ML-STD-105D

7/23/2019 ML-STD-105D

1/15

DI ST RI TO CA PI TA L DE SANTA FE D E BOGOTA

I N ST I T UT O D E D ESARRO L LO L RBJ. O

CONSORCIO

B O R l A P A Z

nexo

NORM A M I L ITAR ESTANDAR l D

CONTRATO: IDU 801 99

CODIGo 17

EVALUACION GEOMETRIA y DAOS

LOCALIDAD DE USME

7/23/2019 ML-STD-105D

2/15

\.

.: . .

,

1 ::,

: -, o ' . .

.

..

.

: . f : : :

: . : 0 : : ' ,

: Oo

'

'.

,.

,

de la calidad. En los Estados Unidos, ste estndar fue adoptado en 1.963 y se llam

MIL-

STO-lOSO Y su designacin internacional es ABC-STO-105 =

Estos planes de muestreo son los ms utilizados a nivel mundial en las compras de organiza-

ciones gubernamentales y han sido adoptados ampliamente por la industria privada para el

muestreo de aceptacin de toda clase de materias primas y productos.

3.12.2

El C como ndice de Calidad de los planes MIL-STD-}OSD

Los planes MIL-STO-lOSO son esquemas de muestreo basados en el concepto de nivel acepta-

blede calidad -NAC. Han sido diseados para tener una gran seguridad de aceptar un-Iote--

/cuando la calidad del proceso es mejor o igual al NAC especificado, en otras palabras, el por-

centaje defectuoso del proceso es menara igual al NAC. En estos planes se ha querido dar una

adeucada proteccin al fabricante, esdecir, mantener bajo riesgo del productor. Una menor

consideracin se da al riesgo del Consumidor. Sin embargo, si existe inters de controlar am-

bos riesgos, se pueden estudiar las curvas. OC y escoger el plan que d una apropiada protec-

cin contra ambos. tipos de riesgos .como se discuti anteriormente.

El NAC no puede ser establecido en forma cientfica y por lo tanto debe establecerse por con-

venio o arbitrariamente. {Una excepcin, discutida adelante, es fa determinadn del NAC ba-

sndose en costos internos).

Conceptualmente, el NAC representa a Un punto de equilibrio entre el costo de alcanzar un

mejor nivel de calidad (incrementar la inspeccin de los prroveedores, controles adicionales,

equipo de manufactura ms preciso. etc) y el costo de permitir un bajo nivel (rechazos, pro-

ducto desechado, incremento de tiempoen reproceso, etc). Enla prctica,ell JAC es un com-

promiso entre la capacidad cualtlvatlvatil productor y los requerimientos del comprador.

Es posible encontrar un punto de equillbrlo aproximado para el costo de aceptar corregir un

defectuoso centra el costo de inspeccin; sin embargo. estos costos no son fciles de determi-

nar.

La ecuacin para el punto de equilibrio seria la siguiente:

=

P

donde.

Costo unitario de aceptacin {dao causado por una pieza defectuosa que no se de-

tecta en.la inspeccin} .

R

Costo unitario de rechazo (costo de encontrar un defectuoso en un lote rechazado

ms los costos de corregir este defectuoso).

Costo deinspeccinarun artculo

p

Fraccin defectuosa en el lote (desconocida)

Costo de reparar o reemplazar un defectuoso una vez seha encontrado.

Si el costo C de reemplazar un articulo es pequeo comparado con A, el dao causado por un

defectuoso entonces, la fraccin defectuosa de equilibrio Pe es aproximadamente:

A

Costo de Inspeccionar un articulo

Dao causado por un defectuoso

160

7/23/2019 ML-STD-105D

3/15

-

Tericamente, to s lotes con un nivel de calidad mejor que Pe sern aceptados sin necesidad de

clasificarse, aquellos con un nivel de calidad peor que "'debern ctaslflcarsey los defectuosos

debern corregirse. Si los rejstros histricos muestran que el nivel de calidad es mucho mejor

que el punto de equilibrio y estable lote alote, posiblemente ninguna O muy POC inspeccin

se requiere.

Pero, si el nivel es peor que el punto de equilibrio, entonces, posiblemente resulte ms barato

usar inspeccin

jo

en lugar de muestreo. Si el nivel ce calidad no se encuentra en ninguna

de fas posiciones extremas anteriores. el muestrease paga por s mismo y el NAC ser general-

mente, menor que el punto de equilibrio.

