43
L3: Difractometr´ ıa: Fundamentos. Contenido Cap´ ıtulo 3 Difractometr´ ıa: Fundamentos. Definici´ on y propiedades de la red rec´ ıproca. Fundamento f´ ısico de la difracci´ on: expe- rimentos de Young y Fraunhofer. Difracci´ on en un cristal: ecuaciones de Laue; ley de Bragg; equivalencia de las leyes de Bragg y Laue; esfera de Ewald. Periodicidad de las propiedades en la red cristalina. Transformadas de Fourier. Una interpretaci´ on pict´ orica de la transformada de Fourier. Densidad electr´ onica y factores de estructura: problemas en la determinaci´ on de la geometr´ ıa y densidad electr´ onica del cristal; modelo de superposici´ on de ´ atomos; factor de forma at´ omica; correci´ on t´ ermica de Debye-Weller. Extinciones sistem´ aticas: ley de Friedel; cristales centrosim´ etricos; efecto de las operaciones de simetr´ ıa sobre los factores de estructura; grupos de Laue; extinciones debidas al centrado de la celda; extinciones causadas por las operaciones no sim´ orficas. c ıctor Lua˜ na, 2002 (74)

Cap´ıtulo 3azufre.quimica.uniovi.es/DetEst/deLec3.pdf · L3: Difractometr´ıa: Fundamentos. Contenido Cap´ıtulo 3 Definici´on y propiedades de la red rec´ıproca. Fundamento

Embed Size (px)

Citation preview

Page 1: Cap´ıtulo 3azufre.quimica.uniovi.es/DetEst/deLec3.pdf · L3: Difractometr´ıa: Fundamentos. Contenido Cap´ıtulo 3 Definici´on y propiedades de la red rec´ıproca. Fundamento

L3: Difractometrıa: Fundamentos. Contenido

Capıtulo 3

Difractometrıa: Fundamentos.

Definicion y propiedades de la red recıproca. Fundamento fısico de la difraccion: expe-

rimentos de Young y Fraunhofer. Difraccion en un cristal: ecuaciones de Laue; ley de

Bragg; equivalencia de las leyes de Bragg y Laue; esfera de Ewald. Periodicidad de las

propiedades en la red cristalina. Transformadas de Fourier. Una interpretacion pictorica de

la transformada de Fourier. Densidad electronica y factores de estructura: problemas en la

determinacion de la geometrıa y densidad electronica del cristal; modelo de superposicion

de atomos; factor de forma atomica; correcion termica de Debye-Weller. Extinciones

sistematicas: ley de Friedel; cristales centrosimetricos; efecto de las operaciones de simetrıa

sobre los factores de estructura; grupos de Laue; extinciones debidas al centrado de la celda;

extinciones causadas por las operaciones no simorficas.

c© Vıctor Luana, 2002 (74)

Page 2: Cap´ıtulo 3azufre.quimica.uniovi.es/DetEst/deLec3.pdf · L3: Difractometr´ıa: Fundamentos. Contenido Cap´ıtulo 3 Definici´on y propiedades de la red rec´ıproca. Fundamento

L3: Difractometrıa: Fundamentos Red recıproca

Red recıprocaLa red recıproca es una construccion matematica que facilita la manipulacion de vectores cuando se

utiliza una base no ortonormal. Sean (~a,~b,~c) los vectores que definen la celda unidad de un cristal.

La celda recıproca esta definida por los vectores (~a ?,~b ?, ~c ?) elegidos de tal modo que:

ta˜

? a˜

= 1 =⇒

~a ?

~b ?

~c ?

(~a ~b ~c

)=

~a ? · ~a ~a ? ·~b ~a ? · ~c~b ? · ~a ~b ? ·~b ~b ? · ~c~c ? · ~a ~c ? ·~b ~c ? · ~c

=

1 0 0

0 1 0

0 0 1

. (65)

Es decir: ~a ? tiene un tamano inverso al de ~a y es perpendicular al plano que forman ~b y ~c, y

similarmente para las otras direcciones. Esta definicion se satisface si elegimos

~a ? =~b× ~c

V, ~b ? =

~c× ~a

V, ~c ? =

~a×~b

V, (66)

donde

V = ~a · (~b× ~c) = ~b · (~c× ~a) = ~c · (~a×~b) (67)

es el volumen de la celda. De la ecuacion 66

a? =bc sin α

V, b? =

ca sin β

V, c? =

ab sin γ

V, (68)

que proporciona un modo rapido de obtener el tamano de los ejes de la celda recıproca. Observese

que si a, b, c [=] A entonces a?, b?, c? [=] A−1

.

c© Vıctor Luana, 2002 (75)

Page 3: Cap´ıtulo 3azufre.quimica.uniovi.es/DetEst/deLec3.pdf · L3: Difractometr´ıa: Fundamentos. Contenido Cap´ıtulo 3 Definici´on y propiedades de la red rec´ıproca. Fundamento

L3: Difractometrıa: Fundamentos Red recıproca

La definicion original, ec. 65, permite anticipar que las celdas formadas por (~a,~b,~c) y por (~a ?,~b ?, ~c ?)

son mutuamente recıprocas, de modo que:

~a =~b ? × ~c ?

V ? , ~b =~c ? × ~a ?

V ? , ~c =~a ? ×~b ?

V ? . (69)

La mutua reciprocidad hace que los volumenes y las matrices metricas de ambas celdas sean inversos

entre sı:

V V ? = 1 y G G? = 1. (70)

De las ec. 69 y 70 obtenemos una relacion util para determinar los angulos de la red recıproca:

sen α? =a

V b?c?=

V

abc sen β sen γ; (71)

sen β? =b

V c?a?=

V

abc sen γ sen α; (72)

sen γ? =c

V a?b?=

V

abc sen α sen β. (73)

Una relacion similar aunque mas practica es

cos α? =cos β cos γ − cos α

sen β sen γ; cos β? =

cos γ cos α− cos β

sen γ sen α; cos γ? =

cos α cos β − cos γ

sen α sen β;

(74)

c© Vıctor Luana, 2002 (76)

Page 4: Cap´ıtulo 3azufre.quimica.uniovi.es/DetEst/deLec3.pdf · L3: Difractometr´ıa: Fundamentos. Contenido Cap´ıtulo 3 Definici´on y propiedades de la red rec´ıproca. Fundamento

L3: Difractometrıa: Fundamentos Red recıproca

Como ejercicio, podemos obtener de estas relaciones las celdas recıprocas de los diversos sistemas

cristalinos

Sistema Celda real V Celda recıproca

Cubico (a, a, a, 90, 90, 90) a3 (1/a, 1/a, 1/a, 90, 90, 90)

Hexagonal (a, a, c, 90, 90, 120)√

3/2a2c (2/√

3a, 2/√

3a, 1/c, 90, 90, 60)

Trigonal (R) (a, a, a, α, α, α) VR (a?R, a?

R, a?R, α?

R, α?R, α?

R)

Tetragonal (a, a, c, 90, 90, 90) a2c (1/a, 1/a, 1/c, 90, 90, 90)

Ortorrombico (a, b, c, 90, 90, 90) abc (1/a, 1/b, 1/c, 90, 90, 90)

Monoclınico (a, b, c, 90, 90, γ) abc sen γ (1/a sen γ, 1/b sen γ, 1/c, 90, 90, γ + π)

VR = a3√

1− 3 cos2 α + 2 cos3 α, a?R = sen α/a

√1− 3 cos2 α + 2 cos3 α,

cos α? = − cos α/(1 + cos α).

