64
Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de Computadores y de Sistemas ATE-UO present. Objetivo: Introducir los conceptos básicos sobre el funcionamiento de los dispositivos semiconductores Asignaturas: •Dispositivos Electrónicos (1º de Ing. Telecomunicación) •Electrónica General (4º de Ing. Industrial) Autor: Javier Sebastián Zúñiga

Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

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Page 1: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

Introducción a la Electrónica de Dispositivos

Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica

Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de Computadores y de Sistemas

ATE-UO present.

Objetivo: Introducir los conceptos básicos sobre el funcionamiento de los dispositivos semiconductores

Asignaturas:

•Dispositivos Electrónicos (1º de Ing. Telecomunicación)

•Electrónica General (4º de Ing. Industrial)

Autor: Javier Sebastián Zúñiga

Page 2: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

•Materiales semiconductores (Sem01.ppt)

•La unión PN y los diodos semiconductores

(Pn01.ppt)

•Transistores (Trans01.ppt)

Introducción a la Electrónica de

Dispositivos

Universidad de Oviedo

Área de Tecnología Electrónica

Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de Computadores y de Sistemas

ATE-UO Sem 00

Page 3: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

Semiconductores elementales: Germanio (Ge) y Silicio (Si)

Compuestos IV: SiC y SiGe

Compuestos III-V:

Binarios: GaAs, GaP, GaSb, AlAs, AlP, AlSb, InAs, InP y InSb

Ternarios: GaAsP, AlGaAs

Cuaternarios: InGaAsP

Compuestos II-VI: ZnS, ZnSe, ZnTe, CdS, CdSe y CdTe

Son materiales de conductividad intermedia entre la

de los metales y la de los aislantes, que se modifica

en gran medida por la temperatura, la excitación

óptica y las impurezas.

Son materiales de conductividad intermedia entre la

de los metales y la de los aislantes, que se modifica

en gran medida por la temperatura, la excitación

óptica y las impurezas.

Materiales semiconductores (I)

ATE-UO Sem 01

Page 4: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

•Estructura atómica del Carbono (6 electrones)

1s2 2s2 2p2

•Estructura atómica del Silicio (14 electrones)

1s2 2s2 2p6 3s2 3p2

1s2 2s2 2p6 3s2 3p6 3d10 4s2 4p2

•Estructura atómica del Germanio (32 electrones)

4 electrones en la última capa4 electrones en la última capa

Materiales semiconductores (II)

ATE-UO Sem 02

Page 5: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

Distancia interatómica

Estados discretos(átomos aislados)

Carbono gaseoso (6 electrones) 1s2, 2s2, 2p2

Materiales semiconductores (III)

ATE-UO Sem 03

- 2s2-

Banda de estados

2p2

4 estados vacíos

- -

1s2--

Page 6: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

Reducción de la distancia interatómica del Carbono

Materiales semiconductores (IV)

ATE-UO Sem 04

Distancia interatómica

En

erg

ía

--

- -

--

Grafito:Hexagonal, negro, blando y conductor

Grafito:Hexagonal, negro, blando y conductor

----

Diamante:Cúbico, transparente, duro y aislante

Diamante:Cúbico, transparente, duro y aislante

----

Page 7: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

Si un electrón de la banda de valencia alcanzara la energía necesaria para saltar a la banda de conducción, podría moverse al estado vacío de la banda de conducción de otro átomo vecino, generando corriente eléctrica. A temperatura ambiente casi ningún electrón tiene esta energía.Es un aislante.

Si un electrón de la banda de valencia alcanzara la energía necesaria para saltar a la banda de conducción, podría moverse al estado vacío de la banda de conducción de otro átomo vecino, generando corriente eléctrica. A temperatura ambiente casi ningún electrón tiene esta energía.Es un aislante.

Banda prohibidaEg=6eV

Diagramas de bandas (I)Diagrama de bandas del Carbono: diamante

ATE-UO Sem 05

Banda de valencia4 electrones/átomo

--

--

Banda de conducción4 estados/átomo

En

erg

ía

Page 8: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

No hay banda prohibida. Los electrones de la banda de valencia tienen la misma energía que los estados vacíos de la banda de conducción, por lo que pueden moverse generando corriente eléctrica. A temperatura ambiente es un buen conductor.

No hay banda prohibida. Los electrones de la banda de valencia tienen la misma energía que los estados vacíos de la banda de conducción, por lo que pueden moverse generando corriente eléctrica. A temperatura ambiente es un buen conductor.