J .t vl . JU RAN, en su libro Quality Control Handbook, anez a el siguiente ejemplo:

Supnqase que, e c esto u nitar io ce inspeccionar piezas de una pel cu a de mica es 0, 1 centa-

vos dlar y el dao causado por el defectuoso es 10 centavos. Entonces Pe = 0,1/10 = 0,01

10/0. Como el nivel de calidad de 1 es ei punto de equilibrio entre inspeccionar jo y

muestrear. el pian de muestreo aoreciado deber darle un lote una probabitidao de50

0

jo de

s

cl asificedo o mt.:estr93co. 9S cecir. o a probabilidad ce aceptacin el plan deber ser 0 50

a un nivel ce calidad 1;0 defectuoso.

5uGngJse ci.e

2i

;:r;cuc o

2S

sometido a inspeccin en lotes ce 15.COOunidades. Analizando

la s

curvas

de

OC

de

las tablas Mll-STD-105D. nivel de inspeccin general

11 ,

letra cdigo /1

se encuentra que el plan I'IAC que ms se acerca a las condiciones de Pi = 0,50 para la/o, es

un valor entre 0 .:.).0 y 0.25. Por tanto el plan de adoptar p referiblernente ser aquel con el

menor NAC.

3.12.3

Descripcin de los Planes r"lll-S TO-1 05 D

Ei ncice ce calidad en estos planes es el nivel aceptable de calidad (i'JAC). Se pueden escoger

26 valores NAC diferentes que, van desde 0.010 hasta 1000. los primeros quince valores, o

sea, aquellos menoreso iguales a 10 pueden interpretarse como porcentaje defectuoso o como

defectos por cien unidades. Los valores superiores a 10 deben interpretarse exclusivamente

Como defectos por cien unidades.

---

------------------------

los defectos se clasifican. para efectos de uso de las tablas en: crticos, mayores y menores. .

--- -' ---- -.-.._- -'.. _ '.--' -- -.-.' ._._.-. - - - ._--.. ---.---- -_.-. - .--- -_... _ ..__::-=::::: :.:.: _:::::.-_-::.:--.::.----':. _.-.. '--

la probabilidad de

aceptacln

ce un lote con un nivel de calidad igual al NAC vara de

89

a

99,5

0

0

los planes M Il-STO-I05D poseen diferentes niveles de inspeccin, es decir la cantidad relati-

va de inspeccin requerida. Para aplicaciones generales hay tres niveles, a no ser que se especi-

fique lo contrario, se utiliza el nivel general

1 1

los tres niveles poseen una cantidad de inspec-

cin en relacin 1 a 2 5 y 1 a 4, aproximadamente. i' ormalmente. se utiliza el nivel de ins-

peccin general 1 1 pero factores tales como simplicidad y costo del producto, costo de ins-

peccin, inspeccin destructiva, consistencia de la calidad entre lotes y otros, hacen posible

utilizar otro nivel. El nivel 1 puede especificarse cuando se necesita menor discriminacin yel

nivel III para mejor discriminacin de los lotes.

los planes tambin tienen cuatro niveles especiales de inspeccin 5 1. 5 2 5 3 y 5 4 utiliza-

dos cuando se necesitan relativamente pequeos tamaos demuestra, por algunos aspectos de

inspeccin y por lo tanto, se pueden o se deben tolerar grandes riesgos en el muestreo.

las tablas Mll-STD-105D permiten utilizar planes de muestreo sencillo, doble o mltiple.

Cuando se utiliza muestreo sencillo, el numero de unidades de muestra inspeccionadas debe-

r ser el tamao de muestra dado por el plan. Si el nmero de defectuosos encontrados en la

muestra es igualo mayor que el primer nmero de rechazo, el lote deber ser rechazado.

161

7/23/2019 ML-STD-105D

4/15

. ,. .

. ,1 .

.,; , I

. .

..

,-

.. -

: 1 -

.. I

I

ALutilizar muestreo doble, si el nmero de defectuosos en la primera muestra se encuentra

entre los primeros riUiTci's-de aceptacin y rechazo, una unda muestra se debe inspeccio-

nar con un tamao dado por el plan. El nmero de defectuosos encontrados en la primera y

segunda muestra se acumulan. Si el nmero acumulado de defectuosos es menor o igual que

el segundo nmero de aceptacin, el lote se acepta, pero si es igualo mayor que el segundo

nmero de rechazo, el lote se rechaza.

