Microsonda Electrónica ppt.pdf

8/18/2019 Microsonda Electrónica ppt.pdf

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ALUMNO: ROMAN NOLE MANUEL HERNANCODIGO : 12160020


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La idea original del microanálisis utilizando los rayos X secundarios ,generados por un haz de electrones focalizados sobre una muestrasólida pulida, fue de Rai – mond Castaing (Castaing y Guinier, 1950;

McGee y Keil, 2001). Indiscutiblemente, la comunidad geológicaestá en una eterna deuda de gratitud con Raimon Castaing(véase revisión de McGee y Keil, 2001).


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¿QUÉ ES LA MICROSONDAELECTRÓNICA?

Es un método no destructivo de análisis elemental muy valiosa enmineralogía y petrología, la cual permite el análisis químico cualitativo ycuantitativo de sustancias solidas.

Los análisis cualitativos : identifican los elementos presentes mediante unespectrómetro de rayos X.

Los análisis cuantitativos: estos comparan las líneas de rayos X con valoresestándares de composición conocida.


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En los análisis de microsonda electrónica, el bombardeo de electronessobre la muestra genera rayos X que son exhaustivamente analizados.Así, con la longitud de onda o la intensidad de las líneas en el espectro derayos X, los elementos presentes pueden ser identificados y sus

concentraciones estimadas.


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FUNDAMENTOS DE LA MICROSONDA ELECTRON

Cuando un haz electronico incide sobre la superficie de un solido, segeneran una serie de ondas electromagneticas, entre la catado-luminicencia y los rayos X, y se producen una emision electrónica,Integrada por :

Electrones secundarios.Auger.Retrodispersados.Transmitidos.Absorbidos.


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De todos estas complejas señales, la microsonda utiliza esencial-mente los rayos X.Ya que estos se originan como consecuencia de la ionizaciónQue sufren los átomos al ser bombardeados por electrones (o porOtros rayos X).

En este proceso ocurre una perdida de energía que implica un salto

de un electrón a otra capa. Y esto se traduce en la emisión de unaradiación electromagnética – la radiación de rayos X.


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El sistema automatizado para el microanálisis de

rayos-X, el cual corre en ambiente Windows, tienelas siguientes características:

1.- automatización computarizada completamente interactiva queincluye haz de electrones, detectores, platina yautomatización de la columna

2.-adquisición de imágenes computarizadas con análisis de imágenes yanálisis de fases multi-elementales

3.- mapas de rayos-X WDS y EDS, barridos lineales, y adquisiciónde mapas WDS y EDS; el procesador de pulso digitalsuministra el filtro óptimo para obtener la mejorseñal.


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COMPONENTE ESENCIALES DE UNA MICROSONDA ELECTRO

CUERPO DE SONDAEsta integrado por el cañón de electrones y las lentes

electromagnéticas.

Esquema de una microsonda convencional

Consiste en:

filamento deWolframio

Cátodo

Ánodo


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• Espectrometro dispersor de longitud de onda (WDS)

Es usado para análisis cuantitativos, y consta de unmonocrómetro y un detector. El monocrómetro es uncristal que dispersa los rayos-X según la ley dereflexión de Bragg. La mayoría de microsondaselectrónicas están equipadas con varios cristales de

diferente espaciamiento d para permitir el análisis deun amplio rango de longitudes de onda de rayos-X.

• Espectrometro dispersor de energia (EDS)

Utiliza un detector en estado sólido para analizar

simultáneamente todas las energías de los fotones derayos-X, lo cual es una ventaja para muchasaplicaciones tales como el mapeo composicional, elcual requeriría un largo tiempo usando el WDS


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IMAGENESEl EPMA permite obtener una gran variedad de imágenes:

• Electrones secundarios• Electrones retrodispersados• Rayos x•

Catoluminiscencia

Las cuales son usadas con el fin de documentar visualmentelas características de una muestra.


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• Imágenes de electrones secundarios (SEI):son obtenidas por el detector de electrones

secundarios y reflejan la topografía de lamuestra.


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• Imágenes de electrones retrodispersados

(BSE): son obtenidas por el detector deelectrones retrodispersados y reflejan lacomposición del espécimen.

Amígdala rellena con esmectita (borde claro) – celadonita(borde oscuro)


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Imágenes de rayos-X: son producidas por

las señales de salida de los espectrómetros.Cuando los espectrómetrosson calibrados para elementos particulares,la imagen reflejará la concentración de cadaelemento en el área escaneada, facilitandoasí el mapeo de rayos-X del elemento de las

fases minerales.

Detectado por espectrómetrosdispersores de longitud de onda(WDS).


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• Imágenes de cátodoluminiscencia (CL):La CL (e.g., Hanchar & Rudnick,

1995; Kniseley & Laabs, 1973) es unmétodo convencionalmente usado paraanalizar la estructura cristalina de unespécimen, incluyendo trazas de impurezas,defectos reticulares y distorsión cristalina.Algunos minerales emitirán luz en elespectro visible cuando son excitados por un

haz de electrones


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JUSTIFICACIONES PARA SU USOLas razones que justifican la gran aplicación del análisis de microsonda electrónicaa la geología, particularmente en mineralogía y petrología, son:

Favorece el uso de las técnicas convencionales de preparación de secciones con sóloalgunas modificaciones; es una técnica no destructiva; permite obtener de formarutinaria un análisis elemental cuantitativo con una precisión en la región del 1% (paraElementos mayores)

permite la determinación de todos los elementos arriba del númeroAtómico 10 con una gran precisión y sensibilidad, aunque con una menor sensibilidadpara aquellos entre 5 y10 (H, He y Li no son detectados)

Límites de detección (típicamente en la región de 50 ppm) lo suficientemente bajospara facilitar la determinación de elementos menores y trazas en muchos casos.

Tiempo de análisis relativamente corto (usualmente de 1 a 5 minutos); resoluciónespacial del orden de 1μm, facilitando la obtención de la mayor parte de los rasgos deInterés.

Permite el análisis in situ de granos minerales individuales con sus relacionestexturales no distorsionadas y visibles.


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