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AMPLIFICADOR ESPECTROCÓPICO
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UNIVERSIDAD AUTÓNOMA DE ZACATECAS
AMPLIFICADOR ESPECTROSCÓPICO
I.C.E. María Selene Alonso Muñoz
Tesis de Maestría
presentada a la Unidad Académica de Estudios Nucleares
de acuerdo a los requerimientos de la Universidad para obtener el Grado de
MAESTRA EN CIENCIAS NUCLEARES
CON ORIENTACIÓN EN INSTRUMENTACIÓN NUCLEAR
Directores de tesis:
M. en C. Víctor Martín Hernández Dávila y Dr. Héctor René Vega Carrillo
UNIDAD ACADÉMICA DE ESTUDIOS NUCLEARES
Zacatecas, Zac., México. Diciembre 2014
RESUMEN
El fotodiodo sigue siendo la elección básica para la foto detección y es ampliamente utilizado
en comunicaciones ópticas, diagnóstico médico así como en el campo de la radiación cor-
puscular. También en la detección de la radiación se ha empleado para monitorear elementos
radiactivos como el radón y sus descendientes y en sistemas espectrométricos económicos, más
simples y prácticos. Por consiguiente, el presente trabajo estableció como objetivo desarrollar
un amplificador espectroscópico para el diodo PIN que cuenta con las siguientes característi-
cas: cancelador Polo-Cero (P/Z) con una constante de tiempo de 8 µs; ganancia constante de
57, adecuada para el sistema de adquisición; integrador Gaussiano de 4to orden, para el cam-
bio de forma de onda, de entrada exponencial a salida semigaussiana y por último una etapa
de restaurador de línea de base que evita la contribución de señal de DC a la etapa siguiente.
El amplificador operacional utilizado es el TLE2074 de tecnología BiFET de la compañía de
semiconductores Texas Instruments con 10 MHz de ancho de banda, con 25 V/µs de slew rate
y un piso de ruido de 17 nV/√Hz. El circuito integrado cuenta con 4 amplificadores opera-
cionales y en él se encuentra el total del amplificador espectroscópico que es la meta del diseño
electrónico. Los resultados muestran como la señal de entrada exponencial es transformada a
semigaussiana, modificándose solo la amplitud acorde a lo especificado en el diseño. El total
del sistema está formado por el detector, que es el diodo PIN, un preamplificador sensible a la
carga, el amplificador espectroscópico que es lo que se presenta y por último un analizador de
altura de pulso (MCA) que es donde se muestra el espectro.
Palabras clave: Amplificador operacional, Amplificador espectroscópico, Cancelador polo-
cero.
ABSTRACT
The photodiode is still the basic choice for photo detection and is widely used in optical
communications, medical diagnostic and in the field of radiation corpuscular. Also, it has
been used for monitoring radioactive elements such as radon and its descendants, and as part
of spectrometric systems less expensive, with lesser components and practical. Therefore, set
the goal to develop a spectroscopic amplifier for the PIN diode has the following characteris-
tics: Pole-zero cancellation (P/Z) with a time constant of 8 µs; constant gain of 57, suitable for
the acquisition system; 4th order Gaussian integrator, for waveform change, the exponential in-
put to semi-Gaussian output, and finally a stage of baseline restorer which prevents DC signal
contribution to the next stage. It was used the TLE2074 operational amplifier with BiFET tech-
nology from Texas Instruments with 10 MHz bandwidth, 25 V/µs of slew rate and a noise floor
of 17 nV/√Hz. The chip has 4 operational amplifiers being the total spectroscopic amplifier,
that is the goal of electronic design. The results show that the exponential input signal is con-
verted to a semi-Gaussian function, where the amplitude was solely modified, according to the
design specifications. The total system is comprised of the detector, which is a PIN diode,
a charge sensitive preamplifier to the load, the spectroscopic amplifier, and a multichannel
analyzer where the spectrum pulse height is visualized.
Keywords: Operational amplifier, Spectroscopic amplifier, Pole-zero cancellation.
iii
A dios, por ser mi guía.
A mi hija, que ha llenado de luz mi vida.
A mi esposo, por su amor y comprensión.
A mi madre, por su apoyo incondicional.
A mis hermanos, con mucho cariño.
iv
Agradecimientos
A la Universidad Autónoma de Zacatecas y en especial a la Unidad Académica de Estudios
Nucleares por haberme permitido continuar con mi formación profesional.
Al Consejo Nacional de Ciencia y Tecnología (CONACyT) por la beca la beca de investi-
gación recibida.
A mis asesores de tesis el M. en C. Víctor Martín Hernández Dávila y el Dr. Héctor René
Vega Carrillo, por todo su apoyo, motivación y su valiosa colaboración en el desarrollo del
presente trabajo.
A todos mis maestros por sus conocimientos compartidos.
A la compañía de semiconductores Texas InstrumentsTM por la donación de los circuitos
integrados utilizados en el presente trabajo.
v
Contenido General
Pag.
Resumen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . i
Abstract . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . ii
Agradecimientos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . iv
Lista de figuras . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . vii
Lista de tablas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . xi
Nomenclatura . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . xii
1 Introducción . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1
1.1 Problema científico . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 41.2 Objetivo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5
2 Revisión de literatura . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6
2.1 Interacción de la radiación con la materia . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 62.1.1 Coeficiente de atenuación . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 62.1.2 Fotones . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7
2.2 Procesamiento analógico . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 112.2.1 Amplificador operacional . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 112.2.2 Amplificador espectroscópico . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25
2.3 Detectores . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 292.3.1 Detectores de semiconductor . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 302.3.2 Detectores de Centelleo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 31
2.4 Fotodiodo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 322.4.1 El fotodiodo de silicio tipo PIN . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 32
2.5 Softwares . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 372.5.1 OrCADTM . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 372.5.2 MatlabTM . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 382.5.3 FilterProTM . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 39
vi
Pag.
3 Materiales y Métodos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 41
3.1 Diseño . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 413.1.1 Circuito Integrado . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 413.1.2 Diferenciador . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 433.1.3 Cancelador polo cero . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 433.1.4 Amplificador . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 483.1.5 Integrador . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 523.1.6 Restaurador de línea de base . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 60
3.2 Construcción . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 603.3 Pruebas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 62
4 Resultados y Discusión . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 65
4.1 Diseño . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 654.2 Construcción . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 724.3 Pruebas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 74
4.3.1 Espectros medidos con el sistema espectroscópico comercial de ORTEC 744.3.2 Espectros medidos con el sistema espectroscópico desarrollado. . . . . 764.3.3 Comparación entre espectro obtenido con ORTEC y con el prototipo
desarrollado . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 77
5 Conclusiones . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 79
Referencias . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 80
Apéndices
Apéndice A: Hoja de datos del circuito integrado TLE2074 de Texas Instruments . 84
Curriculum Vitae . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 85
vii
Lista de figuras
Figura Pag.
2.1 Tipos de interacción más probables de un fotón. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8
2.2 Efecto fotoeléctrico. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9
2.3 Dispersión de Compton. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10
2.4 Producción de pares. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11
2.5 Amplificador operacional. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 13
2.6 Encapsulados más comunes de un amplificador operacional. . . . . . . . . . . . . 15
2.7 Op amp inversor. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 16
2.8 Op amp no inversor. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 17
2.9 Op amp seguidor de voltaje. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 17
2.10 Op amp sumador. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 18
2.11 Integrador. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 19
2.12 Diferenciador. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 19
2.13 Ganancia de voltaje en lazo abierto comparada con la frecuencia. . . . . . . . . . 21
2.14 Slew rate. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 22
2.15 Red de diferenciación. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25
2.16 Red de diferenciación con cancelación polo cero. . . . . . . . . . . . . . . . . . . 26
2.17 Configuración de un amplificador espectroscópico típico. . . . . . . . . . . . . . . 28
2.18 Centellador. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 31
viii
Figura Pag.
2.19 Estructura del diodo PIN. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 32
2.20 Polarización inversa del diodo PIN. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33
2.21 Material semiconductor. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 34
2.22 Sección transversal y símbolo esquemático del diodo pin. . . . . . . . . . . . . . . 34
2.23 Pulsos de luz en función de las constantes de tiempo. . . . . . . . . . . . . . . . . 36
3.1 Circuito integrado TLE2074 de Texas Instruments. . . . . . . . . . . . . . . . . . 42
3.2 Distribución de pines en el circuito integrado. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 42
3.3 Configuración interna del circuito integrado. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 43
3.4 Red de diferenciador con cancelador polo cero. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 44
3.5 Diferenciador con cancelador polo cero para k = 1. . . . . . . . . . . . . . . . . . 44
3.6 Diferenciador con cancelador polo cero para k = 0. . . . . . . . . . . . . . . . . . 47
3.7 Luguar de raices para k = 1. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 49
3.8 Lugar de raíces para k = 0. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 49
3.9 Etapa amplificadora. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 50
3.10 Lugar de Raices de una función de transferencia de segundo orden. . . . . . . . . 54
3.11 Diseño del filtro. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 55
3.12 Respuesta de ganancia y fase. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 55
3.13 Respuesta del retardo de grupo. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 55
3.14 Etapa integradora. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 56
3.15 Restaurador de línea de base. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 61
3.16 diagrama en Circuit Maker para el circuito impreso. . . . . . . . . . . . . . . . . 61
3.17 Circuito impreso. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 62
3.18 Sistema espectrométrico para rayos gamma. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 63
ix
Figura Pag.
3.19 Esquema de decaimiento del Cs-137. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 64
3.20 Esquema de decaimiento del Co-60. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 64
4.1 Diseño del amplificador espectroscópico. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 65
4.2 Salida del diferenciador con cancelador polo-cero en OrCAD. . . . . . . . . . . . 66
4.3 Salida del diferenciador con cancelador polo-cero en Matlab. . . . . . . . . . . . . 66
4.4 Salida del diferenciador con cancelador polo-cero en el osciloscopio. . . . . . . . 67
4.5 Salida de la etapa amplificadora en OrCAD. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 68
4.6 Salida de la etapa amplificadora en Matlab. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 68
4.7 Salida de la etapa amplificadora en el osciloscopio. . . . . . . . . . . . . . . . . . 69
4.8 Salida del primer integrador en OrCAD. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 69
4.9 Salida del primer integrador en Matlab. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 70
4.10 Salida del primer integrador en el osciloscopio. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 70
4.11 Salida de la etapa integradora en OrCAD. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 71
4.12 Salida de la etapa integradora en Matlab. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 71
4.13 Salida de la etapa integradora en el osciloscopio. . . . . . . . . . . . . . . . . . . 72
4.14 Circuito impreso real. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 73
4.15 Prototipo desarrollado. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 73
4.16 Amplificador espectroscópico. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 74
4.17 Espectro de altura de pulso correspondiente a la fuente de Cs-137, con el sistemaespectrométrico comercial. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 75
4.18 Espectro de altura de pulso correspondiente a la fuente de Co-60, con el sistemaespectrométrico comercial. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 75
4.19 Espectro de altura de pulso correspondiente a la fuente de Cs-137, con el prototipodesarrollado. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 76
x
Figura Pag.
4.20 Espectro de altura de pulso correspondiente a la fuente de Co-60, con el prototipodesarrollado. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 77
4.21 Comparacion de los espectros de Co-60. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 78
xi
Lista de tablas
Tabla Pag.
2.1 Amplificadores básicos y sus resistencias terminales ideales . . . . . . . . . . . . 12
3.1 Principales características de algunos circuitos integrados. . . . . . . . . . . . . . 42
xii
Nomenclatura
MeV MegaelectrónVolt
V Voltaje
α Alfa
β Beta
γ Gamma
Rn Radón
PIN Dispositivo semiconductor de tres capas
Si Silicio
Li Litio
Ge Germanio
h Constante de Planck
λ Longitud de onda
f Frecuencia
c Velocidad de la luz
A Amper
xiii
I Corriente eléctrica
CA Corriente alterna
CD Corriente directa
R Resistencia Eléctrica
C Capacitor
eV Electrón Volt
MCA Analizador multicanal
FET Transistor de efecto de campo
pF Picofaradio
Xc Reactancia capacitiva
dB Decibeles
s Segundos
η Eficiencia de conteo
nm Nanómetros
t Tiempo
m Mili
µ Micro
Hz Hertz
Co Cobalto
Cs Cesio
Capítulo 1
Introducción
Desde el descubrimiento de la radiactividad ha habido un gran interés en la medición de la
radiación ionizante (Bayrak et al., 2013). La radiación se presenta en forma de ondas electro-
magnéticas o radiación corpuscular; si la energía de la radiación es lo suficientemente alta,
puede ionizar la materia, en tal caso se conoce como radiación ionizante: los tipos de radiación
ionizante más conocidos son fotones (rayos X y gamma), partículas cargadas (electrones, pro-
tones y partículas alfa) y los neutrones (Bos, 2011).
La manera en que los diversos tipos de radiación interactúan con la materia es totalmente
diferente, el efecto que produce la radiación ionizante depende del tipo de radiación. Por lo
tanto, para utilizar la radiación en forma segura o para caracterizarla, es necesario medir sus
propiedades (Bos, 2011).
Todo proceso destinado a medir las radiaciones emitidas por los radionúclidos consta de
dos etapas bien diferenciadas: la primera consiste en detectar la presencia de radiaciones y
la segunda se encarga de medir o registrarlas, y proporcionar datos que permitan interpretar-
las cuantitativa o cualitativamente. Para medir las radiaciones se requiere de un detector y un
dispositivo de medida que reciba las señales, las analice y transforme adecuadamente para ser
registradas (Flores, 1992).
