APLICACINAPROVECHAMIENTO DE PATENTES PARA EL DESARROLLO
TECNOLGICO
VELASEncontrar y analizar las patentes que se
relacionenUtilizarseMejorarseImplantarse
ASPECTOS A CONSIDERARETAPAS DEL MODELOINDICADORES DE VALOR EN EL
NEGOCIO3.2 CODIFICACINInformacin
Anlisis Bsqueda de debilidades de otros productos
BenchmarkingAdecuacin y aculturacin PyME Tcnicas y herramientas
Bancos de datos especficosNacional IMPIInternacional WIPO
RECURSOS
![ourier - unican.es · (III) Sean φ [n ] y ψ [n ] iodo N. De fino: ’φ [n ],ψ[ n ] ( =! n = $ N % φ [n ] ψ ∗ [n ] , donde n = ’N (signi fique n recorre N enteros De fison](https://img.pdfslide.es/doc/110x75/5fb1d9b63334c306e81deacc/ourier-iii-sean-n-y-n-iodo-n-de-ino-a-n-n-.jpg)
![Aplicación de Web 2.0 2019-20 - posgrado.uah.es · ï ï X KEd E/ K^ o } µ } v v ] } d } o Z } À } o µ ] v ] v v } u } Z u ] v ð ð X D dK K>K'1 ^ E^ H E r WZ E / : X d/s](https://img.pdfslide.es/doc/110x75/5f0869f77e708231d421e44c/aplicacifn-de-web-20-2019-20-x-ked-e-k-o-v-v-d-o-z-.jpg)
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