Cuando se utilizan planes de muestreo mltiple, el procedimiento es similar al explicado para

muestreo doble, pero el nme70cre-ii1estr:asseesivas requeridas para tomar una decisin ser

ms de dos.

En las figuras 48, 49, 50 se presentan esquemticamente las operaciones en el muestreo senci-

llo, doble y mltiple, respectivamente.

El procedimiento para escocer un plan de muestreo de las tablas es el siguiente:

1.

Se debe conocer la siguiente informacin:

1.1 Nivel aceptable de calidad - 'JAC.

1.2 Tamao del lote.

1.3 Tipo de muestreo sencitio, doble o mltioie .

lA

Nivel de inspeccin (usualmente nivel li).

2. Conocido e tamao del lote y el nivel de inspeccin, obtener la letra clave para el tamao

de muestra de la tabla

3. Conocida la letra clave, el NAC y tipo de muestreo, se lee el pian de muestreo correspon-

diente de una ce las nueve tablas maestras .

.

--

por ejemplo'; supngase que se ha establecido para" comprar cierta materia prima un IAC del

l:5

0

/opa"racontrolar los defectos mayores. Supngase tambin, que los lotes se compran en

lotes de

2.000

unidades. Entonces, de la tabla de letras claves (tabla

7

del apndice) se halla la

letra K, utilizando en el plan, nivel de inspeccin general Si el tipo de muestreo es sencillo

entonces, la tabla maestra (tabla 8 ) indica el pian a utilizar en la fila K. El tamao de muestra

es 125. Para NAC

=

1,5 o el nmero de aceptacin dado es 5 y el de rechazo 6.

=

Lo anterior significa que el lote de

2.000

unidades se aceptar si se encuentran 3 o menos uni-

dades defectuosas en la muestra de 125, pero deber rechazarse si se encuentran;' o ms de-

fectuosos en la muestra.

El criterio de aceptacin paLa fecto2...crli. 5_d.eber_ ,-r..QJ s_.ie.Ye.ro...Que-R-ra defectos menp-

res... En otras palabras, debern escogerse valores de NAC relativamente bajos para los defectos

que puedan ocasionar serias consecuencias y valores de NAC relativamente altos para aquellos

defectos de poca importancia, por tal motivo es esencial establecer una clasificacin de d kc-

--

_ - - _

- - - _ -

-

._-----------------

-

tos para utilizar estos pl9. J.e,;;.

-----------

Con base en los resultados obtenidos con el plan, es posible establecer una menor inspeccin

cuando la historia de calidad sea lo suficientemente buena o establecer una inspeccin ms se-

vera, si histricamente el nivel de calidad de los lotes sometidos a inspeccin, es muy pobre.

3.12.4

Severidad de Inspeccin - Definiciones y Reglas generales para cambiar niveles

Cuando muchos lotes consecutivos sometidos a un plan de muestreo han sido aceptados, la

calidad del producto es consistente y mejor que el nivel fijado por el plan. Por lo tanto, es de-

seable reducir la cantidad y costo de la inspeccin. simplemente porque el nivel de calidad es

bueno.

Por otro lado, si ms de un lote ocasionalmente se rechaza por el plan de muestreo existente,

entonces el nivel de calidad es peor que el deseado o el nivel de calidad flucta excesiva-

mente entre los lotes inspeccionados. En estos casos, es deseable incrementar la rata de mues-

162

7/23/2019 ML-STD-105D

5/15

.

.

.

.

. f ; :.

/ f : : 1

: :;i

. ' . :

'.

.::;

t ;

tns e ne s e

uno

muestre de n e s ;

pecimenes

FIGURA 48 _. MUESTREO SIMPLE

-------------

lnsoe ccione s e une

Si lo

nn

de defe

7/23/2019 ML-STD-105D

6/15

' : .' :

.., . . ,

; .

..

.

.

.

..,

v ; :

:

-..

:

:

..:

\

.

.

