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Desarrollador Asociado Certificado de LabVIEW (CLAD) Información General sobre la Certificación y el Examen Página 1 de 16 Información General sobre Certificación El Programa de Certificación de LabVIEW de National Instruments consiste en los siguientes tres niveles de certificación: - Desarrollador Asociado Certificado de LabVIEW (CLAD) - Desarrollador Certificado de LabVIEW (CLD) - Arquitecto Certificado de LabVIEW (CLA) Cada nivel es un prerrequisito para el siguiente nivel de certificación. Un CLAD demuestra un completo entendimiento de las características elementales y la funcionalidad disposnibles en el Sistema de Desarrollo Completo de LabVIEW y posee la habilidad de aplicar ese conocimiento para desarrollar, depurar y mantener pequeños módulos de LabVIEW. El nivel de experiencia típico de un CLAD es aproximadamente de 6 a 9 meses en el uso del Sistema de Desarrollo Completo de LabVIEW. Un CLD demuestra experiencia en el desarrollo, depuración, despliegue y mantenimiento de aplicaciones de gran y mediana escala en LabVIEW. UN CLD es un profesional con una experiencia acumulada de aproximadamente 12 a 18 meses desarrollando aplicaciones medianas y grandes en LabVIEW. Un CLA demuestra domino en el diseño de aplicaciones en LabVIEW para un ambiente de múltiples desarrolladores. UN CLA no solamente posee la experiencia técnica y la experiencia en desarrollo de software para convertir las especificaciones de un proyecto en componentes manejables de LabVIEW y tiene la experiencia para trabajar en el proyecto utilizando de manera efectiva las herramientas de administración de proyectos y configuración. UN CLA es un profesional con una experiencia acumulada de aproximadamente 24 meses desarrollando aplicaciones medianas y grandes en LabVIEW. Nota La certificación CLAD es un prerrequisito para tomar el examen CLD. La certificación CLD es un prerrequisito para realizar el examen CLA. No hay excepciones con respecto a los requisitos para cada examen.

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Información General sobre la Certificación y el Examen

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Información General sobre Certificación El Programa de Certificación de LabVIEW de National Instruments consiste en los siguientes tres niveles de certificación:

- Desarrollador Asociado Certificado de LabVIEW (CLAD) - Desarrollador Certificado de LabVIEW (CLD) - Arquitecto Certificado de LabVIEW (CLA)

Cada nivel es un prerrequisito para el siguiente nivel de certificación. Un CLAD demuestra un completo entendimiento de las características elementales y la funcionalidad disposnibles en el Sistema de Desarrollo Completo de LabVIEW y posee la habilidad de aplicar ese conocimiento para desarrollar, depurar y mantener pequeños módulos de LabVIEW. El nivel de experiencia típico de un CLAD es aproximadamente de 6 a 9 meses en el uso del Sistema de Desarrollo Completo de LabVIEW. Un CLD demuestra experiencia en el desarrollo, depuración, despliegue y mantenimiento de aplicaciones de gran y mediana escala en LabVIEW. UN CLD es un profesional con una experiencia acumulada de aproximadamente 12 a 18 meses desarrollando aplicaciones medianas y grandes en LabVIEW. Un CLA demuestra domino en el diseño de aplicaciones en LabVIEW para un ambiente de múltiples desarrolladores. UN CLA no solamente posee la experiencia técnica y la experiencia en desarrollo de software para convertir las especificaciones de un proyecto en componentes manejables de LabVIEW y tiene la experiencia para trabajar en el proyecto utilizando de manera efectiva las herramientas de administración de proyectos y configuración. UN CLA es un profesional con una experiencia acumulada de aproximadamente 24 meses desarrollando aplicaciones medianas y grandes en LabVIEW. Nota La certificación CLAD es un prerrequisito para tomar el examen CLD. La certificación CLD es un prerrequisito para realizar el examen CLA. No hay excepciones con respecto a los requisitos para cada examen.

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Información General sobre la Certificación y el Examen

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Información General sobre el Examen Producto:Sistema de Desarrollo Completo de LabVIEW versión 2010 para Windows. Refiérase a la comparación de Sistemas de Desarrollo de LabVIEW para detalles sobre para detalles sobre las características disponibles en el Sistema de Desarrollo Completo de LabVIEW.