2
La espectroscopía es una técnica fundamental en la medición de la radiación y ha sido la
columna vertebral de muchas aplicaciones, ya que permite identificar la radiación y relacionarla
con su nivel de energía, proporcionando información sistemática y detallada. El análisis de al-
tura de pulso es una herramienta primordial en la espectroscopía, permite obtener un espectro
de altura de pulso correspondiente a la radiación incidente en el detector, generando una grá-
fica del número de cuentas entre el intervalo de altura del pulso contra la amplitud (Adler et
al., 2010; Velásquez et al., 2005).
Por esta razón surge la necesidad de diseñar un equipo para espectroscopía con resolución
espectral y ancho de banda adecuados. Para esta función se requiere de un amplificador es-
pectroscópico que se encarga de resolver algunos problemas para la precisión de medición y
a la vez hacer esta medición más sencilla para las posteriores etapas. Un amplificador espec-
troscópico es un sistema electrónico, capaz de incrementar la amplitud en forma lineal, de los
pulsos que provienen de un detector de radiación; modifica la forma inicial del pulso, recor-
tando su duración e integrándola; obteniendo un pulso semi-gaussiano mono o bipolar (Shani,
1996).
Frecuentemente, se han utilizado los detectores de estado sólido en el campo de la detec-
ción de la radiación, reemplazando los detectores de radiación convencionales debido a las
ventajas que ofrecen, tales como: la capacidad para trabajar con voltaje DC relativamente bajo,
la insensibilidad a campos magnéticos y el bajo costo (Adler et al., 2010; Bayrak et al., 2013;
Terini et al., 1999;).
Para espectroscopía el diodo PIN funciona perfectamente en un determinado rango de ener-
gía, trabaja a temperatura ambiente, se utiliza como un contador de partículas, tiene una rápida
recolección de carga y muy buena resolución (Ramírez-Jiménez et al., 2005; Bosco, 2013).
3
Así, los fotodiodos tipo PIN se han usado para medir las partículas α que produce el Rn-
222 ya que representan un riesgo a la salud (Martín-Martín, 2006; Bayrak et al., 2013).
En modo de conteo de pulso se aplica al diodo una polarización inversa, de modo que el
diodo opera de manera similar a una cámara de ionización de placa en paralelo; en esta polari-
zación inversa, los electrones y huecos creados por las interacciones de fotones son arrastrados
a las regiones de tipo p y n, la carga total creada se transforma en un pulso de voltaje por una
etapa de preamplificador sensible de carga. La altura de pulso es proporcional a la energía
depositada en la región de agotamiento. En modo de corriente la carga migra debido al voltaje
de polarización del detector y se convierte en flujo de corriente (Olsher and Eisen, 1996).
Si una corriente positiva constante fluye a través del detector de diodo de silicio PIN, su
voltaje positivo se incrementará con la dosis de partículas recibidas, estas irradiaciones también
permiten la calibración de energía del detector (Agosteo et al., 2005; Zhou et al., 2005).
En los detectores de este tipo, la energía emitida es capturada por el detector de estado
sólido que produce una distribución continua de pulsos, el voltaje de los cuales es proporcional
a la energía del fotón incidente. Esta señal es procesada por el analizador multicanal (MCA),
que produce una acumulación de espectro digital que se puede procesar para obtener datos
analíticos. Los primeros instrumentos utilizados fueron los detectores tipo proporcional, mien-
tras que los instrumentos más modernos utilizan detectores de estado sólido, como los diodos
PIN y los detectores de Si(Li) (Bosco, 2013).
Los diversos tipos de detectores varían en resolución y rapidez de respuesta: los conta-
dores proporcionales tienen la resolución más pobre, los diodos PIN están en la gama media,
mientras que el Si (Li) y Ge (Li) proporcionan mejor resolución, pero necesitan alto voltaje
y nitrógeno líquido para el enfriamiento, y su eficiencia de detección es baja (Bosco, 2013;
Terini et al., 1999).
4
Los fotodiodos (PIN) de silicio, diseñados originalmente para detectar fotones, durante
años han encontrado más y más aplicaciones de la física nuclear y de partículas. Actualmente
se utilizan como detectores en todo el mundo para una amplia variedad de experimentos en
mediciones de partículas cargadas, rayos X y rayos gamma (Gupta et al., 2011; Wauters et al.,
2009).
Los detectores basados en diodos PIN tienen ventajas como: geometría compacta, la iden-
tificación de partículas es posible debido a la fuerte dependencia de la forma del pulso con
el tipo de radiación ionizante, el daño por radiación es mucho menor, existe la posibilidad de
aislarlo contra ruido electrónico, son más económicos y fáciles de trabajar en comparación
con los detectores utilizados convencionalmente, además ofrecen una eficiencia relativamente
grande (Bayrak et al., 2013; Dasgupta et al., 2003; Gupta et al., 2011).
1.1 Problema científico
Las ciencias nucleares se encargan, entre otras cosas, del estudio de la interacción de la
radiación con la materia, de tal manera que es necesario estudiar su naturaleza y los fenó-
menos que las producen. Además, por sus características es necesario medirlas y detectarlas
con equipos y técnicas especializados. El equipo electrónico empleado en un sistema de medi-
ción espectroscópico está diseñado para usos particulares y generalmente se depende de una
marca de fabricación, comúnmente extranjera, por lo que en caso de falla difícilmente se le
puede dar mantenimiento que implica regresarlo con el fabricante; además del alto costo del
sistema de detección. El esfuerzo de realizar diseños propios conlleva muchas ventajas, como
la innovación, el desarrollo de tecnología propia, el diseño de dispositivos y software con apli-
caciones específicas, el ahorro de divisas y la independencia tecnológica, entre otras. Por tanto
el objetivo del trabajo establece:
5
1.2 Objetivo
Diseñar, construir y caracterizar un amplificador espectroscópico, para un sistema espec-
troscópico con fotodiodo tipo PIN.
Capítulo 2
Revisión de literatura
2.1 Interacción de la radiación con la materia
Cuando la radiación penetra la materia, puede ser absorbida, dispersada o puede transitar
sin ninguna interacción en absoluto, los procesos de la absorción y la dispersión se pueden
describir y explicar en función de las interacciones de las partículas involucradas. Hay dos
formas en las cuales una partícula que viaja a través de la materia puede perder energía.
• Gradual, si la partícula pierde energía continuamente por las diversas interacciones con
el material que la absorbe.
• Total, si la partícula se mueve sin ninguna interacción en absoluto a través del material
hasta que, en una sola colisión pierde toda su energía (González and Pulido, 2010).
2.1.1 Coeficiente de atenuación
Si las interacciones son por colisión directa, la atenuación que presenta un flujo de partícu-
las con energías idénticas que viajan en una misma dirección, es descrita por la ley exponencial.
N(x) = N0e−µlx (2.1)
Si un flujo de partículas N0 penetra cierta distancia x dentro del material y este material
presenta un coeficiente de atenuación lineal µl, el flujo de partículas se reducirá a N(x).
7
Es importante recordar que la ley exponencial de atenuación no describe qué le sucede a la
energía. Existe un fenómeno llamado acumulación y es cuando se consigue un aumento en el
número de partículas al transitar por el material y tiene que ser considerado en análisis de ra-
diación, de esto se concluye que las partículas primarias se atenúan en función del coeficiente
de atenuación lineal µl, las partículas secundarias se producen en el 75% de interacciones y
se absorben totalmente, y por lo tanto, no hay partículas terciarias producidas (Bos, 2011;
González and Pulido, 2010; Rickards, 2010).
2.1.2 Fotones
Los rayos gamma, rayos x y la luz, son tipos de radiación de naturaleza ondulatoria y son
fotones con diversas energías. La energía de un fotón está determinada por su frecuencia f o
la longitud de onda λ y está dada por:
E = hf =hc
λ(2.2)
donde h es la constante de Planck y c es la velocidad de la luz en el vacío, el factor hc en
términos usados en física nuclear será:
hc = 1.24eV µm = 1240MeV fm (2.3)
Los fotones interactúan con la materia de diversas maneras, dependiendo de su energía y de
la naturaleza del material. Pueden ionizar un átomo (expulsando el electrón) o pueden excitarlo
(dejando todos los electrones dentro del átomo).
Los tres mecanismos de la interacción son:
1. El efecto fotoeléctrico
2. Dispersión Compton
3. Producción de pares
8
En la figura 2.1 se muestra que a bajas energías (rayosX) predomina el efecto fotoeléctrico;
a energías medianas (alrededor de 1 MeV), el Compton; y a energías mayores, la producción
de pares (Çetiner et al., 2008; Leroy, 2010; Tsoulfanidis, 1995).
Figura 2.1 Tipos de interacción más probables de un fotón.
2.1.2.1 El efecto fotoeléctrico
Este fenómeno ocurre cuando un fotón interactúa con algún electrón que está en un átomo,
como resultado de la interacción, el fotón es absorbido y un electrón es expulsado del átomo
como un electrón libre, denominado fotoelectrón (ver figura 2.2). Esto puede ocurrir solamente
cuando el fotón entrante tiene una energía mayor que la energía de ionización EB del electrón
que se expulsará. Puesto que un átomo es mucho más pesado que el electrón expulsado, toma
prácticamente toda la energía y momento del fotón.
La energía cinética K del electrón expulsado es entonces:
K = hc− EB (2.4)
9
El coeficiente de atenuación total en la absorción fotoeléctrica disminuye con el aumento
dela energía del fotón; es decir, como regla general los fotones de alta energía son más pene-
trantes que la radiación de baja energía.
Si la energía de un fotón incidente es menor que la necesaria para expulsar un electrón en
la superficie del material, puede ser bastante para cambiar un electrón a un nivel de energía
más alta en el material, este proceso permitirá que el electrón se mueva y así, aumentar la
conductividad del material, a este efecto se le conoce como fotoconductividad y se utiliza para
detectores de luz como fotoresistores y fotodiodos (González and Pulido, 2010; Leroy, 2009;
Tsoulfanidis, 1995).
Figura 2.2 Efecto fotoeléctrico.
2.1.2.2 Dispersión Compton
La dispersión de Compton (Compton scattering) también conocido como efecto Compton
consiste en el aumento de la longitud de onda de un fotón cuando choca con un electrón libre,
perdiendo parte de su energía. La frecuencia o la longitud de onda de la radiación dispersada
depende únicamente de la dirección de dispersión, como se muestra en la figura 2.3.
10
Figura 2.3 Dispersión de Compton.
Si un fotón dispersado tiene menos energía que un fotón incidente, la diferencia de energía
es transferida al electrón. La ley de la conservación de la energía-masa y de la conservación
del momento limita el máximo valor de la energía cinética del fotoelectrón y está dado por:
kmax = hf2g
1 + 2g(2.5)
donde:
g =hf
moc2(2.6)
el factor g es la razón de la energía del fotón hf sobre la energía de la masa en reposo
moc2 de la partícula cargada que provoca la dispersión. En el caso de la máxima transferencia
de energía el electrón viaja hacia adelante y el fotón es dispersado hacia atrás a lo largo del
fotón incidente pero en sentido contrario. Entonces concluimos que si un fotón choca contra
un electrón, el electrón solo adquiere parte de la energía del fotón, el resto de la energía se
la lleva otro fotón de menor energía que es dispersado en un cierto ángulo (Pratt et al., 2010;
Tipler, 1994).
11
2.1.2.3 Producción de pares
En la producción de pares un fotón de alta energía se transforma en un par electrón-positrón
(ver figura 2.4). La producción de pares puede ocurrir cuando un fotón con suficiente energía
encuentra un campo eléctrico fuerte en las proximidades del núcleo, puesto que la energía de
amarre de un electrón es 0.51 MeV, la producción de pares es imposible para las energías del
fotón menores de 1.02 MeV. Sin embargo, cuando la producción de pares llega a ser posible,
pronto se convierte en el proceso dominante de la interacción para los flujos de los fotones de
energía muy alta. El coeficiente de atenuación µ de la producción de pares (pp), varía con la
energía del fotón y el número atómico del material absorbente (Knoll, 2000).
Figura 2.4 Producción de pares.
2.2 Procesamiento analógico
2.2.1 Amplificador operacional
El término, amplificador operacional (op amp) fue acuñado en 1947 por John R. Ragazzini,
para denotar un tipo especial de amplificador. La selección de sus componentes externos puede
configurar una variedad de operaciones tales como amplificación, suma, resta, diferenciación,
e integración. La primera aplicación de los op amps fue en computadoras analógicas. La
12
habilidad de ejecutar operaciones matemáticas fue el resultado de combinar alta ganancia con
retroalimentación negativa (Franco, 2002). Actualmente el amplificador operacional es uno de
los dispositivos de mayor uso y versatilidad. Es ampliamente utilizado para procesar señales
de CD, CA o combinaciones de ellas. El costo de los op amp es bajo, son fáciles de utilizar,
ocupan menos espacio y requieren menos potencia que los componentes discretos, debido a
esto se utilizan en grandes cantidades permitiendo diseñar y desarrollar una infinidad de cir-
cuitos electrónicos útiles (amplificadores, computadoras, filtros, fuentes de señales y corri-
ente, osciladores y flip-flops entre otros) de alto rendimiento con un mínimo de componentes
sin necesidad de conocer la complejidad de la circuitería interna (Attia, 2004; Boylestad and
Nashelsky’s, 2000; Coughlin and Driscoll, 1999).