Inspeccionese una muestra ,,

de nI especmenes

Si la cantidad de defectos

no excede de e1 b


es mayor que C 1b Ymenor

o el

Inspeccionese una segunda

muestra (n2especmenes)

SI la cantidad de defectos

en lo totalde io ensayado

(nI n2)


de el

f

No exced e

e

e2b

No excede de

C3b

Aceptese la

partida

164

Es mayor que e2b y

menor O igual a

e2a

Inspeccionese una

tercera muestra

(n3 especjmenes)

Si

la cantidad de defectos.

en el total de lo ensayado

(n1 I n2 n3)

Es mayor que C3b

y menara igual

a C3a

Continuese la inspeccin

con el mismo criterio

FIGURA 50 _. MUESTREO MULTIPLE

Excede de e2a

Excede de C3a

Rechacese la

partida

7/23/2019 ML-STD-105D

7/15

,'

.

-, .: . . .

.

.

. : .>

' . . ' .>. . ;

treo yio reducir el numero de aceptacin para determinar mejor los lotes con bajo y buen ni-

vel de calidad. . ...

....

Los planes MIL-STO-l050 contemplan el ajuste en la cantidad de inspeccin y/o el nmero

de aceptacin, segn los resultados obtenidos. Se han previsto tres niveles de severidad: no -

mal, cerrada y reducida.

Con el establecimiento del plan de muestreo, se inicia el muestreo con inspeccin normal y se

contina en ella hasta tener evidencia de que existe una mejor o peor calidad que la especifi-

cada.

Esquemticamente, las recias para cambiar de una severidad a otra en los planes M IL-STO-

1050, se dan en la figura

5 L

----.--------- RE DU CID A --------,----

Cuatro condiciones S e requieren

incluyendo experiencia en ccep ,

tacin y continuidad de la

produccin

Se inicio --- ---,----------- N O R M A L

con ste nivel el

muestreo mientras

no se especifique

lo contrario)

I-Un lote rechazado

2- Lote aceptado, pero no se cumple

el criterio de aceptccin o rechazo

3- Produccin irregular

4- Otras conduccin

.

5 lotes consecutivos aceptados

bajo inspeccin c

errnd

c

r ; . . . ;

t i : ; c : < l

;

7/23/2019 ML-STD-105D

8/15

: -. .

': Si

::

7/23/2019 ML-STD-105D

9/15

r:

7/23/2019 ML-STD-105D

10/15

.

: ',

o .. .

, . o ,

'. :

.

..

: ; .

: ;t

: _

:

: t

3. Planes con Muestreo Mltiple

3.1 Inspeccin Normal

Tamao

Tamao

Mu estra

dela

acumulativo

Ac Re

Muestra

de la muestra

Primera

20

20

*

3

Segunda

20

40

O 3

Tercera

20

6

1

4

Cuarta

20

80

2

5

Quinta

100

3

6

Sexta

20

120

4

6

Sptima

20

140

6

7

* LA ACEPTJl CION NO SE PERMITE A ESTE TAMAO DE MUESTRA

3.2

Inspeccin Cerrada

Tamao

Tamao

Muestra

de la acu mut ativo

Ac

Re

Muestra

de la muestra

Primera

4

*

2

Segunda

20 60

O

3

Tercera

20

8

O

. .

.)

Cuarta

20

100

1

1

.. .

Quinta

20 120 2

4

Sexta

140 3

5

Sptima

20

160

4

5

*

LA ACEPTACION NO SE PE RViITE A ESTE TAivlAI -:O DE rvlUESTRA

3.3 Inspeccin Reducida

Muestra

Tamao

dela

Muestra

A.c

Re

Tamao

acumulativo

de la muestra

Primera

Segunda

Tercera

Cuarta

Quinta

Sexta

Sptima

8

16

24

3

40

48

*

3

*

3

O

4

5

1

6

1

6

2

7

8

8

8

8

8

8

8

*

LA ACEPTACIQN NO SE PERMITE A ESTE TAMAO DE MUESTRA

El lector puede en forma similar establecer los planes disponibles para defectos crticos

y

menores.

168

7/23/2019 ML-STD-105D

11/15

': ,:: :,: : - :

. : , . : : ; 4 ,

...

: . ...1

': : . - t

- - - - - \

{E' 2 \

\ Jemplo. :

\, ,. -

trol

de producto saliente en una fbrica, se ha establecido el plan MI L-STD-105D

con muestreo simple. Los niveles aceptables de calidad para defectos mayores y menores se han

fijado as:

Defectos mayores:

Defectos menores:

0,65

0

;0

2

500

10

Para este producto no se presentan defectos crticos, los lotes constan de 3.000 unidades. De

acuerdo con el estndar ABC, la letra clave es K utilizando nivel II y los planes son los siguien-

tes:

l

Inspeccin Normal

Clase de

Defectos

Mayores

Menores

Inspeccin Cerrada

Clase de

Defectos

Mayores

Menores

3. Inspeccin Reducia

Clase de

Defectos

Mayores

Menores

n

p

Re

25

25

2

7

3

8

n Ac

Re

?