Duración del Examen: 1 hora Número de Preguntas: 40 Estilo de Preguntas: Opción múltiple Porcentaje de aprobación: 70% El examen valida el conocimiento en aplicaciones y no la habilidad de usar los pasos de menú o nombres de VIs y componentes. Está prohibido el uso de LabVIEW o cualquier otro recurso externo durante el examen. Para asistencia, se proporcionan pantallas de LabVIEW Help en el examen. Para mantener la integridad del examen, usted no puede copiar o reproducir ninguna sección del examen. El incumplimiento de lo anterior puede resultar en una violación. En áreas donde el examen se presenta en papel, separar las hojas engrapadas resultará en una violación sin derecho a la evaluación del examen.

Logística del Examen Estados Unidos y Europa:El examen CLAD se puede realizar en los centros de examinación Pearson VUE. El examen está basado en PC y los resultados están disponibles inmediatamente al terminar el examen. Consulte www.pearsonvue.com/ni para más detalles y programación de exámenes. Asia:El examen es en papel, por lo cual las evaluaciones y resultados se obtienen en aproximadamente 4 semanas. Por favor contacte su oficina local de National Instruments para detalles y programación de exámenes. Para preguntas generales o comentarios, envíe un correo electrónico a: [email protected].

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Información General sobre la Certificación y el Examen

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Temas del Examen El CLAD consiste en 40 preguntas. Cada examen consiste en un número específico de preguntas de cada categoría listada en la tabla de abajo.

Temas del Examen Número de Preguntas:

Ge

ne

ral

Principios de programación de

LabVIEW

3

Entorno de LabVIEW: 2

Tipos de datos 2

Arreglos y clusters 4

Gestión de errores 2

Documentación 1

Depuración 2

Estr

uct

ura

s Bucles 4

Estructuras Case 1

Estructuras Secuenciales 1

Estructuras de eventos 2

Tare

as d

e

Pro

gram

ació

n E/S de ficheros 1

Temporización 2

Servidor VI 2

Sincronización y Comunicación 2

Patrones de diseño 2

Pan

el

Fro

nta

l Graficos y Tablas 2

Acciones Mecánicas de los Booleanos 1

Nodos de Propiedad 2

Var

iab

les Variables locales

1

Variables globales funcionales

1

Total 40

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Información General sobre la Certificación y el Examen

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Temas de Examen (información general):

Tema Subtema 1. Principios de programación de

LabVIEW a. Flujo de datos b. Paralelismo

2. Entorno de LabVIEW: a. Instrumentos virtuales (VIs) b. Panel Frontal y Diagrama de

Bloques c. Panel de iconos y conectores d. Ventana Context Help

3. Tipos de datos a. Numérico, Cadena, Booleano, Path, Enum

b. Clusters c. Arrays d. Definiciones tipo e. Formas de Onda f. Marcas de Tiempo g. Tipos de Datos Dinámicos h. Representación de Datos i. Coerción j. Conversión y Manipulación de

Datos

4. Arreglos y clusters a. Funciones de Arrays b. Funciones de Clusters c. Polimorfismo de funciones

5. Gestión de errores a. Clusters de error b. VIs y Funciones de Manejo de Error c. Códigos personalizados de error d. Gestión Automática/Manual de

errores

6. Documentación a. Importacia b. Ayuda Contextual

7. Depuración a. Herramientas b. Técnicas

8. Bucles a. Componentes de Bucles b. Autoindexado c. Registros de Corrimiento d. Comportamiento de Bucles

9. Estructuras Case a. Selector de Caso b. Túneles c. Aplicaciones

10. Estructuras Secuenciales a. Tipos b. Comportamiento

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Información General sobre la Certificación y el Examen

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c. Aplicaciones

11. Estructuras de eventos a. Eventos de notificación y de filtrado

b. Aplicaciones

12. E/S de ficheros a. Funciones y VIs b. Aplicaciones

13. Temporización a. Funciones de temporización b. Aplicaciones

14. Servidor VI a. Jerarquía de Clases b. Aplicaciones

15. Sincronización y Comunicación de Datos

a. Notificadores b. Colas c. Semáforos d. Variables globales e. Aplicaciones

16. Patrones de diseño a. Máquina de Estados b. Maestro/Esclavo (Master/Slave) c. Productor/Consumidor (Datos y

Eventos) d. Aplicaciones

17. Graficos y Tablas a. Tipos b. Representación de datos

18. Acciones Mecánicas de los Booleanos

Ver CLAD Detalles de Tema

19. Nodos de Propiedad Ver CLAD Detalles de Tema

20. Variables locales a. Comportamiento b. Aplicaciones

21. Variables globales funcionales a. Comportamiento b. Aplicaciones

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Información General sobre la Certificación y el Examen

