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ACTIVIDADES PROPUESTAS PARA EL DESARROLLO DE LA CLASE LIBETH GUTIERREZ RANGEL VOLMAR JAIMES BALLESTERO NESTOR PEÑA ORTIZ. 1. ESTRUCTURA BÁSICA DE UN SISTEMA DE MEDICIÓN DIGITAL Discuta con sus compañeros y el profesor los aspectos básicos de cada uno de los bloques que conforman un equipo de medición digital como se muestra en la siguiente figura. Estableciendo los parámetros que deben considerarse en cada uno de los bloques y el efecto de estos en las especificaciones metrológicas de las medidas realizadas con el equipo. Observamos que en el primer bloque se recibe la señal en tiempo como tensión o corriente que están variando de forma continua en el tiempo, estas señales tienen un máximo y un minino que cuando se encuentra entre el rango que posee el dispositivo la señal este aprovecha la relación señal/ruido del dispositivo. El segundo bloque recibe la señal y empieza un proceso de muestro y cada valor muestreado lo convierte en un numero binario donde es almacenado. Aspectos a tener en cuenta: 1. Frecuencia de muestreo esta debe ser mayor a la frecuencia de Nyquist. 2. Ventanas de observación: la frecuencia de muestreo debe ser múltiplo entero de la frecuencia de muestro para que se pueda tomar una ventana de observación. 3. El ancho de banda

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ACTIVIDADES PROPUESTAS PARA EL DESARROLLO DE LA CLASELIBETH GUTIERREZ RANGELVOLMAR JAIMES BALLESTERONESTOR PEA ORTIZ.

1. ESTRUCTURA BSICA DE UN SISTEMA DE MEDICIN DIGITAL

Discuta con sus compaeros y el profesor los aspectos bsicos de cada uno de los bloques que conforman un equipo de medicin digital como se muestra en la siguiente figura. Estableciendo los parmetros que deben considerarse en cada uno de los bloques y el efecto de estos en las especificaciones metrolgicas de las medidas realizadas con el equipo. Observamos que en el primer bloque se recibe la seal en tiempo como tensin o corriente que estn variando de forma continua en el tiempo, estas seales tienen un mximo y un minino que cuando se encuentra entre el rango que posee el dispositivo la seal este aprovecha la relacin seal/ruido del dispositivo.El segundo bloque recibe la seal y empieza un proceso de muestro y cada valor muestreado lo convierte en un numero binario donde es almacenado.Aspectos a tener en cuenta:1. Frecuencia de muestreo esta debe ser mayor a la frecuencia de Nyquist.2. Ventanas de observacin: la frecuencia de muestreo debe ser mltiplo entero de la frecuencia de muestro para que se pueda tomar una ventana de observacin.3. El ancho de banda 4. Acondicinenlo del nivel de tensin: este debe tener un nivel adecuado para el equipo acondiciones la seal de manera adecuada adems que no sufra daos fsicos.

2) Analisis de muestreo de seales continuas peridicas.Considere que la seal de tensin de un sistema elctrico de baja tensin es:

Dibujar las seales muestreadas Xs(t) y las seales discretas (x[n]) para < t < 1/150 [s], que resultan de este proceso, considerando que se utiliza un sistema de muestreo ideal con los siguientes periodos de muestreo: MUESTRAS: 1VENTANA DE OBSERVACION: 1

MUESTRAS: 2VENTANA DE OBSERVACION: 1

MUESTRAS: 5VENTANA DE OBSERVACION: 2

MUESTRAS: 3VENTANA DE OBSERVACION: 1

MUESTRAS: 4VENTANA DE OBSERVACION: 1

MUESTRAS: 16VENTANA DE OBSERVACION: 1

MUESTRAS: 50VENTANA DE OBSERVACION: 3

MUESTRAS: 64

VENTANA DE OBSERVACION: 1

b) dibuje los espectros de las seales muestreadas (Xs(jw)) en el intervalo -150 Hz < f < 150 Hz Los espectros presentados anteriormente son para fs1=60 Hz fs2=240 Hz fs3=960 Hzc) dibuje los espectros de las cuatro seales discretas (X(exp(jw))

d) evalu el valor eficaz y mximo de las seales discretas obtenidas y comprelo con el de la seal continua que se ha muestreado, estableciendo los errores que se presentan:Con f.muestro6012015018024096010003840

V rms [V] 179.605179.605127127127127127217

V max [V]179.605179.605179.605179.605179.605179.605179.605179.605

e) repita el numeral anterior considerando los siguientes valores de:Con f.muestro6012015018024096010003840

V rms [V] 155.543155.542127127127127127217

V max [V]155.543155.543178.621155.542155052178.068179.565179.508

Con f.muestro6012015018024096010003840

V rms [V] 127127127127127127127217

V max [V]127127177.3938173.4852127179.60512179.5165179.605

Con f.muestro6012015018024096010003840

V rms [V] 89.80289.802127127127127127217

V max [V]89.802989.802175.68179.605155.542178.068179.447179.508

Con f.muestro6012015018024096010003840

V rms [V] 00127127127127127217

V max [V]00170.814155.543179.605179.605179.251179.605

3) RESPUESTA EN FRECUENCIA DE SEALES DISCRETAS PERIODICAS.Considere que las seales de tensin y corrientes son:

Estas dos seales son muestreadas para estimar parmetros del sistema elctrico, para lo cual se adquieren muestras inicialmente con una frecuencia de muestreo Fs1 = 960 Hz y posteriormente Fs2 = 1400 Hz.i. Debata con sus compaeros si los dos procesos de muestreo son adecuados, de acuerdo con las caractersticas de las seales continuas.Solucin: El proceso de muestreo de las dos seales es adecuado porque se comprob que a la frecuencia mayor o al armnico ms grande al dividirlo por la frecuencia de muestreo debe dar menor que pi y en los dos casos en Fs1 y Fs2 cumplen satisfactoriamente.Ambas frecuencias de muestreo cumplen con el Teorema de Nyquist; Fs1 es ciertamente 3.2 veces mayor a la frecuencia del sistema.

Y analizamos que f2 es mayor que las del sistema.

ii. Dibuje los espectros de las dos seales continuas muestreadas de tensin (Vs(jw)) que se obtienen, en el intervalo de -1500 Hz < f