MEDIR - COMPROBAR CONTROLAR · Lupa de Steinheil 14 x 12 mm 1994-4 Lupa de Steinheil 20 x 7 mm 1996 Lupa magnética 5 x 20 mm 1996-L Lupa de mano con luz 4 x 40x40 mm 1997 Lupa de

MEDIR - COMPROBARCONTROLAR

con lupas, microscopios y sistemas de vídeo móviles

2

Componentes

3

4 - 15

Lupas – la gran selección de lupas estándares y especiales 16 - 35

Microscopio medidor – Construcción pequeña e imágenes perfectas 36 - 37

Lupa luminosa LPL – Para uso industrial intenso38 - 47

Sistemas de medición de vídeo – sistemas móviles de medición y comprobación 48 - 51

Cellcheck MOT-USB – El sistema de medición de profundidad motorizado52 - 53

Flexocheck – Medición reproducible de placas de compresión de polímero56 - 57

Meshcheck – Medición de tejido en la filtración y la serigrafía58 - 59

Reglas graduadas de vidrio CS– Los clásicos en la medición de longitud 60 - 65

Electronic-Scale – El estándar en la industria gráfica

Contenido

4 5

Lupas

2001-15 2001-25 2001-50 2051-302001-75 2001-100 2036-25 2036-50 2050-25 2050-50 2050-75 2050-100 2051-60

2053

2041

2039

2039-T

1976

2004

1994-2

1994-4

1987 2028 1998 1966 2023

2052

1999 19752015 1983 2049

2016

2026-20

2026-15 2026-8 1967-C

1985-101985-7

2017-82017-6

1989

1986

2047

1997

2022-352022-552022-75

3407 SA01209 SA01006 SA33407 SA31209 SA3

20192021-222021-15

1985-201985-14

A 16 D A 20 D A 26 D AWA 13 DV 26 DV 20 DV 16 DV 13 D

1006 SA0

2018 2018-P.H.2046

2038 2018-SET

19611993 1960

2003 WA3

1972-500 S1972

50 mm

1972 100 mm

1972 200 mm

1972 300 mm

1972-300 S

1504 WA3

1006 WZ33048 WZ3

1209 WZ3

1996-L

5100

20272010 2008-25 2008-50 2008-75

2008-1002008-L.H.

20321962

196419961990-71990-4

20442037

2054-EIM-20

2034-3002034-2002034-1502034-1002034-602034-402034-202009-1002009-602009-402009-20

2054-3002054-2002054-1502054-1002054-602054-402054-20

2016-L2037-L

2054-EIM-40 2054-EIM-60 2054-EIM-100

BG-filter

20002020 2030

2035 II2035 II

2033-90 2033-100 2033-115

Índice / Innehåll / Contenuto / Contenido

8

Cod. prod.

Núm. Pedido Aplicación / Tipo Ampliación Escala Longitud de medición Campo visual Lente Foco

1006-SA0 Cuentahilos 6 x 1,0 mm 25x25 mm 25x25 mm


1006-WZ3 Cuentahilos 6 x 1,0 mm 25x25 mm 25x25 mm




1504-WA3 Cuentahilos 4 x 1,0 mm 40x40 mm 40x40 mm

1960 Lupa simple 5 x 35 mm




1966 como 1961, con luz 10 x 28 mm

1967-C Color Tone Viewer, filtro

1972-50 Regla graduada de vidrio con lupa 15 x 0,1 mm 50 mm 15 mm




1972-300-S vea pagina 59, Reglas graduadas CS




1975 Lupa de medición 7 x 0,1 mm 20 mm 26 mm

1976 Lupa de medición con 5 escalas 7 x 0,1 mm 20 mm 26 mm


1985-7 Lupa de Steinheil 7 x 16 mm




1986 Lupa magnética 5 x 20 mm

1987 Lupa de mano con luz 4 x 40x40 mm

1989 Lupa de mano, redonda 2,5 x 75 mm

1990-4 Lupa para diapositivas con corrección cromática 4 x 0,1 mm 60 mm 60 mm

1990-7 Lupa para diapositivas con corrección cromática 7 x 0,1 mm 40 mm 40 mm

1993 Lupa con pie ventosa (1961) 10 x 28 mm

1994-2 Estereolupa 2 x

1994-4 Estereolupa 4 x


1996-L Lupa simple con luz 30 x 7 mm

1997 Lupa de mano, redonda 3 x 50 mm

1998 Lupa de medición con luz (1975) 7 x 0,1 mm 20 mm 26 mm

1999 Lupa de ajuste, telecentrica 7 x 0,1 mm 20 mm 24 mm

2000 Regulador de la nitidez granular 10 x 30°

2001-15 Microscopio-lápiz 15 x 5,40 mm





2003-WA3 Cuentahilos 3 x 1,0 mm 52x52 mm 52x52 mm

2004 Lupa de medición con 5 escalas 10 x 0,1 mm 30 mm 32 mm

2008-25 Microscopio de medición 25 x 0,05 mm 3 mm 3,3 mm

2008-50 Microscopio de medición 50 x 0,02 mm 1,6 mm 2 mm

2008-75 Microscopio de medición 75 x 0,01 mm 1 mm 1,1 mm

2008-100 Microscopio de medición 100 x 0,005 mm 0,8 mm 0,84 mm

2008-L.H Iluminación para 2008

2009-20 Microscopio de medición con luz 20 x 0,05 mm 6 mm 7,2 mm

2009-40 Microscopio de medición con luz 40 x 0,02 mm 3,4 mm 4,3 mm



2010 Medición de la dureza Brinell 20 x 0,05 mm 6,0 mm 7,2 mm



2016-L Lupa de medición con luz 15 x 0,1 mm 14 mm 20 mm

2017-6 Lupa de corbata 6 x 15 mm

2017-8 Lupa de corbata 8 x 15 mm

2018 Lupa para diapositivos de 24 x 36 mm 8 x 1 mm 30 mm 24x30 mm

2018-P.H. Portador y perforadora para 2018

2018-SET Lupa para diapositivas con box d iluminación 8 x 1 mm 30 mm 24x30 mm

2019 Lupa plegable, plástico 15 x 19 mm


2021-15 Lupa con giro lateral 15 x 19 mm

2021-22 Lupa con giro lateral 22 x 11 mm

2022-35 Lupa de mano aplanética 4 x 35 mm

2022-55 Lupa de mano aplanética 3 x 55 mm

2022-75 Lupa de mano aplanética 1,3 x 75 mm

Plastica / Plástico Si / SiVetro / Vidrio No / NoAngulo di apertura / Ángulo de abertura

