NTP339.126-1998- Met Para Reduccion de Muestra a Muestras de Ensayo

8/13/2019 NTP339.126-1998- Met Para Reduccion de Muestra a Muestras de Ensayo

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G ~ f f l do Reglam entos Tcnicosy Comerciales - INDECOPILima, Per

orma TcnicaPeruana

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N R I\1A TCl HCAPERU N

( Il l l}c 1, Prosa 138,San Borja (Lima 41) apartado 45


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NORMA TECNICA NTP339.126PERUANA

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SUELOS. Mtodospara la reduccin de las muestras decrunpo a tamaos de muestras de ensayo

O JETO

La presente Nonnaestablece tres mtodosde preparacinde muestrasde campo (deAresado a tamaos apropiados paraensayos, empleandoprocedimientosque minimizan lavariaoi6n en la medicin de las caractersticas entrelas muestras de ensayo y las muestras deoampo

2 REFERENCIAS NORMATIVAS

No hay normasespecificas ni disposicionesque sean citadas como referenciael presenteto to quecontituyan requisitosde esta Nonna TcnicaPeruana.

CAMPO DE APLICACIN

Esta Norma Tcnica Peruanase aplica de acuerdo alo indicado en estenumeral.

3 1 Las especificaciones para agregadosrequieren porcionesde muestras delmaterial para someterlas aensayos. Las muestrasms grandes tendern aser msropresemtativas de la muestra total.

Los mtodosaqu descritosson apropiadospara reducirel tamaode la muestra obtenidaen el campo a tamaos convenientes para realizarvarios ensayos afin de describir elmaterial y medirsu calidad, de tal maneraque la porcinde muestrade ensayo ms pequeano deje de ser representativade la muestra ms grande y porlo tanto de la totalsuministrada. Los errores cometidos en el seguimiento cuidadoso de este mtodoconducirn a la obtencin de muestras no representativas parasu uso en ensayosposteriores. La cantidad mnima de muestra a usaren un ensayo se especifica en cadamtodo.


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3.2. Bajo deteffinadas circunstancias, no se recomienda lareduccin de lamuestra de campo antes de ser ensayada. Algunas veces es inevitable obtener diferencias

substanciales en la muestra de ensayo, com o por ejemplo, enel caso de un agr egado quetiene algunas partculas de gran tamaoen la muestra de campo. La probabilidad indica queestas pocas partculas pueden estar desigualmente distribuidasentre las muestrasde ensayoreducidas. Del mismo modo,si la muestra de ensayo se ha examinadopara determinadoscontaminantes, oc urre que la presencia de un os cuantos fragmentos en solamente pequeosporcentajes conduce a que debantoma rse precaucionesen interpretar los resultados de lamuestra reducida.

La probabilidad deincluir o excluir solamente una o dos partculasen la muestraseleccionadapuede tener importante influencia en la interpretacin de las caractersticas de

la muestra de campo.En estos casos, la muestra entera de campo debe ser ensayada.

4. SELECCIN EL MTO O

4.1 Agregado fino. La muestra de campo de agregado fino que est seca encondicin de saturada superficialmente seca, se debe reducir de tamao por medio de uncuarteador mecnico usandoel mtodo A. Muestras de campo libres de humedad superficialse pueden reducir de tamaopor cuarteode acuerdoal Mtodo B opor tratamiento comouna pequea muestra conformeal Mtodo C.

4.1.1 Si se desea utilizar elMtodo B y la muestra de campo no tienehumedad libre sobre la superficie de las partculas, la muestra se debe humedecer paraalcanzar esta condicin, mezclarla bien y luego llevar a cabo la reduccin de la muestra.

4.1.2 Si se desea utilizarel Mtodo A y la muestra de campo tiene humedad libresobre la superficie de las partculas, la muestra de campo se debe secar hasta la condicin de

superficie eca, usando temperaturas que no excedan aquellas especificadas para cualquierade los ensayos contemplados y luego seprocede a reducir la muestra. Alternativamente,si lahumedadde la muestrade campo es muy grande, una divisin preliminar se debe realizarutilizandoun cuarteador mecnico quetenga una abertura de 38 mm1 1/2 pulg o mspara reducir la muestra a no menos de 5 g.La porcin as obtenida se seca y se reduceal tamaode muestra de ensayo usando elM todo A.


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NOTA: El mtodo para detenninar la condicin de saturado superficialmente seco se describe enNTP 400.022. A manera de aproximacin, si el agregado fino mantiene su forma, cuando semoldea con la mano, se puede considerar que posee dicha condicin.

4,2 Agregado grueso y mezcla de agregado grueso y agreg ado fino. La muestrase reduce usando un cuarteado r mecnico de acuerdo con el Mtodo A (mtodo preferido)Q por cuarteo usando el Mtodo B. No se debe usar el Mtodo C para agregado grueso omezolnde agregado grueso y fino.

MUESTREO

j l La muestra de campo se toma de acuerdo con el mtodo NTP 400. O1O o: ; -. lo establezca cada mtodo de ensayo. Cuando se contempla solamente el ensayo de. abinsls granulomtric o, el tamao de la muestra de campo listada en NTP 400.010 es. w ualmente adecuado. Cuando se van a realizar ensayos adicionales, el usuario deber

. , ( e s ~r a rpor s mismo que el tamao inicial de la muestra de campo sea adecuado para~ t 1 ~a r todos los ensayos considerados.