Para llevar a cabo la manipulacion de vectores conviene recordar:

~v1 × (~v2 × ~v3) = (~v1 · ~v3)~v2 − (~v1 · ~v2)~v3; (75)

(~v1 × ~v2) · (~v3 × ~v4) = (~v1 · ~v3)(~v2 · ~v4)− (~v1 · ~v4)(~v2 · ~v3); (76)

(~v1 × ~v2)× (~v3 × ~v4) = (~v1 · ~v2 × ~v4)~v3 − (~v1 · ~v2 × ~v3)~v4. (77)

c© Vıctor Luana, 2002 (77)

Page 5: Cap´ıtulo 3azufre.quimica.uniovi.es/DetEst/deLec3.pdf · L3: Difractometr´ıa: Fundamentos. Contenido Cap´ıtulo 3 Definici´on y propiedades de la red rec´ıproca. Fundamento

L3: Difractometrıa: Fundamentos Red recıproca

Vectores de las redes real y recıproca:

~r = (~a ~b ~c)

x

y

z

= a˜x y ~H = (~a ? ~b ? ~c ?)

h

k

l

= a˜

? h (78)

Producto escalar:

~r1 · ~r2 = tx1 G x2, ~H1 · ~H2 = th1 G? h2 y ~r · ~H = ~H · ~r = th x = xh + yk + zl. (79)

Producto vectorial:

~r1 × ~r2 = V

∣∣∣∣∣∣∣∣~a ? ~b ? ~c ?

x1 y1 z1

x2 y2 z2

∣∣∣∣∣∣∣∣ y ~H1 × ~H2 = V ?

∣∣∣∣∣∣∣∣~a ~b ~c

h1 k1 l1

h2 k2 l2

∣∣∣∣∣∣∣∣ (80)

Producto mixto:

~r1 · (~r2 × ~r3) = V

∣∣∣∣∣∣∣∣x1 y1 z1

x2 y2 z2

x3 y3 z3

∣∣∣∣∣∣∣∣ y ~H1 · ( ~H2 × ~H3) = V ?

∣∣∣∣∣∣∣∣h1 k1 l1

h2 k2 l2

h3 33 l3

∣∣∣∣∣∣∣∣ (81)

c© Vıctor Luana, 2002 (78)

Page 6: Cap´ıtulo 3azufre.quimica.uniovi.es/DetEst/deLec3.pdf · L3: Difractometr´ıa: Fundamentos. Contenido Cap´ıtulo 3 Definici´on y propiedades de la red rec´ıproca. Fundamento

L3: Difractometrıa: Fundamentos Red recıproca

Planos cristalograficos: En la notacion de Miller los ındices (h, k, l) definen un plano que corta a

los ejes ~a, ~b y ~c a distancia a/h, b/k y c/l, respectivamente, del origen.

(0,0,1) (1,1,1) (1,0,2) (1,−1,2) (0,2,0)

Vector normal a un plano cristalografico:

a/ha

b

c

c/l

b/k

v1

v2 H

O

Los vectores ~v1 = ~b/k−~a/h y ~v2 = ~c/l−~b/k estan contenidos en el plano

(h, k, l). Su producto vectorial define un vector normal al plano:

~H = f(~v1 × ~v2) = ... =fV

hkl(h~a ? + k~b ? + l~c ?). (82)

Tomando f = hkl/V como factor de normalizacion, obtenemos que el

vector de la red recıproca ~H = h~a ? + k~b ? + l~c ? es el vector normal al

plano (h, k, l). Este vector es la normal a todos los planos de la forma

λh, λk, λl, donde λ ∈ R es un factor de escala.

c© Vıctor Luana, 2002 (79)

Page 7: Cap´ıtulo 3azufre.quimica.uniovi.es/DetEst/deLec3.pdf · L3: Difractometr´ıa: Fundamentos. Contenido Cap´ıtulo 3 Definici´on y propiedades de la red rec´ıproca. Fundamento

L3: Difractometrıa: Fundamentos Red recıproca

La familia de planos h, k, l: La ecuacion general de un plano es

Ax + By + Cz = DD 6= 0=⇒ A′x + B′y + C′z = 1. (83)

El plano de ındices de Miller (h, k, l) pasa por los puntos ~a/h ≡(1/h, 0, 0), ~b/k ≡ (0, 1/k, 0) y ~c/l ≡ (0, 0, 1/l). Sustituyendo en la ecua-

cion general obtenemos

hx + ky + lz = 1 (ecuacion del plano (h, k, l)). (84)

Por otra parte, los planos de la forma

hx + ky + lz = C (85)

representan una familia de planos paralelos entre sı. Como representan-

te de la familia h, k, l elegimos un plano cuyos ındices carezcan de

divisores enteros > 1 comunes.

1,0,0

a

b

c

C=0

C=1

C=2

Planos reticulares: Si h, k y l son enteros y carecen de divisores comunes (primos relativos) los

puntos (x, y, z) que satisfacen la ecuacion del plano, ec. 84, tienen coordenadas enteras. Estos

planos reticulares contienen un numero infinito de puntos de red. Esta es una version modernizada

de la ley de los ındices racionales enunciada por Hauy en 1784 al referirse a las caras exteriores de

un cristal.

c© Vıctor Luana, 2002 (80)

Page 8: Cap´ıtulo 3azufre.quimica.uniovi.es/DetEst/deLec3.pdf · L3: Difractometr´ıa: Fundamentos. Contenido Cap´ıtulo 3 Definici´on y propiedades de la red rec´ıproca. Fundamento

L3: Difractometrıa: Fundamentos Red recıproca

Distancia entre planos sucesivos de una familia h, k, l de planos reticulares:

a

b

c

c/l

v1

v2 H

b/k

a/h

N

A

O

Sea (h, k, l) el plano de la familia mas proximo al origen de coorde-

nadas sin llegar a pasar por el. Si−−→ON es el vector normal a la familia

que pasa por el origen, su modulo equivale a la distancia entre planos

sucesivos: d(h, k, l) = |−−→ON |. El vector

−−→NA =

−−→ON −

−→OA =

−−→ON − ~a/h (86)

esta contenido en el plano y es perpendicular al vector normal. Ası

−−→NA · ~Hhkl = 0 =

−−→ON · ~Hhkl︸ ︷︷ ︸dhklHhkl

−~a · ~Hhkl︸ ︷︷ ︸h

h−1 =⇒ . . . (87)

dhkl =1

Hhkl(88)

Escalado: Los planos de las familias h, k, l y nh, nk, nl, donde n = 1, 2, 3, ... ∈ N, estan

relacionados:

~H(nh, nk, nl) = n ~H(h, k, l) y d(nh, nk, nl) =1

nd(h, k, l). (89)

c© Vıctor Luana, 2002 (81)

Page 9: Cap´ıtulo 3azufre.quimica.uniovi.es/DetEst/deLec3.pdf · L3: Difractometr´ıa: Fundamentos. Contenido Cap´ıtulo 3 Definici´on y propiedades de la red rec´ıproca. Fundamento

L3: Difractometrıa: Fundamentos Fundamento fısico de la difraccion

Fundamento fısico de la difraccion

Sugerencia: repasad el capıtulo 33 de Tipler, “Fısica”.

Principio de Huygens: Cada punto de un frente de onda primario sirve

como foco de ondas elementales secundarias que avanzan con una velocidad

y frecuencia igual a las de la onda primaria. El frente de onda primario al

cabo de un cierto tiempo es la envolvente de estas ondas elementales.