Lista de tipos

9

Núm. Pedido Aplicación / Tipo Ampliación Escala Longitud de medición Campo visual Lente Foco

2023 Lupa simple con luz 15 x 19 mm

2026-8 para microfichas, diapositivas 8 x 24x36 mm

2026-15 Lupa para microfichas 15 x 19 mm

2026-20 Lupa para microfichas 20 x 11 mm

2027 8x20 Monocular, de ajuste 20 x 20 mm

2028 Lupa de medición con luz 10 x 0,1 mm 30 mm 32 mm



2033-90 Lupa para retoques 2 x 90 mm










2035-II Lupa de sujeción a la cabeza, 4 aumentos 4 x

2036-25 Microscopio-lápiz 25 x 0,05 mm 3,0 mm 3,3 mm

2036-50 Microscopio-lápiz 50 x 0,02 mm 1,6 mm 2,0 mm

2037 Lupa de medicón 30 x 0,05 mm 5,0 mm 7,0 mm

2037-L Lupa de medición con luz 30 x 0,05 mm 5,0 mm 7,0 mm

2038 Lupa para diapositivas con luz incidente y con contraluz 4 x 40x40 mm

2039 Estereomicroscopio 2 x 260x200 mm

2039-T Binocular para 2039 7,2 x 210x150 mm

2041 Combilupa, quadrada 2 x 100x80 mm

2044 Lupa zoom 8 - 16x 8-16 x 0,1 mm 16 mm 10-20 mm

2044-L.H. Iluminación para 2044 y 1983

2046 Iluminación para 2026 y 2018

2047 Lupa de colgar 3 x 28 mm

2048-A13D Lupa de relojero, aluminio 3,3 x 13 mm

2048-A16D Lupa de relojero, aluminio 4 x 16 mm

2048-A20D Lupa de relojero, aluminio 5 x 20 mm

2048-A26D Lupa de relojero, aluminio 6,7 x 26 mm

2048-AW Lupa de relojero, aluminio 10 x 38 mm

2048-V13D Lupa de relojero, vinilo 3,3 x 13 mm

2048-V16D Lupa de relojero, vinilo 4 x 16 mm

2048-V20D Lupa de relojero, vinilo 5 x 20 mm

2048-V26D Lupa de relojero, vinilo 6,7 x 26 mm

2049 con diafragma de iris, filtro azul 10 x 0,1 mm 28 m 20 mm

2050-25 Microscopio-lápiz, lectura directa 25 x 0,05 mm 3,5 mm 3,0 mm




2051-30 Microscopio-lápiz, similar 2001 30 x 5,8 mm

2051-60 Microscopio-lápiz, similar 2001 60 x 3,5 mm

2052 Lupa especial con diafragma, aplanética 3 x 0,1 mm 60 mm 70 mm

2053 Lupa de mesa 2 x 103x139 mm








2054-20-EIM Presentación de la lectura directa 20 x 0,1 mm 6,0 mm 7,2 mm




2054-40-CIL Microscopio de medición con iluminación coaxial 40 x 0,5 mm 3,0 mm 3,6 mm






2055 Lupa de medición 20 x 0,1 mm 8,0 mm 12,0 mm

2055-L Lupa de medición con luz 20 x 0,1 mm 8,0 mm 12,0 mm

2056-25 Microscopio-lápiz, lectura directa 25 x 3,0 mm

2056-50 Microscopio-lápiz, lectura directa 50 x 1,6 mm

2066 Lupa zoom 10 - 20x 10-20 x 0,1 mm 16 mm 10-20 mm




5100 Microscopios de distancia 8-27 x 5,5-19 mm

Plastica / Plástico Si / SiVetro / Vidrio No / NoAngulo di apertura / Ángulo de abertura

Lista de tipos


10 11

Cuentahilos: Bastidores precisos de metal, lentes de vidrio de al-ta calidad y superficies perfectas garantizan una larga vida útil. Es-pecialmente los cuentahilos WZ3 y WA3 con lente doble proporcionan una representación prácticamente sin distorsión hasta los bordes. Los modelos SA3 y SA0 están disponibles, a elección, con 9, 7 y 6 aumentos. La versión WZ3, en cambio, puede pedirse para 9, 8 y 6 aumentos. El pie de apoyo po-see una graduación milimétrica. El bastidor exclusivo del cuentahilos WA3, que es el mayor de todos, está dotado de una lente doble. El recorte de la base de 40 x 40 ó 52 x 52 milímetros facilita el control de diapositivas o el retoque. Vea los cuentahilos de bajo precio para fines publicitarios en la página 31. Cuentahilos con graduación de vi-drio de 0,1 milímetros en la página 33. Vea los datos de todos los mo-delos en las páginas 8 y 9.

Lupas simples: Lupas simples para el control rápido en el local mismo. Los aparatos livianos, de precio reducido, constan de una carcasa de plástico con un anillo acrílico transparente que permite la in-cidencia sin obstáculos de la luz. Las lentes de plástico a prueba de

Cuentahilos

rotura, sin embargo, no son foca-lizables, por lo tanto, no hay com-pensación de las dioptrías. En caso de problemas con la agudeza de la vista, recomendamos las lupas de medición, ver página 13. Los seis aumentos diferentes se sitúan en-tre 5 y 30 aumentos. La lupa de 10 aumentos está disponible, además, en dos dimensiones diferentes. Pa-ra condiciones especialmente difí-ciles de visibilidad, suministramos las lupas de 10, 15 y 30 aumentos también en una versión con ilumi-nación. Una lámpara cilíndrica con dos pilas comerciales de 1,5 voltios (no comprendidas en el volumen de entrega) ilumina el campo vi-sual. La lupa de 30 aumentos se entrega en un estuche. Para estas lupas no se suministran escalas de medición. Encontrará los datos exactos de todas las lupas simples en la lista de tipos en las páginas 8 y 9.

-

SA3 SA0 WZ3

WA3

1960 19622032 1961 1964 1996

1996-L


12 13

Lupas de medición: Las lupas de

medición de 7, 10, 15 y 20 aumen-tos vienen dotadas con graduacio-nes de precisión de 0,1 milímetros. El gran aumento de 30 posee una graduación más fina de 0,05 mi-límetros. La lupa de 10 aumentos ofrece un campo visual especial-mente amplio, permitiendo un al-cance máximo de medición de 30 milímetros. Para mediciones sobre fondos oscuros, se suministra la escala número 8 en blanco. En-contrará la gran oferta de escalas para lupas de 7 y 10 aumentos, así como los repuestos suministrables, en las páginas 27 y 29. Todas las cinco lupas de medición están dis-ponibles también con iluminación. Las lupas de 7 y 10 aumentos se suministran como juego en una caja con cinco escalas. Las escalas podrán seleccionarse libremente de nuestro surtido en la página 27.