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Temas

1. Principios de programación de LabVIEW

a. Flujo de datos

i. Definir flujo de datos

ii. Identificar la importancia del flujo de datos en LabVIEW

iii. Identificar prácticas de programación que aplica el flujo de datos

en el diagrama de bloques, VIs y subVIs

iv. Identificar prácticas de programación que interrumpen el flujo de

datos

v. Seguimiento de la ejecución del código a través de un VI

b. Paralelismo

i. Definir ejecución en paralelo

ii. Identificar estructuras de código en paralelo

iii. Identificar advertencias de programación en paralelo

iv. Definir condiciones de carrera

v. Identificar condiciones de carrera en el código

vi. Idetificar ejecuciones indeterminadas

2. Entorno de LabVIEW:

a. Instrumentos virtuales (VIs)

i. Panel Frontal y Diagrama de Bloques

1. Identificar la relación entre objetos del panel frontal y del

diagrama de bloques

2. Inspeccionar y analizar visualmente paneles frontales y

diagramas de bloques para describir la funcionalidad

3. Determinar los resultados obtenidos en el panel frontal

dado un diagrama de bloques

4. Identificar tipos de VI que no tienen diagrama de bloques

5. Utilizar las propiedades y opciones de los objetos del panel

frontal para aplicaciones dadas

ii. Panel de iconos y conectores

1. Identificar la finalidad del panel conector e ícono

2. Identificar y distinguir los diferentes tipos de conexiones

b. Ventana Context Help

i. Identificar y definir los tres tipos de conectores del panel de

terminales - Requerido, Recomendado, y Opcional

ii. Determinar la funcionalidad de un VI o función, dada su ventana

de la ayuda contextual

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Información General sobre la Certificación y el Examen

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3. Tipos de datos y estructuras de datos

a. Numérico, Cadena, Booleano, Path, Enum

i. Identificar el tipo de datos más apropiado para la ventana del

panel frontal y los objetos del diagrama de bloques

ii. Identificar y describir funciones asociadas a los siguientes tipos de

datos

1. Numérico—Paletas Numeric, Conversion, Data

Manipulation y Comparison

2. Secuencia—Paletas String, String / Number Conversion y

String /Array /Path Conversion

3. Booleano—Paleta Boolean

4. Trayectoria—Funciones de trayectoria en la paleta File I/O

b. Clusters

i. Identificar aplicaciones que podrían beneficiarse de la agrupación

de datos utilizando clusters

ii. Seleccionar y aplicar las funciones Bundle, Unbundle, Bundle by

Name, y Unbundle by Name

iii. Determinar el impacto de reordenar controles o indicadores en un

cluster

c. Arrays

i. Seleccionar y aplicar funciones en la paleta de Array

ii. Identificar técnicas que causan problemas en el uso de memoria

iii. Identificar técnicas que minimizan el uso de memoria

iv. Identificar y describir aplicaciones que podrían beneficiarse de un

uso apropiado de los arrays

d. Definiciones tipo

i. Identificar y describir las aplicaciones que se pueden beneficiar

del uso de una definición de tipo o una definición de tipo estricto

ii. Determinar si una definición de tipo o una definición de tipo

estricto es necesaria para representar un elemento de dato

e. Formas de Onda

i. Seleccionar y aplicar tipos de datos waveform al display de graphs

y charts

ii. Seleccionar y aplicar las funciones Build Waveform y Get

Waveform Components para aplicaciones dadas

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Información General sobre la Certificación y el Examen

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f. Marcas de Tiempo

i. Describir el tipo de datos de registro de tiempo y cómo usarlo

para registrar datos de medidas

ii. Seleccionar y aplicar funciones de registro de tiempos de la paleta

Timing para aplicaciones dadas

g. Tipos de Datos Dinámicos

i. Identificar casos de uso de datos dinámicos

ii. Describir la funcionalidad del VI Express Convert from Dynamic

Data

iii. Identificar que tipo de indicadores y entradas pueden aceptar

datos dinámicos

h. Representación de Datos

i. Describir el uso de bits para las diferentes representaciones de

datos

ii. Cambiar la representación numérica de controles, indicadores y

constantes

iii. Identificar los rangos límites de representación y ajuste con

diferentes tipos de enteros

iv. Identificar el orden de bits por defecto de LabVIEW

i. Coerción

i. Seleccionar el tipo más apropiado de datos para limitar la

coerción

ii. Identificar el tipo de dato y uso de memoria que resulta de

operaciones numéricas heterogéneas

iii. Seleccionar y aplicar funciones de la paleta de Conversion

correctamente

j. Conversión y Manipulación de Datos

i. Definir y aplicar principios de conversión de datos, manipulación y

encasillamiento (typecasting)