Principio de Huygens-Fresnel: La amplitud y fase relativa de cada onda

elemental debe ser tenida en cuenta en la superposicion. Kirchhoff de-

mostro que la intensidad de la onda depende del angulo de propagacion y

que no hay frente de onda de retroceso.

Ecuacion de una onda: La parte real o la imaginaria de un fasor pueden representar a la onda. En

el espacio 3D, la elongacion de una onda en el punto ~r en el instante t viene dada por:

~E = ~E0 expi(~k · ~r − ωt) (90)

donde ~E0 representa la amplitud de la onda, ω = 2πν la frecuencia angular, ~k = (2π/λ)~uk es el

vector de onda, y λ la longitud de onda. La velocidad de propagacion de la onda es

v =ω

k= λν. (91)

Si se trata de radiacion electromagnetica en el vacıo λν = c.

c© Vıctor Luana, 2002 (82)

Page 10: Cap´ıtulo 3azufre.quimica.uniovi.es/DetEst/deLec3.pdf · L3: Difractometr´ıa: Fundamentos. Contenido Cap´ıtulo 3 Definici´on y propiedades de la red rec´ıproca. Fundamento

L3: Difractometrıa: Fundamentos Fundamento fısico de la difraccion

Ilustracion del principio de

Huygens-Fresnel mediante ondas

de agua planas en una cubeta. La

pequena abertura en la barrera

actua como fuente secundaria.

c© Vıctor Luana, 2002 (83)

Page 11: Cap´ıtulo 3azufre.quimica.uniovi.es/DetEst/deLec3.pdf · L3: Difractometr´ıa: Fundamentos. Contenido Cap´ıtulo 3 Definici´on y propiedades de la red rec´ıproca. Fundamento

L3: Difractometrıa: Fundamentos Fundamento fısico de la difraccion

Experimento de Young de la difraccion en dos rendijas:

Dos fuentes puntuales coherentes de la misma intensidad

parten de las aberturas 1 y 2. Si λD a2 se cumple que

θ′ ≈ θ. Ademas

∆ = r1 − r2 = a sen θ; (92)

tg θ =y

D≈ sen θ ≈ θ; (93)

δ = φ1 − φ2 = k(r1 − r2) =2π

λa sen θ. (94)

θ’

r2r1∆ = _

r2

r1

E2

1E

y

1

2

PD

E1

E2EP

φ1

φ2

= = EE21E

φi

k ri

ω t= −

δ

Im

ReEn el punto P se suman las ondas ~E1 y ~E2 para producir la

onda ~EP . La intensidad de luz es proporcional al cuadrado de

la onda en el punto:

E2P =

∣∣∣ ~E1 + ~E2

∣∣∣2 = E21 + E2

2 + 2E1E2 cos δ

= 2E2(1 + cos δ) = 4E2 cos2δ

2; (95)

I(θ) = I0 cos2δ

2; (96)

δ =2π

λa sen θ ≈

2πay

λD. (97)

c© Vıctor Luana, 2002 (84)

Page 12: Cap´ıtulo 3azufre.quimica.uniovi.es/DetEst/deLec3.pdf · L3: Difractometr´ıa: Fundamentos. Contenido Cap´ıtulo 3 Definici´on y propiedades de la red rec´ıproca. Fundamento

L3: Difractometrıa: Fundamentos Fundamento fısico de la difraccion

0.0

0.1

0.2

0.3

0.4

0.5

0.6

0.7

0.8

0.9

1.0

−1.0 −0.5 0.0 0.5 1.0

I/I0

sen θ

a/λ=1=2=4

Se producen maximos y mınimos de intensidad (interferencia constructiva y destructiva) cuando:

maximo : cos(δ/2) = ±1 =⇒ ∆ = a sen θ = mλ (98)

mınimo : cos(δ/2) = 0 =⇒ ∆ = a sen θ = (2m + 1)λ

2(99)

donde m = 0,±1,±2, · · · ∈ Z.

c© Vıctor Luana, 2002 (85)

Page 13: Cap´ıtulo 3azufre.quimica.uniovi.es/DetEst/deLec3.pdf · L3: Difractometr´ıa: Fundamentos. Contenido Cap´ıtulo 3 Definici´on y propiedades de la red rec´ıproca. Fundamento

L3: Difractometrıa: Fundamentos Fundamento fısico de la difraccion

Difraccion de Fraunhofer: Una sola rendija puede producir un patron de interferencia similar

al experimento de Young si su anchura es comparable con la longitud de onda. El principio de

Huygens permite entender la rendija como un conjunto infinito de focos puntuales en lınea. El

nuevo resultado, valido cuando λD a2, es que la intensidad de la onda en la pantalla es

I(θ) = I0

(sen δ/2

δ/2

)2

, dondeδ

2=

πa

λsen θ =

π∆

λ, (100)

y ∆ = a sen θ es la diferencia de camino optico para los rayos que parten de los dos extremos de la

abertura.

D

y

a θ012

∆0.0

0.1

0.2

0.3

0.4

0.5

0.6

0.7

0.8

0.9

1.0

−1.0 −0.5 0.0 0.5 1.0

I/I0

sen θ

a/λ=1=2=3=4

c© Vıctor Luana, 2002 (86)

Page 14: Cap´ıtulo 3azufre.quimica.uniovi.es/DetEst/deLec3.pdf · L3: Difractometr´ıa: Fundamentos. Contenido Cap´ıtulo 3 Definici´on y propiedades de la red rec´ıproca. Fundamento

L3: Difractometrıa: Fundamentos Fundamento fısico de la difraccion

El experimento de Fraunhoffer se puede extender a 2, 3, 4, etc rendijas de anchura comparable a λ. El

resultado es una mezcla de los patrones de interferencia de las fuentes puntuales y de la rendija finita.

La difraccion limita la capacidad de resolver

fuentes muy proximas. Si empleamos una aper-

tura circular de diametro a el primer mınimo de

difraccion aparece para sen θmin = 1.22λ/a ≈θmin, lo que establece el lımite de resolucion.

c© Vıctor Luana, 2002 (87)

Page 15: Cap´ıtulo 3azufre.quimica.uniovi.es/DetEst/deLec3.pdf · L3: Difractometr´ıa: Fundamentos. Contenido Cap´ıtulo 3 Definici´on y propiedades de la red rec´ıproca. Fundamento

L3: Difractometrıa: Fundamentos Difraccion en cristales

Difraccion en cristales1895 Wilhelm Conrad Rontgen descubre los rayos X (RX).

1896 J. Perrin mide la intensidad de los RX utilizando una camara de

ionizacion.

1911 C. G. Barkla detecta las lineas de emision K, L, M, etc.

1912 Max von Laue, W. Friedrich y E. P. Knipping demuestran la difrac-

cion de RX por un cristal de ZnS y miden la longitud de onda de esta

radiacion.

1913 W. L. y W. H. Bragg construyen un espectrometro de RX con el que

miden el espectro de difraccion de NaCl, mica y otros minerales. Los

Bragg producen un modelo cuantitativo que relaciona la estructura

del cristal con el difractograma observado.

1913–1917 Paul Ewald desarrolla la teorıa dinamica de la difraccion de

RX en un cristal ideal, una pieza maestra de la fısica matematica.

1913 H. G. J. Moseley muestra la relacion entre la frecuencia de las lıneas

espectrales de RX y el numero atomico. El analisis del laton le per-

mite observar que la intensidad relativa de las lineas de Zn y Cu es

proporcional a su concentracion.