Lupa telecéntrica: En la lupa telecéntrica, los objetos que se encuentran a diferentes distancias debajo de la lupa aparecen con el

Lupas de medición

mismo aumento, o sea, a un mismo nivel. Esto permite una medición sin error. Debido a los diafragmas con diámetros de 0,5, 1 y 3 milí-metros, la medición es exenta de paralaje. Por esta razón, esta lupa se utiliza también para trabajos de ajuste. La escala posee una gra-duación de 0,1 milímetros y una cruz reticular.

Lupa zoom: Con la distancia fo-cal variable, esta lupa es única. El rango de 8 a 16 aumentos permite un campo visual de 20 a 10 milímetros. Una compensación de +2,5 a –5 dioptrías, una escala de medición con una graduación de 0,1 milímetros, así como una graduación adicional de 0,005 pul-gadas, no deja nada que desear. La lupa se entrega en un estuche

de cuero. Sobre demanda, puede suministrarse con iluminación. Esta óptica de cinco lentes es un medio de trabajo de primera categoría para técnicos y peritos. Novedad: Suministrable como lupa de zoom 10 - 20x (2066).

Lupas anastigmáticas: Opticas en que se ha eliminado la distorsión por la incidencia oblicua de los rayos y la curvatura del campo de la imagen. Además, la lupa es co-rregida cromáticamente. De esta forma, es especialmente adecuada para la apreciación de diapositivas, el uso en la dermatología o para la focalización del cristal esmerilado de cámaras de formato grande. En la lupa de 4 aumentos, la longitud de medición es de considerables 60 milímetros. Con 7 aumentos, llega a 40 milímetros. Las escalas pueden retirarse fácilmente, el enfoque es suave y preciso.

1975 20551983 2016 2037

2016-L

2044

1999

1990-4


14

15

2001: La serie 2001 ofrece, a op-ción, 15, 25, 50, 75 y 100 aumen-tos. La serie 2036, dotada de una escala de medición, se entrega con 25 y 50 aumentos. El enfoque se realiza colocando el microscopio sobre la punta acrílica desenros-cable. Girando alrededor del punto de colocación, se enfoca el punto de medición. La representación en el ocular es de imagen invertida. Con un diámetro de sólo 12,4 milí-metros, es posible realizar inspec-ciones en lugares en donde ningún otro microscopio podría penetrar. Las ópticas muy luminosas no re-quieren ninguna iluminación adi-cional. La graduación de la escala de medición en el microscopio 2036 de 25 aumentos es de 0,05 milímetros. Con 50 aumentos, la graduación es de 0,02 milímetro. El volumen de entrega incluye un estuche de cuero.

Microscopio-lápiz

2050: Los microscopios estilográ-ficos de la serie 2050 están dispo-nibles para 25, 50, 75 y 100 au-mentos. La diferencia fundamen-tal en comparación con las series 2001 y 2036 es la representación

de lados no invertidos del objeto de medición. Un sistema prismático al interior del microscopio ahorra, por un lado, longitud de construcción, y por el otro, produce una imagen derecha. Las escalas de medición integradas ofrecen una graduación entre 0,05 y 0,005 milímetros. El alcance visual abarca de 3,5 a 0,86 milímetros. Otra especialidad del microscopio estilográfico de altísi-ma calidad es el enfoque separado de la escala de medición. Ventaja: El objeto y la escala pueden ajus-tarse como en un microscopio de pie. Se entregan en un estuche de cuero.

2051: El microscopio estilográfico 2051 convence por su campo visual especialmente grande y su alta lu-minosidad. Puede pedirse para 30 y 60 aumentos. El gran campo visual

es posible gracias a la utilización de los objetivos de alta calidad de la serie 2034. Con 30 aumentos, el campo visual es de 5,8 milímetros. En el aumento máximo suminis-trable de 60 aumentos, el campo visual se reduce a 3,5 milímetros. Al igual que en la serie 2001 y 2036, la representación del punto de me-dición es de imagen invertida. La construcción robusta lo predestina para el uso en el duro día a día industrial.

2001 + 2036

2051

2050Índice / Innehåll / Contenuto / Contenido

16 17

2008: Todos los microscopios de medición de la serie 2008 se en-focan girando el tubo de forma coaxial. Se suministran con 25, 50, 75 y 100 aumentos. El ocular puede focalizarse hacia la escala que, a diferencia de la serie 2034, no está integrada en el ocular. La escala de medición se ha montado separadamente encima del tubo, alojándola en un platillo receptor. Desenroscando la mitad superior del tubo, la escala de medición puede cambiarse fácilmente. Co-mo la escala es girable dentro del microscopio, no se necesita girar todo el aparato durante la medi-ción. Adicionalmente, pueden su-ministrarse dos plantillas más que permiten, además de la medición simple de la longitud, también me-dir ángulos. Ver página 29. Para los microscopios de medición 2008 no se entregan objetivos intercambia-bles. Una pequeña y práctica caja de transporte protege al aparato de medición de precisión, que pe-sa sólo 83 gramos, contra daños. El pie acrílico transparente puede pedirse también como repuesto, al igual que el portaocular de go-ma. Como accesorio importante, la oferta incluye una unidad de

Microscopio de medición serie 2008

iluminación. Facilita las mediciones sobre superficies oscuras, así como bajo malas condiciones de ilumina-ción.

La alimentación de corriente pro-viene de dos pilas redondas de 1,5 voltios. Para montar la unidad de iluminación, se debe desenroscar primero el pie acrílico. Entonces la lámpara se ajusta encima del pie acrílico, enclavándose en una ranu-ra de anclaje.

La gran superficie de apoyo de la unidad eleva aún más la estabilidad de la combinación completa del microscopio con iluminación.

2008

2008-L.H.


18

19

2034: El microscopio estándar resulta convincente gracias a su sencillo manejo. Basta con colocar el microscopio en el campo de me-dición, enfocar y listo. Su pie acrí-lico transparente permite observar la superficie a inspeccionar desde todas las perspectivas, lo que fa-cilita la localización del punto de medición. El enfoque se realiza girando el tubo en sentido coaxial. El objeto se refleja con una imagen invertida en el microscopio debido a la corta trayectoria de los rayos.