6. METODO A. CUARTEADOR MECANICO

Aparatos

6 1 1 Divisor de muestras. Los divisores de muestras debern tener un nmero parde cajuelas con planos inclinados de ' igual ancho, pero no menor que ocho para suelosgruesos, o veinte para suelos finos, con descargas alternativas a cada lado del divisor. Elancho mnimo de la cajuela debe ser aproximadamente 1.5 veces el dimetro de la partculade mayor tamaflo contenida en la muestra a ser dividida . El divisor debe estar equipado con

dos recipientes para recibir las dos mitades de la muestra dividida. Asimismo, debe estarequipado con una tolva, la cual tiene un ancho igual o ligeramente menor que el ancho totalde la cajuela, por la cual la muestra debe ser depositada a una velocidad controlada a lascajuelas, El equipo y sus accesorios deben ser diseados para que la muestra fluyasuavemente sin restricciones o prdidas de material (Vase Figura.l).


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6.2

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Proc edimiento

6.2 .1 La muestra de campo se coloca en la tolva distribuyndola uniformemente deextrem o a extremo de tal manera que, aproximadamente igual cantidad fluya a travs decada cajuela . La razn a la cual la muestra se deposita en la tolva, es tal que se debealcanzar un flujo libre a travs de las cajuelas hasta los recipientes colocados abajo. Lamuestra de uno de los recipientes se reintroduce al aparato las veces que sea necesario parareducir el tamao de la muestra a la cantidad especificada para el ensayo . La porcin demuestra acumulada en el otro recipiente se debe reservar para otros ensayos.

7. METO O B. CUARTEO

7.1 Aparatos

7.1.1 El aparato consiste de un cucharn metlico, pala o badilejo y una lona paracubrir aproximadamente 2 m x 2 .5 m.

7.2 Procedimiento

7.2.1 Se puede usar cualquiera de los procedimientos descritos en 7.2 .1.1 7.2 . l.2o una combinacin de ambos.

7.2.1.1 Se coloca la muestra sqbre una superficie dura, limpia y horizontal evitandocualquier prdida de material o la adicin de sustancias extraas. Se mezcla bien la muestrahasta formar una pila en forma de cono; se mezcla de nuevo hasta formar un nuevo cono,repitiendo esta operacin tres veces. Cada palada tomada de la base se deposita en la partesuperior del cono, de modo que el material caiga uniformemente por los lados del cono.Cuidadosamente se aplana y extiende la pila cnica hasta darle base circular y espesor ydimetro uniforme presionando hacia abajo con la cuchara de la pala, de tal manera quecada cuarto del sector contenga el material original. El dimetro debe ser aproximadamentecuatro a ocho veces el espesor. Se procede luego a dividir diametralmente el material encuatro partes iguales, de las cuales se separan dos cuartos diagonalmente opuestos,incluyendo todo el material fino limpiando luego con cepillo o escoba los espacios libres.Los dos cuartos restantes se mezclan sucesivamente y se repite la operacin hasta obtener la


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llHntidadde muestra re querida (Vase Figur a 2 .

7,2,1.2 Como una alternativa al procedimiento 7 .2.1.1 cuando la superficie no esun iform e la muestra de campo se coloca sobre una lona sobre la cua l se homogeniza lamuest ra orig inal por paleo, como se ha descrito en 7.2 .1.1. Se puede operar tambin,metclando el material mediante la elevacin alternativa de las esquinas de la lona tirandohacia la muestra, como si se tratara de doblar la lona diagonalmente haciendo rodar almaterial. En cualquiera de los casos se procede a aplanar y extender la pila como en 7.2 .1. ]y.luCiO a dividirlo o, si la superficie bajo lona es irregular, se coloca debajo de la lona en eloentro de la m u ~ s t runa varilla que al levantar sus extremos divida la muestra en dos partesl s u a h ~ s' . .' . '

. ~ i . :

b l n d olas esquinas de la lona se saca la varilla y se coloca nuevamente debajo del centro", J - lona en ngulo recto a la primera divisin y levantando ambos extremos de la varilla se

divide la muestra en cuatro partes iguales. Se descartan dos cuartos de muestradiagonalmente opuestos y cuidadosamente se limpia los filos de la loria. Sucesivamente semezola y cuartea el material remanente hasta reducir la muestra a la cantidad deseada (Fig.J , .

METODO C. PEQUEAS PILAS CONICAS(Agregado fino hmedo)

8,1 Aparatos

8,1,1 El aparato consiste de un .cucharn metlico, pala, o badilejo para mezclar elasreado y tambin de un pequeo muestreador, un pequeo cucharn o pala paramuestreo

8,2 Procedimiento

8,2,1 Se coloca la muestra de campo de agregado fino hmedo sobre unasuperficie limpia y nivelada para evitar cualquier prdida de material o la adicin desustancias extraas, Se mezcla el material completamente por volteo repitiendo la operacinhasta tres veces. En la ltima operacin cada palabra se deposita en la parte superior del
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- LPILA CONICA SOBRE REMEZCLADO y FORM CION DIVISION DE LA MUESTRA

SUPERFICIE LIMPIA Y DURA

MUESTRA OI V I o IDA EN E L I M I N A C I O N DE CUARTOSCUATR O PARTES D IAGONALMENTE OPUESTOS

FIGURA 2 - CUARTEO SOBRE SUPERFICIE LIMPIA YNIVELADA

r C i U R ~ \J.. CUARTEO SOBRE S U P E R F I C r E L I ~ ~ P I y N I V E L A D A

~....,. . I . v

Mt::ZCLAOO SOBRE LONA FORMAC I ON DEL CONO O IVISION DE LA MUESTRA

MUESTRA D I V I D I D EN E LI M I NAC ION DE C U R TOSC UAHTOS DIAGON ALMeNTE OPUESTOS

FIGURA 3 C U A RT E O SO3RELONA

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