1913 W. D. Coolidge crea el tubo de RX de alto vacıo y filamento incan-

descente.

c© Vıctor Luana, 2002 (88)

Page 16: Cap´ıtulo 3azufre.quimica.uniovi.es/DetEst/deLec3.pdf · L3: Difractometr´ıa: Fundamentos. Contenido Cap´ıtulo 3 Definici´on y propiedades de la red rec´ıproca. Fundamento

L3: Difractometrıa: Fundamentos Difraccion en cristales

ϕ0

ϕ1

s0

s1

c0

c1

a

12

λ

Ley de Laue: Los rayos difundidos por los nodos de la red de

puntos produciran una figura de interferencia. Examinando

el problema 1D, los rayos procedentes de nodos adyacentes

interferiran positivamente si

∆ = c1 − c0 = a cos φ1 − a cos φ0

= ~a · (~s1 − ~s0) = hλ, (101)

donde h es un entero arbitrario y λ la longitud de onda de

la radiacion monocromatica. Multiplicando la ecuacion por

~a ? (~a · ~a ? = 1) y definiendo ~κ = ~s/λ:

(~s1 − ~s0)/λ = ~κ1 − ~κ0 = h~a ?. (102)

Generalizando a 3D:

∆~κ = ~κ1 − ~κ0 = h~a ? + k~b ? + l~c ? = ~H(h, k, l). (103)

Observese que ~k = 2π~κ es el vector de ondas de la radiacion. En fısica del estado solido es frecuente

definir la red recıproca de modo que incorpore este factor 2π, es decir ta?

˜a˜

= 2π1 en vez de

ta?

˜a˜

= 1. Nosotros seguiremos el convenio de la IUCr.

c© Vıctor Luana, 2002 (89)

Page 17: Cap´ıtulo 3azufre.quimica.uniovi.es/DetEst/deLec3.pdf · L3: Difractometr´ıa: Fundamentos. Contenido Cap´ıtulo 3 Definici´on y propiedades de la red rec´ıproca. Fundamento

L3: Difractometrıa: Fundamentos Difraccion en cristales

Ecuacion de Bragg: Los planos reticulares pueden

actuar como espejos de la radiacion incidente. Los

rayos reflejados en dos planos contiguos de una

familia h, k, l sufriran interferencia constructiva

si:

∆ = c1 − c0 = 2c1

= 2 d(h, k, l) sen θ = nλ, (104)

donde n es un entero arbitrario.

s0 s1H

c0 c1

1

2

3d(h,k,l)

θ θ

θ

Teniendo en cuenta la ley de escalado d(nh, nk, nl) = d(h, k, l)/n que vimos anteriormente,

podemos escribir la ecuacion de Bragg como

2 d(h′, k′, l′) sen θ = nλ o 2 d(h, k, l) sen θ = λ (105)

donde (h, k, l) recorre todas las ternas de enteros mientras que (h′, k′, l′) exige que los tres ındices

de Miller sean primos relativos.

Uno de los primeros pasos en la interpretacion de un difractograma consiste en identificar los ındices

de Miller de cada pico de difraccion, partiendo del angulo de medicion de cada pico y haciendo uso

de la ecuacion de Bragg.

c© Vıctor Luana, 2002 (90)

Page 18: Cap´ıtulo 3azufre.quimica.uniovi.es/DetEst/deLec3.pdf · L3: Difractometr´ıa: Fundamentos. Contenido Cap´ıtulo 3 Definici´on y propiedades de la red rec´ıproca. Fundamento

L3: Difractometrıa: Fundamentos Difraccion en cristales

Equivalencia de las ecuaciones de Laue y Bragg:

La ec. de Bragg se deduce de la ley de Laue, como

demostro Paul Ewald. Partimos de la ec. de Laue,

~s1 − ~s0 = λ ~H, (106)

y multiplicamos ambos miembros por ~s1

~s1 · ~s1 − ~s1 · ~s0 = λ~s1 · ~H, (107)

1− cos(2θ)︸ ︷︷ ︸2 sen2 θ

= λ∣∣∣ ~H

∣∣∣︸︷︷︸1/dH

cos(π/2− θ)︸ ︷︷ ︸sen θ

. (108)

s1

s1

s0

1

2

θ θ

θθ

Si sen θ 6= 0 podemos dividir por sen θ para obtener la ec. de Bragg:

2 dH sen θ = λ. (109)

El numero de reflexiones observables esta limitado por la condicion λ/d = λ| ~H| ≤ 2. Los vectores~H(h, k, l), donde h, k, l ∈ Z, son los puntos reticulares de la red recıproca, y hay uno de estos

puntos por cada celda unidad recıproca de volumen V ?. Si N es el numero de reflexiones posibles:

NV ? = N/V = 4/3 π(2/λ)3 =⇒ N =32π

3

V

λ3(110)

c© Vıctor Luana, 2002 (91)

Page 19: Cap´ıtulo 3azufre.quimica.uniovi.es/DetEst/deLec3.pdf · L3: Difractometr´ıa: Fundamentos. Contenido Cap´ıtulo 3 Definici´on y propiedades de la red rec´ıproca. Fundamento

L3: Difractometrıa: Fundamentos Difraccion en cristales

La esfera de Ewald es una representa-

cion del proceso de difraccion (elastica)

en el espacio recıproco. Los puntos re-

presentan los vectores de la red recıpro-

ca. El vector unidad ~s0 se dibuja en la

direccion de la radiacion incidente y ter-

mina en un punto de red, que establece

el origen arbitrario O. Se dibuja enton-

ces una esfera de radio 1/λ con origen

en el punto de partida de ~s0 (punto A).

Cada vez que la superficie de la esfera

coincida con un punto de la red recıpro-

ca (punto B) se cumplira la condicion

de Laue y se observara un haz difrac-

tado. La lınea que bisecta el segmento

OB ≡ ~H permite medir directamente

el angulo θ de Bragg.O

A

B

1/λ

s0 s1

Ha*

b*

θ θ

En la difraccion de electrones λ ≈ 0.05 A, de modo que la esfera de Ewald tiene un diametro muy

grande y se observa un gran numero de picos de difraccion.

c© Vıctor Luana, 2002 (92)

Page 20: Cap´ıtulo 3azufre.quimica.uniovi.es/DetEst/deLec3.pdf · L3: Difractometr´ıa: Fundamentos. Contenido Cap´ıtulo 3 Definici´on y propiedades de la red rec´ıproca. Fundamento

L3: Difractometrıa: Fundamentos Periodicidad de las propiedades

Periodicidad de las propiedades en la red cristalina

Sea Ω(~r) una propiedad arbitraria (escalar, vectorial, etc) que toma un valor definido en cada punto

~r del espacio. En un cristal ideal Ω debe ser invariante frente a una traslacion reticular:

Ω(~r + ~t) = Ω(~r), para todo ~t = n1~a + n2~b + n3~c con n1, n2, n3 ∈ Z. (111)

Esta periodicidad sugiere la conveniencia de expresar Ω como un desarrollo en serie de Fourier:

Ω(x, y, z) =∞∑

h=−∞

∞∑k=−∞

∞∑l=−∞

Ωhkl exp−i2π(hx + ky + lz) =∑

~H

Ω( ~H) e−i2π ~H·~r, (112)

donde ~H es un vector de la red recıproca.