Para el microscopio estándar se hallan disponibles objetivos de 2 hasta 30 aumentos. Es posible in-tercambiar las escalas de medición correspondientes en el ocular para los diferentes aumentos (objetivo). Si los cambios son frecuentes, re-comendamos reemplazar el ocu-lar completo para un uso rápido, seguro y limpio. Si sólo precisa

Microscopio de medición serie 2034

utilizar objetivos adicionales para llevar a cabo controles visuales, no es necesario que disponga de otros oculares. Su lámpara lateral permite realizar mediciones sob-re superficies oscuras o en salas sin iluminación. Requiere dos pilas Mignon de 1,5 V. Se suministra el microscopio en una caja de transporte acolchada. Proporciona un transporte seguro para otros cuatro objetivos, que pueden so-licitarse como piezas de recambio (véase pág. 29). Los microscopios de la serie 2034 obtienen una mayor estabilidad con el soporte

MKH. Es un accesorio imprescindi-ble para garantizar la precisión de las comprobaciones sobre cilindros. También resulta fundamental si se utiliza con una cámara digital. La imagen puede registrarse con una cámara fotodigital por medio de anillos adaptadores entre el ocular del microscopio y el objetivo de la cámara, y enviarse al ordenador portátil o el PC a través de un cable adaptador entre la cámara y la in-terfaz del mismo. A continuación, es posible realizar un gran número de verificaciones y registros detal-lados en el mismo lugar de medici-ón gracias a nuestro software Met-ric (véase pág. 53). Puede consultar una lista de todos los microscopios, escalas y datos en las págs. 8 y 9. Las versiones 2054-CIL y EIM (página 20 a 23) pueden suminis-trarse como 2034-EIM, 2034-CIL y 2034-CIL-EIM.

2034


21

2054-EIM: La ventaja frente a los microscopios de la serie 2034 radica en la presentación de lec-tura directa del objeto. Un prisma adicional invierte la trayectoria de los rayos en el interior del micros-copio. Esta reproducción natural del punto de medición facilita la localización de defectos. El mi-croscopio de la serie 2054-EIM hace más sencilla la inspección, en especial de superficies pintadas en la industria de la automoción. El rápido enfoque por medio del mecanismo de rueda y cremallera facilita enormemente las tareas de inspección en la línea de produc-ción en marcha.

Su sólido pie metálico de aluminio de serie le confiere estabilidad. Si lo desea, también puede sumi-nistrarse con un pie acrílico que permite una mejor visión del punto de medición. Las ventajas de la presentación de lectura directa, descritas más arriba, presentan la contrapartida de una luminosi-dad algo inferior. Por este motivo, además de la lámpara de serie es posible solicitar una variante de mayor intensidad con Mag-Lite y adaptador.

Para todos los microscopios de la serie 2054-EIM se hallan dispo-nibles los objetivos de 2, 4, 6 y 10 aumentos (véase pág. 29). Para su aplicación en superficies pintadas sensibles, recomendamos el sopor-te MKH estable. Sus rodillos reves-tidos con una manguera flexible de plástico sin silicona evita que se rayen mientras realiza las pruebas. El soporte MKH resulta del todo indispensable en la exploración de cilindros de todo tipo. Por medio de anillos adaptadores entre el ocular del microscopio y el objetivo de la cámara es posible documentar la imagen con una cámara fotodigi-

Microscopio de medición serie 2054-EIM

tal. También resulta fundamental para la mejora de la estabilidad si se utiliza con una cámara digital. La imagen se envía al ordenador portátil o el PC a través de un ca-ble adaptador entre la cámara y la interfaz del mismo.

A continuación, es posible realizar un gran número de comprobacio-nes y registros detallados en el mismo lugar de medición gracias a nuestro software Metric (véase pág. 53). Puede consultar una lista de todos los microscopios, escalas y datos en las págs. 8 y 9.

.

2054


22 23

Microscopio de medición serie 2054-CIL

2054-CIL: Los microscopios de medición de la serie 2054-CIL se hallan provistos de serie de ilu-minación coaxial y lateral. Com-probará por sí mismo las ventajas de la iluminación coaxial con los ejemplos que se ilustran en esta página. Una lámpara lateral no basta para identificar con fiabi-lidad el relieve superficial, sobre todo en superficies cromadas o reflectantes. Sólo la luz directa a través del objetivo permite una inspección de este tipo. El micros-copio 2054-CIL con pie estándar se suministra a partir de 40 au-mentos. Con el soporte MST tam-bién es posible utilizar el objetivo de 2 aumentos. Para realizar la inspección de cilindros, sólo puede emplearse el microscopio con el soporte MST. La iluminación late-ral adicional permite, por ejemplo, verificar y medir los puntos de tra-ma en las impresiones. Asimismo,

es posible utilizar el microscopio junto con una cámara fotodigital o bien incorporar posteriormente una cámara USB (véase pág. 39). Una pequeña caja de batería provista de dos pilas Mignon de 1,5 V se ocupa de alimentar la lámpara coaxial. Puede consultar una lista de todos los microscopios, escalas y datos en las págs. 8 y 9.

2054-CIL


27

Escalas: Las escalas de medición mostradas se hallan disponibles con diámetros de 26 mm (1975) y 35 mm (1983). Se pueden utilizar con las siguientes lupas de medi-ción. Las escalas 1975 son compa-tibles con las lupas con los núme-ros de pedido 1975, 1976, 1998, 1999 y 2015. Las escalas 1983 son compatibles con las lupas con los números de pedido 1983, 2028, 2004 y 2049.

En la fila superior de la página 29 encontrará las escalas de medición para los microscopios de la serie 2008, fácilmente intercambiables entre sí. Junto a los números de pedido figuran los aumentos co-rrespondientes. Los microscopios se suministran con la escala es-tándar que se muestra arriba a la izquierda. También puede suminis-trarse como pieza de recambio. Las escalas del centro y de la derecha pueden solicitarse en el aumento correspondiente. En el número de pedido se indica el número de au-mentos.

Las dos escalas de la segunda fila de la página 29 son compatibles con los microscopios 2034, 2054, 2054-EIM y 2054-CIL. La escala de la izquierda se suministra de serie o también como pieza de recambio. La escala de la derecha sólo puede utilizarse para 20 y 40 aumentos. Advertencia: Con el microscopio 2054-CIL y 20 au-mentos debe utilizarse el soporte MST. Para más información, véase la pág. 23.