El op amp es un dispositivo de dos puertos que acepta una señal externa, llamada entrada
y genera una señal de salida, que es igual a la entrada por la ganancia; donde la ganancia es
una constante de proporcionalidad. Un dispositivo conforme a esta definición es llamado am-
plificador lineal. Dependiendo de la naturaleza de las señales de entrada y salida, se tienen
diferentes tipos de amplificadores indicados en la tabla 2.1 (Franco, 2002).
Tabla 2.1 Amplificadores básicos y sus resistencias terminales idealesEntrada Salida Tipo de Amplificador Ganancia Ri Ro
vi vo Voltaje V/V ∞ 0
ii io Corriente A/A 0 ∞
vi io Transconductancia A/V ∞ ∞
ii vo Transresistencia V/A 0 0
En la figura 2.5 se muestra la representación básica del amplificador operacional, el cual
tiene dos entradas y una salida.
13
Figura 2.5 Amplificador operacional.
Donde:
V+: entrada no inversora
V−: entrada inversora
Vout: salida
VS+: alimentación positiva
VS−: alimentación negativa
La salida del amplificador depende de la diferencia de voltaje entre las dos entradas multi-
plicada por un factor (G) de ganancia:
V out = G(V+ − V−) (2.7)
El op amp es un amplificador diferencial que ofrece una combinación de parámetros que
son de gran utilidad:
• Alta ganancia
• Alta impedancia de entrada.
• Baja impedancia de salida.
14
Los amplificadores operacionales tienen muy alta ganancia, pueden conectarse en lazo
abierto o lazo cerrado.
Lazo abierto. Se refiere a la configuración donde no hay una retroalimentación hacia la en-
trada, en esta configuración el op amp está operando a la ganancia más alta posible.
Lazo cerrado. Es cuando se tiene una retroalimentación negativa, dicha retroalimentación es
necesaria para controlar la ganancia. En esta configuración se reduce la ganancia y mejo-
ran muchas características del op amp (Boylestad and Nashelsky’s, 2000).
La impedancia de entrada del amplificador operacional es un parámetro importante porque
determina la carga en la etapa anterior. A su vez, esto determina muchos de los aspectos
de la etapa anterior y también el acoplamiento entre etapas. Cuando se requieren niveles de
impedancia de entrada muy alta, se pueden utilizar amplificadores operacionales que cuenten
con transistores FET (transistor de efecto de campo) en la entrada (Boylestad and Nashelsky’s,
2000; Horowitz and Hill, 1989).
La impedancia de salida determina la carga que el circuito puede conducir y el nivel de
salida suministrada a la siguiente etapa (Boylestad and Nashelsky’s, 2000; Horowitz and Hill,
1989).
Algunos de los beneficios que aporta la retroalimentación en los amplificadores opera-
cionales pueden ser el mejoramiento de la respuesta en frecuencia, la modificación e insensibi-
lización de la ganancia y los niveles de impedancia de entrada y salida, la reducción de las no
linealidades, etc.
El amplificador operacional se fabrica en un diminuto chip de silicio y se encapsula en una
caja adecuada. Alambres finos conectan el chip con terminales externas que salen de la cápsula
de metal, plástico o cerámica. Los amplificadores operacionales se encuentran disponibles en
diferentes presentaciones (ver figura 2.6) como son: (a) encapsulado de caja metálica, (b) y
(c) encapsulados dobles en línea (DIP) de 14 y 8 terminales respectivamente y (d) encapsulado
15
con tecnología de montaje de superficie (SMT) (Coughlin and Driscoll, 1999).
Figura 2.6 Encapsulados más comunes de un amplificador operacional.
Las fuentes de alimentación de los amplificadores operacionales de propósito general son
bipolares. El funcionamiento básico de los op amp se puede verificar a partir de un análisis
detallado de los parámetros fundamentales que caracterizan a los dispositivos reales de los ide-
ales (Coughlin and Driscoll, 1999).
2.2.1.1 Configuraciones básicas
Un circuito con amplificador operacional se obtiene mediante la conexión de componentes
externos alrededor de un amplificador operacional, la diferencia entre uno y otro es que el
último es un componente del primero, así como los componentes externos. Los siguientes cir-
cuitos con op amp son de uso común (Franco, 2002).
16
Amplificador inversor
El circuito de la figura 2.7 es uno de los más utilizados. Es un amplificador cuya ganancia
está dada por Rf y R1, puede amplificar señales de CA y CD (Boylestad and Nashelsky’s,
2000).
Figura 2.7 Op amp inversor.
Se aplica un voltaje positivo V1 a través de la resistencia de entrada R1 a la entrada (-) del
amplificador operacional. Se proporciona retroalimentación negativa mediante la resistencia
Rf . El voltaje entre las entradas (+) y (-) es casi igual a 0 V. Por lo tanto, la terminal de entrada
(-) también está a 0 V, de modo que el potencial de tierra está en la entrada (-). Por esta razón,
la entrada (-) se dice que es tierra virtual (Coughlin and Driscoll, 1999).
El voltaje a la salida del operacional está dado por la ecuación (2.8), el signo menos muestra
que la polaridad de la salida Vo esta invertida con respecto a V1. Por esta razón se denomina
amplificador inversor (Coughlin and Driscoll, 1999).
Vo =−Rf
R1
V1 (2.8)
Amplificador No inversor
El circuito de la figura 2.8 muestra la configuración del amplificador no inversor, funciona
de manera similar que el op amp inversor, solo que en este caso el voltaje de entrada es aplicado
a la entrada (+). A la salida del operacional el voltaje está dado por la ecuación (2.9) (Boylestad
and Nashelsky’s, 2000).
17
Figura 2.8 Op amp no inversor.
Vo = (1 +Rf
R1
)V1 (2.9)
Seguidor de voltaje
La figura 2.9 muestra un op amp como seguidor de voltaje. Es simplemente un amplificador
no inversor con R1 infinito y Rf cero (ganancia = 1), el circuito consiste en un op amp y
un alambre retroalimentando la salida hacia la entrada (Franco, 2002). Un amplificador de
ganancia unitaria es a veces llamado buffer debido a sus propiedades de aislamiento (alta
impedancia de entrada y baja impedancia de salida) (Horowitz and Hill, 1989). El voltaje a la
salida del operacional está dado por la ecuación (2.10) (Boylestad and Nashelsky’s, 2000).
Figura 2.9 Op amp seguidor de voltaje.
Vo = V1 (2.10)
18
Amplificador sumador
El amplificador sumador tiene dos o más entradas y una salida. Las múltiples entradas
se consideran como entradas separadas debido a que el op amp tiene una alta impedancia de
entrada. En el circuito de la figura 2.10 se tiene un op amp sumador de tres entradas. El
voltaje a la salida del operacional está dado por la ecuación (2.11) (Coughlin and Driscoll,
1999; Franco, 2002).
Figura 2.10 Op amp sumador.
Vo = −(Rf
R1
V1 +Rf
R2
V2 +Rf
R3
V3) (2.11)
Integrador
El amplificador operacional integrador (ver figura 2.11), también llamado integrador de
precisión debido al alto grado de precisión con que se puede aplicar la ecuación (2.12), es un
caballo de batalla de la electrónica. Encuentra una amplia aplicación en generadores de fun-
ciones (triangular y de diente de sierra), filtros activos (pasa bajas), convertidores analógico a
digital (doble pendiente y retroalimentación) y controladores analógicos (PID) (Franco, 2002).
Vo(t) = −(1
RC)
∫V1(t)d(t) (2.12)
19
Figura 2.11 Integrador.
Diferenciador
En el amplificador operacional diferenciador (ver figura 2.12) el voltaje a la salida es pro-
porcional a la derivada de la entrada respecto al tiempo. La constante de proporcionalidad se
establece por R y C, su unidad es el segundo (Franco, 2002). Este circuito es útil en filtros pasa
altas (Boylestad and Nashelsky’s, 2000).
Figura 2.12 Diferenciador.
Vo(t) = −RCdV1(t)d(t)
(2.13)
20
2.2.1.2 Especificaciones de los amplificadores Operacionales
Ganancia y ancho de banda
Un amplificador operacional es de banda amplia, la ganancia y el slew rate afectan el ancho
de banda. La ganancia de los amplificadores operacionales disminuye a medida que aumenta
la frecuencia. La respuesta en frecuencia de un amplificador operacional está limitada por los
circuitos internos (Boylestad and Nashelsky’s, 2000; Mancini, 2003). Varios tipos de ampli-
ficadores operacionales están compensados internamente; esto es, el fabricante ha instalado
dentro de dichos dispositivos un pequeño capacitor, comúnmente de 30 pF , este capacitor de
compensación interna de frecuencia impide que el amplificador operacional oscile a altas fre-
cuencias. Las oscilaciones se evitan disminuyendo la ganancia del amplificador operacional
conforme aumenta la frecuencia. Se conoce que la reactancia de un capacitor disminuye con-
forme aumenta la frecuencia:
Xc =1
2πfc(2.14)
En consecuencia la ganancia de voltaje de un amplificador operacional disminuye a la
décima parte conforme la frecuencia de la señal de entrada aumenta por 10. Un cambio de
frecuencia de 10 se denomina década. En la figura 2.13 se muestra la ganancia en lazo abierto
del amplificador operacional en función de la frecuencia (Coughlin and Driscoll, 1999).
En el punto A de la figura 2.13 se localiza la frecuencia de corte donde la ganancia de
voltaje es 0.707 veces su valor a frecuencias muy bajas, los puntos C y D muestran como la
ganancia decae con un factor de 10 conforme la frecuencia se eleva por un factor también de 10.
El cambio de frecuencia o ganancia por un factor de 10 se expresa en forma más eficiente con
el término por década. El eje vertical a la derecha de la figura 2.13 es una gráfica de la ganan-
cia de voltaje en decibeles (dB). La ganancia de voltaje decae 20 dB para un incremento en la
frecuencia de 1 década. Esto explica porque la curva de respuesta de frecuencia de A a B se
21
Figura 2.13 Ganancia de voltaje en lazo abierto comparada con la frecuencia.
describe como una caída de 20 dB/década. La característica clave del amplificador operacional
se define como la frecuencia a la cual la ganancia es igual a la unidad, dicha característica se
encuentra en el punto B y se le da el nombre de ancho de banda de ganancia unitaria (Coughlin
and Driscoll, 1999).
El producto ganancia ancho de banda se denota por la ecuación:
GB = Av · f (2.15)
Dónde:
GB = Producto de ganancia y ancho de banda
Av = Ganancia de voltaje
f = frecuencia de corte (Hz)
22
Estabilidad
La realimentación negativa es más utilizada porque además de ser menos propensa a la ines-
tabilidad, cuando la inestabilidad es inevitable se puede recurrir a técnicas de compensación
que estabilizan al sistema. El criterio para la estabilidad contra la oscilación de un amplificador
de retroalimentación es que su desplazamiento de fase de lazo abierto debe ser inferior a 180
en la frecuencia a la que la ganancia es la unidad. El estudio de la estabilidad de un amplifi-
cador retroalimentado es la menor o mayor probabilidad de que el mismo entre en oscilación,
cuando la cantidad de retroalimentación necesaria para obtener la mejora deseada es grande, el
sistema es más propenso a la inestabilidad (Franco, 2002; Horowitz and Hill, 1989).
Slew rate (Velocidad de respuesta)
El slew rate, es la razón de cambio del voltaje de salida causado por una entrada escalón,
como se muestra en la ecuación (2.16) sus unidades son V/µs o V/ms. La figura 2.14 muestra
la velocidad de respuesta de forma gráfica. La velocidad de respuesta más lenta ocurre para
la ganancia unitaria, por lo tanto la velocidad de respuesta comúnmente se especifica para
ganancia unitaria en las hojas de datos del fabricante (Coughlin and Driscoll, 1999; Mancini,
2003).
SR =dVo(t)
dt(2.16)
Figura 2.14 Slew rate.
23
El slew rate determina la frecuencia más alta en que puede operar el amplificador opera-
cional sin distorsión.
f ≤ SR
2πVp(2.17)
donde Vp es el voltaje pico.
Voltaje de offset
Es el voltaje que se obtiene a la salida de un amplificador operacional cuando el voltaje de
entrada es cero, en un amplificador operacional ideal este voltaje también es cero, mientras que
en un amplificador operacional real hay una salida distinta de cero, este voltaje puede ajustarse
a cero por medio del uso de las entradas de offset mediante un potenciómetro en caso de buscar
precisión. El offset puede variar dependiendo de la temperatura del operacional. Un parámetro
importante, a la hora de calcular las contribuciones a la tensión de offset en la entrada de un op-
eracional es el CMRR (Rechazo al modo común) (Boylestad and Nashelsky’s, 2000; Coughlin
and Driscoll, 1999; Mancini, 2003).
