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DIFRACCIÓN DE RAYOS X I TEMAS DE EXPOSICIÓN - SEMESTRE ACADEMICO 2015-A N º CODIGO APELLIDOS Y NOMBRES TEMA FECHA 1 091072K CCOYO LUJÁN RICHARD Fotografías de Laue: Cámaras de transmisión y retroreflexión. Portamuestras. Colimadores. Las formas de las manchas de Laue. (138) 10.06.1 5 2 070963C DEL PINO TALAVERA KATHERINE Fotografías de polvo: Método Debye-Scherrer. Preparación de la muestra. Cargado de la película. Cámaras de altas y bajas temperaturas. Cámaras de focalización. Cámara de Seemann-Bohlin. Cámaras focalizadoras de retroreflexión. (149) 17.06.1 5 3 080916H FLORES CAMARGO RICARDO Fotografías de polvo: Fotografías pinhole. Elección de la radiación. Radiación de fondo. Cristales monocromadores. Medida de la posición de línea. Medida de intensidad. (163) 24.06.1 5 4 093103K PEÑALVA SANCHEZ JHON Medidas difractométricas: Aspectos generales. Óptica de rayos X. Cálculos de intensidad. Contadores proporcionales, Geiger y de centelleo. Scalers. Ratemeters. Uso de monocromadores. (177) 01.07.1 5 5 058949C AGUILAR CHUMPITAZ FRANCISCO Orientación de monocristales: Método de Laue de Retroreflexión. (215) 08.07.1 5 6 095096i CASTILLO CORAHUA DANTE Orientación de monocristales: Método de Laue de Transmisión. Método Difractométrico. (229) 08.07.15 Indicaciones .- El número entre paréntesis indica la página del texto "Elements of X-ray Diffraction" de Cullity donde se inicia el tema. El tema a exponer podrá ser presentado impreso o en medio magnético una semana antes para su revisión y deberá contener

Temas de Exposición 2015-A

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DIFRACCIN DE RAYOS X I

DIFRACCIN DE RAYOS X ITEMAS DE EXPOSICIN - SEMESTRE ACADEMICO 2015-ANCODIGOAPELLIDOS Y NOMBRESTEMAFECHA

1091072KCCOYO LUJN RICHARDFotografas de Laue: Cmaras de transmisin y retroreflexin. Portamuestras. Colimadores. Las formas de las manchas de Laue. (138)10.06.15

2070963CDEL PINO TALAVERA KATHERINEFotografas de polvo: Mtodo Debye-Scherrer. Preparacin de la muestra. Cargado de la pelcula. Cmaras de altas y bajas temperaturas. Cmaras de focalizacin. Cmara de Seemann-Bohlin. Cmaras focalizadoras de retroreflexin. (149)17.06.15

3080916HFLORES CAMARGO RICARDOFotografas de polvo: Fotografas pinhole. Eleccin de la radiacin. Radiacin de fondo. Cristales monocromadores. Medida de la posicin de lnea. Medida de intensidad. (163)24.06.15

4093103KPEALVA SANCHEZ JHONMedidas difractomtricas: Aspectos generales. ptica de rayos X. Clculos de intensidad. Contadores proporcionales, Geiger y de centelleo. Scalers. Ratemeters. Uso de monocromadores. (177)01.07.15

5058949CAGUILAR CHUMPITAZ FRANCISCOOrientacin de monocristales: Mtodo de Laue de Retroreflexin.(215)08.07.15

6095096iCASTILLO CORAHUA DANTEOrientacin de monocristales: Mtodo de Laue de Transmisin. Mtodo Difractomtrico. (229)08.07.15

Indicaciones.-

El nmero entre parntesis indica la pgina del texto "Elements of X-ray Diffraction" de Cullity donde se inicia el tema. El tema a exponer podr ser presentado impreso o en medio magntico una semana antes para su revisin y deber contener obligatoriamente ejercicios resueltos de aplicacin relacionados al tema. El tema expuesto, en un tiempo no menor de una hora, deber presentarse en un CD conteniendo dos archivos: el texto del desarrollo del tema en MS Word 2003 y la presentacin en MS Power Point 2003. La fecha de exposicin que se indica es tentativa y podra adelantarse de ser necesario. Una vez definida la fecha de exposicin, sta ser impostergable.