Diagramas de bandas (II)

Diagrama de bandas del Carbono: grafito

ATE-UO Sem 06

Banda de valencia4 electrones/átomo

Banda de conducción

4 estados/átomo

--

--E

ner

gía

Page 9: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

Si un electrón de la banda de valencia alcanza la energía necesaria

para saltar a la banda de conducción, puede moverse al estado

vacío de la banda de conducción de otro átomo vecino, generando

corriente eléctrica. A temperatura ambiente algunos electrones

tienen esta energía. Es un semiconductor.

Si un electrón de la banda de valencia alcanza la energía necesaria

para saltar a la banda de conducción, puede moverse al estado

vacío de la banda de conducción de otro átomo vecino, generando

corriente eléctrica. A temperatura ambiente algunos electrones

tienen esta energía. Es un semiconductor.

Diagramas de bandas (III)Diagrama de bandas del Ge

ATE-UO Sem 07

Eg=0,67eV Banda prohibida

Banda de valencia4 electrones/átomo--

--

Banda de conducción4 estados/átomo

En

erg

ía

Page 10: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

A 0ºK, tanto los aislantes como los semiconductores no conducen, ya que ningún electrón tiene energía suficiente para pasar de la banda de valencia a la de conducción. A 300ºK, algunos electrones de los semiconductores alcanzan este nivel. Al aumentar la temperatura aumenta la conducción en los semiconductores (al contrario que en los metales).

A 0ºK, tanto los aislantes como los semiconductores no conducen, ya que ningún electrón tiene energía suficiente para pasar de la banda de valencia a la de conducción. A 300ºK, algunos electrones de los semiconductores alcanzan este nivel. Al aumentar la temperatura aumenta la conducción en los semiconductores (al contrario que en los metales).

Eg

Banda de valencia

Banda de conducción

AislanteEg=5-10eV

Diagramas de bandas (IV)

ATE-UO Sem 08

SemiconductorEg=0,5-2eV

Eg

Banda de valencia

Banda de conducción

Banda de valencia

ConductorNo hay Eg

Banda de conducción

Page 11: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

No hay enlaces covalentes rotos. Esto equivale a que los electrones de la banda de valencia no pueden saltar a la banda de conducción.

No hay enlaces covalentes rotos. Esto equivale a que los electrones de la banda de valencia no pueden saltar a la banda de conducción.

Representación plana del Germanio a 0º K

ATE-UO Sem 09

- - - - -

- - - - -

- - -

- - -

--

--

--

--

- - - -

Ge

Ge

Ge

Ge

Ge Ge Ge Ge

- - - -

Page 12: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

•Hay 1 enlace roto por cada 1,7·109 átomos.

•Un electrón “libre” y una carga “+” por cada enlace roto.

•Hay 1 enlace roto por cada 1,7·109 átomos.

•Un electrón “libre” y una carga “+” por cada enlace roto.

ATE-UO Sem 10

Situación del Ge a 0ºK

Ge

Ge

Ge

Ge

Ge

Ge

Ge

Ge

- - - - -

- - - - -

- - -

- - -

--

- --

--

- - - -

- - - -

--

+

300º K (I)

Page 13: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

ATE-UO Sem 11

Situación del Ge a 300º K (II)

Ge

Ge

Ge

Ge

Ge

Ge

Ge

Ge

- - - - -

- - - - -

- - -

- - -

--

- --

--

- - - -

- - - -

--

+Generación

-

-

+

Recombinación

Generación

Siempre se están rompiendo (generación) y

reconstruyendo (recombinación) enlaces. La vida media

de un electrón puede ser del orden de milisegundos o

microsegundos.

Siempre se están rompiendo (generación) y

reconstruyendo (recombinación) enlaces. La vida media

de un electrón puede ser del orden de milisegundos o

microsegundos.

-

++-

-

Recombinación

Generación

Muyimportante

Page 14: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

+-

+ +

+ +

+ +

+

-------

ATE-UO Sem 12

-

Ge

Ge

Ge

Ge

Ge

Ge

Ge

Ge

- - - - -

- - - - -

- - -

- - -

--

- --

--

- - - -

- - - -

-

+

Aplicación de un campo externo (I)

•El electrón libre se mueve por acción del campo.

•¿Y la carga ”+” ?.

•El electrón libre se mueve por acción del campo.

•¿Y la carga ”+” ?.

- - --

Page 15: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

Ge

Ge

Ge

Ge

Ge

Ge

Ge

Ge

- - - - -

- - - - -

- - -

- - -

--

- --

--

- - - -

- - - -

--

+

+-

+ +

+ +

+ +

+

-------

ATE-UO Sem 13

Aplicación de un campo externo (II)

-

+--

•La carga “+” se mueve también. Es un nuevo portador de carga, llamado “hueco”.