La simetrıa traslacional de Ω(~r) exige que, para cualquier punto ~r y cualquier traslacion primitiva ~t:

Ω(~r) =∑

~H

Ω( ~H) e−i2π ~H·~r = Ω(~r + ~t) =∑

~H

Ω( ~H) e−i2π ~H·~r e−i2π ~H·~t (113)

e−i2π ~H·~t = 1 =⇒ ~H · ~t = hn1 + kn2 + ln3 ∈ Z =⇒ h, k, l ∈ Z, (114)

de modo que los vectores ~H forman una red de puntos en la red recıproca. Es decir, los vectores ~H

se corresponden con los planos reticulares del cristal.

c© Vıctor Luana, 2002 (93)

Page 21: Cap´ıtulo 3azufre.quimica.uniovi.es/DetEst/deLec3.pdf · L3: Difractometr´ıa: Fundamentos. Contenido Cap´ıtulo 3 Definici´on y propiedades de la red rec´ıproca. Fundamento

L3: Difractometrıa: Fundamentos Periodicidad de las propiedades

La relacion de Fourier se puede invertir para obtener el valor de la propiedad para cada plano de la

red recıproca

Ωhkl =

∫ 1

0

∫ 1

0

∫ 1

0Ω(x, y, z) exp+i2π(hx + ky + lz) dx dy dz (115)

donde la integracion se realiza sobre la celda unidad. Podemos simplificar esta ecuacion si escribimos

el elemento de volumen como

dv = [~a · (~b× ~c)] dx dy dz = V dx dy dz (116)

de modo que

Ωhkl =1

V

∫V

Ω(~r) e+i2π ~H·~r dv. (117)

Como caso particular

Ω000 =

∫∫∫ 1

0Ω(x, y, z) dx dy dz = 〈Ω〉 , (118)

de modo que Ω000 no es mas que el valor promedio de Ω(x, y, z) en la celda unidad.

En forma compacta escribirıamos

Ω(x, y, z) = F [Ωhkl] y Ωhkl = F−1 [Ω(x, y, z)] (119)

siendo F(Ω) la transformada (contınua) de Fourier y F−1 su inversa (discreta), respectivamente.

c© Vıctor Luana, 2002 (94)

Page 22: Cap´ıtulo 3azufre.quimica.uniovi.es/DetEst/deLec3.pdf · L3: Difractometr´ıa: Fundamentos. Contenido Cap´ıtulo 3 Definici´on y propiedades de la red rec´ıproca. Fundamento

L3: Difractometrıa: Fundamentos Periodicidad de las propiedades

Notas sobre la transformada de Fourier

f(t) =

∫ ∞

−∞F (ν)ei2πνtdν = F−1[F (ν)] F (ν) =

∫ ∞

−∞f(t)e−i2πνtdt = F [f(t)]

1 δ(ν)

δ(t) 1

δ(t− a) e−i2πaν

ei2πAt δ(ν −A)

eπt2 eπν2

ρ(t) =

∞∑k=−∞

δ(t− k) P (ν) =

∞∑l=−∞

δ(ν − l)

Propiedades de la transformada de Fourier:

Linealidad: F [λf(t) + µg(t)] = λF [f(t)] + µF [g(t)] = λF (ν) + µG(ν) siendo λ, µ ∈ C constantes

arbitrarias.

Simetrıa (reversal): F [f(−t)] = F (−ν).

Escalado: F [f(at)] = (1/|a|)F (ν/a).

Teorema de la convolucion (Borel): F [f ? g(t)] = F [f(t)]F [g(t)] = F (ν)G(ν).

Traslacion: F [f(t− T )] = e−i2πνT F (ν) y F−1[F (ν − β)] = ei2πβtf(t).

c© Vıctor Luana, 2002 (95)

Page 23: Cap´ıtulo 3azufre.quimica.uniovi.es/DetEst/deLec3.pdf · L3: Difractometr´ıa: Fundamentos. Contenido Cap´ıtulo 3 Definici´on y propiedades de la red rec´ıproca. Fundamento

L3: Difractometrıa: Fundamentos Periodicidad de las propiedades

Espectrograma auditivo de una voz humana (soprano) cantando: La educacion de

la voz permite observar magnıficamente los armonicos de una nota muy pura. Los armonicos de alta

frecuencia muestran claramente el vibrato ejecutado por la voz. (Imagen y sonido proporcionados

por R. Horne, Visualization Software, Inc.: http://www.visualizationsoftware.com/gram/

examples.html)

c© Vıctor Luana, 2002 (96)

Page 24: Cap´ıtulo 3azufre.quimica.uniovi.es/DetEst/deLec3.pdf · L3: Difractometr´ıa: Fundamentos. Contenido Cap´ıtulo 3 Definici´on y propiedades de la red rec´ıproca. Fundamento

L3: Difractometrıa: Fundamentos Periodicidad de las propiedades

Espectrograma auditivo de una voz humana (tenor?) hablando: (Imagen y sonido

proporcionados por R. Horne, Visualization Software, Inc.: http://www.visualizationsoftware.

com/gram/examples.html)

c© Vıctor Luana, 2002 (97)

Page 25: Cap´ıtulo 3azufre.quimica.uniovi.es/DetEst/deLec3.pdf · L3: Difractometr´ıa: Fundamentos. Contenido Cap´ıtulo 3 Definici´on y propiedades de la red rec´ıproca. Fundamento

L3: Difractometrıa: Fundamentos Periodicidad de las propiedades

Un interpretacion pictorica de la transformada de Fourier (TF):

Idea e imagenes de Kevin Cowtan (http://www.ysbl.york.ac.uk/~cowtan/fourier/fourier.

html).

Vamos a utilizar el color para represen-

tar los numeros complejos. Blanco co-

rresponde a un numero de modulo 0,

rojo representa una fase de 0 (numero

real), 120 es verde y 240 es cyan.

c© Vıctor Luana, 2002 (98)

Page 26: Cap´ıtulo 3azufre.quimica.uniovi.es/DetEst/deLec3.pdf · L3: Difractometr´ıa: Fundamentos. Contenido Cap´ıtulo 3 Definici´on y propiedades de la red rec´ıproca. Fundamento

L3: Difractometrıa: Fundamentos Periodicidad de las propiedades

Un atomo y su TF. Entre ambas hay

una relacion de inversion, de modo que

una funcion muy compacta genera una

TF muy difusa. En el lımite, la TF de

un punto es una funcion contınua y pla-

na.

Una molecula de siete atomos y su TF.

Basicamente se superponen las TF de

los siete atomos. La molecula se puede

considerar una convolucion de la fun-

cion que representa la posicion de los

nucleos con la que representa la estruc-

tura de un atomo. La TF es el producto

de las TF de los dos factores en la con-

volucion.

c© Vıctor Luana, 2002 (99)

Page 27: Cap´ıtulo 3azufre.quimica.uniovi.es/DetEst/deLec3.pdf · L3: Difractometr´ıa: Fundamentos. Contenido Cap´ıtulo 3 Definici´on y propiedades de la red rec´ıproca. Fundamento

L3: Difractometrıa: Fundamentos Periodicidad de las propiedades

Una red y su TF. La TF de una red de

puntos es otra red de puntos con di-

recciones y espaciados recıprocos. De

hecho la construccion geometrica que

conocemos como red recıproca no es

sino la TF de la red de puntos del cris-

tal.

Un cristal y su TF. En el cristal se su-

perpone el motivo molecular sobre la

red de puntos. La TF es el producto de

las TF del motivo y de la red. Este es

el patron de difraccion. Observese que

los numeros complejos de esta imagen

(colores diferentes al rojo) provienen de

la TF de la molecula.

c© Vıctor Luana, 2002 (100)

Page 28: Cap´ıtulo 3azufre.quimica.uniovi.es/DetEst/deLec3.pdf · L3: Difractometr´ıa: Fundamentos. Contenido Cap´ıtulo 3 Definici´on y propiedades de la red rec´ıproca. Fundamento

L3: Difractometrıa: Fundamentos Periodicidad de las propiedades

La molecula “pato” y su TF.