Rechazo al modo común
La razón de rechazo al modo común (o CMRR, de las siglas en inglés Common Mode Re-
jection Ratio) es un parámetro único de los amplificadores operacionales, debido a que tienen
dos entradas que están opuestas en fase (entrada inversora y entrada no inversora) cuando una
señal es común a ambas entradas, existe una pequeña señal de salida, cuando lo ideal sería que
esta fuera cero, pero no es así ya que da un número positivo cuyo valor es la relación de la am-
plificación de tensión diferencial a la amplificación de tensión de modo común como se muestra
en la ecuación (2.18) y se mide en decibeles. Idealmente esta relación sería infinito cuando la
tensión de modo común está totalmente rechazada. La CMRR, según lo publicado en la hoja
de datos, es un parámetro de corriente continua, cuando se grafica contra frecuencia, se cae
al aumentar la frecuencia. Un buen amplificador diferencial tiene un alto (CMRR) (Boylestad
and Nashelsky’s, 2000; Coughlin and Driscoll, 1999; Horowitz and Hill, 1989; Mancini, 2003).
24
CMRR = 20 log10
(AdAs
)dB (2.18)
Donde:
Ad es la ganancia diferencial
Ad =Vo
V+ − V−(2.19)
y As es la ganancia en el modo común
As =VoVs
(2.20)
La CMRR es una medida del rechazo que ofrece el amplificador a la entrada de voltaje
común, que permite cancelar señales comunes, además de captar una señal débil y extraerla
de una señal de ruido más intensa (Boylestad and Nashelsky’s, 2000; Coughlin and Driscoll,
1999).
Drift µ V/ C
Los amplificadores operacionales al ser dispositivos semiconductores, están sujetos a cam-
bios leves en el comportamiento con los cambios de temperatura de funcionamiento, lo cual
se conoce como drift. Lo ideal es que sea cero, es decir que el amplificador operacional no
presente sensibilidad alguna debido a tales variaciones. Para minimizarlo y evitar que su fun-
cionamiento se vea afectado podemos seleccionar un amplificador operacional con mínimo
drift y mantener la temperatura de funcionamiento lo más estable posible (Mancini, 2003).
Ruido
Las señales eléctricas indeseables presentes en el voltaje de salida se clasifican como ruido.
El ruido se genera por cualquier material que esté arriba del cero absoluto (-273 C), también
se genera por todos los dispositivos eléctricos y sus controles (Coughlin and Driscoll, 1999).
En casi todas las áreas de medición el nivel de ruido establece el límite fundamental en la señal
25
más pequeña que un sistema puede medir de forma fiable, la presencia de ruido degrada la ex-
actitud de la medición. Algunas formas de ruido son inevitables, otras pueden ser reducidas o
eliminadas y también hay ruido que surge en el proceso de amplificación en sí mismo, y puede
reducirse a través de las técnicas de diseño de bajo ruido del amplificador (Horowitz and Hill,
1989).
2.2.2 Amplificador espectroscópico
El amplificador espectroscópico es un sistema electrónico, capaz de incrementar la ampli-
tud de forma lineal de los pulsos que provienen de un detector de radiación; modifica la forma
inicial del pulso, recortando su duración e integrándola; obteniendo un pulso semi-gaussiano
mono polar o bipolar, lo que optimiza la resolución de energía y disminuye el error por traslape
entre pulsos sucesivos (Shani, 1996).
En el amplificador espectroscópico se pueden distinguir los siguientes bloques:
Cancelación polo-cero. Después de que el pulso pasa por la red de diferenciación se genera
un sobretiro, el cual aumenta el tiempo muerto del sistema, ésta red lo elimina evitando
la saturación del amplificador (Shani, 1996). A partir de las figuras 2.15 y la figura 2.16
correspondientes a la red de diferenciación y red diferenciación con cancelación polo-
cero, se obtienen las siguientes ecuaciones:
Figura 2.15 Red de diferenciación.
26
De la red de diferenciación:
Emax e− t
T0 ∗ G (t) = e1 (t) (2.21)
Aplicando la transformada de Laplace a la ecuación anterior:
Emax1
s+ 1T0
∗ s
s+ 1R1C1
= E1 (s) (2.22)
donde:
T1 = R1C1 (2.23)
Emax
T0 − T1T0 e
− tT1 − T1 e−
tT0 = e1 (t) (2.24)
Figura 2.16 Red de diferenciación con cancelación polo cero.
De la red de diferenciación con cancelación polo cero:
Si se coloca s+ 1T0
= s+ KR2C1
Emax e− t
T0 ∗ G (t) = e1 (t) (2.25)
27
Emax1
s+ 1T0
∗s+ K
R2C1
s+ R1+R2
R1R2C1
= E1 (s) (2.26)
donde:
Rp =R1R2
R1 +R2
(2.27)
Emax
s+ R1+R2
R1R2C1
=Emax
s+ 1RpC1
= E1 (s) (2.28)
Emax e− t
RpC1 = e1 (t) (2.29)
Etapa de Amplificación. Se le da ganancia a la señal por medio de un amplificador opera-
cional, ya que la señal que proviene del preamplificador está en el orden de los mili volts
(Shani, 1996).
Etapa de integración. En esta etapa se cambia la forma inicial del pulso, a un pulso semi-
gaussiano, esto facilita el seguimiento y la retención del pulso para medir la altura má-
xima en el analizador multicanal, la aproximación del pulso a una señal gaussiana de-
pende del orden de integración y el número de veces que se integra la señal (Shani,
1996).
28
Restaurador de línea de base. Debido a los capacitores usados en la etapa diferenciadora, la
línea de base puede ser ligeramente suprimida haciendo al área neta del pulso sobre y
por debajo de la línea de base, causando errores en la medición de la altura del pulso.
Clásicamente los métodos más importantes de estabilización de línea de base han sido
restauradores no lineales, basados en el acoplamiento CA y diodo de sujeción (Shani,
1996).
En la figura 2.17 se muestra la configuración típica de un amplificador espectroscópico, el
pulso del preamplificador puede ser amplificado o atenuado antes de dar la forma y el ancho
de banda.
Figura 2.17 Configuración de un amplificador espectroscópico típico.
Los circuitos que integran y derivan, determinan el intervalo de frecuencia que define el
ancho de banda del amplificador. La frecuencia inferior de corte está relacionada con el difer-
enciador y está determinada por la siguiente ecuación:
f1 =1
2πRdCd(2.30)
Y la frecuencia de corte superior está determinada por el integrador y está definida por la
siguiente ecuación:
f2 =1
2πRiCi(2.31)
29
2.3 Detectores
Un detector es un dispositivo capaz de detectar un fenómeno físico, su función es producir
una señal por cada partícula que entra, lo cual permite identificar la presencia de radiación para
poder caracterizarla. Entre los detectores de radiación se encuentran las cámaras de ionización,
contadores proporcionales, contadores de Geiger muller, detectores de centelleo, detectores de
neutrones y los detectores de semiconductor (Tsoulfanidis, 1995).
Cada detector funciona mediante el uso de algún tipo de interacción de la radiación con la
materia. Al elegir un detector debemos considerar el tipo de radiación que se quiera detectar y
su intensidad, otros factores que se deben tomar en cuenta son los siguientes:
Eficiencia. Relación entre el número de partículas detectadas con el número de partículas que
entran al detector.
Resolución. Capacidad del detector para distinguir entre dos radiaciones de energía similar.
Sensibilidad. Capacidad de detectar tipo de radiación y energía.
Respuesta. Relación entre la altura del pulso y la energía de la partícula.
Tiempo muerto. Tiempo requerido por el detector para procesar un suceso (relacionado con
pulso de señal).
Tamaño.
Costo.
No hay detector que cumpla todos estos requisitos, por lo tanto se debe seleccionar el que
mejor satisface estas propiedades (Gupta et al., 2011; Rickards, 2010; Tsoulfanidis, 1995).
30
2.3.1 Detectores de semiconductor
Los detectores de semiconductor son componentes de estado sólido que operan como cá-
maras de ionización produciendo el acarreo de cargas, en los semiconductores estas cargas son
pares electrón-huecos. Actualmente los detectores de semiconductor más exitosos están hechos
de Silicio y Germanio (Tsoulfanidis, 1995). Las ventajas más importantes de los detectores de
semiconductor comparados con los de otro tipo de detectores de radiación, es su energía de
resolución superior y la habilidad para resolver la energía de partículas de un espectro multi-
energético. Otras ventajas son:
• Respuesta lineal sobre un amplio rango de energía.
• Flexibilidad en geometrías especiales.
• Rápida respuesta a los pulsos (relativo a los contadores de gas).
• Capacidad para operar en vacío.
• Alta eficiencia de conteo.
• Insensibilidad a campos magnéticos.
Las características de un detector de semiconductor dependen no sólo del tipo de material
usado, sino también de la manera en la que el semiconductor está formado y tratado; el tipo,
tamaño y forma juegan un papel importante en la operación y diseño de un detector de semi-
conductor (Bayrak et al., 2013; Tsoulfanidis, 1995).
En todos los dispositivos de estado sólido la eficiencia de conteo (η) o fotones incidentes
contados en la cubierta, es muy alta, porque básicamente la probabilidad reflexión se reduce en
la superficie del fotodiodo. En un fotodiodo del silicio la η (fotocorriente en función del fotón
incidente) es del 85% en la gama de la luz visible. En el azul, donde la mayoría los cristales
de centelleo tienen su emisión máxima, la η sigue siendo 70 - 80% (Nakamoto et al., 2005;
Renker, 2007).
31
2.3.2 Detectores de Centelleo
Un centellador es un material que emite (generalmente en el rango del visible) fotones
cuando su volumen activo interactúa con una partícula cargada o un fotón. Cuando el centella-
dor es utilizado como detector de rayos gama la detección no es directa ya que los rayos gama
producen partículas cargadas en los cristales del centellador y en esta interacción emite fotones
de más baja energía que posteriormente son convertidos en pulsos de electrones en un tubo
fotomultiplicador. Los pulsos de luz del centellador se envían al tubo fotomultiplicador que
se acopla ópticamente o bien mediante una guía de luz. La figura 2.18 muestra un centellador
típico. Los centelladores se producen de una gran variedad de formas, tamaños y respuestas;
estas últimas dependen del tipo de material.
Figura 2.18 Centellador.
Un detector de centelleo mide la ionización que produce la radiación, consiste en un cristal
transparente generalmente un fósforo (un plástico) que contiene antraceno que es de color
opaco pero con luz ultravioleta y exhibe una fluorescencia azul (400-500 nm), el antraceno
es un semiconductor orgánico. Se utiliza como centellador en detectores de fotones de la alta
energía de los electrones y de las partículas alfa.
32
El contador del centelleo se basa en el trabajo de Antoine Henri Becquerel, que descubrió
la fosforescencia de ciertas sales de uranio. Los contadores del centelleo se utilizan extensa-
mente porque pueden ser fabricados de forma económica y eficaz (Chacón, 2009).
2.4 Fotodiodo
Los fotodiodos son dispositivos de estado sólido o de semiconductor, que convierten una
señal óptica incidente en una señal eléctrica (Wieczorek et al., 2013). Tienen la gran ven-
taja de que pueden ser producidos en procesos completamente automatizados y por lo tanto
pueden ser baratos, se adaptan a las necesidades individuales, abren nuevas áreas de uso de-
bido a sus pequeñas dimensiones y no son afectados por campos magnéticos. Los fotodiodos
se pueden clasificar según el método de fabricación y construcción, existen fotodiodos de sili-
cio, de GaAsP y de GaP (Hamamatsu, 2002; Hamamatsu, 2006).
2.4.1 El fotodiodo de silicio tipo PIN
El diodo PIN es una estructura de tres capas (ver figura 2.19), siendo la intermedia un semi-
conductor intrínseco (I), y las externas, una de tipo P y la otra tipo N. Dicha estructura P-I-N
da nombre al diodo (Ramírez-Jiménez, 2008).
Figura 2.19 Estructura del diodo PIN.
33
El fotodiodo genera una energía debido al efecto fotovoltaico, puede funcionar sin una
fuente de energía externa, sin embargo, al utilizar un voltaje inverso mejora la respuesta en fre-
cuencia y las linealidades, pero tiene la desventaja de que aumenta la corriente de obscuridad
y los niveles de ruido, y puede dañar el dispositivo si el voltaje inverso aplicado es excesivo.
Así que, se requiere mantener el voltaje inverso dentro de los rangos máximos permitidos
para asegurarse de que el cátodo está situado en un potencial positivo con respecto al ánodo
(Hamamatsu, 2002; Ramírez-Jiménez et al., 2006). En la figura 2.20 se muestra la polarización
inversa del diodo PIN.
Figura 2.20 Polarización inversa del diodo PIN.
El flujo de la señal en el fotodiodo es determinado por el número de pares electrón-hueco
generados, el uso de un voltaje inverso no afecta la señal ni atenúa la linealidad en las conver-
siones fotoeléctricas (Hamamatsu, 2002).
El diodo pin se puede utilizar como detector de radiación. La medición de la radiación
está basada en la producción del par electrón-hueco en la interacción de la radiación con
el material del detector y la consecuente recolección de los electrones generados (Ramírez-
Jiménez, 2006). La manera en que un fotodiodo funciona como detector es al incidir un fotón
(luz) en la superficie del fotodiodo, el electrón dentro de la estructura cristalina es excitado y
si la energía del fotón es mayor que la energía de la banda prohibida, los electrones son en-
viados a la banda de conducción dejando su lugar en la banda de valencia (ver figura 2.21).
34
Estos pares electrón-hueco ocurren totalmente en la capa P, la capa I y la capa N (Solidum and
Bacala, 2005).
Figura 2.21 Material semiconductor.