::J

25

1

5

2

6

n

Ac

Re

50

50

1

3

3

6

En todos los casos, la muestra extrada de cada lote...s.o.rnetido a insoeccin, debe ser insp

donada separadamente para cada clase de defectos.

-

..

La misma muestra se inspecciona tanto para defectos mayores como para menores. Por tanto,

se toma una sola muestra de 25unidades, si estamos bajo inspeccin normal por ejemplo, y

en todas y cada una de las 25unidades se inspeccionan en relacin a las dos clases de defec-

tos.

..

.

. : 1

. ..

Sin embargo, como lo indica el plan, los criterios de aceptacin se aplican en forma diferente

para cada clase de defecto. Por ejemplo, si se tiene inspeccin cerrada, y en la muestra de un

lote se encontraron 6 unidades defectuosas por defectos menores y articulo con defectos

mayores. SDionces el lote_deb.e eptarse para defectos mayores, pero se rechaza por co,0,:..._

cee19--de-de.:ec tos.meQ.QL .

:

.

.

:

.

.

- ' :

, . . ,

Ejemplo 3.

----

Un cierto tipo de tela viene en rollos de cien metros, se ha convenido con el proveedor un ni-

vel aceptable de calidad de 25 defectos menores en cada rollo de 100 metros (ntese que la

unidad de producto es 1 rollo de tela). Utilizando muestreo doble y un nivel de inspeccin

general para lotes compuestos por 50 rollos, el plan MIL-STD-I05D sera:

169

7/23/2019 ML-STD-105D

12/15

J O : . .

'-

: ; t j ? ; ; : ;

. ;: ; ; .:'

. r . . -, ,

. Ct

.

, : . : ; 1 ;: , , ;

- : : : - ; i : '\ t ':.l

-'

...

,

, ,. v-,

. . ,,.

..;

,, .....

.

,.:*

. .

Letra Clave: E

Inspeccin

P rim ara M u estra

n 1 p c Re

Muestra Acumulada

nI

+

z

S eg un da M ue stra

n2 Ac Re

f' ormai

Cerrada

Reducida

)

7

8 9

o

3

2

5

8

7

0

3

1

3

7

16

16

6

El plan indica que de un lote de 50 rollos de tela, en inspeccin normal por ejemplo, se tome

una primera muestra ce 8 rolios, si e nmero Ce rollos con ms de

25

defectos menores, es

igualo menor que 3 se acepta el lote sobre la base de la primera muestra slernente, y se re-

cn

azar

si se encuentran 7 o ms rollos defectuosos.

Pero. si el nmero ce

roltos

defectuosos encontrados en la primera muestra. excede a 3 pero

no es igual a 7 entonces, se debe tomar una segunda muestra de 8 ranos adicionales. y el lote

se aceptar si ei nmero de rotlos defectuosos en la primera v secunda muestra combinada

(nI

+

2):10:::5 ;t;. ycr cue 8. E lote se rechazar s j el nurner o de rollos defectuosos en ' a

muestra total, o sea 16. esigualo rnayor cue 9 rcllcs de tela.

-ty- -t ....

\ r ;:

. Ejemplo + ..

J.

v .

_ . > _ . .

Supnqase que se deseamuestrear un cereal no empacado. que est almacenado en un silo con

400 toneladas de capacidad. Si por ejemplo se tiene definido que el producto empacado se

presenta en bultos de 50 kq., es decir las unidades de producto son 50 kg., es posible estable-

C2f un plan de muestreo reduciendo el nmero de toneladas a unidades de

50

kg.

Conociendo la capacidad de descarga, se procede a ceterrninar el tiempo total. El intervalo

de tiempo entre la toma de una unidad de muestra y otra se obtiene dividiendo el tiempo to-

tal por el nmero de muestras.

Se tendra jo siguiente reduciendo toneladas a unidades:

N

=:

400 x 1.000

=:

400.000 ka; 400.000 -:- 50

=:

8.000 unidades. De tal forma que en es-

te caso, el tamao del lote es de 8.000 unidades. Si se apiica un nivel de inspeccin general 1 1

y muestreo simple, entonces las tablas MIL-STo-I050 indican que se deber tomar un tama-

o de muestra de 200 unidades.