Escalas para lupas

S-1975-01S-1983-01

S-1975-07S-1983-07

S-1975-02S-1983-02

S-1975-08S-1983-08

S-1975-03S-1983-03

S-1975-09S-1983-09

S-1975-04S-1983-04

S-1975-10S-1983-10

S-1975-05S-1983-05

S-1975-11S-1983-11

S-1975-06S-1983-06

S-1975-12S-1983-12


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Escalas para microscopios

Los microscopios de las series 2034, 2054, 2054-EIM y 2054-CIL ofrecen la posibilidad de adaptar sus aumentos mediante el cambio de objetivo. Las cajas de transpor-te de serie van provistas de tres alojamientos para el transporte seguro de las ópticas intercambia-bles. Los objetivos son enroscables y, por tanto, el cambio de objetivo resulta muy fácil de realizar. No obstante, las escalas de medición merecen una atención especial. Si, por ejemplo, utiliza un microscopio de 100 aumentos con la escala de medición correspondiente, una vez cambiado el objetivo, no podrá continuar empleando esta escala de medición. Por esta razón, de-bería encargar el microscopio con el que desea realizar la medición con la escala correspondiente. Pa-ra realizar controles estrictamente ópticos, puede solicitar los objeti-vos correspondientes. En principio, es posible realizar el cambio de la escala en el ocular, pero, para ello,

Objetivos para microscopios2034, 2054, 2054-EIM y 2054-CIL

Número de pedido de objetivo Ampliación

OJ-020 20x

OJ-040 40x

OJ-060 60x

OJ-100 100x

OJ-150 150x

OJ-200 200x

OJ-300 300x

es necesario desmontar la óptica por completo. Si realiza este tipo de cambio a menudo, es casi in-evitable que se ensucie. Por tanto, lo más práctico es solicitar los oculares completos con la escala de medición correspondiente.Piezas de recambio: Para lupas y microscopios se hallan disponibles las siguientes piezas de recambio: Anillos acrílicos transparentes KF para los números de pedido: 1975, 1976, 1983, 1990-4, 1990-7, 1998, 1999, 2004, 2008, 2016, 2028, 2034, 2037, 2044, 2054, 2054-EIM, 2055, 2055-L. Anillos roscados GWR para las esca-las de los números de pedido: 1975, 1976, 1983, 1998, 1999, 2004, 2016, 2028, 2037, 2044, 2055, 2055-L Anteojeras de ocular GR para los microscopios de los números de pedido: 2008, 2034, 2054.Lámparas de recambio ELM para los microscopios de los números de pedido: 2008-LH, 2034, 2054.

Portalámparas LHM para los mi-croscopios de los números de pedi-do: 2034, 2054.De forma opcional, se puede su-ministrar el portalámparas como versión de aluminio de alta calidad con Maglite (LHM-A).

S-2008 25x PS No.24 50x PS No.13 75x PS No.34 100x PS No.44


S-2034S-2054S-2054-EIMS-2054-CIL

20x PS No.5540x PS No.66


S-2034S-2054S-2054-EIMS-2054-CIL

20x PS No. 5440x PS No. 6460x PS No. 74100x PS No. 84150x PS No. 94200x PS No. 104


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Cuentahilos AP-8: El cuentahilos compacto facilita el rápido con-trol de productos en la línea de producción. Gracias a la solidez de su carcasa fabricada en latón masivo, sus bisa-gras son especialmente robustas. Su superficie cromada es extrema-damente resistente al desgaste. Esta solución económica para el uso diario va provista de una doble lente de ca-lidad superior. El pie del AP8 dispone de una escala de medición de división decimal. Si es preciso realizar una compensación de dioptrías, disponemos de las lupas de medición 1975 y 1983 (véase pág. 13). El cuentahilos se suministra en un estuche.

Lupa de fisuras RL: El componen-te principal de la lupa de fisuras es la placa de acero inoxidable inclinada que lleva incorporada en el zócalo. Presenta una escala grabada con décimas de milímetro. Este ins-trumento de medición se enfoca por medio de su sistema de len-tes de altura regulable. La lupa de fisuras está especialmente indicada para la inspección del filo de brocas y fresas para la mecanización de metales. En esta área de aplica-ción, la escala en acero inoxidable resulta mucho más adecuada que la escala de vidrio. La lupa de fisuras se suministra con 8 y 10 aumentos.

Lupas especiales

Microscopio M-830-S: La incor-poración de este producto en la gama es el resultado de repetidas peticiones de nuestros clientes. Completa nuestra oferta de mi-croscopios de calidad superior que le mostramos en las páginas 8 y 9

del catálogo. El microscopio vertical resulta interesante por su amplio campo de visión de 25 aumentos, la presentación de lectura directa y una escala con una división de 0,2 mm. Ventajas prácticas adiciona-les: El microscopio vertical también puede utilizarse como telescopio, dispositivo auxiliar de lectura o para el control de calidad simple. Por esta razón, también se halla disponible sin escala. No obstante, a este modelo no se le puede in-corporar posteriormente la escala. El microscopio se suministra en un estuche de cuero con correa.


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Lupa de comprobación de colo-res CPV: La especialista en puntos de trama y el control de las marcas de registro en la industria gráfica. Por debajo del diez por ciento de densidad, con una lupa normal resulta difícil reconocer cada uno de los puntos de color de una im-presión. La lupa de comprobación de colores CPV, sin embargo, lo hace posible. Está equipada con tres filtros de colores distintos: azul para amarillo, verde para rojo y rojo para azul. Con los nuevos filtros podrá usted reconocer exac-tamente, y uno al lado del otro, cada uno de los colores. La lupa de comprobación de colores está equipada con una batería. También puede emplearse durante el proce-so de recarga de la batería. La lupa de comprobación de colores de la que ofrecemos de serie tiene 10 aumentos. La lente es enfocable. CPV puede combinarse con los microscopios 2008-25, -50, -75 y

Lupas especiales

–100. El anillo de adapta-ción necesario se incluye en la entrega.

Lupa VIEW 12x: La bonita lupa VIEW también es particularmente adecuada para la industria gráfica. Dispone, al igual que la lupa MAG, de una lente con corrección cromá-tica y exenta de distorsión.