En la capa I el campo eléctrico acelera estos electrones hacia la capa N y los huecos hacia
la capa P, de esta manera los pares electrón-hueco son generados en proporción a la energía del
fotón incidente y son colectados en las capas P y N, resultando una carga positiva en la capa P
y una carga negativa en la capa N (ver figura 2.22) (Solidum and Bacala, 2005).
Figura 2.22 Sección transversal y símbolo esquemático del diodo pin.
35
El número de pares electrón-hueco generados (No) está relacionado con la energía incidente
(E), por:
No =E
w(2.32)
Donde w es la energía requerida para producir un par electrón-hueco; el valor característico
para detectores de silicio es w= 3.6eV a temperatura ambiente.
La carga total (Qi), generada en el detector por la interacción es:
Qi = Noe (2.33)
donde e es la carga del electrón (C). Sustituyendo la ecuación (2.32) en (2.33), tenemos:
Qi =eE
w(2.34)
Una conclusión importante de la ecuación (2.34) es que la carga generada en el diodo, es
directamente proporcional a la energía de la radiación (Ramírez-Jiménez, 2008).
La detección de la radiación no es posible solamente con el fotodiodo de silicio, debido a
que se necesita un amplificador externo sensible a carga para convertir la carga acumulada en
una señal de corriente (Renker, 2004).
La velocidad de la respuesta de un fotodiodo es una medida del tiempo requerido para que
la carga acumulada se convierta en una señal de corriente y se expresa generalmente como el
tiempo de subida (ver figura 2.23) (Hamamatsu, 2002).
El tiempo de subida es el tiempo requerido para que la señal de salida cambie del 10% al
90% del valor de salida máximo y es determinado por los factores siguientes:
• La constante de tiempo t1 es determinada por la capacitancia Ct del fotodiodo y de la
resistencia de carga RL.
36
Figura 2.23 Pulsos de luz en función de las constantes de tiempo.
• El t2 del tiempo requerido para que los portadores se difundan.
• El t3 del tiempo de tránsito del portador en la capa de agotamiento (Hamamatsu, 2002).
Los fotodiodos del silicio tipo PIN se utilizan para detectar la luz visible, pero también
pueden ser utilizados para detectar diferentes tipos de radiación, de manera directa para ra-
diación alfa; de manera indirecta para radiación de naturaleza ondulatoria, como la radiación
gama, beta o los rayos X, mediante el acoplamiento de un centellador. El diodo PIN es uno de
los más importantes dispositivos semiconductores usados en la actualidad para detectar altas
energías y radiación nuclear (González and Pulido, 2010).
37
2.5 Softwares
2.5.1 OrCADTM
OrCAD es una herramienta utilizada para crear toda clase de diseños electrónicos: es-
quemáticos, simulación digital, analógica, híbrida entre digital y analógica, FPGA, CPLD,
realizar síntesis de diseño, crear circuitos impresos, diseñar jerárquicamente, etcétera. Permite
emplear componentes electrónicos variables, tratar individualmente cada parte del proyecto y
optimizar ciertos diseños para reducir costos. Es uno de los más potentes entornos de diseño
para la creación de productos de hoy en día, desde el concepto hasta la producción.
OrCAD consta de varias aplicaciones, a continuación se describen brevemente cada uno
de los dos programas que se utilizan, primero OrCAD Capture CIS para dibujar los esquemas
electrónicos y OrCAD Pspice para realizar las simulaciones (OrCAD-Cadence, 2014).
2.5.1.1 OrCAD Capture CIS
La opción OrCAD Capture CIS es la aplicación del programa que permite la creación de
circuitos eléctrico-electrónicos bajo un entorno gráfico, tanto analógicos como digitales, o bien
mixtos.
Este programa permite convertir información de las hojas de datos del fabricante en va-
lores de los parámetros precisos usados por OrCAD PSpice, una vez obtenidos se incluye el
elemento como un componente más dentro de la propia librería del diseño (OrCAD-Cadence,
2014).
Tipos de análisis fundamentales:
• Time domain (transient), para el transitorio.
• DC Sweep, para hacer un barrido de alguna variable.
38
• AC Sweep / Noise, para la respuesta en frecuencia.
• Bias Point, para el punto de trabajo
2.5.1.2 OrCAD Pspice
El programa PSpice (Simulation Program with Integrated Circuits Emphasis) es la parte
encargada de realizar la simulación del circuito. Una vez terminado el esquema eléctrico-
electrónico, se configura la simulación dependiendo de los resultados que se deseen obtener.
Contiene herramientas que verifican y preparan el circuito para su correcta simulación.
Proporciona una herramienta muy útil e interesante para poder determinar el funcionamiento
de circuitos eléctricos y electrónicos tanto analógicos como digitales, sin necesidad de tener
que recurrir a su montaje en laboratorio (OrCAD-Cadence, 2014).
2.5.2 MatlabTM
Matlab (abreviatura de MATrix LABoratory; laboratorio de matrices) es un lenguaje de
alto nivel que permite el desarrollo de algoritmos en un ambiente interactivo, visualización de
datos, análisis de datos y cómputos numéricos. A través de MATLAB se pueden resolver prob-
lemas técnicos de cómputo más rápido que con los lenguajes de programación tradicionales,
como C, C++ y Fortran (Matlab, 2011).
Asimismo, Matlab se puede utilizar en un amplio rango de aplicaciones, incluyendo proce-
samiento de señales e imágenes, comunicaciones, diseños de control, modelado y análisis fi-
nanciero, biología computacional, etc. Los toolboxes ó "cajas de herramientas" de Matlab,
son un conjunto de instrucciones con una finalidad común y por lo tanto, sirven para resolver
problemas particulares (Matlab, 2011).
39
Entre sus principales características se encuentran las siguientes (Matlab, 2011):
• Lenguaje de alto nivel para cómputo técnico.
• Ambiente de desarrollo para administrar códigos, archivos y datos.
• Herramientas interactivas para exploración iterativa, diseño y resolución de problemas.
• Funciones matemáticas para algebra lineal, estadística, análisis de Fourier, filtrado, opti-
mización e integración numérica.
• Graficas 2-D y 3-D para visualización de datos.
• Herramientas para construir interfaces gráficas personalizadas.
• Funciones para integrar los algoritmos hechos en Matlab con aplicaciones externas y
otros lenguajes como C, C++, Fortran, Java, COM y Microsoft Excel.
2.5.3 FilterProTM
El programa FilterPro de Texas Instruments está diseñado para desarrollar filtros activos
para muchas aplicaciones diferentes sin la necesidad de cálculos complejos. Aunque los filtros
activos son vitales en la electrónica moderna, su diseño puede ser tedioso y lento. FilterPro
hace que sea fácil diseñar todo tipo de filtros:
• Pasa bajas
• Pasa altas
• Pasa banda
• Rechaza banda
La elección del filtro se basa en el tipo de respuesta a la salida deseada, tomando en cuenta
el modelo ideal de algún filtro. Se pueden fijar ciertas especificaciones y características como
la frecuencia de corte, la ganancia, la banda de paso, la banda de rechazo o la transición en
40
magnitud o fase, e incluso hasta el orden del filtro, se puede utilizar para diseñar filtros de 1 a
10 polos.
Debido a que no existe un circuito que pueda realizar un filtrado ideal, se han realizado
aproximaciones matemáticas para la respuesta del filtro, como Butterworth, Chebyshev, Bessel
y Gaussiano. Pueden ser implementados con topología Sallen-Key o múltiples retroalimenta-
ciones.
La respuesta del filtro se presenta en un gráfico, que muestra la ganancia de fase y el re-
tardo de grupo sobre la frecuencia. También se muestra el diagrama esquemático que contiene
amplificadores operacionales, resistencias y condensadores. Los valores de los componentes
son calculados automáticamente por el software, pero también pueden ser introducidos por el
diseñador, tiene la opción de ajustar la tolerancia de los componentes para obtener valores com-
erciales. Además proporciona información detallada del diseño del filtro (Texas-Instruments,
2014).
Capítulo 3
Materiales y Métodos
3.1 Diseño
Para el diseño del amplificador espectroscópico se utilizó un circuito integrado, resisten-
cias, capacitores y diodos, además de los siguientes softwares: OrCAD (OrCAD-Cadence,
2014), Matlab (Matlab, 2011) y FilterPro (Texas-Instruments, 2014).
El diseño del amplificador espectroscópico se realizó en 5 etapas:
1. Diferenciación.
2. Cancelación polo cero.
3. Amplificación.
4. Integración.
5. Restauración de línea de base.
3.1.1 Circuito Integrado
Para elegir el circuito integrado empleado en el diseño del amplificador espectroscópico se
realizó una comparación entre las características más importantes de los circuitos que se mues-
tran en la tabla 3.1, todos ellos se encuentran disponibles en el laboratorio de Instrumentación
Nuclear de la Unidad Académica de Estudios Nucleares.
42
Tabla 3.1 Principales características de algunos circuitos integrados.TLE2074I AD8655 MAX4475 TL084
Slew Rate (V/µs) 25 11 3 16
CMRR (dB) 98 85 - 100 90 - 115 86
GBW (MHz) 10 28 10 2.5 - 4
Low Noise f=10 kHz (nV/√Hz) 11.6 - 17 2.7 4.5 15
Offset voltage drift (µ V/ C) 10.1 0.4 - 2.3 0.3 - 6 10
Voltaje de operación (V) 2.25 - 19 2.7 - 5.5 2.7 - 5.5 6 - 36
Temperatura (C) -55 - 125 -40 - 125 -40 - 125 -65 - 150
El circuito integrado que se eligió es el TLE2074 de tecnología BiFET de la compañía de
semiconductores Texas Instruments, principalmente por su alto slew rate, bajo nivel de ruido
y alta ganancia. La presentación utilizada (dip de 14 pines) se muestra en la figura 3.1 y su
distribución de pines en la figura 3.2, cuenta con 4 amplificadores operacionales (ver figura
3.3) y en él se encuentra el total del amplificador espectroscópico.
Figura 3.1 Circuito integrado TLE2074 de Texas Instruments.
Figura 3.2 Distribución de pines en el circuito integrado.
43
Figura 3.3 Configuración interna del circuito integrado.
3.1.2 Diferenciador
Los pulsos provenientes del preamplificador son de forma exponencial descendiente, la
constante de tiempo del pre es mayor que el tiempo promedio de espacio entre pulsos, como
consecuencia los pulsos de voltaje a la salida del preamplificador se apilan uno sobre otro,
esto conduce al error de registro de altura de pulsos. Para reducir el ancho de los pulsos y el
efecto antes mencionado se ha aplicado una red de diferenciación (recorte) dejando inalterada
su amplitud, dicha red realiza una doble función: forma la señal para un ancho corto y ejecuta
sobre el ruido una acción pasa alta, es decir, atenúa el ruido a bajas frecuencias.
3.1.3 Cancelador polo cero
Después de que el pulso pasa por la red de diferenciación se genera un sobretiro, el cual
aumenta el tiempo muerto del sistema y puede llegar a saturar el amplificador, para eliminarlo
se implementó la red de cancelación polo - cero de la figura 3.4. Para ajustar adecuadamente la
cancelación polo - cero de acuerdo al tiempo de decaimiento de la señal de entrada, se colocó un
potenciómetro (trimpot de exactitud) y con los valores adecuados de componentes se obtuvo
una señal exponencial de la misma amplitud y con la constante de tiempo de decaimiento
requerida sin tener sobretiro.
44
Figura 3.4 Red de diferenciador con cancelador polo cero.
Una vez que la señal fue formada para una duración corta adecuada para que el apilamiento
no ocurra y las señales individuales puedan ser reconocidas, se obtuvo la función de transfe-
rencia en el dominio de Laplace para ver el comportamiento del circuito.
Por simplicidad si hacemos que k sea igual a 1 obtenemos el circuito de la figura 3.5, donde
el capacitor C2 y la resistencia R2 están en paralelo, y estos a su vez están en serie con R3 for-
mando un divisor de voltaje, por lo tanto el cálculo es:
Figura 3.5 Diferenciador con cancelador polo cero para k = 1.
45
C2‖R2 =R2
1SC2
R2 + 1SC2
(3.1)
C2‖R2 =R2
SC2
R2C2S+1SC2
(3.2)
C2‖R2 =R2
R2C2S + 1(3.3)
Divisor de voltaje para V1:
V1 =R1Vi
R1 + 1SC1
(3.4)
V1 =R1Vi
R1C1S+1SC1
(3.5)
V1 =R1C1ViS
R1C1S + 1(3.6)
Ahora para el voltaje de salida (V2):
V2 =R3V1
R3 + R2
R2C2S+1
(3.7)
46
Sustituyendo V1 en V2:
V2 =R3
(R1C1ViSR1C1S+1
)R3(R2C2S+1)+R2
R2C2S+1
(3.8)
V2 =R1R2R3C1C2ViS
2 +R1R3C1ViS
R1R2R3C1C2S2 +R1R2C1S +R1R3C1S +R2R3C2S +R2 +R3
(3.9)
Agrupando términos:
V2 =(R1R2R3C1C2S
2 +R1R3C1S)ViR1R2R3C1C2S2 + (R1R2C1 +R1R3C1 +R2R3C2)S + (R2 +R3)
(3.10)
Función de transferencia de esta red:
V2Vi
=R1R2R3C1C2S
2 +R1R3C1S
R1R2R3C1C2S2 + (R1R2C1 +R1R3C1 +R2R3C2)S + (R2 +R3)(3.11)
Se realizó el mismo análisis, pero ahora para cuando k es igual a 0 (ver figura 3.6). La
resistencia R2 y la resistencia R3 están en paralelo, y estos a su vez están en serie con C2
formando un divisor de voltaje, por lo tanto el cálculo es:
Rp = R2‖R3 =R2R3
R2 +R3
(3.12)
47
Figura 3.6 Diferenciador con cancelador polo cero para k = 0.