Si la capacidad de descarga del silo es de 30 ton/h. el tiempo de descarga ser:

(60 x

400 -:- 30 = 800

minutos.

El intervalo de tiempo entre toma y toma de muestra ser:

800 -:- 200 =: 4 minutos

Entonces. cada 4 minutos deben tomarse muestras parciales. por ejemplo. cada .una con un

peso entre 50 y 200 g. hasta completar la muestra representativa del silo, es decir. del lote.

\3 _14 Muestreo para Variables:

Se han estudiado hasta el momento planes de muestreo por atributos. cuando el producto se

clasifica conforme,on a cierta especificacin. Este tipo de planes es el que ms se ha aplica-

doy sin duda seguir sindolo. no obstante el desarrollo del control estadstico de calidad

para establecer planes de muestreo de aceptacin por variables.

170

7/23/2019 ML-STD-105D

13/15

TABLA 7 - LETRAS CLAVE PARA EL TAi\lAO DE MU::STRAS

- i',lIL-STD-105

I

f\:i /l les ce inspeccin esp eci al es

I

Ni'/ s ir. ac:ic:'l

Ilr.l:;O

tllo:e

S l:JIS

o ca

I

I \

I

I

I

o l

,)

S-:3

S --l

1

II

Ir

'--

t

I

"2-5

. l o ,

. - \ .

,\

, . l .

, . l .

I

B

\.

l -15

A

.\

A

,\

B

I

e

16-:25

.\

A

B

B

B

e

D

I

I

I

-

"2 '3-50

, . . .

B

u

e

I

e

D

I

-

.J

I

-

1

-IO

i

B

B

e e

I

e

I

)1- 5 0

I

B

B'

e D

D

T"

I

Gr

i

1

I

1

l

5 i : 2 ; 5 n

B e

D

E

I

I

E

I

I

.L

1

v

I

251-5Cj

I

B

e

I

I

1

E

J

1

D E r

I

I

I

- .

501-1

: 2C0

1

e

e

r:

F

e

I

J

I

r

I

.

I

I

I

1

i

I

1

20l-:)

2CD

r

. . . .

.'

ro

-

L

'-'

,J ,.-

11

1

r> l\

1

I

ro

I

I

C D

,(

r

_Vl

. . . VV

'-'

.

I

10

L ;}i :- 5

,C O

e

})

F

t.:

,

1

""

r

.v ,

;

.

I

\

I

r

:

C - 0 1 -150

o

D

E

(;

J

L

:, '

I

p

151)

(JO1-5L

)

)

1'

G

I

J

I

[

I

p

ro .

I

'< .

I

I

.

,

,

.

T

P

. : : , ) J C O 1 y

mas

E

l\.

7/23/2019 ML-STD-105D

14/15

, - - - I

C = = = _ '

?- . .

TAI3LJ\'11)- MAESTI1A PAnA INSPECCION NonMJ\L (MUESTI1EO DOBLE) -MIL-STD-10 iO'

(ESTANDAn AOC)

'

/

r-

e, _

r .1II. N i vulcs tic calidad acul'l.hlu ,lillSl'Oco:ilHl .lIormol ,

- - r - - - - - r - - - - r

T .m.i'\u jCUIUU I I

muoslr.

l . l .

Illi.o 0.010 0,015 0,025 O.O{O 0.06S 0.10 0,15 0.15 I.U O.U, 1.0 1.5 2,5 . 0 6.5 JO 15 25 40

mue,Uit de l.

.I

.. f -

-,-l--4--J--+--l--+---f--

onu",'"

Ac lte A c Ik A c H e

\C

lte Ac lte A c lte Ac lte c Ac B .. A .c H -t-IA e IU IAc lte A c He A c H e A r IV . A H A c I te Ac Ile Ac

l ot

Aa 1M Ac R.t A Jt Ae Ile A a Ile A o Ile A Ro

-A --t--.-

m I T .

1

t I t t . ir It

t,

t t

t ; ,

t

Jo n . .

2 2

t

t o 2 o 3 1

w

2 ,5 3 7 5 9 7 11 11 U 17 22 25 31

o

Segun."