ii. Identificar y seleccionar funciones usadas para convertir entre

tipos de datos y representaciones numéricas

4. Arreglos y clusters

a. Funciones de Arrays

i. Identificar funciones de la paleta de Array

ii. Determinar el resultado de un diagrama de bloques con funciones

de array

iii. Seleccionar y aplicar funciones para obtener el comportamiento

deseado en la ejecución

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Información General sobre la Certificación y el Examen

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iv. Comparar y seleccionar alternativas equivalentes de diseño

b. Funciones de Clusters

i. Identificar funciones de las paletas Cluster, Class, & Variant

pertenecientes a clusters

ii. Determinar el resultado de un diagrama de bloques con funciones

de cluster

iii. Seleccionar y aplicar funciones de cluster para obtener el

comportamiento deseado en la ejecución

c. Polimorfismo de funciones

i. Definir polimorfismo

ii. Identificar los beneficios del polimorfismo

iii. Determinar la salida de elementos de datos en VIs que usan

entradas polimórficas

5. Gestión de errores

a. Clusters de error

i. Definir e indentificar la función de los componentes del cluster de

error

ii. Identificar los terminales que aceptan clusteres de error como

entradas

iii. Diferenciar entre errores y advertencias

b. VIs y Funciones de Manejo de Error

i. Identificar los VIs de la paleta Dialog & User Interface que

pertenecen al manejo de errores

ii. Identificar la posición más apropiada para gestionar y reportar los

errores

iii. Seleccionar un VI o función para completar una funcionalidad

específica de la gestión e informe de errores

c. Códigos personalizados de error

i. Identificar el rango reservado para los códigos de error

personalizados

ii. Generar errores personalizados desde VIs manipulando los

clusteres de error

d. Gestión Automática/Manual de errores

i. Describir los efectos del manejo automático de errores

ii. Diseñar VIs que manejen los errores a fondo y eficazmente

iii. Dado un diagrama de bloques, describir el comportamiento que

tiene la ejecución cuando ocurre un error

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Información General sobre la Certificación y el Examen

Página 10 de 16

6. Documentación

a. Importacia

i. Identificar la importancia que tiene el añadir una descripción a las

propiedades de un VI

ii. Identificar la importancia que tiene añadir una frase de consejo

b. Ayuda Contextual

i. Determinar que entradas son requeridas para ejecutar un VI

ii. Describir como documentar entradas y salidas de un VI en la

ayuda contextual

7. Depuración

a. Herramientas

i. Identificar herramientas de depuración - Highlight Execution,

Breakpoints y Single-Stepping, Probes

ii. Explicar la función y el uso apropiado de cada herramienta

específica de depuración

b. Técnicas

i. Dada una situación, seleccionar la herramienta de depuración o

estrategia más apropiada

ii. Determinar si ocurre un error dado un diagrama de bloques

específico

8. Bucles While y Bucles For

a. Componentes de Bucles

i. Identificar componentes del bucle y describir sus funciones -

Tunnels, Count Terminal, Conditional Terminal, Iteration Terminal,

Shift Registers

ii. Describir el comportamiento de los componentes del bucle

b. Autoindexado

i. Identificar los tuneles de autoindexado

ii. Identificar la configuración de indexado por defecto cuando creas

nuevos túneles

iii. Describir túneles autoindexados y determinar los efectos de usar

o no los túneles autoindexados

c. Registros de Corrimiento

i. Describir el uso apropiado e inicialización de registros de

desplazamiento como elementos de almacenamiento de datos

ii. Determinar los valores de datos en el registro de desplazamiento

después de un número de iteraciones o hasta la terminación del

bucle

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Información General sobre la Certificación y el Examen

