¿Qué contiene el PM2.5?

Muestra 1 Muestra 2

Método convencional

Muestreo Reemplazo de Filtro Pretratamiento Análisis

1. Gran coste humano y tiempo

2. Dificultad de captar la tendencia

3. Desviación de medida en campo + laboratorio

¿Cómo se determina el contenido de PM2.5?Método tradicional

Componente Método FiltroComponente Iónico Cromatografía iónica PTFE

Elementos Inorgánicos ICP-MS o XRF PTFE

Hidrocarburos Aromáticos Policíclicos HPLC o GC-MS PTFE

Carbono elementalCarbono orgánico

Método Térmico/Óptico Filtro de Cuarzo

Componente iónicoElementos inorgánicos

Carbono elementalCarbono orgánico

Estudios de determinación de fuentes

¿Por qué se ha desarrollado el PX-375?

Características• Gran coste humano y de tiempo• Dificultad para captar la tendencia• Desviación por pretatamiento

Soluciones• Medida continua de PM y de Elementos• Software de Adquisición de Datos y función remota• Determinación del Color y la Forma de la partícula mediante la cámara interna

Medida en continuo de PM & Análisis ElementalCon una Unidad Compacta

Cabezal de toma de muestra(TSP, PM10, PM2.5)

Unidad de condensados

Unidad Principal– Atenuación Beta & XRF Fuente de identificación de X-ray

Dimensiones: 450(w)x550(l)x 285(h) : mm Peso: Aprox 30Kg

Medida en continuo de PM & Análisis ElementalCon una Unidad Compacta

Análisis Elemental < XRF >

Análisis de Concentración <Rayos Beta >

Vista interna

Elementos detectables

Límite de Detección

* Límite de Detección es 2 sigma * Sigue el método EPA IO 3.3

ng/cm2

Experimento de verificaciónComparación con ICP-MS por un tercero cualificadoCorrelación positiva Confirmada

Tiempo de muestreo: 1hour Voltaje X-ray : 15/50 kV Corriente X-ray: 200 mA Elemento objetivo: PdTiempo de análisis: 1000 s

*PX-375 ：Calibración realizada con NIST SRM 2783*ICP-MS ：Fujitsu Quality Lab

Los factores de correlación no dependen del material de referencia

Baja concentración & Alta sensibilidaddGracias a la nueva cinta filtrante desarrollada

Valores cuantitativos del filtro original

Comparación con el espectro de Rayos X

Promedio, Promedio±SD de 5 medidas<LOD :Li,B,K,Ti,V,Cr,Ni,Cu,Zn,Ga,Ge,As,Se,Sr,Y,Zr,Mo,Ag,Cd,Sb,Cs,Ba,La,Ce,W,PbLOD<LOQ : Italica

Componente iónico: Metrohm IC 850Elemento inorgánico: Agilent Technologies 7700x

Operación y Muestra de datos sencillo

Facilidad para tener el resultado y comparar el PM y Elemento

Progreso de las

medidasTendencia de PM

Resultados previosTendencia de elementos

Funciones

Análisis de PM

Resultados de Medida Análisis de Imagen

Análisis elemental

Variación temporal de la masa y de la concentración elemental