•La carga “+” se mueve también. Es un nuevo portador de carga, llamado “hueco”.

Muyimportante

Page 16: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

Mecanismo de conducción. Interpretación en diagrama de bandas

ATE-UO Sem 14

---

-

Átomo 1

--

-

-

+

Átomo 2

---

-

Átomo 3

+- Campo eléctrico

+

-

-

Page 17: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

jp

jn

Existe corriente eléctrica debida a los dos portadores de carga:

jp=q·p·p· es la densidad de corriente de huecos.

jn=q·n·n· es la densidad de corriente de electrones.

Existe corriente eléctrica debida a los dos portadores de carga:

jp=q·p·p· es la densidad de corriente de huecos.

jn=q·n·n· es la densidad de corriente de electrones.

Movimiento de cargas por un campo eléctrico exterior (I)

+ +

+ +

+

- - - - -

ATE-UO Sem 15

-

-

+

+

-

-

+

+

-

-

+

+

-

-

+

+

-

-

+

+

-

-

+

+

-

-

+

+

-

-

+

+

-

-

+

+

-

-

+

+

Page 18: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

jp=q·p·p· jn=q·n·n·

Movimiento de cargas por un campo eléctrico exterior (II)

ATE-UO Sem 16

Ge(cm2/V·s)

Si(cm2/V·s)

As Ga(cm2/V·s)

n 3900 1350 8500

p 1900 480 400

q = carga del electrón

p = movilidad de los huecos

n = movilidad de los electrones

p = concentración de huecos

n = concentración de electrones

= intensidad del campo eléctrico

Muyimportante

Page 19: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

Todo lo comentado hasta ahora se refiere a los llamados “Semiconductores Intrínsecos”, en los que:

•No hay ninguna impureza en la red cristalina.

•Hay igual número de electrones que de huecos n = p = ni

Ge: ni = 2·1013 portadores/cm3

Si: ni = 1010 portadores/cm3

AsGa: ni = 2·106 portadores/cm3

(a temperatura ambiente)

¿Pueden modificarse estos valores?

¿Puede desequilibrarse el número de electrones y de huecos?

La respuesta son los Semiconductores Extrínsecos

¿Pueden modificarse estos valores?

¿Puede desequilibrarse el número de electrones y de huecos?

La respuesta son los Semiconductores Extrínsecos

Semiconductores Intrínsecos

ATE-UO Sem 17

Page 20: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

A 0ºK, habría un electrón adicional ligado al átomo

de Sb

A 0ºK, habría un electrón adicional ligado al átomo

de Sb

Tiene 5 electrones en la última capa

Semiconductores Extrínsecos (I)

Introducimos pequeñas cantidades de impurezas del grupo V

ATE-UO Sem 18

- - - - -

- - - - -

- - -

- -

--

- --

--

- - - -

Ge

Ge

Ge

Ge

Ge

Ge

Ge- - - -

Sb

-

-

-1

2

34

5 0ºK

Page 21: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

ATE-UO Sem 19

- - - - -

- - - - -

- - -

- -

--

- --

--

- - - -

Ge

Ge

Ge

Ge Ge Ge Ge

- - - -

Sb-

-

-1

2

34

5 0ºK

Semiconductores Extrínsecos (II)

300ºK

Sb+

5-

A 300ºK, todos electrones adicionales de los átomos de Sb están desligados de su átomo (pueden desplazarse y originar corriente

eléctrica). El Sb es un donador y en el Ge hay más electrones

que huecos. Es un semiconductor tipo N.

A 300ºK, todos electrones adicionales de los átomos de Sb están desligados de su átomo (pueden desplazarse y originar corriente

eléctrica). El Sb es un donador y en el Ge hay más electrones

que huecos. Es un semiconductor tipo N.

Page 22: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

-

En

erg

ía

Eg=0,67eV

4 electr./atm.

4 est./atm.0 electr./atm.

ESb=0,039eV

---

-

0ºK

El Sb genera un estado permitido en la banda prohibida, muy cerca de la banda de conducción. La energía necesaria para alcanzar la banda de conducción se consigue a la temperatura ambiente.

El Sb genera un estado permitido en la banda prohibida, muy cerca de la banda de conducción. La energía necesaria para alcanzar la banda de conducción se consigue a la temperatura ambiente.