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iii. Identificar el comportamiento de inicializar y no inicializar los

registros de desplazamiento apilados

iv. Identificar los Feedback Nodes y su uso en los bucles

d. Comportamiento de Bucles

i. Identificar el comportamiento específico de bucles For y bucles

While

ii. Seleccionar y aplicar la estructura de bucle más adecuada

iii. Dado un diagrame de bloques, determinar el número de

iteraciones que realiza un bucle

iv. Identificar los casos de uso del terminal condicional de los bucles

For

v. Determinar que terminales del bucle son requeridos para la

ejecución del código en varias situaciones

9. Estructuras Case

a. Selector de Caso

i. Identificar los tipos de datos que se pueden aceptar como

entradas

ii. Identificar las diferentes opciones de casos para los rangos de

valores numéricos

iii. Dado un diagrama de bloques, determinar qué caso se ejecuta

b. Túneles

i. Identificar las diferentes opciones de los túneles de salida

ii. Identificar pros y contras de cada tipo de tunel

c. Aplicaciones

i. Determinar cuando una estructura Case debe ser usada en lugar

de otras estructuras

ii. Identificar la posición apropiada de controles e indicadores con

respecto a las estructuras Case

10. Estructuras Secuenciales

a. Tipos

i. Estructuras secuenciales Flat

ii. Estructuras secuenciales Stacked

b. Comportamiento

i. Identificar la funcionalidad básica de las estructuras secuenciales

ii. Determinar los resultados de un diagrama de bloques dado que

contiene estructuras secuenciales

iii. Describir el comportamiento de las estructuras secuenciales

cuando ocurren errores

Page 12: clad_exam_prep_guide_spanish_spain.pdf

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Información General sobre la Certificación y el Examen

Página 12 de 16

iv. Describir el comportamiento de las secuencias locales en

estructuras secuenciales apiladas

c. Aplicaciones

i. Identificar pros y contras de las estructuras secuenciales apiladas

y planas

ii. Determinar cuando una estructura secuencial es más apropiada

que otras estructuras

11. Estructuras de eventos

a. Eventos de notificación y de filtrado

i. Definir filtros de eventos y notificaciones de eventos

ii. Describir las diferencias de comportamiento entre un filtro y un

notificador de eventos

iii. Identificar un filtro y un notificador de eventos en un diagrama de

bloques

iv. Dar valor (señalización) nodos de propiedad con estructuras de

eventos

b. Aplicaciones

i. Identificar las ventajas de la programación orientada a eventos

ii. Identificar las diferentes formas en las que un evento puede ser

generado

iii. Dado un diagrama de bloques, determinar el resultado de su

ejecución

12. E/S de ficheros

a. Funciones y VIs

i. Identificar VIs y funciones de la paleta File I/O

ii. Determinar el resultado de un diagrama de bloques que use estas

funciones

iii. Identificar pros y contras de los VIs de File I/O de alto nivel y bajo

nivel

b. Aplicaciones

i. Predecir si ocurrirá un error en un diagrama de bloques

ii. Determinar el numero de bytes escritos por ciertas funciones

dado un diagrama de bloques

iii. Determinar el más y el menos eficiente de los métodos para

escribir datos en un fichero

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Información General sobre la Certificación y el Examen

Página 13 de 16

13. Temporización

a. Funciones de temporización

i. Identificar y describir funciones de la paleta Timing

ii. Describir el efecto de modificar con la función Tick Count

b. Aplicaciones

i. Dado un escenario, seleccionar la función más apropiada

ii. Seleccionar las funciones apropiadas para reducir el uso de CPU

en un bucle

iii. Seleccionar las funciones apropiadas para temporizar aplicaciones

durante períodos de tiempo prolongado

14. Servidor VI

a. Jerarquía de Clases

i. Describir métodos y propiedades de herencia

ii. Seleccionar referencias apropiadas para interactuar con controles

y subVIs

b. Aplicaciones

i. Identificar apropiadamente los casos de uso de nodos de

propiedad y nodos de invocación

ii. Seleccionar apropiadamente nodos de propiedad y nodos de

invocación para llamar a propiedades y métodos

iii. Diferenciar entre referencias de control de tipo estrictos y suave

iv. Describir la interacción entre llamar VIs y subVIs usando VI Server

15. Sincronización y Comunicación de Datos

a. Notificadores

i. Identificar y describir funciones de la paleta Notifier

ii. Dado un diagrama de bloques que usa notificadores, determinar

el resultado de la ejecución

b. Colas

i. Identificar y describir funciones de la paleta Queue

ii. Dado un diagrama de bloques que usa colas, determinar el

resultado de la ejecución

c. Semáforos

i. Describir la funcionalidad de los semáforos

ii. Identificar apropiadamente los casos de uso de semáforos

Page 14: clad_exam_prep_guide_spanish_spain.pdf

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Información General sobre la Certificación y el Examen