Si invertimos el patron de difraccion

recuperamos la imagen original. Los

terminos de baja resolucion de la di-

fraccion nos proporcionan claramente

la posicion del motivo (las regiones de

alta densidad) pero sus bordes son bo-

rrosos.

c© Vıctor Luana, 2002 (101)

Page 29: Cap´ıtulo 3azufre.quimica.uniovi.es/DetEst/deLec3.pdf · L3: Difractometr´ıa: Fundamentos. Contenido Cap´ıtulo 3 Definici´on y propiedades de la red rec´ıproca. Fundamento

L3: Difractometrıa: Fundamentos Periodicidad de las propiedades

Los terminos de alta resolucion de la

difraccion proporcionan la informacion

sobre las fronteras del motivo. En un

cristal, estos terminos de alta resolu-

cion son determinantes para poder de-

ducir la densidad electronica en la re-

gion de mas interes quımico: la region

interatomica.

Un nuevo personaje: la molecula “ga-

to” y su TF.

c© Vıctor Luana, 2002 (102)

Page 30: Cap´ıtulo 3azufre.quimica.uniovi.es/DetEst/deLec3.pdf · L3: Difractometr´ıa: Fundamentos. Contenido Cap´ıtulo 3 Definici´on y propiedades de la red rec´ıproca. Fundamento

L3: Difractometrıa: Fundamentos Periodicidad de las propiedades

Podemos tratar de combinar los datos

de difraccion medidos en dos moleculas.

En este caso combinamos las magnitu-

des que aparecen en la transformada del

pato con las fases de la transformada

del gato (el brillo del pato y los colores

del gato). Al invertir la TF obtenemos

una imagen en la que solo se reconoce

al gato.

Pero si construimos una nueva quime-

ra, pato-fase con gato-magnitud, la TF

inversa nos permite recuperar el pato.

En definitiva, la parte principal de la in-

formacion esta contenida en las fases.

En los experimentos de difraccion, sin

embargo, lo que se mide es la magnitud

de la senal (el modulo de los factores

de estructura). ¡De ahı que la cristalo-

grafıa sea dificil!

c© Vıctor Luana, 2002 (103)

Page 31: Cap´ıtulo 3azufre.quimica.uniovi.es/DetEst/deLec3.pdf · L3: Difractometr´ıa: Fundamentos. Contenido Cap´ıtulo 3 Definici´on y propiedades de la red rec´ıproca. Fundamento

L3: Difractometrıa: Fundamentos Densidad electronica y factores de estructura

Densidad electronica y factores de estructuraLa densidad electronica del cristal ρ(x, y, z) y los factores de estructura F (h, k, l) forman una pareja

de propiedades relacionadas mediante transformaciones de Fourier:

ρ(x, y, z) = F [Fhkl] y Fh,k,l = F−1 [ρ(x, y, z)] . (120)

El paso de una densidad electronica conocida (p. ej. mediante un calculo mecanocuantico) a los

factores de estructura es esencialmente simple. El paso contrario, medir los factores de estructura y

usarlos para determinar ρ(x, y, z), conlleva problemas muy importantes:

Error de terminacion de serie: Existen infinitos factores de estructura, pero la condicion de Bragg

limita el numero de factores medibles. Ademas, |F | tiende a decaer con | ~H|.Indeterminacion de fase: Experimentalmente se mide la intensidad del pico difractado, proporcional

al cuadrado complejo del factor de estructura: Ihkl ∝ |Fhkl|2. Por lo tanto, disponemos

del modulo pero no de la fase compleja de Fhkl: Fhkl = |Fhkl| eiϕhkl . La inferencia o

reconstruccion de las fases es uno de los problemas mas complejos en cristalografıa.

Errores debidos a la absorcion de radiacion en el cristal; al tamano finito del cristal (ocasiona que

la forma externa influya en las intensidades difractadas); a las impurezas y defectos (rompen

la simetrıa traslacional); a la existencia de granos o microdominios con diferente orientacion

(mosaicidad); a la agitacion termica; a la dipersion inelastica o efecto Compton (parte de la

energıa del foton incidente se transfiere a los electrones del cristal); etc.

c© Vıctor Luana, 2002 (104)

Page 32: Cap´ıtulo 3azufre.quimica.uniovi.es/DetEst/deLec3.pdf · L3: Difractometr´ıa: Fundamentos. Contenido Cap´ıtulo 3 Definici´on y propiedades de la red rec´ıproca. Fundamento

L3: Difractometrıa: Fundamentos Densidad electronica y factores de estructura

Modelo de superposicion de atomos: La densidad electronica de una molecula presenta

maximos enormes en la posicion de los nucleos atomicos y valles someros en la region interatomica:

En el diamante, p. ej., la densidad electronica vale 796.68 e/A3 en el nucleo de C, pero 0.08–

1.75 e/A3 en la region de valencia. Es una buena aproximacion suponer que la densidad del cristal

es suma de las densidades atomicas de sus componentes:

ρ(~r) ≈n∑

j=1

ρj(~r − ~Rj) (121)

donde j recorre los n atomos de la celda unidad y ~Rj es la posicion del nucleo de j. Con esta

aproximacion

Fhkl =∑

j

∫∫∫ 1

0ρj(~r − ~Rj) ei2π ~H·~r dx dy dz. (122)

Haciendo el cambio de variables ~r ′ = ~r − ~Rj

Fhkl =∑

j

∫∫∫ 1

0ρj(~r

′) ei2π ~H·(~r ′+~Rj) dx′ dy′ dz′ (123)

=∑

j

ei2π ~H·~Rj

∫∫∫ 1

0ρj(~r

′) ei2π ~H·~r ′ dx′ dy′ dz′︸ ︷︷ ︸f0

j ( ~H)

=∑

j

f0j ( ~H) ei2π ~H·~Rj . (124)

c© Vıctor Luana, 2002 (105)

Page 33: Cap´ıtulo 3azufre.quimica.uniovi.es/DetEst/deLec3.pdf · L3: Difractometr´ıa: Fundamentos. Contenido Cap´ıtulo 3 Definici´on y propiedades de la red rec´ıproca. Fundamento

L3: Difractometrıa: Fundamentos Densidad electronica y factores de estructura

0

2

4

6

8

10

12

14

0.0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7

f (e)

sen θ / λ (Å−1)

λ=1.54 Å

B

F Si

La funcion fj( ~H) es el factor de forma atomico, diferente

para cada tipo de atomo presente en el cristal y funcion

solo del plano cristalografico examinado. En muchas apli-

caciones, por ejemplo determinar las posiciones atomicas,

es suficiente aceptar que la densidad de los atomos en la

red tiene una distribucion radial en torno a su nucleo. En

ese caso:

ρj(~r′) ≈ ρj(r

′) (125)

f0j ( ~H) ≈ f0

j (H) =

∫ ∞

0ρj(r)

sen(2πrH)

2πrH4πr2dr.