Divisor de voltaje para V1:
V1 =R1Vi
R1 + 1SC1
(3.13)
V1 =R1Vi
R1C1S+1SC1
(3.14)
V1 =R1C1ViS
R1C1S + 1(3.15)
Ahora para el voltaje de salida (V2):
V2 =RpV1
Rp + 1SC2
(3.16)
48
Sustituyendo V1 en V2:
V2 =Rp
(R1C1ViSR1C1S+1
)RpC2S+1
SC2
(3.17)
V2 =R1RpC1C2ViS
2
R1RpC1C2S2 + (R1C1 +RpC2)S + 1(3.18)
Función de transferencia de esta red:
V2Vi
=R1RpC1C2S
2
R1RpC1C2S2 + (R1C1 +RpC2)S + 1(3.19)
3.1.4 Amplificador
Para determinar la ganancia adecuada se utilizan las funciones de transferencia obtenidas
en la etapa del cancelador polo-cero, calculando el lugar de raíces por medio del toolbox de
control de Matlab para ver cómo se comporta el sistema al variar la ganancia.
Para cuando k es igual a 1 se obtuvo la gráfica de la figura 3.7, donde se puede observar los
polos y ceros del sistema en el plano complejo.
Para cuando k es igual a 0 se obtiene la gráfica de la figura 3.8 que es muy similar a la de
la figura 3.7.
49
Figura 3.7 Luguar de raices para k = 1.
Figura 3.8 Lugar de raíces para k = 0.
En las figuras 3.7 y 3.8 se observa como al variar la ganancia los polos tienden a juntarse,
se hacen complejos conjugados, vuelven al eje real y siguen a los ceros del sistema. Para valo-
res de ganancia pequeños el sistema oscila y a partir de una ganancia de 30 el sistema es estable.
50
En la etapa amplificadora se decidió poner una ganancia de 57 debido a que para éste valor
se obtiene una señal adecuada a la salida, el sistema es estable y para obtenerlo se utilizan
resistencias de valores comerciales. Para el diseño se utilizó un amplificador operacional en
configuración no inversora o multiplicador de ganancia constante (ver figura 3.9). El op amp
se alimenta con una fuente dual de ±12V , los capacitores C3 y C4 conectados entre la fuente
y tierra son de desacoplo, para eliminar posibles caídas de tensión en la fuente. Para analizar
el comportamiento del circuito se obtuvo la función de transferencia considerando un amplifi-
cador operacional ideal de la siguiente manera:
Figura 3.9 Etapa amplificadora.
Voltaje de salida:
V3 =
(1 +
R4
R5
)V2 (3.20)
51
V3 =
(R5 +R4
R5
)V2 (3.21)
Función de transferencia:
V3V2
=R5 +R4
R5
(3.22)
Las resistencias R4 y R5 proporcionan la ganancia al circuito, sustituyendo sus valores en
la función de transferencia se tiene:
V3V2
=10kΩ + 560kΩ
10kΩ= 57 (3.23)
Al colocar la etapa amplificadora al inicio del procesamiento analógico obtenemos que la
ganancia influye en el factor de ruido de la siguiente manera:
F =
SE
NE
SS
NS
= F1 +F2 − 1
G1
+F3 − 1
G1G2
(3.24)
52
Donde:
F = Factor de ruido
G = Ganancia
SE = Señal de entrada
NE = Ruido a la entrada
SS = Señal de salida
NS = Ruido a la salida
Esto demuestra las ventajas de usar la etapa amplificadora al principio, no solo con un fac-
tor de ruido bajo (F1) sino también con una alta ganancia, devido a que si la ganancia es alta,
básicamente la figura de ruido total depende de la primer etapa.
3.1.5 Integrador
En esta sección se presenta el filtrado de la señal, después de la amplificación los pulsos en
un amplificador espectroscópico tienen forma exponencial y a la salida del integrador tienen
forma semi gaussiana, lo cual se obtiene mediante un filtro de polos complejos.
El diseño del filtro se realizó en el programa FilterPro de Texas Instruments, la función
requerida es realizada por un filtro pasa bajas, para lo cual se diseñaron varios filtros con difer-
entes tipos de respuesta como: Butterworth, Chebyshev, Bessel y Gaussiano.
Se obtuvo la respuesta transitoria para observar su comportamiento, en algunos de ellos el
tiempo de ascenso era menor que el tiempo de descenso (caída), al aumentar la ganancia el
tiempo de descenso era menor, debido a esto se pensó que dándole una ganancia más elevada
se podría llegar a una forma casi Gaussiana pero existía un pequeño sobretiro (oscilación), esto
53
debido a que, considerando un sistema lineal, la estabilidad es independiente de la señal de en-
trada, y la condición suficiente y necesaria para estabilidad es que todos los polos de la función
de transferencia del sistema se encuentren en la mitad izquierda del plano complejo. Al variar
la ganancia, entre más cercana este a 3 (no mayor que 3) el sistema cada vez está más propenso
a oscilar (ser inestable), si tuviéramos una ganancia igual a 3, los polos se ubican sobre el eje
imaginario.
Para elegir el mejor diseño de filtro se tomó en cuenta otro parámetro llamado factor de
calidad (Q), que aparece en la parte del diseño donde se muestran los diferentes tipos de res-
puesta en frecuencia del filtro, cuyo valor es muy diferente para cada tipo de respuesta. En
un sistema de segundo orden (Q) está dado por la ecuación (3.25), en función del factor de
amortiguamiento (ζ).
Q =1
2ζ(3.25)
En el sistema descrito por el lugar de raíces de la figura 3.10 se muestra que para ζ ≥ 1
los polos del sistema son reales, para ζ = 0 los polos se ubican sobre el eje imaginario y para
ζ < 0 los polos se encuentran en la mitad derecha del plano complejo (sistema inestable).
Para que los polos del sistema se encuentren sobre el eje real, mínimamente deben tener
ζ = 1 y el valor de Q sería:
Q =1
2(1)= 0.5 (3.26)
De los filtros diseñados, el gaussiano fue el que presentó el mejor factor de calidad, con un
valor de Q = 0.58.
54
Figura 3.10 Lugar de Raices de una función de transferencia de segundo orden.
El diseño final de la etapa integradora se muestra en la figura 3.11, es un filtro pasa bajas,
Gaussiano, en topología sallen - key, formado por dos filtros activos de segundo orden obte-
niendo un cuarto orden, con una frecuencia de corte de 19.8944 khz equivalente a una constante
de tiempo de 8µs y una ganancia de voltaje de 1.5, esta ganancia nos proporciona un tiempo de
decaimiento conveniente para el formado Gaussiano sin desestabilizar el sistema y siguiendo
su linealidad. En la figura 3.12 se muestra la respuesta del filtro en ganancia y fase, en la figura
3.13 el retardo de grupo. Los valores de los componentes se ajustaron a valores comerciales,
con una tolerancia del 5% para resistencias y 10% para capacitores.
55
Figura 3.11 Diseño del filtro.
Figura 3.12 Respuesta de ganancia y fase.
Figura 3.13 Respuesta del retardo de grupo.
56
Se obtuvo la función de transferencia de la etapa integradora (ver figura 3.14), para el
primer filtro se tiene:
Figura 3.14 Etapa integradora.
Ganancia:
K = 1 +R8
R9
(3.27)
I1 =V3 − V4R6
(3.28)
I2 =V5K− V4R7
(3.29)
57
I3 =V4 − V5
1SC6
(3.30)
I3 = C6V4S − C6V5S (3.31)
V5K
=1
SC5
R7 + 1SC5
V4 (3.32)
V5K
=1
SC5
R7C5S+1SC5
V4 (3.33)
V5K
=V4
R7C5S + 1(3.34)
V4 =R7C5V5S + 1
K(3.35)
58
V5 =V4K
R7C5S + 1(3.36)
I1 + I2 = I3 (3.37)
V3R6
− V4R6
+V5K
R7
− V4R7
= C6V4S − C6V5S (3.38)
V3R6
−(
1
R6
+1
R7
+ C6S
)V4 = −
(1
KR7
+ C6S
)V5 (3.39)
V3R6
−(R7 +R6 +R6R7C6S
R6R7
)V4 = −
(1 +KR7C6S
KR7
)V5 (3.40)
Sustituyendo V4:
V3R6
−(R7 +R6 +R6R7C6S
R6R7
)(R7C5S + 1
K
)V5 = −
(1 +KR7C6S
KR7
)V5 (3.41)
59
V3R6
=
(R2
7C5S +R7 +R6R7C5S +R6 +R6R27C5C6S
2 +R6R7C6S −R6 −R6R7KSC6
R6R7K
)V5
(3.42)
V5V3
=K
R6R7C5C6S2 + (R7C5 +R6C5 +R6C6 −R6KC6)S + 1(3.43)
Función de transferencia:
V5V3
=K
R6R7C5C6S2 + [R7C5 +R6C5 +R6C6(1−K)]S + 1(3.44)
Para la segunda etapa de filtrado, la función de transferencia se obtuvo de la misma manera,
debido a que es la misma configuración.
Ganancia:
K = 1 +R12
R13
(3.45)
Función de transferencia:
V7V5
=K
R10R11C9C10S2 + [R11C9 +R10C9 +R10C10(1−K)]S + 1(3.46)
Si los pulsos de salida del filtro tienen forma gaussiana, la relación señal a ruido está muy
cerca a la relación del valor óptimo. Los filtros de polos complejos que son filtros pasa bajas
contribuyen en la disminución de ruido, debido a que atenúan el ruido a altas frecuencias.
60
3.1.6 Restaurador de línea de base
Algunas veces las señales tienen indeseables extremos de signos opuestos, debido a los
capacitores usados en la etapa diferenciadora. Estos extremos en señales individuales pueden
ser difícilmente notables porque son muy pequeños, sin embargo cuando los pulsos ocurren
en altas proporciones, el apilamiento de extremos crea un promedio de voltaje negativo. La
información acerca de la carga es llevada por la amplitud pico a la salida del amplificador, si
esta señal es referenciada a una línea de base la cual no está en cero volt, se deben tomar pre-
cauciones en la medida de esta amplitud, si el instrumento el cual percibe la amplitud efectúa
la medida comenzando en la línea de cero, este registrará un valor incorrecto. La línea de base
puede ser ligeramente suprimida haciendo al área neta del pulso sobre y por debajo de la línea
de base, causando errores en la medición de la altura del pulso (Flores, 1992).
Para corregir el efecto antes mencionado se puede usar un circuito que transforme el ex-
tremo negativo después de la señal en un extremo corto (que regrese rápidamente a cero), dicho
circuito es llamado restaurador de línea de base.
Un restaurador de línea de base puede ser pensado como un diferenciador no lineal el cual
presenta una grande constante de tiempo para la señal y un muy pequeño tiempo constante para
la línea de base en ausencia de la señal (Flores, 1992). En la figura 3.15 se muestra el diseño
del restaurador de línea de base que se implementó en el presente trabajo, para eliminar el nivel
de dc y adecuar la señal para que pueda ser leída por el analizador multicanal.
3.2 Construcción
Una vez diseñado el amplificador espectroscópico y evaluado su desempeño por medio de
las funciones de transferencia, los toolbox de control de Matlab y la simulación en OrCAD
Pspice, se llevó a la fase de la construcción en el Laboratorio de Instrumentación Nuclear de la
61
Figura 3.15 Restaurador de línea de base.
Unidad Académica de Estudios Nucleares de la Universidad Autónoma de Zacatecas.
Para hacer el circuito impreso se realizó un diagrama en Circuit Maker (CircuitMaker,
2000) (ver figura 3.16) basado en el circuito obtenido en el diseño.
Figura 3.16 diagrama en Circuit Maker para el circuito impreso.
62
Dicho diagrama se imprimió en papel couche, luego se plancho sobre una placa de cobre a
doble cara; por un lado el diagrama donde se encuentran las pistas, en el cual se envuelven las
dos entradas de la etapa amplificadora con una línea de guarda para protegerlas contra ruido y
por el otro lado el plano de tierra (para atenuar el ruido), finalmente se introdujo en el ácido
(cloruro férrico) para eliminar las partes de cobre sobrantes de la superficie de la placa. En la
figura 3.17 se muestra el circuito impreso terminado.
(a) Pistas. (b) Plano de tierra.
Figura 3.17 Circuito impreso.
Posteriormente se perforaron algunos puntos del circuito impreso para colocar los com-
ponentes que se eligieron en el diseño, se colocaron y soldaron los componentes, se probó el
funcionamiento del amplificador espectroscópico desde el punto de vista electrónico, para lo
cual se aplicó a la entrada una señal proveniente de un generador de funciones, probando el
cancelador polo-cero, el amplificador, las etapas integradoras y el restaurador de línea de base.