Semiconductores Extrínsecos (III)

Interpretación en diagrama de bandas de un

semiconductor extrínseco Tipo N

ATE-UO Sem 20

3 est./atm.1 electr./atm.-

+

300ºK

Page 23: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

A 0ºK, habría una “falta de electrón” adicional ligado

al átomo de Al

A 0ºK, habría una “falta de electrón” adicional ligado

al átomo de Al

Tiene 3 electrones en la última capa

Semiconductores Extrínsecos (IV)

Introducimos pequeñas cantidades de impurezas del grupo III

ATE-UO Sem 21

- - - - -

- - - - -

- - -

- -

--

- --

--

- - - -

Ge

Ge

Ge

Ge Ge Ge Ge- - - -

Al

-12

3

0ºK

Page 24: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

A 300ºK, todas las “faltas” de electrón de los átomos de Al están cubiertas con un electrón procedente de un átomo de Ge, en el que se genera un hueco. El Al es un aceptador y en el Ge hay más huecos que electrones. Es un semiconductor tipo P.

A 300ºK, todas las “faltas” de electrón de los átomos de Al están cubiertas con un electrón procedente de un átomo de Ge, en el que se genera un hueco. El Al es un aceptador y en el Ge hay más huecos que electrones. Es un semiconductor tipo P.

Semiconductores Extrínsecos (V)

- - - - -

- - - - -

- - -

- -

--

- --

--

- - - -

Ge

Ge

Ge

Ge Ge Ge Ge

- - - -

Al

-12

3

0ºK

ATE-UO Sem 22

300ºK

Al-

+

-4 (extra)

Page 25: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

En

erg

ía

Eg=0,67eV

4 electr./atom.0 huecos/atom.

4 est./atom.

EAl=0,067eV

---

-

0ºK

+

-

3 electr./atom.1 hueco/atom.

300ºK

Interpretación en diagrama de bandas de un

semiconductor extrínseco Tipo P

ATE-UO Sem 23

Semiconductores Extrínsecos (VI)

El Al genera un estado permitido en la banda prohibida, muy cerca de la banda de valencia. La energía necesaria para que un electrón alcance este estado permitido se consigue a la temperatura ambiente, generando un hueco en la banda de valencia.

El Al genera un estado permitido en la banda prohibida, muy cerca de la banda de valencia. La energía necesaria para que un electrón alcance este estado permitido se consigue a la temperatura ambiente, generando un hueco en la banda de valencia.

Page 26: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

Semiconductores intrínsecos:•Igual número de huecos y de electrones

Semiconductores extrínsecos:

Tipo P:•Más huecos (mayoritarios) que electrones (minoritarios)

•Impurezas del grupo III (aceptador)

•Todos los átomos de aceptador ionizados “-”.

Tipo N:•Más electrones (mayoritarios) que huecos (minoritarios)

•Impurezas del grupo V (donador)

•Todos los átomos de donador ionizados “+”.ATE-UO Sem 24

ResumenMuy

importante

Page 27: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

Diagramas de bandas del cristal

ATE-UO Sem 25

Cristal de Ge con m átomos

Banda de conducción

Banda de valencia

4·m electrones

4·m estados

En

erg

ía

--

--

--

--

--

--

--

--

--

--

--

--

--

--

--

--

--

--

--

--

--

--

--

--

0ºK

-

300ºK

-

++

¿Cómo es la distribución de electrones , huecos y estados en la realidad?

¿Cómo es la distribución de electrones , huecos y estados en la realidad?

Page 28: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

Eg=0,67eV (Ge)Banda prohibida

gv(E)

gc(E)E

Ec

Ev

Densidad de estados en las bandas de conducción y valencia

ATE-UO Sem 26

E1 dE

Significado: gv(E1)·dE = nº de estados con energía E1 en los que puede haber electrones en la banda de valencia, por unidad de volumen. Lo mismo para la otra banda

gc(E)= densidad de estados en

los que puede haber electrones en la banda de conducción

gv(E)= densidad de estados en

los que puede haber electrones en la banda de valencia

Page 29: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

T=500ºK

T=0ºK

T=300ºK

f(E) es la probabilidad de que un estado de energía E esté ocupado por un electrón, en equilibrio

1 + e (E-EF)/kT

f(E) =1

Función de Fermi f(E)

ATE-UO Sem 27

EF=nivel de Fermi

k=constante de Boltzmann

T=temperatura absoluta

0

0,5

1

0

f(E)

EFE

Page 30: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

gv(E)

gc(E)

Estados posibles

Estados posibles

Ec

Ev

E

f(E)10,50

EF

Calculamos la concentración de electrones en la banda de conducción, “n”.