(126)

Estos factores de forma se obtienen a partir de las fun-

ciones de onda producidas por calculos mecanocuanticos

relativistas y se emplean rutinariamente en la determina-

cion de la estructura cristalina. La figura muestra que

f0(H) tiene un maximo para f0(0) = Zat y decae al

aumentar H.

c© Vıctor Luana, 2002 (106)

Page 34: Cap´ıtulo 3azufre.quimica.uniovi.es/DetEst/deLec3.pdf · L3: Difractometr´ıa: Fundamentos. Contenido Cap´ıtulo 3 Definici´on y propiedades de la red rec´ıproca. Fundamento

L3: Difractometrıa: Fundamentos Densidad electronica y factores de estructura

Correccion de temperatura (modelo de Debye-Weller):

En un cristal real los atomos vibran en torno a su posicion de equilibrio:

ρ(~r, U) ≈n∑

j=1

ρj(~r − ~Rj − ~uj) (127)

donde ~uj es la separacion del atomo j respecto de su posicion de equilibrio. La densidad electronica

aparece como funcion de la posicion actual de los atomos. Sin embargo, la escala de tiempo del

movimiento atomico (≈1 fs) es mucho menor que la duracion tıpica de una medida (> 1 s), de

modo que el experimento ve realmente una densidad promedio. Usando la aproximacion armonica

resulta que basta corregir los factores de forma atomicos con un factor termico:

fj(H) = f0j e−BjH2/4 = f0

j exp

−B

(sen θ

λ

)2

con B = 8π2 〈u2〉 , (128)

donde 〈u2〉 es el desplazamiento cuadratico medio del atomo. B es funcion de la temperatura y se

denomina coeficiente de Debye-Weller. El factor termico disminuye notablemente el poder dispersor

de un atomo y, por tanto, el numero de picos de difraccion medibles. El movimiento de un atomo

puede ser anisotropico, con lo que B es realmente una matriz 3×3 simetrica y real:

fj( ~H) = f0j exp

1

4tH B

jH

. (129)

c© Vıctor Luana, 2002 (107)

Page 35: Cap´ıtulo 3azufre.quimica.uniovi.es/DetEst/deLec3.pdf · L3: Difractometr´ıa: Fundamentos. Contenido Cap´ıtulo 3 Definici´on y propiedades de la red rec´ıproca. Fundamento

L3: Difractometrıa: Fundamentos Densidad electronica y factores de estructura

0

1

2

3

4

5

6

0.0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7

f (e)

sen θ / λ (Å−1)

λ=1.54 Å

Carbono, B=15 Å2

fC

fC0

Las medidas de difraccion proporcionan informacion

sobre la agitacion termica. Los tensores Bj

de los

atomos se representan como elipsoides termicos en

esta figura ORTEP publicada por T. Mori et al.,

Chem. Commun., 1998, 927.

c© Vıctor Luana, 2002 (108)

Page 36: Cap´ıtulo 3azufre.quimica.uniovi.es/DetEst/deLec3.pdf · L3: Difractometr´ıa: Fundamentos. Contenido Cap´ıtulo 3 Definici´on y propiedades de la red rec´ıproca. Fundamento

L3: Difractometrıa: Fundamentos Extinciones sistematicas

Condiciones de anulacion de los factores de estructura: Extin-ciones sistematicasLa naturaleza compleja de los factores de estructura se indica explıcitamente proporcionando las

partes real e imaginaria por separado. La notacion habitual es

Fhkl =∑

j

fj( ~H) ei2π ~H·~Rj = Ahkl + iBhkl = |Fhkl| expiϕhkl (130)

con Ahkl =∑

j

fj( ~H) cos(i2π ~H · ~Rj) y Bhkl =∑

j

fj( ~H) sen(i2π ~H · ~Rj). (131)

La simetrıa de la red cristalina origina que los factores de estructura presenten patrones caracterısticos

para ciertos ındices (h, k, l). Estos patrones resultan esenciales en la tarea de interpretar el

difractograma.

Ley de Friedel: Los factores de estructura de dos planos ~H y − ~H estan relacionados:

F (h, k, l) = Ahkl + iBhkl y F (−h,−k,−l) = Ahkl − iBhkl. (132)

Por lo tanto, las intensidades de la difraccion que proviene de ambos planos son identicas:

I(h, k, l) = I(−h,−k,−l) ∝ A2hkl + B2

hkl. La existencia de un centro de inversion (1) en el origen

de la celda real darıa lugar a este mismo fenomeno. Sin embargo, la simetrıa de las intensidades es

consecuencia de la traslacion invariante de la celda y no requiere dicho centro de inversion.

c© Vıctor Luana, 2002 (109)

Page 37: Cap´ıtulo 3azufre.quimica.uniovi.es/DetEst/deLec3.pdf · L3: Difractometr´ıa: Fundamentos. Contenido Cap´ıtulo 3 Definici´on y propiedades de la red rec´ıproca. Fundamento

L3: Difractometrıa: Fundamentos Extinciones sistematicas

Cristales centrosimetricos: En un cristal centrosimetrico, por cada atomo en una posicion~Rj existe otro atomo identico en −~Rj . Si calculamos Fhkl sumando los atomos por parejas:

F (h, k, l) =

parejas∑j

fj( ~H)

ei2π ~H·~Rj + e−i2π ~H·~Rj

=

parejas∑j

fj( ~H)2 cos(2π ~H · ~Rj) (133)

de modo que los factores de estructura en los cristales centrosimetricos son numeros reales.

Efecto de las operaciones de simetrıa sobre los factores de estructura: Una

operacion de simetrıa R|t del cristal convierte un punto arbitrario ~r en su equivalente R~r +~t. Por

tanto,

R|tFhkl = R|t∑

j

fj( ~H)ei2π ~H·~Rj =∑

j

fj( ~H)ei2π ~H·(R ~Rj+~t) (134)

= ei2π ~H·~t∑

j

fj( ~H)ei2π ~HR ~Rj = ei2π ~H·~tF ( ~HR). (135)

de modo que R interviene en el modulo y t en la fase del factor de estructura:∣∣∣F ( ~HR)∣∣∣ =

∣∣∣F ( ~H)∣∣∣ y ϕ( ~HR) = ϕ( ~H)− 2π ~H · ~t. (136)

La accion de R sobre un factor de forma no cambia su modulo y, por lo tanto, no afecta a la

intensidad de los picos de difraccion.

c© Vıctor Luana, 2002 (110)

Page 38: Cap´ıtulo 3azufre.quimica.uniovi.es/DetEst/deLec3.pdf · L3: Difractometr´ıa: Fundamentos. Contenido Cap´ıtulo 3 Definici´on y propiedades de la red rec´ıproca. Fundamento

L3: Difractometrıa: Fundamentos Extinciones sistematicas

Clases o grupos de Laue: Debido a la ley de Friedel, la simetrıa que muestran las intensidades

de un patron de difraccion debe corresponder a uno de los 11 grupos puntuales cristalograficos que

presentan centro de simetrıa. Estos 11 grupos de Laue se recogen en la Tabla.