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d. Variables globales

i. Describir el comportamiento de las variables globales

ii. Identificar apropiadamente los casos de uso de variables globales

e. Aplicaciones

i. Teniendo en cuenta los escenarios de diseño, seleccionar el mejor

mecanismo de sincronización de datos

ii. Describir las diferencias de funcionalidad entre notificadores y

colas

16. Patrones de diseño

a. Máquina de Estados

i. Identificar los componentes principales de la arquitectura de

máquina de estados

ii. Identificar los mecanismos utilizados para mantener la

información de estado

b. Maestro/Esclavo (Master/Slave)

i. Identificar los componentes principales de la arquitectura

maestro/esclavo

ii. Identificar pros y contras del patrón de diseño maestro/esclavo

iii. Describir la temporización de bucle inherente que proveen los

notificadores

c. Productor/Consumidor (Datos y Eventos)

i. Idetificar los componentes del patron de diseño

productor/consumidor

ii. Identificar pros y contras del patrón de diseño

productor/consumidor

iii. Describir la temporización de bucle inherente que proveen las

colas

d. Aplicaciones

i. Dada una tarea de programación, seleccionar el mejor patrón de

diseño

ii. Comparar patrones de diseño e indentificar pros y contras de

cada uno de ellos

17. Graficos y Tablas

a. Tipos

i. Distinguir entre los diferentes tipos de Charts y Graphs

ii. Describir la funcioalidad de buffering de los Waveform Charts

iii. Identificar que gráficos soportan escalas de eje X desiguales

iv. Identificar que tipos de Charts y Graphs soportan múltiples ejes

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Información General sobre la Certificación y el Examen

Página 15 de 16

b. Representación de datos

i. Identificar los tipos de datos aceptados por Charts y Graphs

ii. Dado un escenario, seleccionar los tipos de Chart o Graph más

apropiados

18. Acciones Mecánicas de los Booleanos

a. Describir las seis diferentes acciones mecánicas

b. Identificar apropiadamente los casos de uso de cada acción

c. Dado un escenario y un diagrama de bloques, determinar el resultado de

la ejecución

19. Nodos de Propiedad

a. Definir el orden de ejecución de los Nodos de Propiedad

b. Identificar los casos ideales de uso de los Nodos de Propiedad

c. Determinar que pasa si ocurre un error durante la ejecución de un Nodo

de Propiedad

20. Variables locales

a. Comportamiento

i. Describir el comportamiento de las variables locales

ii. Dado un diagrama de bloques que utiliza variables locales,

determinar el resultado

iii. Identificar posibles condiciones de carrera

b. Aplicaciones

i. Determinar cuando es apropiado el uso de variables locales para

comunicación

ii. Depurar diagrama de bloques que usan inapropiadamente

variables locales

21. Variables globales funcionales

a. Comportamiento

i. Describir el comportamiento de las variables globales funcionales

ii. Identificar los componentes y el mecanismo de almacenamiento

de datos

iii. Identificar la necesidad de no reentrada

b. Aplicaciones

i. Describir la capacidad de sincronización de las variables globales

funcionales

ii. Describir la ocultación de información

iii. Dado un escenario, determinar si es apropiada una variable global

funcional

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Información General sobre la Certificación y el Examen

Página 16 de 16

Recursos para Preparación para el Examen CLAD Utilizar los siguientes recursos para la preparación del examen: Preparación CLAD:

E-Kit de Preparación para CLAD (incluye guías de preparación y exámenes de ejemplo)

Seminario web para la preparación del CLAD:

National Instruments Seminario Web del Curso de Preparación CLAD (en Línea)

Conceptos más olvidados en el examen CLAD Entrenamiento & Tutoriales LabVIEW Gratis Online

Curso Online de programación gráfica en LabVIEW(organizado por Conexiones)

Curso de Introducción a LabVIEW - Tres Horas

Curso de Introducción a LabVIEW - Seis Horas Cursos de entrenamiento dirigido por instructor o autoestudio de National Instruments:

LabVIEW Core 1

LabVIEW Core 2

LabVIEW Core 3

LabVIEW Desempeño Otros Recursos de National Instruments:

Web Académica de National Instruments

Zona de Desarrolladores de National Instruments

Zona LabVIEW de National Instruments

Soporte de National Instruments