Gracias a su soporte de vidrio acrí-lico, no queda oculta la zona de la imagen debajo del soporte. De ese modo al observador no se le escapa

ningún desperfecto. La óptica es enfocable. Un ámbito de aplica-ción adicional del View 12x es el control de nitidez de diapositivas.Las lentes exentas de distorsión permiten detectar cualquier punto que no sea totalmente nítido.

Lupa MAG 12x: La lupa MAG está equipada con una lente con corrección cromática y exenta de distorsión. La óptica, además, es enfocable. La ventaja: en las lu-pas usuales, el observador debe acercarse con el ojo a la lente. La óptica especial de la lupa MAG re-suelve este inconveniente. Durante el transporte, la lente se guarda dentro de la resistente carcasa. Así, pues, esta lupa es particularmente adecuada para el control de las marcas de registro.


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Lupa luminosa LPL

Lupa luminosa LPL: La lupa lu-minosa LPL ha sido desarrollada especialmente para el control de las placas de circuito impreso en la industria electrónica. Las gran-des lentes de vidrio tienen, con sus 185 x 155 milímetros, una dimensión que facilita el control de calidad de objetos de gran su-perficie. Los dos tipos de aumento y su presentación exenta de dis-torsión permiten realizar un tra-bajo que no cause fatiga visual. Su resistente construcción de metal –el mismo portalentes es también de metal– aguanta también algún que otro golpe. El alcance del bra-zo articulado orientable de la LPL es de aproximadamente un metro. El tubo de neón en forma de U se encarga de ofrecer una iluminaci-ón homogénea del campo visual. La fuente de alimentación del tu-bo de neón se halla integrada en el pie del brazo articulado.Complementariamente a los pies de sujeción para realizar un mon-taje fijo u oscilante, disponemos de una funda para el tubo de neón que lo protege de salpicaduras y posibles daños. La gama de acce-sorios para la lupa luminosa LPL se completa con una funda gu-ardapolvo de un tejido resistente al desgarre.


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Cellcheck Mini-USB: Un micros-copio de vídeo USB 2.0 para el portafolios. La cámara USB 2.0 con 1600 x 1200 píxeles permite ali-mentar con corriente la luz anular LED desde la cámara. El alcance de suministro incluye un objetivo 2x y un objetivo 4x. En el monitor esto produce una ampliación de unos 90 aumentos y 180 aumen-tos. También hay objetivos con 3x, 6x, 10x, 15x 20x y 30x disponibles bajo petición. El cuerpo manejable del microscopio se ajusta de forma muy sencilla y precisa al punto de enfoque. En conexión con el software de medición Metric Stan-

Cellcheck Mini-USB

dard o Metric Plus se consigue un sistema profesional de medición y comprobación indicado para la industria de la electrónica, la im-presión, la madera, el cristal y el plástico, para todos los ámbitos en los que deben examinarse superfi-cies o medirse detalles.

Cellcheck Mini-K-USB: La versión con iluminación coaxial (imagen de debajo) permite utilizar el sistema, p. ej., con el software de procesa-miento de imágenes MeshCheck, para la medición automática de tejidos de metal y poliéster. La ilu-minación coaxial se necesita inme-diatamente cuando se deben hacer visibles superficies o estructuras de alto brillo (p. ej., superficies de sili-cona, errores en barnices claros, su-perficies cromadas). El alcance del suministro incluye un objetivo 3x, 4x y 6x así como la luz anular LED. Ambos sistemas se suministran en un pequeño maletín de plástico.

No obstante, también es posible un reequipamiento con los soportes MKH y MST en todo momento (véa-se la página 45).


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Cellcheck N-SLS-USB: Un siste-ma de comprobación y medición móvil con un sistema LED inte-grado de 12 diodos conmutables en doce configuraciones distintas. De este modo pueden hacerse vi-sibles puntos defectuosos que no se verían en caso de una ilumi-nación uniforme. La base con un sistema de espejo integrado ga-rantiza una iluminación perfecta. Como en todos los sistemas una cámara USB 2.0 con 1600 x 1200 píxeles garantiza imágenes de alta calidad. Las bases de apoyo ST-90 (imagen superior derecha) y ST-45 (imágenes inferiores) pueden utili-zarse para cilindros, tubos, objetos convexos o material plano. Un cable de conexión USB flexible suministra corriente a la cámara y la iluminación, y transmite las informaciones de las imágenes al ordenador. Además de los objetivos

Cellcheck N-SLS-USB

estándares, como los que se utilizan en el modelo Cellcheck, hay disponibles dos objetivos especia-les adicionales que permiten campos de visión de hasta 15 mm.

El alcance del su-ministro incluye un objetivo 4x (aprox. 180x), el maletín de transporte y una arandela de calibra-ción de cristal.

Las dos imágenes de debajo muestran el Cellcheck N-SLS con el soporte ST-45. En este soporte el siste-ma de cámara puede inclinarse hasta 45° y girarse también sobre el eje. Así pueden, por ejemplo, visualizarse fallos en barnices claros o rugosi-dades. La representación de pare-des de hoyo se realiza también en la posición inclinada.

Se mide en la posición de 90º. Con una arandela de calibración especial pueden calibrarse algunas posiciones en la posición inclina-da con el software de medición Metric. La posición inclinada y la distorsión se recalcula en el soft-ware.


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Ámbitos de utilización: En la in-dustria de la electrónica: medición de diámetros de perforación, an-churas lineales, distancias. Calidad de las paredes de hoyo, la centri-cidad de taladrado y Lotpad. In-dustria de la impresión: placas de impresión offset, impresiones de todo tipo, cilindros de impresión de goma, comprobación de plantillas de serigrafía, hologramas, impre-siones de seguridad. Industria de la madera y el plástico: calidad de chapas de madera o superficies laminadas. Industria de procesa-miento de metales: moleteado, pe-queños taladros o placas de corte inversor. Cristal: Control de presión sobre lunas para la industria del automóvil. Estos son sólo algunos ejemplos de aplicación.

En combinación con el software de medición Metric Standard o Metric Plus pueden instalarse en diversos

Cellcheck N-SLS-USB

ordenadores u ordenadores por-tátiles. Allí donde se conecte el sistema de cámara con el cable de conexión USB se activa automáti-camente el software de medición. Mediante la integración del código de activación en la cámara USB no se necesitan mochilas.

La calibración del software de me-dición se realiza mediante reglas graduadas de vidrio que están in-cluidas en el alcance del suminis-tro del Cellcheck N-SLS.

