT del siguiente modo :
los
DISPLAY: FET (hacia la derecha)FET : CH N/ CH P Botón hacia afuera (CanalN)
Botón presionado (Canal P)
Ubicar el transistor de prueba en formaadecuada a los puntos del conector FET.
Chequeos y Medidas. Usar las siguientesinstrucciones para efectuar chequeos ymediciones del JFET una vez que los controleshan sido dispuestos correctamente y el transistorha sido instalado en el equipo como se describiópreviamente.
Estado del elemento.
Conectar el JFET en forma debida, según su tipoy compruebe si se obtiene todo el conjunto deformas de onda en la pantalla del osciloscopio,similar a los de las figuras 8 y 10. De noobtenerse alguna de las curvas antesmencionadas, puede concluirse que el transistorde prueba es defectuoso.
VP (Voltaje de corte de compuerta-fuente).
Se define como el voltaje compuerta-fuentemínimo para el cual existe ausencia de corrientede drenaje. En la pantalla del osciloscopio puedeobtenerse fácilmente a partir de la característicade transferencia (II cuadrante para el FET canalN y iv cuadrante para el FET canal P), otambién desde la característica de salida (icuadrante para el FET canal N y III cuadrantepara el FET canal P).
La lectura de VP desde la característica detransferencia se hace en forma directa mediantela lectura del voltaje en el eje X, es decir paracuando ID es cero. Note que para un FET decanal N, el VP es siempre negativo ; ocurre lo
contrario para un FET de canal P.
También es factible la medición de VP
desde la característica de salida, para ello hayque indicar la siguiente consideración :
Cada una de las curvas de la característica desalida son realizadas en base a valores devoltaje compuerta-fuente, VGs enteros (OV, 1V,2V,..., 7V), La curva superior corresponde a VGs= OV (para ésta se obtendrá IDSS), las curvassiguientes son realizadas en pasos de VGS
enteros, y disminuyen en forma continua hastacoincidir con el eje X. El VGs correspondiente a laprimera curva que llega a coincidir con el eje Xconstituye el valor VP.
IDSS (Corriente de Saturación de Drenaje).
Se define como la corriente correspondientepara VGs = OV. Puede obtenerse desde lacaracterística de transferencia o desde lacaracterística de salida mediante la simplelectura del valor de corriente presente en el ejeY. Se observa además que este valor coincideprecisamente con el valor de corriente para elcual la primera curva de la característica desalida (VGs = OV) se estabiliza.
gm0 {transconductancia del dispositivo conVGS = OV)
El EPAT no permite su determinación directa, sinembargo puede establecerse en base a VP e IDSS,a partir de la relación matemática :QmO = --2lDss/Vp
gm (transconductanciadirecta del JFET).
de transferencia
La transconductancia gm se mide con eldrenaje-fuente en corto y se definematemáticamente como :
gm = Alo/AVGS ; VDS = cte.
El valor de gm es una medida de laamplificación en AC del JFET.
Para determinar gm usando el EPAT serealiza el siguiente proceso ;
Una vez conectado el JFET en forma adecuada,modificar los controles VDD, VG, Rs y RD hastaobtener una señal de salida libre, en lo posiblede distorsiones.
Establecer numéricamente el nivel DC de laforma de onda correspondiente a VGS (iv
A - 9cuadrante para el JFET canal N ó II cuadrantepara el canal P).
Identificar los valores de lDss y Vp.
el valor de gm se obtiene mediante lafórmula matemática :
„ =2íWv _ Vtom w 2 \ P v GSr
Otra forma de establecer gm provieneextrapolar en la curva de transferencia lospuntos máximo y mínimo del voltaje compuertafuente, tomar gráficamente los correspondientesvalores de corriente de drenaje (tomando encuenta la posición del selector de escala de |D)para dichos puntos y efectuar la relación :
gm = Alo/A VGS
9m = (bmáx - lDmln)/(VGs-ACmáx - V"GS.ACm[n).
DIODOS
Es posible medir, mediante el EPAT lamayoría de diodos de señal, y algunos diodoszéner, manteniendo los controles de formaidéntica que para los transistores y ubicándolosde manera siguiente :
• Ubicar el diodo de prueba en el conector paraTBJ, de modo que el ánodo sea aplicado enel terminal B, y el cátodo en el terminal E.
• Si el diodo de prueba es de señal el controlNPN/PNP debe estar hacía afuera, en casoque el diodo de prueba sea zéner y se quieramedir V2, presionar el botón TBJ.
• La característica del diodo aparecerá en elsegundo o cuarto cuadrantes, dependiendode su tipo, en ellos puede determinardirectamente los valores VF (para el diodo deseñal), V2 (para el diodo zéner), y de maneraaproximada los valores 1F ó lz.
El máximo valor Vz que puedemediante el EPAT es 6V.
medirse
A menudo, las perturbaciones o defectos defuncionamiento del EPAT podrán eliminarsecomprobando los síntomas y siguiendo lassugerencias indicadas a continuación.
Curvas deEntrada y/o
Salidaanormales
A-10
Modificar la frecuencia detrabajo (de preferenciareducirla).