Sistema Grupos cristalograficos G. de Laue

Triclınico 1, 1 1

Monoclınico 2, m, 2/m 2/m

Ortorrombico 222, mm2, mmm mmm

Tetragonal 4, 4, 4/m 4/m

4mm, 422, 42m, 4/mmm 4/mmm

Trigonal 3, 3 3

3m, 32, 3m 3m

Hexagonal 6, 6, 6/m 6/m

6mm, 622, 62m, 6/mmm 6/mmm

Cubico 23, m3 m3

432, 43m, m3m m3m

c© Vıctor Luana, 2002 (111)

Page 39: Cap´ıtulo 3azufre.quimica.uniovi.es/DetEst/deLec3.pdf · L3: Difractometr´ıa: Fundamentos. Contenido Cap´ıtulo 3 Definici´on y propiedades de la red rec´ıproca. Fundamento

L3: Difractometrıa: Fundamentos Extinciones sistematicas

Extinciones sistematicas debidas al centrado de la celda: Las traslaciones de

centrado provocan un patron caracterıstico de extinciones (factores de estructura nulos) en las

celdas no primitivas. P. ej., en una celda I cada atomo en posicion ~Rj tiene otro atomo equivalente

en ~Rj + τ(1/2, 1/2, 1/2), de modo que

Fhkl =

parejas∑j

fj

ei2π ~H(~Rj) + ei2π ~H(~Rj+~τ)

(137)

=

parejas∑j

fjei2π ~H ~Rj (1 + eiπ(h+k+l)︸ ︷︷ ︸(−1)h+k+l

) =

6= 0 si h + k + l = par

= 0 si h + k + l = impar(138)

La lista completa de transiciones permitidas para los distintas celdas es

Red Condiciones de difraccion Red Condiciones de difraccion

P o R hkl arbitrarios I h + k + l = 2n

A k + l = 2n B h + l = 2n

C h + k = 2n F h + k = 2n y k + l = 2n y h + l = 2n

R+ (H) −h + k + l = 3n R− (H) h− k + l = 3n

La celda romboedrica primitiva no presenta extinciones sistematicas. Si usamos los ejes hexagonales,

R+ esta centrada en (2/3, 1/3, 1/3) y R− en (1/3, 2/3, 1/3).

c© Vıctor Luana, 2002 (112)

Page 40: Cap´ıtulo 3azufre.quimica.uniovi.es/DetEst/deLec3.pdf · L3: Difractometr´ıa: Fundamentos. Contenido Cap´ıtulo 3 Definici´on y propiedades de la red rec´ıproca. Fundamento

L3: Difractometrıa: Fundamentos Extinciones sistematicas

Extinciones sistematicas debidas a las operaciones no simorficas: La presencia de

ejes helicoidales y planos de deslizamiento produce tambien extinciones sistematicas.

plano de deslizamiento sistemaReflexiones difraccion plano traslacion cristalino

0kl k = 2n b (100) ~b/2 O, T, Cl = 2n c (100) ~c/2 O, T, C

k + l = 2n n (100) (~b + ~c)/2 O, T, C

k + l = 4n d (100) (~b + ~c)/4 O, T, C

h0l h = 2n a (010) ~a/2 M, Ol = 2n c (010) ~c/2 M, Oh + l = 2n n (010) (~a + ~c)/2 M, Oh + l = 4n d (010) (~a + ~c)/4 M, O

hk0 h = 2n a (001) ~a/2 O

k = 2n b (001) ~b/2 O

h + k = 2n n (001) (~a +~b)/2 O

h + k = 4n d (001) (~a +~b)/4 O

hhl l = 2n c (110) ~c/2 T, R, C

h = 2n b (110) ~b/2

h + l = 2n n (110) (~a + ~c)/2

2h + l = 4n d (110) (~a +~b + ~c)/4 T,C

c© Vıctor Luana, 2002 (113)

Page 41: Cap´ıtulo 3azufre.quimica.uniovi.es/DetEst/deLec3.pdf · L3: Difractometr´ıa: Fundamentos. Contenido Cap´ıtulo 3 Definici´on y propiedades de la red rec´ıproca. Fundamento

L3: Difractometrıa: Fundamentos Extinciones sistematicas

eje helicoidalReflexiones difraccion tipo direccion

00l l = 2n 21, 42, 63 ‖ cl = 3n 31, 32, 62, 64 ‖ cl = 4n 41, 43 ‖ cl = 6n 61, 65 ‖ c

h00 h = 2n 21, 42 ‖ ah = 4n 41, 43 ‖ a

0k0 k = 2n 21, 42 ‖ bh = 4n 41, 43 ‖ b

hh0 h = 2n 21 ‖ [110]

Ej.: Una operacion de simetrıa m(100)|τ(0, 1/2, 0) hace que por cada atomo de coordenadas

(x, y, z) haya otro identico en la posicion (−x, y + 1/2, z). El factor de estructura de un plano

arbitrario es

Fhkl =

parejas∑j

fj(H)×

ei2π(hXj+kYj+lZj) + ei2π(−hXj+kYj+k/2+lZj)

. (139)

F0kl =

parejas∑j

fj(H)ei2π(kYj+lZj)

︸ ︷︷ ︸C0kl

×(1 + eiπk

)= C0kl ×

0 si k = 2n + 1,

2 si k = 2n.(140)

c© Vıctor Luana, 2002 (114)

Page 42: Cap´ıtulo 3azufre.quimica.uniovi.es/DetEst/deLec3.pdf · L3: Difractometr´ıa: Fundamentos. Contenido Cap´ıtulo 3 Definici´on y propiedades de la red rec´ıproca. Fundamento

L3: Difractometrıa: Fundamentos Ejercicios

Ejercicios

1. Para cada uno de los siete sistemas cristalinos: (1) determina la forma de los parametros de

su red recıproca; (2) comprueba que G G? = 1; (3) encuentra una expresion particular para la

distancia entre planos sucesivos de una familia general h, k, l.2. Transforma las celdas F e I en sus equivalentes primitivas. Encuentra, a continuacion, las

celdas recıprocas de ambas primitivas. Comprueba, a partir de aquı, que la recıproca de una

red F es una I y viceversa.

3. Una red de difraccion con 2000 rendijas por cm se utiliza para medir la longitud de onda de las

lıneas del espectro de una lampara de hidrogeno. ¿A que angulo θ, en el espectro de primer

orden, debera esperarse hallar las dos lıneas violeta de 434 y 410 nm? Con esta misma red

se mide la difraccion de una lampara de sodio y se observa una intensa senal a θ = 5.7685.

¿Cual es la longitud de onda de esta lınea espectral y de que color es la luz emitida por la

lampara?

4. Los faros de un coche estan separados una distancia de 1.12 m. Si el diametro de nuestras

pupilas es de unos 5 mm y la longitud de onda efectiva de la luz es de 550nm, ¿a que distancia

podrıamos resolver que se trata de dos faros separados en circunstancias ideales? A efectos

de la difraccion, ¿serıa mejor una luz roja o una violeta? ¿Mejorarıa la resolucion aumentar o

disminuir el tamano de la pupila?

5. Deduce las extinciones sistematicas que presentara una celda F y las que causara la presencia

de un eje 31.

c© Vıctor Luana, 2002 (115)

Page 43: Cap´ıtulo 3azufre.quimica.uniovi.es/DetEst/deLec3.pdf · L3: Difractometr´ıa: Fundamentos. Contenido Cap´ıtulo 3 Definici´on y propiedades de la red rec´ıproca. Fundamento

L3: Difractometrıa: Fundamentos Ejercicios

6. Para cada uno de los cristales siguientes determina los parametros de la red recıproca y el

volumen de la misma. Determina tambien los angulos de Bragg para las reflexiones en los

planos (1,0,0), (0,1,0), (0,0,1), (1,1,0), (1,0,1), (0,1,1), (1,1,1) y (2,0,0) si utilizamos una

fuente de radiacion monocromatica de longitud de onda 1.54 A que proviene de la lınea Kα

del Cu-I. Para cada uno de estos planos determina, asimismo, los factores de estructura Fhkl

como funcion de los factores de forma atomicos. Los cristales, cuya descripcion cristalografica

ha aparecido en la leccion anterior, son: Cu, Li, Be, diamante, grafito, NaCl, CsCl, ZnS, ZnO

y CaF2.

7. Una cierta substancia difracta un haz de rayos X para un angulo de incidencia de 45 cuando la

temperatura es de 0C. Si la temperatura aumenta hasta 150C el angulo cambia 6.4 minutos

de arco. ¿Cual es el coeficiente de dilatacion termica lineal de la substancia?

c© Vıctor Luana, 2002 (116)