Dado que Cellcheck N-SLS se uti-liza con frecuencia para la com-probación de piezas pequeñas o

minúsculas, puede combinarse con el soporte ST-CIL. El soporte está equipado con una mesa de medi-ción en cruz 25 x 25 (husillos con 0,01 mm de división) y puede equi-parse opcionalmente con una mesa de rotación. De este modo pueden posicionarse de forma sencilla, por ejemplo, secciones pulidas.

Los accesorios, como prismas de inserción con una profundidad de 4 mm y 10 mm, que pueden insertar-se en la mesa de rotación, facilitan considerablemente la comproba-ción visual o la medición de piezas redondas.


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Cellcheck CIL-USB

Cellcheck CIL-USB: El sistema para inspecciones en superficies reflejantes. Gracias a la guía de luz coaxial no se producen reflexio-nes no deseadas que podrían cau-sar interpretaciones y mediciones erróneas.

El Cellcheck CIL se suministra siem-pre con el soporte fijo MST. Permi-te la fijación segura sobre material plano y cilindros. La anchura de superposición de los cilindros del soporte puede ajustarse de for-ma variable mediante un tornillo de bronce moleteado. Con ello se garantiza la distancia necesaria al objeto, especialmente en caso de pequeñas dimensiones. El alcance de suministro incluye los objetivos con ampliación de 2, 4, 6 y 10 aumentos. La ampliación respecto a un monitor de ordenador de 17 pulgadas resulta de la multiplica-ción de la ampliación del objetivo por un factor 45. Por ejemplo, un

objetivo de 10 aumentos represen-ta el punto de medición con 450 aumentos. Existen opcionalmente disponibles objetivos de 15, 20 y 30 aumentos. De la iluminación coaxial se encarga un potente LED de luz blanca. Bajo demanda, tam-bién ofrecemos LEDs IR, de luz verde y de luz roja. La alimentación de corriente se realiza a través de la cámara USB. El alcance del su-ministro también incluye una ilu-minación anular LED adicional. Los nueve LEDs inclinados en un ángulo de 30º ofrecen una iluminación perfecta para todas las aplicacio-nes en las que se necesita una luz dispersa.


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Cellcheck CIL-ZX-USB

Cellcheck CIL-ZX-USB: El asis-tente ideal para mediciones en profundidad. Para la determinación sin contacto de una profundidad de taladrado, el comparador de cua-drante digital mide la distancia en-tre dos planos de nitidez. Para que el área de nitidez en profundidad, una posible fuente de errores, sea baja, la medición debería realizarse con el máximo tamaño en relación con el campo visual deseado Por este motivo, el alcance del su-ministro del sistema de medición también incluye todos los objetivos disponibles (2x a 30x).El avance prácticamente sin holgu-ra permite el enfoque exacto de los planos de nitidez. Importante para un resultado de medición óptimo: enfocar siempre los planos de niti-dez superiores e inferiores desde el mismo lado. Sólo así se garantiza que, incluso mediante una baja holgura inversa, no se introduzcan

imprecisiones en la medición. En este sentido, la iluminación coaxial directa a través del objetivo des-empeña un papel importante. Sólo gracias a esta guía de luz pue-den detectarse de forma exacta los planos de nitidez. El soporte MST proporciona también una estabi-lidad segura para la medición en profundidad.Un ajuste X adicional de 5 milíme-tros permite para altas ampliacio-nes el avance entre planos focales cuando éstos ya no pueden regis-trarse en el campo visual.


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Cellcheck MOT

Cellcheck MOT: Con profundi-dades pequeñas, como por ejemplo 5 micrones, la medición en pro-fundidad con un enfoque mecáni-co es difícilmente reproducible o no reproducible. Por ello se reco-mienda en dicho caso la utilización del sistema Cellcheck MOT. Los ejes X e Y se pueden ajustar de for-ma mecánica. El eje Z se desplaza de forma motorizada. El control integrado permite, en combinación con la alta ampliación, pasos de desplazamiento mínimos de 200 nm. El objetivo es un infinity cor-rected objective de 50 aumentos con una apertura numérica de 0,55. La distancia de trabajo as-ciende, pese a la alta ampliación, a unos 20 mm. Los valores de la medición Z se registran mediante un pulsador incremental con una precisión de 0,75 micrones a 25 mm y se transfieren mediante una interfaz USB al software de medi-ción Metric MT o al protocolo Ex-cel. Las imágenes se crean con una cámara USB 2.0 con 2.048 x 1.600 píxeles. El módulo de computación de nitidez en el Metric MT permite registrar con el sistema series de imágenes en intervalos preestable-cidos y computarlas de forma con-

junta. De forma opcional se ofrece un módulo de medición de volu-men. Cellcheck MOT requiere or-denadores portátiles u ordenadores con tres entradas USB. El control se alimenta de corriente mediante un bloque de alimentación. Existen ot-ros objetivos disponibles de forma opcional.


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ST-CIL: Para la inspección de pie-zas pequeñas o para la medición de superficies pulidas vistas al mi-croscopio pueden combinarse los microscopios USB móviles de la serie Cellcheck N-SLS y Cellcheck CIL con un soporte de precisión. Las columnas están fabricadas co-mo segmentos para poder ajustar la altura. El soporte estándar ST-CIL se suministra con una mesa de medición en cruz. Éste cuenta con dos husillos de medición integra-dos con resolución de 0,01 mm. De forma opcional puede suministrar-se el soporte ST-CIL con una mesa de rotación. En el centro de la me-sa de rotación hay un casquillo de taladrar con 3 mm de diámetro a nivel en el que se pueden insertar a su vez prismas de inserción con 4 ó 10 mm de profundidad. Como ver-sión estándar se ofrece ST-CIL con columnas más altas y una pieza

Soporte

superpuesta con portabrocas para la inspección de pequeñas brocas, fresas o geometrías similares. Asi-mismo, también hay disponible un portamuestras para cortes finos (véase la imagen de arriba).

El suministro del Cellcheck CIL y N-SLS en combinación con un so-porte se realiza básicamente en un maletín de aluminio estable – el laboratorio móvil.

Otra posibilidad adicional es montar el sistema en una guía de precisión. Ésta puede atornillarse en un so-porte magnético o combinarse con nuestra amplia gama de soportes y mesas en cruz de la serie SV.