ATE-UO Sem 28

n = gc(E)·f(E)·dE

Ec

En general:

Estados vacíos completamente

Estados completamente llenos de electrones

f(E)b. cond.=0,luego n = 0

A 0ºK:

Page 31: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

Ec

Ev

Estados posibles

Estados posibles

gc(E)

gv(E)

Electrones

n electrones/vol.

E

f(E)

10,50

EF

Semiconductor intrínseco a alta temperatura(para que se puedan ver los electrones)

ATE-UO Sem 29

huecos

n = gc(E)·f(E)·dE

Ec

Page 32: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

Ec

Ev

Estados posibles

Estados posibles

gc(E)

gv(E)

1-f(E)

Huecos

Electrones

E

10,50

EF

f(E)

El nivel de Fermi tiene que ser tal que las áreas que representan huecos y electrones sean idénticas (sem.

intrínseco)

El nivel de Fermi tiene que ser tal que las áreas que representan huecos y electrones sean idénticas (sem.

intrínseco)

ATE-UO Sem 30

Calculamos la concentración de huecos en la banda de valencia, “p”.

-

p = gv(E)·(1-f(E))·dE = n

Ev

Page 33: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

f(E)

1-f(E)

Semiconductor intrínseco

n

p f(E)

1-f(E)

Semiconductor extrínseco tipo N

p

n

Sube el nivel de Fermi

f(E)

1-f(E)n

p

Semiconductor extrínseco tipo P

Baja el nivel de Fermi

ATE-UO Sem 31

Concentración de electrones y huecos en sem. intrínsecos, extrínsecos tipo N y extrínsecos tipo P

Page 34: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

n = gc(E)·f(E)·dE Nc·

Ec

e (EF-Ec)/kT

-

p = gv(E)·(1-f(E))·dE Nv·

Ev

e (Ev-EF)/kT

ni = pi = Nv·e = Nc·e (EFi-Ec)/kT(Ev-EFi)/kT

n = ni·e(EF-EFi)/kT (EFi-EF)/kT

p = ni·e

Nc es una constante que depende de T3/2

Nv es otra constante que depende de T3/2

Particularizamos para el caso intrínseco:

Eliminamos Nc y Nv:

p·n =ni2p·n =ni

2Finalmente obtenemos: Muyimportante

ATE-UO Sem 32

Relaciones entre “n”, “p” y “ni”

Page 35: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

Neutralidad eléctrica (el semiconductor intrínseco era neutro y la sustancia dopante también, por lo que también lo será el semiconductor extrínseco):

Dopado tipo N: n = p + ND

Dopado tipo P: n + NA = p

Ambos dopados: n + NA = p + ND

Dopado tipo N: n = p + ND

Dopado tipo P: n + NA = p

Ambos dopados: n + NA = p + ND

Producto n·p p·n =ni2p·n =ni

2

Simplificaciones si ND >> ni

n=ND ND·p = ni2

Simplificaciones si NA >> ni

p=NA NA·n = ni2

Ecuaciones en los semiconductores extrínsecos

ATE-UO Sem 33

ND= concentr. donador NA= concentr. aceptador

Muyimportante

Page 36: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

Ge

1 2

ATE-UO Sem 34

Diagrama de bandas con un campo eléctrico interno y en equilibrio

+ +

+ +

- - - -

V1 V2

EFi = EFi2-EFi1 =

= (V2 - V1)·(-q) =

= (V1 - V2)·q Ev

EFi

Ec

1 2

Ev

EFi

Ec EFi2

(V1-V2)·q

EFi1

Si existe un campo y estamos en equilibrio, cambian las concentraciones de los portadores. A la inversa pasa lo mismo.

Si existe un campo y estamos en equilibrio, cambian las concentraciones de los portadores. A la inversa pasa lo mismo.

El nivel de Fermi es el mismo en todo el cristal (equilibrio).

El nivel de Fermi es el mismo en todo el cristal (equilibrio).

+

++

----

+

EF

n > nip > ni

Page 37: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

-

-

-

-

-

-

-

-

-

-

- -

-

-

-

-

-

-

Los electrones se han movido por difusión (el

mismo fenómeno que la difusión de gases o de

líquidos).

Los electrones se han movido por difusión (el

mismo fenómeno que la difusión de gases o de

líquidos).