3.3 Pruebas
La etapa de pruebas se realizó en el Laboratorio de Mediciones Nucleares de la Unidad
Académica de Estudios Nucleares de la Universidad Autónoma de Zacatecas. En esta fase se
utilizó un sistema espectrométrico comercial (detector de centelleo), que consiste en un detec-
tor cilíndrico de NaI(Tl) con una dimensión de 7.64 cm de diámetro por 7.64 cm de altura,
63
un castillo de plomo, un preamplificador, un amplificador con ganancia de 60 y constante de
tiempo de 6 µs (valores cercanos a los del prototipo), un analizador multicanal de 2048 canales
y una fuente de alto voltaje (600 V) que alimenta al detector, los diferentes componentes son
de Ortec. En la Figura 3.18 se muestra el arreglo experimental.
Figura 3.18 Sistema espectrométrico para rayos gamma.
Las fuentes radiactivas utilizadas para probar el amplificador espectroscópico fueron el Cs-
137 y Co-60.
La vida media del Cs-137 es de 30.07 años, su esquema de decaimiento es mostrado en la
figura 3.19, el Cs-137 decae a Ba-137m mediante decaimiento β y emite rayos γ de 0.6616
MeV para decaer en Ba-137 estable (Cember, 1992).
El Co-60 es emisor gamma cuya vida media es de 5.2714 años, su esquema de decaimiento
es mostrado en la figura 3.20.
64
Figura 3.19 Esquema de decaimiento del Cs-137.
Figura 3.20 Esquema de decaimiento del Co-60.
Primero se utilizó el sistema espectrométrico comercial con la fuente de Cs-137 para obtener
un espectro, luego se probó sustituyendo únicamente el amplificador espectroscópico comer-
cial por el prototipo desarrollado, obteniendo otro espectro para compararlo con el primero y
ver que correspondan las posiciones relativas a la energía o canales.
Posteriormente se realizó el mismo procedimiento pero ahora con la fuente Co-60.
Capítulo 4
Resultados y Discusión
4.1 Diseño
El diseño del amplificador espectroscópico quedó conformado por el diferenciador con
cancelador polo-cero, el amplificador, el integrador y el restaurador de línea de base, su repre-
sentación esquemática se muestra en la figura 4.1.
Figura 4.1 Diseño del amplificador espectroscópico.
Se obtuvo el modelado matemático del amplificador espectroscópico como una función de
transferencia en el dominio de Laplace, la función de transferencia fue simulada en Matlab,
obteniendo la respuesta al escalón y por consiguiente su respuesta en el dominio temporal, la
cual es comparada con la simulación en Orcad y con la obtenida del prototipo desarrollado.
A continuación se presenta la respuesta transitoria de cada una de las etapas del amplificador
espectroscópico.
66
Se aplicó a la entrada una onda cuadrada con una amplitud pico de 200 mV y ancho de
pulso de 1 ms, al diferenciarla se obtuvo una señal exponencial descendiente de la misma am-
plitud pero con duración de 250 µs, esta señal tiene características similares a los pulsos que
produce el detector. Al pasarla por el diferenciador con cancelador polo-cero y al simularla en
OrCAD Pspice se obtuvo la señal mostrada en la figura 4.2, donde se observa una señal de la
misma forma y amplitud que la señal de entrada, pero con duración de 35 µs aproximadamente.
Figura 4.2 Salida del diferenciador con cancelador polo-cero en OrCAD.
Al simular en Matlab la función de transferencia obtenida a la salida del diferenciador con
cancelador polo-cero, se obtuvo la señal de la figura 4.3, este comportamiento es consistente
con lo reportado en la literatura (Gilmore, 2008).
Figura 4.3 Salida del diferenciador con cancelador polo-cero en Matlab.
67
Al construir el amplificador espectroscópico y probar su funcionamiento por medio del
osciloscopio, se obtuvo la señal de la figura 4.4 a la salida del diferenciador con cancelador
polo-cero.
Figura 4.4 Salida del diferenciador con cancelador polo-cero en el osciloscopio.
Como se puede observar las señales obtenidas a la salida del diferenciador con cancelador
polo-cero por medio de la simulación en OrCAD Pspice, la función de transferencia en Matlab
y el prototipo desarrollado, coinciden entre sí en la forma de la señal, el tiempo de duración y
la amplitud. El objetivo del diseño para esta etapa, se cumple al reducir el ancho del pulso de
250 µs a 35 µs aproximadamente, al mantener constante la amplitud de 200 mV y al eliminar
el sobretiro generado por la red de diferenciación.
La señal obtenida a la salida del diferenciador con cancelador polo-cero se aplicó a la en-
trada de la etapa amplificadora, al simular el esquemático en OrCAD Pspice se obtuvo la señal
mostrada en la figura 4.5, la cual mantiene la forma exponencial descendiente y el tiempo de
duración pero incrementa su amplitud de 200 mV a 11.4 V .
Al simular en Matlab la función de transferencia obtenida para esta etapa, se obtuvo la señal
de la figura 4.6 que coincide con la obtenida por medio de la simulación en OrCAD Pspice.
68
Figura 4.5 Salida de la etapa amplificadora en OrCAD.
Figura 4.6 Salida de la etapa amplificadora en Matlab.
En la figura 4.7 se muestra la señal de salida de la etapa amplificadora en el prototipo de-
sarrollado, la cual coincide con la obtenida en OrCAD y en Matlab en la forma de la señal y el
tiempo de duración, pero la amplitud es un poco menor.
La probable explicación se atribuye a la precisión de los componentes utilizados, ya que
Matlab y OrCAD coinciden muy bien y en ellos se utilizan valores ideales para la simulación,
mientras que al construir el prototipo se utilizaron componentes reales con una tolerancia de
5% para resistencias y 10% para capacitores, con lo cual puede variar un poco la señal de
salida. La amplitud de la señal de entrada se ha incrementado de forma lineal, con lo cual se
cumple el objetivo de diseño para esta etapa y es consistente con el comportamiento deseable
(Knoll, 2000).
69
Figura 4.7 Salida de la etapa amplificadora en el osciloscopio.
La señal obtenida se pasó por la primera etapa de filtrado, para cambiar la forma de la señal
exponencial a semi-gaussiana, en la figura 4.8 se muestra la simulación en OrCAD Pspice de
la primera etapa de filtrado.
Figura 4.8 Salida del primer integrador en OrCAD.
Al simular en Matlab la función de transferencia obtenida para la primera etapa de filtrado,
se obtuvo la señal de la figura 4.9, la cual coincide muy bien con la obtenida por medio de la
simulación en OrCAD Pspice.
En la figura 4.10 se muestra la señal obtenida del prototipo a la salida de la primera etapa
de filtrado, en la que se observa la misma forma de la señal pero la amplitud es un poco menor
comparada con la obtenida en OrCAD y en Matlab, eso se debe a que en la etapa amplificadora,
70
Figura 4.9 Salida del primer integrador en Matlab.
la señal ha sido atenuada y eso se ve reflejado en esta etapa.
Figura 4.10 Salida del primer integrador en el osciloscopio.
Como se puede observar las señales obtenidas a la salida de la primera etapa de filtrado por
medio de la simulación en OrCAD Pspice, la función de transferencia en Matlab y el prototipo
desarrollado, coinciden entre sí. La forma de la señal de entrada al filtro pasa-bajas es de forma
exponencial y a la salida se tiene una señal semi-gaussiana de menor amplitud, con lo cual se
cumple el objetivo de diseño para esta etapa. De acuerdo con (Gilmore, 2008) y (Knoll, 2000),
este comportamiento se presenta en los procesos de filtrado.
Por último la señal se pasó por la segunda etapa de filtrado, para eliminar la pequeña osci-
lación que se muestra a la salida del primer filtro y obtener una señal semi-gaussiana más
71
simétrica, lo cual es el principal objetivo del amplificador espectroscópico. En la figura 4.11
se muestra la simulación en OrCAD Pspice que es el resultado de la función de transferencia,
misma que se observa en el manual de ortec, con lo que se comprueba la validez del diseño
propuesto, ya que es consistente con lo señalado en la literatura (Gilmore, 2008; Knoll, 2000;
Tsoulfanidis, 1995).
Figura 4.11 Salida de la etapa integradora en OrCAD.
Al simular en Matlab la función de transferencia obtenida para esta etapa, se obtuvo la
señal de la figura 4.12.
Figura 4.12 Salida de la etapa integradora en Matlab.
72
En la figura 4.13 se muestra la señal de salida de la etapa integradora en el prototipo desa-
rrollado, la cual coincide con la obtenida en OrCAD y en Matlab.
Figura 4.13 Salida de la etapa integradora en el osciloscopio.
Al igual que en la etapa anterior, la amplitud de la señal obtenida del prototipo es un poco
menor que la obtenida por medio de la simulación en OrCAD Pspice y la función de transfe-
rencia en Matlab, debido a la atenuación en la etapa integradora. También debemos considerar
que en esta etapa aún no se ha compensado con el restaurador de línea de base.
4.2 Construcción
En la figura 4.14 se muestra el circuito impreso real, por un lado se observa el plano de
tierra con los componentes que se eligieron en el diseño y por el otro se observa cómo se sol-
daron sobre las pistas del circuito impreso.
En la figura 4.15 se muestra el prototipo desarrollado, del lado izquierdo se puede obser-
var la entrada del amplificador espectroscópico y del lado derecho la salida (cable naranja), la
tierra (cable café) y las alimentaciones + y − (cable verde y azul).
73
(a) Componentes. (b) Pistas.
Figura 4.14 Circuito impreso real.
Figura 4.15 Prototipo desarrollado.
Al comprobar que el prototipo obtenido cumple con las especificaciones de diseño, se
acoplo dentro de una pequeña caja de plástico forrada en su interior con papel aluminio para
proteger el sistema contra ruido, se le adecuo un conector para la alimentación y dos conectores
BNC (uno a la entrada y otro a la salida), obteniendo un prototipo más estético (ver figura 4.16)
que puede ser utilizado en un sistema de detección.
74
Figura 4.16 Amplificador espectroscópico.
4.3 Pruebas
En esta parte se muestran los resultados obtenidos al probar el amplificador espectroscópico
de forma experimental.
4.3.1 Espectros medidos con el sistema espectroscópico comercial de ORTEC
En la figura 4.17 se muestra el espectro obtenido al utilizar la fuente de Cesio-137 con el
sistema espectrométrico comercial, en el canal 278 se observó el fotopico correspondiente a
la energía de 0.6616 MeV con 44,917 cuentas. Este espectro coincide con lo señalado en la
literatura (Gilmore, 2008; Knoll, 2000; Tsoulfanidis, 1995).
En la figura 4.18 se muestra el espectro obtenido al utilizar la fuente de Co-60 con el sis-
tema espectrométrico comercial, en el canal 459 se observó el fotopico correspondiente a la
energía de 1.33 MeV con 2,480 cuentas y en el canal 520 la energía de 1.17 MeV con 1,957
cuentas. Este espectro coincide con el espectro reportado en la literatura con detectores de baja
resolución (Gilmore, 2008; Knoll, 2000; Tsoulfanidis, 1995).
75
Figura 4.17 Espectro de altura de pulso correspondiente a la fuente de Cs-137, con el sistemaespectrométrico comercial.
Figura 4.18 Espectro de altura de pulso correspondiente a la fuente de Co-60, con el sistemaespectrométrico comercial.
76
4.3.2 Espectros medidos con el sistema espectroscópico desarrollado.
Al sustituir el amplificador espectroscópico comercial por el prototipo desarrollado, se ob-
tuvo el espectro mostrado en la figura 4.19 al utilizar la fuente de Cesio-137, en el canal 61 se
observó el fotopico correspondiente a la energía de 0.6616 MeV con 177,344 cuentas.
Figura 4.19 Espectro de altura de pulso correspondiente a la fuente de Cs-137, con el prototipodesarrollado.
En la figura 4.20 se muestra el espectro obtenido al utilizar la fuente de Co-60 con el pro-
totipo desarrollado, en el canal 112 se observó el fotopico correspondiente a la energía de 1.33
MeV con 5,160 cuentas y en el canal 129 la energía de 1.17 MeV con 4,137 cuentas. Ambos
espectros coinciden con los espectros esperados (Gilmore, 2008; Knoll, 2000; Tsoulfanidis,
1995), donde se observan los fotopicos de interés para cada fuente. La ausencia de cuentas
en los primeros canales se atribuye a que el espectro esta recorrido hacia la izquierda y no se
alcanzan a ver, si se le pusiera una etapa de amplificación mayor, el espectro se recorrería hacia
la derecha y las cuentas se podrían observar.
77
Figura 4.20 Espectro de altura de pulso correspondiente a la fuente de Co-60, con el prototipodesarrollado.
4.3.3 Comparación entre espectro obtenido con ORTEC y con el prototipodesarrollado
En la figura 4.21 se muestra la comparación entre el espectro obtenido por medio del am-
plificador espectroscópico comercial y el prototipo desarrollado para la fuente de Co-60, en
la que se observa la misma forma, misma de las gráficas de los manuales de Ortec pero el
espectro obtenido del proyecto se recorre un poco a la izquierda debido a que la amplitud ha
caído, en lo que respecta a las cuentas totales, hay menor tasa de conteo en el sistema comercial.
Como se puede observar, al prototipo le hace falta ganancia pero también hay que conside-
rar que el sistema comercial no cuenta con la constante de tiempo del prototipo que es de 8 µs.