Verificar la distribución depines del elemento deprueba.
Probar con otro transistor
Síntoma Comprobación yajuste
La pantalladel ORC no
presentatrazo alguno
Enchufar el EPAT en unatoma de la red en buenascondiciones.
Comprobar el estado delfusible.
Las formasde onda deEntrada ySalida no
aparecen enla pantalla
Si está usándose en la opciónGenerador Interno, mover elcontrol de frecuencia delEPAT hasta obtener la formade onda senoidal, o bien,manteniendo dicho controlfijo, modificar el control debarrido hasta lograr el mismoresultado anterior.
En caso que se use ungenerador externo, identificarla frecuencia de trabajo yelegir, en base a ésta, laposición adecuada (rango defrecuencia) del control debarrido.
Distorsión enlas Curvas de
lacaracterística
de salida
Chequear la posición delselector de IB si el elementode prueba es un TBJ, o laposición del selector deescala de ID si el dispositivode prueba es un JFET.
Pruebe con una frecuencia detrabajo menor.
La siguiente lista de especificaciones presentalos límites eléctricos de funcionamiento yrequerimientos físicos del Equipo de Prueba deAmplificadores a Transistor, EPAT.
TBJ
A-11
Rango de Impedancía de Entrada : menor a1KO.
Impedancia de Salida : Depende de RL
aplicada al circuito, no debe ser menor a500Q.
Señal de Voltaje de Entrada : El generadorexterno provee al EPAT de una señal senoidalde amplitud comprendida entre 40mV y 2V. ElEPAT acepta una señal externa periódica almenos con un cruce por cero.
Señal de Voltaje de Salida :Máximo nivel de amplificación : 10.
Característica de Entrada
Voltaje Base-Emisor
Polaridad : + ó -Forma de Onda : Rampa PeriódicaRango de Voltaje : O V a ± 8 V
Característica de Salida
Voltaje Colector-Emisor
Polaridad : + ó -Forma de onda : Rampa PeriódicaRango de Frecuencia; 200Hz a 40KHzRango de Voltaje : O a ± 8 V
Corriente de Emisor
Máximo valor de
Voltaje Base-Emisor
8mA
Polaridad : + ó -Forma de onda : Escalera PeriódicaRango de Frecuencia: 12.5Hz a 5KHzNúmero de Escalones ; 8Precisión de Escalones : menor a 10%Rango de Voltaje : O a ± 2 V.
Modo de Amplificación
Ancho de Banda del Amplificador: Dependedel TBJ de prueba.
JFET
Característica de Transferencia
Voltaje Compuerta-Fuente
Polaridad : + ó -Forma de Onda : Rampa PeriódicaRango de Frecuencia: 200Hz a 40KHzRango de Voltaje : O V a ± 8 V
Corriente de DrenajePolaridad : + ó -Máximo valor de !DSS: 40mA
Característica de Salida
Voltaje Drenaje-Fuente
Polaridad : + ó -Forma de onda : Rampa PeriódicaRango de Frecuencia: 200Hz a 40KHzRango de Voltaje : O a ± 8 V
Corriente de Fuente
Máximo valor de lDss: 40mA
Voltaje Compuerta-Fuente
Polaridad : + ó -Forma de onda : Escalera PeriódicaRango de Frecuencia: 12.5Hz a 5KHzNúmero de Escalones : 8Precisión de Escalones : menor a 10%Rango de Voltaje : O a ± 7 V.
A- 13
ANEXO 2 HOJAS DE DATOS DE FABRICANTES
Este anexo contiene copias de hojas de datos representativos para
transistores bipolares de juntura (TBJ), transistores de efecto de campo CTFET) y
de los Hiultiplexer analógicos 4051, 4052 y 4053. La información está tomada de
los manuales de datos de fabricantes. En algunos casos/ sólo se presenta
información seleccionada con el fin de dar una muestra de los datos disponibles.
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A-27
índice de Transistores de Efecto de Campo
Las siguientes tablas contienen una lista numérica y especificaciones para transistores de
efecto de campo.
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ANEXO 3:
A- 32
Formas de onda de voltaje en función del tiempoobtenidas en el osciloscopio a partir del EPAT.
a) Señales de Entrada a los canales A y B del Osciloscopio de Rayos Catódicos, para el
transistor 3 904.
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b)
A- 33
Señales de Entrada a los canales Ay B del Osciloscopio de Rayos Catódicos, para
elJPET2N4857.
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A- 34
c) Señales de Entrada a los canales A y B del Osciloscopio de Rayos Catódicos, para el
JFETECG460.
BIBLIOGRAFÍA Y REFERENCIAS
1. BOYLESTAD, Robert y NASHELSKY, Louis, "Electrónica Teoría de
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2. SAVANT, C., RODEN, Martin, CARPENTER; Gordon, "Diseño Electrónico",
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1986.
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5. SERRANO, Carlos, "Grafízador de características de Transistores en Emisor
Comürí\, Quito 1973.
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11. HELFRICK, Albert, COOPER, Wiliam, "Instrumentación Electrónica Moderna y
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