Difusión de electrones (I)

ATE-UO Sem 35

jn

-

-

-

-

-

-

-

-

-

-

- - -

--

-

-

-

jn

1 2

n1 n2< n1

Page 38: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

-

-

- -

-

-

-

-

-

-

-

-

-

-

-

- -

-1 2

n1n2< n1

jn

Difusión de electrones (II)

ATE-UO Sem 36

n

La densidad de corriente a la que dan origen es proporcional al

gradiente de la concentración de electrones:

jn=q·Dn· n

La densidad de corriente a la que dan origen es proporcional al

gradiente de la concentración de electrones:

jn=q·Dn· n

Mantenemos la concentración distinta

Page 39: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

Los huecos se han movido por difusión (el mismo

fenómeno que la difusión de electrones).

Los huecos se han movido por difusión (el mismo

fenómeno que la difusión de electrones).

Difusión de huecos (I)

ATE-UO Sem 37

jp

1 2

p1 p2< p1

+ + +

+ + + + + ++

++++

++

++

+

+

+

+ +

+

+

+

+

++

++++

+

+

+

+

Page 40: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

jp

Difusión de huecos (II)

ATE-UO Sem 38

p

1 2

p1p2< p1

+

+

+

+ + + +

+ + +

+++

+

++

++ Mantenemos la concentración distinta

La densidad de corriente es proporcional al gradiente de la

concentración de huecos, aunque su sentido es opuesto:

jp=-q·Dp· p

La densidad de corriente es proporcional al gradiente de la

concentración de huecos, aunque su sentido es opuesto:

jp=-q·Dp· p

Page 41: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

Dn = Constante de difusión de electrones Dp = Constante de difusión de huecos

jn=q·Dn· n

jp=-q·Dp· p

Nótese que las corrientes de difusión no dependen de las concentraciones, sino de la variación espacial (gradiente) de las concentraciones.

Nótese que las corrientes de difusión no dependen de las concentraciones, sino de la variación espacial (gradiente) de las concentraciones.

Resumen de la difusión de portadores

ATE-UO Sem 39

Ge(cm2/·s)

Si(cm2/·s)

As Ga(cm2/·s)

Dn 100 35 220

Dp 50 12,5 10 Muyimportante

Page 42: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

Equilibrio: jn difusión+ jn campo=0Equilibrio: jn difusión+ jn campo=0

Equilibrio difusión-campo para electrones (I)

ATE-UO Sem 40

-

-

-

-

-

-

-

-

-

-

-

-

-

-

-

- -

-

1 2

n1 n2< n1

+ +

+ +

+

- - - - -

jn difusión

jn difusión=q·Dn·dn/dx

jn campo

jn campo=q·n·n·

Page 43: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

Equilibrio difusión-campo para electrones (II)

ATE-UO Sem 41

jn difusión=q·Dn·dn/dx jn campo=q·n·n· =-dV/dx

Sustituimos e integramos:

V21=V2-V1=-(Dn/n)·ln(n1/n2)V21=V2-V1=-(Dn/n)·ln(n1/n2)

-

-

-

-

-

-

-

-

-

-

-

-

-

-

-

- -

-

1 2

n1 n2< n1

+ +

+ +

+

- - - - -

V1 V2

Page 44: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

+

+

+

+ + + +

+ + +

+++

+

+

+

++

p2< p1p1

Equilibrio: jp difusión+ jp campo=0Equilibrio: jp difusión+ jp campo=0

Equilibrio difusión-campo para huecos (I)

ATE-UO Sem 42

+ +

+ +

+- - - - -

jp difusión

jp difusión=-q·Dp·dp/dx

jp campo

jp campo=q·p·p·

Page 45: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

Equilibrio difusión-campo para huecos (II)

ATE-UO Sem 43

jp difusión=-q·Dp·dp/dx jp campo=q·p·p· =-dV/dx

Sustituimos e integramos:

V21=V2-V1=(Dp/p)·ln(p1/p2)V21=V2-V1=(Dp/p)·ln(p1/p2)

2

p1 p2< p1

+ +

+ +

+- - - - -

V1V2

+

+

+

+ + + +

+ + +

+++

+

+

+

++1

Page 46: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

Equilibrio difusión-campo para electrones y huecos (I)

ATE-UO Sem 44

1 2

p1, n1p2, n2

+

+

+

+ + +

+ + +

++

+

++

+

+

+ +

+ +

+- - - - -

V1V2

-

-

-

-

-

-

-

-

-

-

-

-

-

-

-

-

V21 = V2-V1 = (Dp/p)·ln(p1/p2)

V21 = V2-V1 = -(Dn/n)·ln(n1/n2)

p1.n1 = ni2 p2.n2 = ni

2

Partimos de:

Page 47: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

Equilibrio difusión-campo para electrones y huecos (II)

ATE-UO Sem 45

Partimos de:

se obtiene: p1/p2 = n2/n1

Dn/n = kT/q = VT (Relación de Einstein)

también: Dn/n = Dp/p = kT/q = VT

(VT = 26mV a 300ºK)

Dn/n = kT/q = VT (Relación de Einstein)

también: Dn/n = Dp/p = kT/q = VT

(VT = 26mV a 300ºK)

n1 = ni·e(EF-EFi1)/kT

n2 = ni·e(EF-EFi2)/kT

EFi2-EFi1 =q·(V1-V2)

Dp/p = Dn/n

n2/n1 = eq·(V2-V1)/kT

se obtiene: y, por tanto:

V2-V1 = (Dn/n)·ln(n2/n1) = (Dn/n)· q·(V2-V1)/kT

Page 48: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

Equilibrio difusión-campo para electrones y huecos (III)

ATE-UO Sem 46

Muyimportante

1

p1, n1

+

+

+ + + +

++

+

++

+

+

-

-

-

-

-

-

-

-

-

-

-

+ +

+

- - -

V1 V2

2

p2<p1

n2>n1

V2-V1 = VT·ln(p1/p2)

V2-V1 = VT·ln(n2/n1)n2/n1 = e

(V2-V1)/ VT

p1/p2 = e(V2-V1)/ VT

ó

Resumen:

(VT = 26mV a 300ºK)

Page 49: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

Evolución temporal de un exceso en la concentración de minoritarios (I)

ATE-UO Sem 47

Partimos de un semiconductor tipo N. Dibujamos los pocos huecos

N+ + + + +

p En t<0, p(t) = p

N+ + + + +

p

En t=0, incide luz (por ejemplo), por lo que: p=n p(0)=p0>>pn(0)=n0 n

(Hipótesis de baja inyección)

N+ + + + +

p0+

+

+

+

+

+

+

+

Page 50: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

Evolución temporal de un exceso en la concentración de minoritarios (II)

ATE-UO Sem 48

N+ + + + +

p0+

+

+

+

+

+

+

+

Definimos el “exceso de minoritarios”:

p’(t)=p(t)- p p’0= p0-p

Cesa la luz. Hay un exceso de concentración de

huecos con relación a la de equilibrio térmico. Se

incrementan las recombinaciones.

Cesa la luz. Hay un exceso de concentración de

huecos con relación a la de equilibrio térmico. Se

incrementan las recombinaciones.

Page 51: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

Evolución temporal de un exceso en la concentración de minoritarios (III)

ATE-UO Sem 49

t=0 , p0

N+ + + + +

p0+

+

+

+

+

+

+

+

N+ + + + +

p0+

+

+

+

+

+

+

+

t=t1 , p1<p0

N+ + + + +

p1

+

+

+

+

N+ + + + +

p1

+

+

+

+t= , p<p1

N+ + + + +

p

Page 52: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

p

p(t)

p

p0

t

p1 p2

t1 t2

¿Cómo es esta curva?

p’0p’(t)

t

p’1 p’2

t1 t2

Representamos el exceso de concentración

Evolución temporal de un exceso en la concentración de minoritarios (IV)

ATE-UO Sem 50

Page 53: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

p p

p0 p(t)

t

La tasa de recombinación de huecos debe ser proporcional al exceso en su concentración:

-dp/dt = K1·p’ (nótese que dp/dt = dp’/dt)

Integrando:

p(t) = p+p-p)·e-tp

donde p= 1/K1 (vida media de los huecos)

Evolución temporal de un exceso en la concentración de minoritarios (V)

ATE-UO Sem 51

Muyimportante

Page 54: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

Interpretaciones de la vida media de los huecos p

Lo mismo con los electrones

Evolución temporal de un exceso en la concentración de minoritarios (VI)

ATE-UO Sem 52

p p

p0

p(t)t

p

Tangente en el origen

Mismo área

Idea aproximada

p p

p0

p(t)t

p

Page 55: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

Ecuación de continuidad (I)

ATE-UO Sem 53

1 2

jp1jp2

1º Acumulación de huecos al entrar y salir distinta densidad de corriente

Objetivo: relacionar la variación temporal y

espacial de la concentración de los portadores.

El cálculo se realizará con los huecos

¿Por qué razones puede cambiar en el tiempo la

concentración de huecos en este recinto?

¿Por qué razones puede cambiar en el tiempo la

concentración de huecos en este recinto?