Para las pruebas se utilizó una de 6 µs por ser un valor cercano. Al modificar la constante de
tiempo en el amplificador espectroscópico comercial también varía la ganancia debido a que
cuenta con un estabilizador de ganancia interno para ir ajustándola automáticamente.
78
Figura 4.21 Comparacion de los espectros de Co-60.
El prototipo se realizó con tecnología que no es exactamente igual a la de Ortec, en los
diagramas de los manuales de Ortec se puede observar que se utilizan muchos componentes de
precisión del 1% ó del 0.5% y para el proyecto propuesto no se cuenta con esos componentes,
las resistencias que se utilizaron para construir el prototipo tienen una tolerancia del 5% y los
capacitores de cerámica que son los que se utilizaron tienen una variación de alrededor del
10%, variación enorme si los comparamos con los que utiliza Ortec.
Ortec no utiliza circuitos integrados, utiliza circuitos híbridos, en lugar de utilizar un am-
plificador operacional ellos lo construyen con transistores, lo compactan y obtienen el circuito,
nosotros realizamos la misma función (integración) pero con un circuito integrado.
Capítulo 5
Conclusiones
Se ha diseñado, construido y probado un amplificador espectroscópico, para ser utilizado
en un sistema de detección con un fotodiodo tipo PIN como detector.
1. El diseño propuesto para el amplificador espectroscópico es funcional, debido a que
los resultados obtenidos tanto analíticamente, como en la simulación, coinciden con los
obtenidos en el sistema físico.
2. El sistema espectrométrico que resulta es compacto y de bajo costo; ya que se utiliza un
solo circuito integrado y los demás componentes electrónicos están ajustados a valores
comerciales, por lo que no existe ningún problema para adquirirlos.
3. El amplificador espectroscópico tiene una ganancia de 57 y una constante de tiempo de
8µs.
4. Las pruebas realizadas con el amplificador espectroscópico de forma experimental con-
firman la validez del diseño.
5. La experiencia adquirida y la innovación aplicada son elementos que confirman el desar-
rollo de tecnología propia para la medición de la radiación.
80
Referencias
Adler, F., Thorpe, M. J., Cossel, K. C., & Ye, J. (2010). Cavity-enhanced direct frequencycomb spectroscopy: technology and applications. Annual review of analyticalchemistry (Palo Alto, Calif.), 3(1), r.
Agosteo, S., D’Angelo, G., Fazzi, A., Para, A. F., Pola, A., Ventura, L., & Zotto, P.(2005). Performance of a neutron spectrometer based on a PIN diode. RadiatProt Dosimetry, 116(1-4 Pt 2), 180-184.
Attia, J. O. (2004). Electronics and circuit analysis using MATLAB. Boca Raton: CRCPress.
Bayrak, A., Barlas, E., Emirhan, E., Kutlu, Ç., & Ozben, C. S. (2013). A com-plete low cost radon detection system. Applied Radiation and Isotopes, 78,1-9.
Bos, A. J. J. (2011). Fundamentals of Radiation Dosimetry. AIP Conference Proceedings,1345(1), 5-23.
Bosco, G. L. (2013). Development and application of portable, hand-held X-ray fluo-rescence spectrometers. TrAC Trends in Analytical Chemistry, 45, 121-134.
Boylestad, R. L., & Nashelsky, L. (2000). Electronic Devices and Circuit Theory. Canada:Prentice Hall.
Cember, H. (1992). Introduction to health physics, McGraw-Hill.
Çetiner, N. Ö., Ünlü, K., & Brenizer, J. S. (2008). Compton suppression system at PennState Radiation Science and Engineering Center. Journal of Radioanalytical andNuclear Chemistry, 276(3), 615-621.
CircuitMaker, (2000).
Coughlin, R. F., Driscoll, F. F., & Bautista Gutiérrez, R. (1999). Amplificadores opera-cionales y circuitos integrados lineales. México: Prentice-Hall.
81
Chacón, A. (2009). Espectrómetro de partículas α con un fotodiodo tipo pin. Tesis deMaestría, Unidad Académica Estudios Nucleares, Universidad Autónoma deZacatecas, Zacatecas.
Dasgupta, P. K., Eom, I.-Y., Morris, K. J., & Li, J. (2003). Light emitting diode-based detectors: Absorbance, fluorescence and spectroelectrochemical measure-ments in a planar flow-through cell. Analytica Chimica Acta, 500(1-2), 337-364.
Texas-Instruments. (2014). www.ti.com
Flores, J. (1992). Diseño de un amplificador escpectroscópico. Tesis de licen-ciatura, Unidad Académica de Ingeniería, Universidad Autónoma de Zacatecas,Zacatecas.
Franco, S. (2002). Design with operational amplifiers and analog integrated circuits.Boston: Mcgraw-Hill.
Gilmore, G. R. (2008). Practical Gamma-ray Spectrometry, Warrington, UK, JohnWiley & Sons Ltd.
González, A. K., & Pulido, M. A. (2010). Sistema multicanal para espectrometría deradiación nuclear. Tesis de licenciatura, Unidad Académica de Ingeniería Eléc-trica, Universidad Autónoma de Zacatecas, Zacatecas.
Gupta, Y. K., Biswas, D. C., Roy, P., Nayak, B. K., Thomas, R. G., Inkar, A. L., . .Choudhury, R. K. (2011). Pulse height and timing characteristics of CsI(Tl)-Si(PIN) detector for and fission fragments. Nuclear Instruments and Methodsin Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors andAssociated Equipment, 629(1), 149-153.
Hamamatsu. (2002). Technical information. Photodiode Technical Information, Hama-matsu Photonics K.K., Solid State Division.
Hamamatsu. (2006). Hamamatsu Photonics. S3590 Series Si Photodiode Data Sheet,Hamamatsu Photonics K. K. Solid State Division.
Horowitz, P., & Hill, W. (1989). The art of electronics. New York: Cambridge UniversityPress.
Knoll, G. F. (2000). Radiation detection and measurement: Glenn F. Knoll. New York: J.Wiley.
Leroy, C. (2009). Principles of Radiation Interaction In Matter And Detection. UnitedStates of America: World Scientific Publishing Company.
Leroy, C. (2010). Radiation interaction in matter and principles of detection. AIPConference Proceedings, 1204(1), 3-11.
82
Mancini, R. (2003). Op amps for everyone. United States of America Newnes an imprintof Elsevier.
Martín-Martín, A., Gutiérrez-Villanueva, J. L., Muñoz, J. M., García-Talavera,M., Adamiec, G., & Íñiguez, M. P. (2006). Radon measurements with a PINphotodiode. Applied Radiation and Isotopes, 64(10-11), 1287-1290.
MATLAB 7, (2011). Getting Started Guide. Online version.
Nakamoto, T., Fukazawa, Y., Ohsugi, T., Kamae, T., & Kataoka, J. (2005). BGOreadout with photodiodes as a soft gamma-ray detector at -30 degrees C.NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTIONA-ACCELERATORS SPECTROMETERS DETECTORS AND ASSOCIATEDEQUIPMENT, 536(1-2), 136-145.
Olsher, R. H., & Eisen, Y. (1996). A filter technique for optimising the photon energyresponse of a silicon pin diode dosemeter. Radiat Prot Dosimetry, 67(4), 271-279.
OrCAD-Cadence. (2014). www.orcad.com
Pratt, R. H., LaJohn, L. A., Florescu, V., Suric, T., Chatterjee, B. K., & Roy, S. C.(2010). Compton scattering revisited. Radiation Physics and Chemistry, 79(2),124-131.
Ramírez-Jiménez, F. J. (2006). X-Ray Spectroscopy with PIN diodes. AIP ConferenceProceedings, 857(1), 121-133.
Ramírez-Jiménez, F. J. (2008). PIN Diode Detectors. AIP Conference Proceedings,1026(1), 213-226.
Ramírez-Jiménez, F. J., Aguilera, E. F., López-Callejas, R., Benítez-Read, J. S., &Pacheco-Sotelo, J. (2005). A novel application of a PIN diode-preamplifier setfor the measurement of charged particles. Nuclear Instruments and Methodsin Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors andAssociated Equipment, 545(3), 721-726.
Ramírez-Jiménez, F. J., Mondragón-Contreras, L., & Cruz-Estrada, P. (2006).Application of PIN diodes in Physics Research. AIP Conference Proceedings,857(2), 395-406.
Renker, D. (2004). Photosensors. Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, A,527(1), 15-20.
Renker, D. (2007). New trends on photodetectors. Nuclear Inst. and Methods in PhysicsResearch, A, 571(1), 1-6.
83
Rickards, J. (2010). Interaction of Radiation with Matter. AIP Conference Proceedings,1271(1), 132-158.
Shani, G. (1996). Electronics for radiation measurements: CRC Press.
Solidum, R. S., & Bacala, A. M. (2005). Performance test of PIN Photodiode Readout for Ray Spectroscopy. Departament of physics, MSU-IIT, 9200 Iligan city,Philippines Departament of natural Sciences, Mpsc, 9000 Cagayan de oro City,Philippines.
Terini, R. A., Costa, P. R., Furquim, T. A. C., & Herdade, S. B. (1999). Measurementsof discrete and continuous X-ray spectra with a photodiode at room temperature.Applied Radiation and Isotopes, 50(2), 343-354.
Tipler, P. A. (1994). Física moderna. Barcelona: Reverté.
Tsoulfanidis, N. (1995). Measurement and detection of radiation. Washington, D.C:Taylor & Francisc.
Velásquez, A. A., Gancedo, J. R., Trujillo, J. M., Morales, A. L., Tobón, J. E. & Reyes,L. (2005). Design and Construction of an Autonomous Low-Cost Pulse HeightAnalyzer and a Single Channel Analyzer for Mössbauer Spectroscopy. AIP Con-ference Proceedings, 765, 389-394.
Wauters, F., Kraev, I. S., Tandecki, M., Traykov, E., Van Gorp, S., Zákoucký, D., &Severijns, N. (2009). Performance of silicon PIN photodiodes at low and inhigh magnetic fields. Nuclear Instruments and Methods in Physics ResearchSection A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment,604(3), 563-567.
Wieczorek, A., Yang, H., Roycroft, B., Peters, F., & Corbett, B. (2013). PIN-photodiodewith a large spot size input waveguide. Optical & Quantum Electronics, 45(4),365-371.
Zhou, C., Zhao, J., & Xiao, W. (2005). PIN silicon diode fast neutron detector. RadiatProt Dosimetry, 117(4), 365-368.
84
Apéndice A: Hoja de datos del circuito integradoTLE2074 de Texas Instruments
85
Curriculum Vitae
Datos Personales
Nombre: María Selene Alonso Muñoz.
Domicilio: C. Valentín Gómez Farías #204, Colonia Gonzales Ortega Segunda Sec-
ción, Zacatecas, Zacatecas. C.P. 98087.
Correo Electrónico: [email protected]
Teléfono: 4921490491
Celular: 4921326925
86
Datos Académicos
2012 -2014 Maestría
Maestría en Ciencias Nucleares con orientación en Instrumentación Nuclear
Unidad Académica de Estudios Nucleares
Universidad Autónoma de Zacatecas
2006-2011 Licenciatura
Ingeniería en Comunicaciones y Electrónica
Facultad de Ingeniería
Universidad Autónoma de Zacatecas
2003-2006 Preparatoria
Preparatoria Estatal Francisco Goytia
Cursos y participación extracurriculares
• Séptimo semestre de Ingeniero Electricista en la UAZ (Agosto - Diciembre del 2013).
• Curso de Protección Radiológica para POE impartido en la escuela de verano UAZ-
SPAUAZ 2013 (17 de Junio - 5 de Julio del 2013).
• Curso de recepcionista con computación (SNE) (Febrero - Abril del 2012).
• Curso de física de celdas solares impartido en la 31 semana nacional de energía solar,
Zacatecas (Octubre del 2007).
87
Experiencia
Colegio Valladolid, Guadalupe, Zac.
• Actualmente impartiendo clases de matemáticas y geografía a nivel secundaria.
Servicio Nacional de Empleo Zacatecas
• Instructora de un curso de capacitación para la práctica laboral de auxiliar de oficina (27
de marzo al 10 de Mayo del 2014).
• Instructora de un curso de capacitación para la práctica laboral de auxiliar de oficina (26
de junio al 9 de Agosto del 2014).
Comisión Federal de Electricidad (Oficina de Comunicaciones y Control).
• Prácticas profesionales (Octubre del 2010 - Abril del 2011).
– Implementación y configuracion de un servidor de red.
– Apoyo en mantenimiento preventivo y correctivo a equipos de comunicación de
voz y datos (radios).
– Apoyo en campo a dar mantenimiento preventivo a las diversas subestaciones.
– Apoyo en la instalación de antenas en las torres de comunicación.
– Apoyo al dar de alta puntos unifilares en la unidad central maestra.
– Apoyo en mantenimiento preventivo de las UTR (unidad terminal remota).
– Captura y archivo de reportes de trabajo y de los equipos.
– Acomodo de material y herramientas de trabajo.
• Servicio social (Marzo - Septiembre del 2010).
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Trabajos presentados en congresos e incluidos en las memorias.
• Amplificador espectroscópico para diodo pin.
Congreso conjunto de la SNM y la SMSR en Boca del Rio Veracruz del 31 de Agosto al 4 de
Septiembre del 2014.
• Amplificador espectroscópico para diodo pin.
Seminario de Investigación de la Universidad Autónoma de Aguascalientes del 19 al 21 de
Mayo del 2014.