: 4 1 : 3 6 7 B g 12 13 18 1\12'; 21 37 38 66 67

---C-f-'-.,..:i,,- ,-

rt

--.-3;.t--'J t 1 (12

O

3 1

2

S 3 ,7 6 9 7,1111

I(

17

1S

31

Slgu I. 3 6 1 3 (, o '1 9 12 13 111 I I 2 6 27 37 ..., 67

---i1-1'-,.;.. ,. -,-. -- .. .:. ... 5 r+r lIt I O f-i""j

-1--. -3-''

11 7

11

n JI) 1'7 2 2 zs 31

O Sovunct. 6 10 + 1 2 3 '. , 5 6 7 8 11 1% 13 J 8 1: 00

1 .7

B'i' 38 56 5i'

-- -11 -:'' :"''-1 '' -'. - '-' .t--... .::-. I---':-il

I

t 1 t 1 O 2 O J II--: 2 "5 3 7 5 I 7 JI 11

17 22 25 31

E Scgu".I. H rs + 1 2 3 4 4 :S 6 7 s O 12 1:1 18

111116 '' 1. 7S7 3/1 5 6 57

'--- ,':".'..::.III- ,-,f--:-:13 1--71-=-3-1 1-, 02031, '(2 3.7 5 9 7 JI l\ 16

F

S.Y"/I'1o

13 26 1 2 :1 . . 6 7 I 1112 13 26 27

- - G - l - . , . . , . .. . : - . : ; - , : - . + - . ; . . = - + - . . : n ; , : I I - l - - , -

t ,

,

t . ; ;

I I I : I

- - - f - :, - - , , ' : ' . , , - - , . : , ' : , "1--:l=2:",1-'--::1: -,-

t

- 1 - - O 1

-03

-1 -. 2 5 3 , 7 S 7 11 11 16

11

S.91,"I, ':12

ii . 1 1

J .

ti 7 11 O 12 13

II

lO

26

27

---4-,.-,,:":,,-,.-1----

51

:":):"1----

50

":" t---

t

I--

--ll-o

-1 -.

5 :1 7"50 7

11 11 16

J S.UIII. 50 lOO ' + ' 1 1 1 i i

ti

7 8 o 12 1 3 1 1 g 26 27

---4- ...:,;:.. . 4 ; : . j = I -- - ()']

O

? "1-7:fIi 7 11 11 ,16

K l-S -aY

II.I. M l

1

tiO 1 . .

1

1 1 ,

4

I t i . / lo

U 12 IJ 1H 1 h 27

f-- ----01 01 -2'5

:i

507 11 11 1llt- f-C -

1 l' 1 ' J. J t 1 11 7 B Ul12 13ph l ti 2/

-1-

--t - 1

'()'T

()j -r-l -l-f,

-3- i -5--

7 JI 1\ 1j

t

I l :1 4 , I 11 7 H 9 12 13 11( 1

J

(i '1.7

f--1-t--l--,-I-O--2-+--0"":':3- 1

--- :iS

3 7 5 \) 7 11 11 1

o

' + ' 123 . 56 7 I 1I 1 'J.I3 IHI'J2 t in

p

I'';en...

rr t ,OT

0:1 1 .

'3-7

"TU

-7J1 T\t

i

_ -+.:

c y,,:..n..:.."..::.'+--=.:::::...t-=-"::::4I-_+-':"_I'" 1 2 3 4 . ( 6 7 11 V 11 1 3 18 1U 26 27

"'lino.. r 1

lUZ-

O 3 i---- 2 5

37

s IJ 7 11 11 16

r

I

S,yuIIII. + J 2 3 . . . 6 H \1 : 2 'J .ti '1.7 1I I

n Pueno,. O 1 O 3 4 2 6 3 7

,

IJ 7 11 11 1n t l '

S.gu

liJo

1 1 3 4 . 5 11 7 11 11 12 IJ I

ti

n 1:6 27

-_-L.- : L-._.l-_-.l._--l--_...I.._-

____- - L- - - L- - - L - - - L- - - - - L - - - - - L - - - - - - - - L - - - - - - - -

Letr.

clav.

par. el

I.maflo

7/23/2019 ML-STD-105D

15/15

DISTRITO CAPITAL DE SANTA FE DE BOGOTA

INSTITUTO DE DESARROLLO URBANO

CONSORCIO

BewA PAZ

nexo

FORM TOS DE I NSPE I ON

CONTRATO: IDU 801 99

CODIGo 17

EVALUACION GEOMETRlA y DAOS

LOCALIDAD DE TUNJUELITO

Documents

ML-STD-105D