Page 56: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

Ecuación de continuidad (II)

ATE-UO Sem 54

+ -+

-

2º Recombinación de los huecos o electrones que pueda haber en exceso

1 2

¿Por qué razones puede cambiar en el

tiempo la concentración de huecos en este

recinto?

¿Por qué razones puede cambiar en el

tiempo la concentración de huecos en este

recinto?

Page 57: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

Ecuación de continuidad (III)

ATE-UO Sem 55

+

-

+

-

3º Generación de un exceso de concentración de huecos y electrones por luz

1 2

¿Por qué razones puede cambiar en el tiempo

la concentración de huecos en este recinto?

¿Por qué razones puede cambiar en el tiempo

la concentración de huecos en este recinto?

Luz

Page 58: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

jp(x)A

Carga eléctrica que entra por unidad de tiempo: jp(x)·A

jp(x+dx)

A

Carga eléctrica que sale por unidad de tiempo: jp(x+dx)·A

Ecuación de continuidad (IV)

ATE-UO Sem 56

dx

1º Acumulación de huecos al entrar y salir distinta densidad de corriente

q·A·dx

jp(x)·A-jp(x+dx)·A

Variación de la concentración de huecos en el volumen A·dx por unidad de tiempo:

Page 59: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

La variación de la concentración de huecos por unidad

de tiempo en el volumen A·dx, será : -[p(t)- p]/p

Si la corriente varía en 3 dimensiones, la variación de la concentración de huecos por unidad de tiempo en el volumen A·dx, será :

· jp/q -

La variación de la concentración de huecos por unidad

de tiempo en el volumen A·dx debida a luz: GL

Ecuación de continuidad (V)

ATE-UO Sem 57

1º Acumulación de huecos al entrar y salir distinta densidad de corriente (continuación)

2º Recombinación de los huecos que pueda haber en exceso

3º Generación de un exceso de concentración de huecos por luz

Page 60: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

Ecuación de continuidad para los huecos:

·jp/q-

p/t = GL- [p(t)-p]/p

Igualmente para los electrones:

·jn/q+

n/t = GL- [n(t)-n]/n

Ecuación de continuidad (VI)

ATE-UO Sem 58

Muyimportante

Page 61: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

pN’/t = GL-pN’/p+Dp·2pN’/x2

nP’/t = GL-nP’/n+Dn·2nP’/x2

pN’/t = GL-pN’/p+Dp·2pN’/x2

nP’/t = GL-nP’/n+Dn·2nP’/x2

Admitiendo: • 1 dimensión (solo x)• estudio de minoritarios (huecos en zona N y

electrones en zona P)• campo eléctrico despreciable (=0)• bajo nivel de inyección (siempre menos

minoritarios que mayoritarios)

Caso de especial interés en la aplicación de la ecuación de continuidad

ATE-UO Sem 59

d(jp zonaN )/dx = -q·Dp·2p/x2

d(jn zonaP )/dx = q·Dn·2n/x2

Queda:

Page 62: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

x xN

+ + + ++

+

++

+ N

Hay que resolver la ecuación de continuidad en este caso:

0 = -pN’/p+Dp·2pN’/x2

La solución es:

pN’(x) = C1·e-x/Lp + C2·ex/Lp

donde Lp=(Dp· p)1/2 (Longitud de Difusión de huecos)

Inyección continua de minoritarios por una sección (régimen permanente) (I)

ATE-UO Sem 60

+

+

+

+

+

+

+

+

+ +

+ +

Page 63: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

Si XN>>Lp ,entonces:

C2=0 C1=pN(0)-pN()=pN0-pNp’N0

Por tanto: pN(x) = pN+pN0-pN)·e-xLppN(x) = pN+pN0-pN)·e-xLp

A esta conclusión también se llega integrando:

-dpN’(X)/dx = K2·pN’(x)

y teniendo en cuenta que:

Lp= 1/K2 , pN()= pN sin inyección

(proceso paralelo al seguido para calcular la evolución en el tiempo en vez de en el espacio)

Inyección continua de minoritarios por una sección (régimen permanente) (II)

ATE-UO Sem 61

Page 64: Introducción a la Electrónica de Dispositivos Universidad de Oviedo Área de Tecnología Electrónica Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica, de

Lp

Tangente en el origen

ATE-UO Sem 62

Interpretación de la longitud de difusión de los huecos Lp

Con los electrones minoritarios de una zona P sucede lo mismoCon los electrones minoritarios de una zona P sucede lo mismo

Muyimportante

pN(x)pN pN

pN0

x

Idea aproximada

pN pN

pN0pN(x)

xLp

Mismo área