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Reglas graduadas de vidrio CS: Las reglas graduadas de vidrio de precisión presentan marcas y cifras vaporizadas de cromo duro. Existe una escala de división métrica y otra de división por pulgadas. Para una mejor lectura de los números, las reglas van revestidas al dorso de una franja blanca. A ambos lados las reglas de cromo disponen de asideros anodizados para un manejo seguro. Las lupas de preci-sión (tipo 2016 de 15 aumentos y un campo de visión de 12 mm) y las dos lámparas permiten una lectura fácil y exacta de la escala. La divi-sión inferior de la escala de pulga-das es de 0,005“. La división más pequeña de la escala métrica es de 0,1 mm. La exactitud de lectura es aún mayor con la microescala de cromo. La medición de la distan-cia entre las divisiones decimales se realiza en este caso mediante un reloj comparador analógico o

Reglas graduadas de vidrio CS

digital. De este modo, es posible determinar dis-tancias con una exac-titud de centésimas de milímetro.

La valiosa regla gradua-da de vidrio de precisión se suministra en un es-tuche de madera resis-tente, que la protege de posibles daños.

La escala de cromo se halla disponible en las longitudes de 300, 500, 800, 1.000, 1.400, 1.600 y 2.000 mm. Pueden fa-bricarse longitudes es-peciales por encargo. La regla gra-duada de vidrio presenta la ventaja de una dilatación térmica muy reducida. Las oscilaciones de la temperatura no afectan al uso de la escala de cromo.


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Electronic Scale: Con la utilización de Electronic-Scale se simplifica la medición de longitudes. El modelo de acero fino endurecido lleva una cinta inductiva. Ésta transmite al sistema electrónico la información de la posición momentánea del carro de medición guiado sin hol-gura y desgaste sobre rodamien-tos axiales de bolas. El punto de medición puede trazarse de forma exacta mediante la óptica tratada de cuadro lentes con 10 aumentos. La lupa tiene una función de enfo-que de precisión para el ajuste a la nitidez de visión individual. Para el posicionamiento preciso del carro de medición la lupa está equipada con una placa reticulada. La dispo-sición de líneas metalizada por va-porización en cromo duro de esta placa contribuye a unos resultados de medición precisos. Un control

Electronic Scale

de paralaje sofisticado permite la supervisión del ángulo de visión vertical en la óptica. La pantalla de fácil lectura con cifras de seis milímetros de altura muestra la re-solución máxima de 0,01 milíme-tros o 0,0005 pulg. Directamente al lado de la pantalla se encuentra el dispositivo de ajuste de preci-sión. El tornillo de ajuste colocado de forma vertical fija una parte del carro de medición. El tornillo de posición horizontal desplaza el carro con precisión sobre el punto

de medición. Ahora se determina el punto cero de la medición pulsando el botón de restauración. Después del desplazamiento del carro hasta el segundo punto de medición pue-de leerse el resultado en la pantalla. El sistema cuenta con una interfaz RS232. Con ella pueden enviarse los valores de forma serial al orde-nador. Para la transmisión de datos hay disponible un cable de interfaz compatible RS232 con acoplamien-to óptico o, alternativamente, un sistema de radiotransmisión.


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La representación de los datos en el ordenador se realiza en Excel mediante el software suministrable de forma opcional. Las dos guías deslizantes de posicionamiento laterales facilitan la orientación rápida, paralela de la Scale res-pecto al objeto a medir. Diversidad de modelos: hay disponibles siete longitudes de medición compren-didas entre 180 y 1500 milímetros. Tres tipos de placas reticuladas y diversos sistemas ópticos comple-tan la oferta. Además de la placa reticulada indicada, la escala PCB se puede utilizar de forma exclu-siva para la medición de distancias entre agujeros. La escala PCB está siempre asociada a la utilización con la lupa de 10 aumentos de serie (versión ES). Si debe utilizarse adicionalmente un microscópico para un registro de puntos de medición con una precisión espe-

Electronic Scale

cial, el adaptador del microscopio se gira para que la trayectoria de los rayos se desvíe a través de un espacio libre en la escala. Motivo: Los microscopios de 25 y 50 aumentos suministrables como accesorios cuentan con una propia escala con división y cruz reticular

que se cruzan con la escala PCB.Si se conoce la necesidad de un po-sicionamiento muy preciso debería utilizarse directamente la versión ESM con microscopio de 25 o 50 aumentos. Para la utilización con mediciones en serie se puede so-licitar la Electronic-Scale con un sistema de vídeo. La versión ES puede reequiparse incluso con la cámara de vídeo USB. El alcance de los puntos de medición no requiere una inclinación sobre el microsco-pio y descarga así la espalda y los ojos.


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Los puntos de medición pueden al-canzarse ahora mediante la placa reticulada o mediante las funcio-nes de referencia del software Me-tric. Aquí hay disponibles cruces reticulares individuales o dobles, círculos de tolerancia, máscaras multiforma y máscaras de ajuste. Las mediciones individuales en el campo de visión de la máquina se pueden realizar con las funciones normales de Metric. Por ejemplo, pueden determinarse radios, án-

Electronic Scale

gulos, diámetros, superficies y di-stancias. Junto con los datos de la interfaz RS232 pueden crearse así numerosos documentos de medi-ción.

Con la utilización de ordenadores más antiguos, la Electronic Scale puede equiparse de forma alterna-tiva con la cámara CCD analógica y el Framegrabber. Con la utilización de la cámara analógica sin ordena-dor en un monitor de vídeo.

Los datosLongitudes estándar disponibles: 180 mm / 7 pulgadas 300 mm / 12 pulgadas 500 mm / 20 pulgadas 800 mm / 32 pulgadas 1000 mm / 40 pulgadas 1300 mm / 52 pulgadas 1500 mm / 60 pulgadasResolución: 0,01 mm / 0,0005 pulgadasPrecisión de repetición: 0,01 mmAncho de banda de errores: Hasta 500 mm = 0,03 mm Hasta 800 mm = 0,04 mm Hasta 1000 mm = 0,05 mm Hasta 1300 mm = 0,10 mm Hasta 1500 mm = 0,15 mmPantalla LCD,pila de litio 3V, aprox., 4.000 h de vida,Intervalo de temperatura: de +10 a +40°CInterfaz RS-232 compatible,Placa reticular: Estándar o PCB. Sistemas ópticos: Tipo ES lupa 10x, Tipo ESM-25 microscopio 25x, Tipo ESM-50 microscopio 50x


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Documents

MEDIR - COMPROBAR CONTROLAR · Lupa de Steinheil 14 x 12 mm 1994-4 Lupa de Steinheil 20 x 7 mm 1996 Lupa magnética 5 x 20 mm 1996-L Lupa de mano con luz 4 x 40x40 mm 1997 Lupa de